Modification of alkanethiolate monolayers by low energy electron irradiation: Dependence on the substrate material and on the length and isotopic composition of the alkyl chains

Langmuir

Volumn 16, Issue 6, 2000, Pages 2697-2705

  Zharnikov, M ^a   Frey, S ^a   Heister, K ^a   Grunze, M ^a  

^a UNIVERSITY OF HEIDELBERG   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0001732292     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la991034r     Document Type: Article

References (64)

1. Ulman, A. An Introduction to Ultrathin Organic Films: Langmuir-Blodgett to Self-Assembly; Academic Press: New York, 1991.
2. Ulman, A. Chem. Rev. 1996, 96, 1533.
3. Stewart, K. R.; Whitesides, G. M.; Godfried, H. P.; Silvera, I. F. Surf. Sci. 1986, 57, 1381.
4. Ulman, A. J. Mater. Ed. 1989, 11, 205.
5. Lee, T. R.; Laibinis, P. E.; Folkers, J. P.; Whitesides, G. M. Pure Appl. Chem. 1991, 63, 821.
6. Sagiv, J. J. Am. Chem. Soc. 1980, 102, 92.
7. Sheen, C. W.; Shi, J.-X.; Martensson, J.; Parikh, A. N.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 1514.
8. Tiberio, R. C.; Craighead, H. G.; Lercel, M. J.; Lau, T.; Sheen, C. W.; Allara, D. L. Appl. Phys. Lett. 1993, 62, 476.
9. Lercel, M. J.; Tiberio, R. C.; Chapman, P. F.; Craighead, H. G.; Sheen, C. W.; Parikh, A. N.; Allara, D. L. J. Vac. Sci. Technol. B 1993, 11, 2823.
10. Lercel, M. J.; Redinbo, G. F.; Pardo, F. D.; Rooks, M.; Tiberio, R. C.; Simpson, P.; Craighead, H. G.; Sheen, C. W.; Parikh, A. N.; Allara, D. L. J. Vac. Sci. Technol. B 1994, 12, 3663.
11. Lercel, M. J.; Redinbo, G. F.; Rooks, M.;Tiberio, R. C.; Craighead, H. G.; Sheen, C. W.; Allara, D. L.; Microelectronic Eng. 1995, 27, 43.
12. Lercel, M. J.; Rooks, M.; Tiberio, R. C.; Craighead, H. G.; Sheen, C. W.; Parikh, A. N.; Allara, D. L. J. Vac. Sci. Technol. £1995, 73, 1139.
13. Müller, H. U.; David, C.; Völkel, B.; Grunze, M. J. Vac. Sci. Technol. B 1995, 13, 2846.
14. David, C.; Müller, H. U.; Völkel, B. Grunze, M.; Microelectronic Eng. 1996, 30, 57.
15. Lercel, M. J.; Craighead, H. G.; Parikh, A. N.; Seshadri, K.; Allara, D. L. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 1504.
16. Seshadri, K.; Froyd, K.; Parikh, A. N.; Allara, D. L.; Lercel, M. J.; Craighead, H. G. J. Phys. Chem. 1996, 100, 15900.
17. Hild, R.; David, C.; Müller, H. U.; Völkel, B.; Kayser, D. R.; Grunze, M. Langmuir 1998, 14, 342.
18. Geyer, W.; Stadier, V.; Eck, W.; Zhamikov, M.; Gölzhäuser, A.; Grunze, M. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 2401.
19. Jäger, B.; Schürmann, H.; Müller, H. U.; Himmel, H.-J.; Neumann, M.; Grunze, M.; Wöll, Ch.; Zeitschrift fur Phys. Chem. 1997, 202, 263.
20. Wirde, M.; Gelius, U.; Dunbar, T.; Allara, D. L. Nuc. Instrum. Methods Phys. Res. B 1997, 131, 245.
21. Zharnikov, M.; Geyer, W.; Gölzhäuser, A.; Frey, S.; Grunze, M.; Phys. Chem. Chem. Phys. 1999, l, 3163.
22. Laibinis, P. E.; Graham, R. L.; Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Science 1991, 254, 981.
23. Graham, R. L.; Bain, C. D.; Biebuyck, H. A.; Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1993, 97, 9456.
24. Rowntree, P.; Dugal, P.-C.; Hunting, D.; Sanche, L. J. Phys. Chem. 1996, 100, 4546.
25. Olsen C.; Rowntree, P. A. J. Chem. Phys. 1998, 108, 3750.
26. Völkcl, B.; Gölzhäuser, A.; Müller, H. U.; David, C.; Grunze, M. J. Vac. Sci. Technol. B 1997, 15, 2877.
27. Müller, H. U.; Zharnikov, M.; Volkel, B.; Schertel, A.; Harder, P.; Grunze, M. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 7949.
28. Strong L.; Whitesides, G. M. Langmuir 1988, 4, 546.
