Low-energy electron-induced damage in hexadecanethiolate monolayers

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 102, Issue 41, 1998, Pages 7949-7959

  Muller H U ^a   Zharnikov, M ^a   Volkel B ^a   Schertel, A ^a   Harder, P ^a   Grunze, M ^a  

^a UNIVERSITY OF HEIDELBERG   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0037925374     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp981886k     Document Type: Article

References (52)

1. Ulman, A. An Introduction to Ultrathin Organic Films: Langmuir-Blodgett to Self- Assembly, Academic Press: New York, 1991.
2. Lee, T. R.; Laibinis, P. E.; Folkers, J. P.; Whitesides, G. M. Pure Appl. Chem. 1991, 63, 821.
3. Stewart, K. R.; Whitesides, G. M.; Godfried, H. P.; Silvera, I. F. Surf. Sci. 1986, 57, 1381.
4. Ulman, A. J. Mater. Ed. 1989, 11, 205.
5. Hild, R.; David, C.; Müller, H. U.; Völkel, B.; Kayser, D. R.; Grunze, M. Langmuir 1998, 14, 342.
6. Sagiv, J. J. Am. Chem. Soc. 1980, 102, 92.
7. Sheen, C. W.; Shi, J.-X.; Martensson, J.; Parikh, A. N.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 1514.
8. Tiberio, R. C.; Craighead, H. G.; Lercel, M. J.; Lau, T.; Sheen, C. W.; Allara, D. L. Appl. Phys. Lett. 1993, 62, 476.
9. Lercel, M. J.; Tiberio, R. C.; Chapman, P. F.; Craighead, H. G.; Sheen, C. W.; Parikh, A. N.; Allara, D. L. J. Vac. Sci. Technol. 1993, B11, 2823.
10. Lercel, M. J.; Redinbo, G. F.; Pardo, F. D.; Rooks, M.; Tiberio, R. C.; Simpson, P.; Craighead, H. G.; Sheen, C. W.; Parikh, A. N.; Allara, D. L. J. Vac. Sci. Technol. 1994, B12, 3663.
11. Lercel, M. J.; Redinbo, G. F.; Rooks, M.; Tiberio, R. C.; Craighead, H. G.; Sheen, C. W.; Allara, D. L. Microelectron. Eng. 1995, 27, 43.
12. Lercel, M. J.; Rooks, M.; Tiberio, R. C.; Craighead, H. G.; Sheen, C. W.; Parikh, A. N.; Allara, D. L. J. Vac. Sci. Technol. 1995, B13, 1139.
13. Müller, H. U.; David, C.; Völkel, B; Grunze, M. J. Vac. Sci. Technol. 1995, B13, 2846.
14. David, C.; Müller, H. U.; Völkel, B.; Grunze, M. Microelectron. Eng. 1996, 30, 57.
15. Lercel, M. J.; Craighead, H. G.; Parikh, A. N.; Seshadri, K.; Allara, D. L. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 1504.
16. Laibinis, P. E.; Graham, R. L.; Biebuyck, H. A.; Whitesides, G. M. Science 1991, 254, 981.
17. Rieke, P. C.; Baer, D. R.; Fryxell, G. E.; Engelhard, M. H.; Porter, M. S. J. Vac. Sci. Technol. 1993, A11, 2292.
18. Baer, D. R.; Engelhard, M. H.; Schulte, D. W.; Guenther, D. E.; Wang, Li-Qiong; Rieke, P. C. J. Vac. Sci. 1994, A12, 2478.
19. Rowntree, P.; Dugal, P.-C.; Hunting, D.; Sanche, L. J. Phys. Chem. 1996, 100, 4546.
20. Seshadri, K.; Froyd, K.; Parikh, A. N.; Allara, D. L.; Lercel, M. J.; Craighead, H. G. J. Phys. Chem. 1996, 100, 15900.
