Quantification of ready-made molecular bilayer junctions having large structural uncertainty

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 112, Issue 1, 2008, Pages 269-281

  Vilan, Ayelet ^a,b   Hikmet, Rifat A M ^a  

^a PHILIPS RESEARCH LABORATORIES   (Netherlands)

^b WEIZMANN INSTITUTE OF SCIENCE   (Israel)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AMINES; CARBOXYLIC ACIDS; CHARGE TRANSFER; CURRENT VOLTAGE CHARACTERISTICS; FIELD EMISSION; GOLD;

MICROSCOPIC MORPHOLOGY; MOLECULAR BILAYER JUNCTIONS; NONLINEAR TUNNELING; STRUCTURAL UNCERTAINTY;

INTERFACES (MATERIALS);

EID: 38549152249     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp0755490     Document Type: Article

References (51)

1. Zhou, C.; Muller, C. J.; Deshpande, M. R.; Sleight, J. W.; Reed, M. A. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 1160.
2. Ruitenbeek, J. M. v.; Alvarez, A.; Piñeyro, I.; Grahmann, C.; Joyez, P.; Devoret, M. H.; Esteve, D.; Urbina, C. Rev. Sci. Instrum. 1996, 67, 108.
3. Xu, B.; Tao, N. J. Science 2003, 307, 1121.
4. Jang, S. Y.; Reddy, P.; Majumdar, A.; Segalman, R. A. Nano Lett. 2006, 6, 2362.
5. Visoly-Fisher, I.; Daie, K.; Terazono, Y.; Herrero, C.; Fungo, F.; Otero, L.; Durantini, E.; Silber, J.; Sereno, L.; Gust, D.; Moore, T.; Moore, A.; Lindsay, S. Proc Natl. Acad. Sci. 2006, 103, 8686.
6. Cui, X. D.; Primak, A.; Zarate, X.; Tomfohr, J.; Sankey, O.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Nagahara, L. A.; Lindsay, S. M. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 8609.
7. Cui, X. D.; Zarate, X.; Tomfohr, J.; Sankey, O. F.; Primak, A.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Harris, G.; Lindsay, S. M. Nanotechnology 2002, 13, 5.
8. Wold, D. J.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 5549.
9. Engelkes, V. B.; Beebe, J. M.; Frisbie, C. D. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 16801.
10. Beebe, J. M.; Kim, B.; Gadzuk, J. W.; Frisbie, C. D.; Kushmerick, J. G. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 026801.
11. Kushmerick, J. G.; Holt, D. B.; Yang, J. C.; Naciri, J.; Moore, M. H.; Shashidhar, R. Phys. Rev. Lett. 2002, 89, 086802.
12. Mann, B.; Khun, H. J. Appl. Phys. 1971, 42, 4398.
13. Honig, E. P. Thin Solid Films 1976, 33, 231.
14. Slowinski, K.; Chamberlain, R. V.; Miller, C. J.; Majda, M. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 11910.
15. Holmlin, R. E.; Haag, R.; Chabinyc, M. L.; Ismagilov, R. F.; Cohen, A. E.; Terfort, A.; Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 5075.
16. Boulas, C.; Davidovits, J. V.; Rondelez, F.; Vuillaume, D. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 4797 LP.
17. Aswal, D. K.; Lenfant, S.; Guerin, D.; Yakhmi, J. V.; Vuillaume, D. Nanotechnology 2005, 76, 3064.
18. Zhou, C.; Deshpande, M. R.; Reed, M. A.; Jones, L.; Tour, J. M. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 611.
19. Wang, W.; Lee, T.; Reed, M. A. Phys. Rev. B 2003, 68, 035416.
20. Lau, C. N.; Stewart, D. R.; Williams, R. S.; Bockrath, M. Nano Lett. 2004, 4, 569.
