Anion/cation layers at electrified interfaces: A comprehensive STM, XRD and XPS case study

Chimia

Volumn 63, Issue 3, 2009, Pages 115-121

  Pham, Duc T ^a   Keller, Hubert ^b   Breuer, Stephan ^a   Huemann, Sascha ^a   Hai, Nguyen T N ^a   Zoerlein, Caroline ^a   Wandelt, Klaus ^a   Broekmann, Peter ^a,c  

^a UNIVERSITY OF BONN   (Germany)

^b UNIVERSITY OF STUTTGART   (Germany)

^c UNIVERSITY OF BERN   (Switzerland)

Author keywords

Copper electrochemistry; Electron transfer reaction; In situ STM; Surface phase transition; SXPS; SXRD

Indexed keywords

EID: 64249163211     PISSN: 00094293     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.2533/chimia.2009.115     Document Type: Article

References (50)

1. M. E Toney, J. N. Howard, J. Richer, G. L. Borges, J. G. Gordon, O. R. Melroy, D. G. Wiesler, D. Yee, L. B. Sorensen, Surf. Sci. 1995, 335, 326.
2. a) P. Lustenberger. H. Rohrer, R. Christoph, H. Siegenthaler, J. Electroanal. Client. 1988, 243, 225;
3. b) K. Itaya, E. Tomita, Surf. Sci. 1988, 201, L507;
4. c) J. Wiechers, T. Twomey. D. M. Kolb, R. J. Behm, J. Electroanal. Chem. 1988, 248, 451.
5. P. C. Andricacos, C. Uzoh, J. O. Dukovic, J. Horkans, H. Deligianni, IBM J. Res. Dew 1998, 42, 567.
6. Q. Huang, B. C. Maker-O'Neal. J. J. Kelly, P. Broekmann, A. Wirth, M. Martin, M. Hahn, A. Wagner, D. Mayer, Electrochem. Solid-Slate Lett., accepted for publication.
7. a) E. D. Eliadis, R. G. Nuzzo, A. A. Gewirth, R. C. Alkire, J. Electrochem. Soc. 1997, 144, 96;
8. b) M. Hasegawa, Y. Negishi, T. Nakanishi, T. Osaka, J. Electrochem. Soc. 2005, 152, C221;
9. c) M. Tan, C. Guymon, D. R. Wheeler. J. N. Harb, J. Electrochem. Soc. 2007, 154, D78;
10. d) P. M. Vereecken, R. A. Binstead, H. Deligianni, P. C. Andricacos, IBM J. Res. Dev. 2005, 49, 3.
11. a) J. J. Kelly, A. C. West, J. Electrochem. Soc. 1998, 145, 3472;
12. b) J. J. Kelly, A. C. West, J. Electrochem. Soc. 1998, 145, 3477.
13. a) D. Josell, D. Wheeler, W. H. Huber, T. P. Moffat, Phys. Rev. Lett. 2001, 8701;
14. b) D. Josell, D. Wheeler, T. P. Moffat, Electrochem. Solid-State Lett. 2002, 5, C49;
15. c) T. P. Moffat, D. Wheeler, W. H. Huber, D. Josell, Electrochem. Solid-State Lett. 2001, 4, L5;
16. d) D. Josell, D. Wheeler. W H. Huber, J. E. Bonevich, T. P. Moffat, J. Electrochem. Soc. 2001, 148, C767;
17. e) T. P. Moffat, D. Wheeler, W H. Huber, D. Josell, Electrochem. Solid-State Lett. 2001, 4, C26;
18. f) T. P. Moffat, D. Wheeler, S. K. Kim, D. Josell, J. Electrochem. Soc. 2006, 153, C127;
19. g) T. P. Moffat, D. Wheeler, C. Witt, D. Josell, Electrochem. Solid-State Lett. 2002, 5, C110.
20. a) K. Doblhofer, S. Wasle, D. M. Soares, K. G. Weil, G. Weinberg, G. Ertl, Zeit. Phys. Chem. 2003, 217, 479;
21. b) K. Doblhofer, S. Wasle, D. M. Soares, K. G. Weil, G. Ertl, J. Electrochem. Soc. 2003, 150, C657.
