Modification of alkaneselenolate monolayers by low-energy electrons

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 112, Issue 4, 2008, Pages 1191-1198

  Weidner, T ^a,d   Shaporenko, A ^a   Ballav, N ^a   Ulman, A ^b,c   Zharnikov, M ^a  

^a UNIVERSITY OF HEIDELBERG   (Germany)

^b POLYTECHNIC UNIVERSITY   (United States)

^c BAR ILAN UNIVERSITY   (Israel)

^d University of Washington   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

FINGERPRINT PARAMETERS;

ELECTRON IRRADIATION; ELECTRONS; PARAMETER ESTIMATION; SELENIUM; SYNCHROTRON RADIATION; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

SELF ASSEMBLED MONOLAYERS;

EID: 39349107327     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp077234q     Document Type: Article

References (69)

1. Ulman, A. An Introduction to Ultrathin Organic Films: Langmuir-Blodgett to Self-Assembly; Academic Press: New York, 1991.
2. Ulman, A. Chem. Rev. 1996, 96, 1533.
3. Tour, J. M. Molecular electronics; World Scientific: Singapore, 2003.
4. Smith, R. K.; Lewis, P. A.; Weiss, P. S. Prog. Surf. Sci. 2004, 75, 1.
5. Love, J. C.; Estroff, L. A.; Kriebel, J. K.; Nuzzo R. G.; Whitesides, G. M. Chem. Rev. 2005, 105, 1103.
6. Zharnikov, M.; Grunze, M. J. Phys. Condens. Matter 2001, 13, 11333.
7. Schreiber, F. Prog. Surf. Sci. 2000, 65, 151.
8. Schreiber, F. J. Phys.: Condens. Matter 2004, 16, R881.
9. Outka, D. A.; Stöhr, J.; Rabe, J. P.; Swalen, J. D. J. Chem. Phys. 1988, 88, 4076.
10. Hähner, G.; Kinzler, M.; Wöll, Ch.; Grunze, M.; Scheller, M.; Cederbaum, L. S. Phys. Rev. Lett. 1991, 67, 851; Phys. Rev. Lett. 1992, 69, 694 (erratum).
11. Hähner, G.; Kinzler, M.; Thümmler, C; Wöll, Ch.; Grunze, M. J. Vac. Sci. Technol. 1992, 10, 2758.
12. Willey, T. M.; Vance, A. L.; van Buuren, T.; Bostedt, C.; Nelson, A. J.; Terminello, L. J.; Fadley, C. S. Langmuir 2004, 20, 2746.
13. Geyer, W.; Stadler, V.; Eck, W.; Zharnikov, M.; Gölzhäuser, A.; Grunze, M. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 2401.
14. Eck, W.; Stadler, V.; Geyer, W.; Zharnikov, M.; Gölzhäuser, A.; Grunze, M. Adv. Mater. 2000, 12, 805.
15. Gölzhäuser, A.; Geyer, W.; Stadler, V.; Eck, W.; Grunze, M.; Edinger, K.; Weimann, Th.; Hinze, P. J. Vac Sci. Technol. B 2000, 18, 3414.
16. Yang, X. M.; Peters, R. D.; Kim, T. K.; Nealey, P. F.; Brandow, S. L.; Chen, M.-S.; Shirey, L.-M.; Dressick, W. J. Langmuir 2001, 17, 228.
17. Zharnikov, M.; Grunze, M. J. Vac. Sci. Technol. B 2002, 20, 1793 and references therein.
18. La, Y.-H.; Jung, Y. J.; Kim, H. J.; Kang, T.-H.; Ihm, K.; Kim, K.-J.; Kim, B.; Park, J. W. Langmuir 2003, 19, 4390.
19. Ballav, N.; Shaporenko, A.; Terfort, A.; Zharnikov, M. Adv. Mater. 2007, 19, 998.
20. Ballav, N.; Shaporenko, A.; Krakert, S.; Terfort, A.; Zharnikov, M. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 7772.
21. Ballav, N.; Weidner, T.; Rößler, K.; Lang, H.; Zharnikov, M. Chem. Phys. Chem. 2007, 5, 819.
22. Müller, H. U.; Zharnikov, M.; Völkel, B.; Schertel, A.; Harder, P.; Grunze, M. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 7949.
23. Laibinis, P. E.; Graham, R. L.; Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Science 1991, 254, 981.
24. Seshadri, K.; Froyd, K.; Parikh, A. N.; Allara, D. L.; Lercel, M. J.; Craighead, H. G. J. Phys. Chem. 1996, 100, 15900.
25. Frydman, E.; Cohen, H.; Maoz, R.; Sagiv, J. Langmuir 1997, 13, 5089.
26. Wirde, M.; Gelius, U.; Dunbar, T.; Allara, D. L. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 1997, 131, 245.
27. Jäger, B.; Schürmann, H.; Müller, H. U.; Himmel, H. J.; Neumann, M.; Grunze, M.; Wöll, Ch. Z. Phys. Chem. 1997, 202, 263.
28. Heister, K.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Johansson, L. S. O.; Ulman, A. Langmuir 2001, 17, 8.
29. Feulner, P.; Niedermayer, T.; Eberle, K.; Schneider, R.; Menzel, D.; Baumer, A.; Schmich, E.; Shaporenko, A.; Tai, Y.; Zharnikov, M. Phys. Rev. Lett. 2004, 93, 178302.
30. Shaporenko, A.; Zharnikov, M.; Feulner, P.; Menzel, D. J. Phys. Condens. Matter 2006, 18, S1677.