21. Hooper, A.; Fisher, G. L.; Konstadinidis, K.; Jung, D.; Nguyen, H.; Opila, R.; Collins, R. W.; Winograd, N.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 8052.
22. Boer, B. d.; Frank, M. M.; Chabal, Y. J.; Jiang, W.; Garfunkel, E.; Bao, Z. Langmuir 2004, 20, 1539.
23. Haick, H.; Ghabboun, J.; Cahen, D. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 042113.
24. Dadosh, T.; Gordin, Y.; Krahne, R.; Khivrich, I.; Mahalu, D.; Freydman, V.; Sperling, J.; Yacoby, A.; Joseph, I. B. Nature 2005, 436, 677.
25. Selzer, Y.; Cai, L.; Cabassi, M. A.; Yao, Y.; Tour, J. M.; Mayer, T. S.; Allara, D. L. Nano Lett. 2005, 5, 61.
26. Ah, C. S.; Yun, Y. J.; Lee, J. S.; Park, H. J.; Ha, D. H.; Yun, W. S. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 133116.
27. Loo, Y.-L.; Lang, D. V.; Rogers, J. A.; Hsu, J. W. P. Nano Lett. 2003, 3, 913.
28. Vilan, A.; Cahen, D. Adv. Funct. Mater. 2002, 12, 795.
29. Shimizu, K. T.; Fabbri, J. D.; Jelincic, J. J.; Melosh, N. A. Adv. Mater. 2006, 18, 1499.
30. Kruger, J.; Bach, U.; Gratzel, M. Adv. Mater. 2000, 12, 447.
31. Akkerman, H. B.; Blom, P. W. M.; de Leeuw, D. M.; de Boer, B. Nature 2006, 441, 69.
32. Vilan, A. J. Phys. Chem. C 2007, 111, 4431.
33. Simmons, J. G. J. Appl. Phys. 1963, 34, 1793.
34. Mujica, V.; Ratner, M. A. Chem. Phys. 2001, 264, 365.
35. Simmons, J. G. J. Appl. Phys. 1963, 34, 238.
36. Brinkman, W. F.; Dynes, R. C.; Rowell, J. M. J. Appl. Phys. 1970, 47, 1915.
37. Hikmet, R. A. M. Liquid crystal composite for displays and light valves. In PCT Int. Appl.; Koninklijke Philips Electronics N. V., Neth.: Wo, 2005; Vol. WO 2005-IB50601; p 37.
38. Bain, C. D.; Troughton, E. B.; Tao, Y.-T.; Evall, J.; Whitesides, G. M.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 321.
39. York, R. L.; Slowinski, K. J. Electroanal. Chem. 2003, 550, 327.
40. Engelkes, V. B.; Beebe, J. M.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 14287.
41. The value of 30 Ω was derived from the measured resistance of bare (0/0) junctions.
42. Holmlin, R. E.; Ismagilov, R. F.; Haag, R.; Mujica, V.; Ratner, M. A.; Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. Angew. Chem., Int. Ed. 2001, 40, 2316.
43. Slowinski, K.; Majda, M. J. Electroanal. Chem. 2000, 491, 139.
44. Zhang, Z.-S.; Rabson, D. A. J. Appl. Phys. 2004, 95, 557.
45. Dorneles, L. S.; Schaefer, D. M.; Carara, M.; Schelp, L. F. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 2832.
46. Simmons, J. G. J. Appl. Phys. 1963, 34, 2581.
47. Aswal, D. K.; Lenfant, S.; Guerin, D.; Yakhmi, J. V.; Vuillaume, D. Small 2005, 1, 725.
48. Along the manuscript we use integral conductance because we did not measure the differential conductance, which is, naturally, more accurate. The differential equivalent of eq 1 just has a factor of 3 to cubic coefficient (C, see eq A8 of the Appendix).
49. Paddon-Row, M. N. Aust. J. Chem. 2003, 56, 729.
50. Segev, L.; Salomon, A.; Natan, A.; Cahen, D.; Kronik, L.; Ami, F.; Chan, C. K.; Kahn, A. Phys. Rev. B 2006, 74, 165323.
51. Haag, R.; Rampi, M. A.; Holmlin, R. E.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 7895.