22. D. Wang, R. D. Mikkola, C. Wu, G. G. Barclay, US patent US20060016693A1.
23. S. K. Kim, D. Josell, T. P. Moffat, J. Electrochem. Soc. 2006, 153, C616.
24. a) D. W. Suggs, A. J. Bard, J. Phys. Chem. 1995, 99, 8349;
25. b) R. Vogt, F. A. Möller, C. M. Schifz, O. M. Magnussen, R. J. Behm, Surf. Sci. Lett. 1996, 367, L33;
26. c) R. Vogt, A. Lachenwitzer, O. M. Magnussen, R. J. Behm, Surf. Sci. 1998, 399, 49;
27. d) O. M. Magnussen, M. R. Vogt, Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 357;
28. e) O. M. Magnussen, L. Zitzler, B. Gleich, M. R. Vogt, R. J. Behm, Electrochim. Acta 2001, 46, 3725.
29. a) C. L. Bird, A. T. Kuhn, Chem. Soc. Rev. 198?, 110, 49;
30. b) P. M. S. Monk, 'The Viologens: Physicochemical Properties. Synthesis and Applications of the Salts of 4,4'-Bipyridines', John Wiley & Sons Ltd. Chichester, England, 1989.
31. a) D. T Pham, S.-L. Tsay, K. Gentz, C. Zoerlein, S. Kossmann, J.-S. Tsay, B. Kirchner, K. Wandelt, P. Broekmann, J. Phys. Chem. C. 2007, 111, 16428;
32. b) D. T. Pham, K. Gentz, C. Zoerlein, N. T. M. Hai, S. L. Tsay, B. Kirchner, S. Kossmann, K. Wandelt, P. Broekmann, N. J. Chem. 2006, 30, 1439;
33. c) C. Safarowsky, A. Rang, C. A. Schalley, K. Wandelt, P. Broekmann, Electrochim. Acta 2005, 50, 4257.
34. O. M. Magnussen, Chem. Rev. 2002, 102, 679.
35. A. N. Frumkin. Z Physik. Chem. 1933, A164, 121.
36. S. Huemann, N. T. M. Hai, P. Broekmann, K. Wandelt. H. Zajonz, H. Dosch, E Renner, J. Phys. Chem. B 2006, 110, 24955.
37. I. K. Robinson, D. J. Tweet, Rep. Progr. Phys. 1992, 55, 599.
38. a) M. A. Abu-Joudeh, B. M. Davies, P. A. Montano Surf. Sci. 1986, 171, 331;
39. b) D. M. Lind, E B. Dunning, G. K. Walters, H. L. Davies, Phys. Rev. B 1987, 35, 9037.
40. M. T. M. Koper, J. Electroanal. Chem. 1998, 450, 189.
41. a) L. Q. Wang, A. E. Schach von Wittenau, Z. G. Ji, L. S. Wang, Z. Q. Huang, D. A. Shirley, Phys. Rev. B 1991, 44, 1292;
42. b) P. H. Citrin, D. R. Hamann, L. E Mattheiss, J. E. Rowe, Phys. Rev. Lett. 1982, 49, 1712;
43. c) E Jona, D. Westphal, A. Goldman, P. M. J. Marcus, Physics 1983, C16, 3001;
44. d) J. R. Patel, D. W Berreman, E Sette, P. H. Citrin, J. E. Rowe, P. L. Cowan, T. Jach, B. Karlin, Phys. Rev. B 1989, 40, 1330.
45. M. Saracino, M. Becker, H. Keller, H. Dosch, P. Broekmann, T. Bredow, K. Gentz, K. Wandelt, Phys. Rev. B, submitted.
46. S. Breuer, D. T. Pham, S. Huemann, K. Gentz, C. Zoerlein, R. Hunger, K. Wandelt. P. Broekmann. N. J. Phys. 2008, 10, 1.
47. a) T. Sagara, K. Miuchi, J. Electroanal. Chem. 2004, 567, 193;
48. b) T. Sagara, S. Tanaka, Y. Fukuoka, N. Nakashima, Langmuir 2001, 17, 1620;
49. c) T. Sagara, S. Tanaka, K. Miuchi, N. Nakashima, J. Electroanal. Chem. 2002, 524, 68.
50. K. Gentz, P. Broekmann, K. Wandelt, in preparation.