31. Olsen, C; Rowntree, P. A. J. Chem. Phys. 1998, 108, 3750.
32. Huels, M. A.; Dugal, P. C.; Sanche, L. J. Chem, Phys. 2003, 118, 11168.
33. Zharnikov, M.; Frey, S.; Heister, K.; Grunze, M. Langmuir 2000, 16, 2697.
34. Frey, S.; Rong, H.-T.; Heister, K.; Yang, Y.-J.; Buck, M.; Zharnikov, M. Langmuir 2002, 18, 3142.
35. Chen, C-H.; Huang, M.-L.; Wang, S.-C.; Klauser, R.; Shaporenko, A.; Zharnikov, M. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 17878.
36. Ulman A., Ed. Thin films: self-assembled monolayers of thiols; Academic Press: San Diego, CA, 1998.
37. Yee, C. K.; Ulman, A.; Ruiz, J. D.; Parikh, A.; White, H.; Rafailovich, M. Langmuir 2003, 19, 9450.
38. Shaporenko, A.; Ulman, A.; Terfort, A.; Zharnikov, M. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 3898.
39. Weidner, T.; Shaporenko, A.; Müller, J.; Höltig, M.; Terfort, A.; Zharnikov, M. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 11627.
40. Samant, M. G.; Brown, C. A.; Gordon, J. G., II. Langmuir 1992, 8, 1615.
41. Käfer, D.; Bashir, A.; Witte, G. J. Phys. Chem. C2007, 111, 10546.
42. Yaliraki, S. N.; Kemp, M.; Ratner, M. A. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 3428.
43. Di, Ventra, M.; Lang, N. D. Phys. Rev. B 2002, 65, 045402.
44. Patrone, L.; Palacin, S.; Charlier, J.; Armand, F.; Bourgoin, J. P.; Tang, H.; Gauthier S. Phys. Rev. Lett. 2003, 91, 096802 1.
45. Yokota, K.; Taniguchi, M.; Kawai, T. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 5818.
46. Engelkes, V. B.; Beebe, J. M.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 14287.
47. Dishner, M. H.; Hemminger, J. C.; Feher, F. J. Langmuir 1997, 13, 4788.
48. Bandyopadhyay, K.; Vijayamohanan, K. Langmuir 1998, 14, 625.
49. Huang, F. K.; Horton, R. C., Jr.; Myles, D. C.; Myles, D. C.; Garrell, R. L. Langmuir 1998, 14, 4802.
50. Bandyopadhyay, K.; Vijayamohanan, K.; Venkataramanan, M.; Pradeep, T. Langmuir 1999, 15, 5314.
51. Nakano, K.; Sato, T.; Tazaki, M.; Takagi, M. Langmuir 2000, 16, 2225.
52. Han, S. W.; Lee, S. J.; Kim, K. Langmuir 2001, 17, 6981.
53. Monnell, J. D.; Stapleton, J. J.; Jackiw, J. J.; Dunbar, T.; Reinerth, W. A.; Dirk, S. M.; Tour, J. M.; Allara, D. L.; Weiss, P. S. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 9834.
54. Shaporenko, A.; Cyganik, P.; Buck, M.; Terfort, A.; Zharnikov, M. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 13630.
55. Shaporenko, A.; Cyganik, P.; Buck, M.; Ulman, A.; Zharnikov, M. Langmuir 2005, 21, 8204.
56. Shaporenko, A.; Müller, J.; Weidner, T.; Terfort, A.; Zharnikov, M. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 2232.
57. Köhn, F. Angle-dependent X-ray photoelectron spectroscopy of organic monolayers on gold surfaces, Diploma Thesis, Universität Heidelberg, Heidelberg, November 1998.
58. Heister, K.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Johansson, L. S. O. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 4058.
59. Surface chemical analysis -X-ray photoelectron spectrometers - Calibration of the energy scales; ISO: Geneva, 2001; 15472.
60. Moulder, J. F.; Stickle, W. E.; Sobol, P. E.; Bomben, K. D. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy; Chastian, J., Ed.; Perkin-Elmer Corp.: Eden Prairie, MN, 1992.
61. Thome, J.; Himmelhaus, M.; Zharnikov, M.; Grunze, M. Langmuir 1998, 14, 7435.
62. Lamont, C. L. A.; Wilkes, J. Langmuir 1999, 15, 2037.
63. Stöhr, J. NEXAFS Spectroscopy; Springer Series in Surface Science 25; Springer-Verlag: Berlin, 1992.
64. Batson, P. E. Phys. Rev. B 1993, 48, 2608.
65. Schöll, A.; Fink, R.; Umbach, E.; Mitchell, G. E.; Urquhart, S. G.; Ade, H. Chem. Phys. Lett. 2003, 370, 834.
66. Bagus, P. S.; Weiss, K.; Schertel, A.; Wöll, Ch.; Braun, W.; Hellwig, H.; Jung, C. Chem. Phys. Lett. 1996, 248, 129.
67. Weiss, K.; Bagus, P. S.; Wöll, Ch. J. Chem. Phys. 1999, 111, 6834.
68. Väterlein, P.; Fink, R.; Umbach, E.; Wurth, W. J. Phys. Chem. 1998, 108, 3313.
69. Mankefors, S.; Grigoriev, A.; Wendin, G. Nanotechnology 2003, 14, 849.