21. Czanderna, A. W.; Jung, D. R. Crit. Rev. Solid State. Mater. Sci. 1994, 19, 1.
22. Chidsey, C. E. D.; Liu, G.; Rowntree, P.; Scoles, G. J. Chem. Phys. 1989, 91, 4421.
23. Poirier, G. E.; Tarlov, M. J. Langmuir 1994, 10, 2853.
24. Nuzzo, R. G.; Korenic, E. M.; Dubois, L. H. J. Chem. Phys. 1990, 93, 767.
25. Camillone, N.; Chidsey, C. E. D.; Liu, G.; Scoles, G. J. Chem. Phys. 1993, 98, 3503.
26. Fenter, P.; Eberhardt, A.; Eisenberger, P. Science 1994, 266, 1216.
27. Pertsin, A. J.; Grunze, M. Langmuir 1994, 10, 3668.
28. Hähner, G.; Kinzler, M.; Thümmler, C.; Wöll, Ch.; Grunze, M. J. Vac. Sci. Technol. 1992, 10, 2758.
29. Jäger, B.; Schürmann, H.; Müller, H. U.; Himmel, H.-J.; Neumann, M.; Grunze, M.; Wöll, Ch. Z. Phys. Chem. 1997, 202, 263.
30. Völkel, B.; Gölzhäuser, A.; Müller, H. U.; David, C.; Grunze, M. J. Vac. Sci. Technol. 1997, B15, 2877.
31. Strong, L.; Whitesides, G. M. Langmuir 1988, 4, 546.
32. Schaible, M.; Petersen, H.; Braun, W.; Koch, E. E. Rev. Sci. Instrum. 1989, 60, 2172.
33. Bernstorff, S.; Braun, W.; Mast, M.; Peatman, W.; Schröder, T. Rev. Sci. Instrum. 1989, 60, 2097.
34. Batson, P. E. Phys. Rev. B 1993, 48, 2608.
35. Müller, H. U. Ph.D. Thesis, University Heidelberg, 1996.
36. Petry, R. L. Phys. Rev. 1926, 28, 362.
37. Kollath, R. In Handbuch der Physik; Flügge, S., Ed.; Springer-Verlag: New York, 1956; Vol. XXI, p 265.
38. Dierscheke, P. Ph.D. Thesis, University Essen, 1988.
39. Reimer, L.; Pfefferkorn, G. Rasterelektronenmikroskopie, Springer-Verlag: Berlin, 1977.
40. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152.
41. (41 ) Stöhr, J. NEXAFS Spectroscopy; Springer Series in Surface Science 25; Springer-Verlag: Berlin, 1992.
42. Bagus, P. S.; Weiss, K.; Schertel, A.; Wöll, Ch.; Braun, W.; Hellwig, H.; Jung, C. Chem. Phys. Lett. 1996, 248, 129.
43. Schertel, A.; Hähner, G.; Grunze, M.; Wöll, Ch. J. Vac. Sci. Technol. 1996, A14, 1801.
44. Kinzler, M.; Scheitel, A.; Hähner, G.; Wöll, Ch.; Grunze, M.; Albrecht, H.; Holzhüter, G.; Gerber, Th. J. Chem. Phys. 1994, 100, 7722.
45. Nuzzo, R. G.; Korenic, E. M.; Dubois, L. H. J. Chem. Phys. 1993, 93, 767.
46. Hähner, G.; Wöll, Ch.; Buck, M.; Grunze, M. Langmuir 1993, 9, 1955.
47. Hähner, G.; Marti, A.; Spencer, N.; Brunner, S.; Caseri, W. R.; Suter, U. W.; Rehahn, M. Langmuir 1996, 12, 719.
48. Bain, C. D.; Evall, J.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 7155.
49. Holmes-Farley, S. R.; Whitesides, G. M. Langmuir 1987, 3, 62.
50. Ashley, J. C. Radiat. Res. 1982, 90, 433.
51. Atre, S. V.; Liedberg, B.; Allara, D. L. Langmuir 1995, 11, 3882.
52. Rowntree, P.; Paranteau, L.; Sanche, L. J. Phys. Chem. 1991, 95, 4902.