29. Somogyi, A.; Kane, T. E.; Ding, J.-M.; Wysocki, V. H.; J. Am. Chem. Soc. 1993, 775, 5275.
30. Bernstorff, S.; Braun, W.; Mast, M.; Peatman, W.; Schröder, T. Rev. Sci. Instrum. 1989, 60, 2097.
31. J. Stöhr, NEXAFS Spectroscopy, Springer Series in Surface Science 25, Springer-Verlag: Berlin, 1992.
32. Batson, P. E. Phys. Rev. B 1993, 48, 2608.
33. Moulder, J. F.; Stickle, W. E.; Sobol, P. E.; Bomben, K. D. Handbook ofX-rayPhotoelectron Spectroscopy, Chastian, J., Ed.; PerkinElmer Corporation: Eden Prairie, MN, 1992.
34. Wagner, C. D.; Riggs, W. M.; Davis, L. E.; Moulder, J. F.; Muilenberg, G. E. Handbook ofX-rayPhotoelectron Spectroscopy; PerkinElmer Corporation: Eden Prairie, MN, 1979.
35. Frey, S.; Heister, K.; Tamada, K.; Zharnikov, M.; Grunze, M. in preparation.
36. Shirley, D. A. Phys. Rev. B 1972, 5, 4709.
37. Wertbeim, G. K.; Butler, M. A.; West, K. W.; Buchanan, D. N. E. Rev. Sci. Instrum. 1974, 45, 1369.
38. Harder, P.; Grunze, M.; Dahint, R.; Whitesides, G. M.; Laibinis, P. E. J. Phys. Chemistry B 1998, 102, 426.
39. Thome, J.; Himmelhaus, M.; Zharnikov, M.; Grunze, M. Langmitir 1998, 14, 7435.
40. Bain C. D.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1989, 93, 1671.
41. Bagus, P. S.; Weiss, K.; Schertel, A.; Wöll, Gh.; Braun, W.; Hellwig, H.; Jung, C. Chem. Phys. Lett. 1996, 248, 129.
42. Väterlein, P.; Fink, R.; Umbach, E.; Wurth, W. J. Phys. Chem. 1998; 108, 3313.
43. Outka, D.A.; Stöhr, J.; Rabe, J.P.; Swalen, J. D.;J. Chem.Phys. 1988, 88, 4076.
44. Hähner, G.; Kinzler, M.; Wöll, Ch.; Grunze, M.; Scheller, M.; Cederbaum, L. S. Phys. Rev. Lett. 1991, 67, 851.
45. Phys. Rev. Lett. 1992, 69, 694 (erratum).
46. Hähner, G.; Kinzler, M.; Thümmler, C.; Wöll, Ch.; Grunze, M.; J. Vac. Sci. Technol. 1992, 10, 2758.
47. Kinzler, M.; Schertel, A.; Hähner, G.; Wöll, Ch.; Grunze, M.; Albrecht, H.; Holzhüter, G.; Gerber, Th. J. Chem. Phys. 1994, 100, 7722.
48. Hähner, G.; Wöll, Gh.; Bück, M.; Grunze, M. Langmuir 1993, 9, 1955.
49. Fenter, P.; Eisenberger, P.; Liang, K. S. Phys. Rev. Lett. 1993, 70, 2447.
50. Fenter, P.; Eberhardt, A.; Eisenberger, P. Science 1994, 266, 1216.
51. Nuzzo, R. G.; Dubois, L. H.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 558.
52. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.;Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G.; J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152.
53. Biebuyck, H. A.; Bain, C. D.; Whitesides, G. M. Langmuir 1994, 10, 1825.
54. Himmelhaus, M.; Gauss, I.; Buck, M.; Eisert, F.; Wöll, Ch.; Grunze, M. J. Elec. Spectrosc. Eelat, Phenom. 1998, 92, 139.
55. Rieley, H.; Kendall, G. K.; Zemicael, F. W.; Smith, T. L.; Yang, S. Langmuir 1998, 14, 5147.
56. Heister, K.; Frey, S.; Gölzhäuser, A.; Ulraan, A.; Zharnikov, M. J. Phys. Chem. 1999, 103, 11098.
57. Bain, C. D.; Troughton, E. B.; Tao, Y.-T.; Evall, J.; Whitesides, G. M.; Nuzzo; R. G.; J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 321.
58. Bain, C. D.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 7164.
59. Folkers, J. P.; Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Deutch, J. J. Phys.Chem. 1994, 98, 563.
60. Hutt, D. A.; Cooper, E.; Leggett, G. J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 174.
61. Sellers, H.; Ulman, A.; Scnidman, Y.; Eilers, J. E. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 9389.
62. Walczak, M. M.; Chung, C.; Stole, S. M.; Widrig, C. A.; Porter, M. D. J. Am. Chem. Soc. 1991, 773, 2370.
63. Jaffey, D. M.; Madix, R. J. Surf. Sci. 1994, 377, 159.
64. Chenakin, S. P.; Heinz, B.; Morgner, H. Surf. Sci. 1999, 421, 337.