Novelty and versatility of self-catalytic nanowire growth: A case study with InN nanowires

Journal of Vacuum Science and Technology B: Microelectronics and Nanometer Structures

Volumn 25, Issue 3, 2007, Pages 940-944

  He, Maoqi ^a   Mohammad, S Noor ^b,c,d  

^a HOWARD UNIVERSITY   (United States)

^b Howard University   (United States)

^c UNIVERSITY OF MARYLAND   (United States)

^d NAVAL RESEARCH LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

DISSOCIATION TEMPERATURE; HEXAGONAL WURTZITE STRUCTURE; NANOWIRE GROWTH TECHNIQUE; SELF CATALYTIC NANOWIRE;

CATALYSIS; ENERGY DISPERSIVE SPECTROSCOPY; GROWTH (MATERIALS); INDIUM COMPOUNDS; LOW TEMPERATURE EFFECTS; SCANNING ELECTRON MICROSCOPY;

NANOWIRES;

EID: 34249894714     PISSN: 10711023     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1116/1.2740275     Document Type: Article

References (43)

1. S. N. Mohammad, Solid-State Electron. 46, 203 (2002).
2. S. N. Mohammad and H. Morkoc, Prog. Quantum Electron. 20, 361 (1996).
3. H. Morkoc and S. N. Mohammad, Science 267, 51 (1995).
4. H. Li, T. Daniels-Race, and M. A. Hasan, J. Vac. Sci. Technol. B 19, 1471 (2001).
5. Y. W. Heo, L. C. Tien, Y. Kwon, D. P. Norton, S. J. Pearton, B. S. Kang, and F. Ren, Appl. Phys. Lett. 85, 2274 (2004).
6. K. A. Basrtness, A. Roshko, N. A. Sanford, J. M. Barker, and A. V. Davydov, J. Cryst. Growth 0022-0248 10.1016/j.jcrysgro.2005.11.079 287, 522 (2006); K. A. Bartness, A. Roshko, N. A. Sanford, J. M. Barker, J. B. Schlager, A. Rosko, A. V. Davydov, and I. Levin, J. Electron. Mater. 0361-5235 10.1007/s11664-006-0102-4 35, 576 (2006); Y. N. Xia, P. Yang, Y. G. Sun, Y. Y. Wu, and B. Meyers, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 15, 353 (2003).
7. K. A. Basrtness, A. Roshko, N. A. Sanford, J. M. Barker, and A. V. Davydov, J. Cryst. Growth 0022-0248 10.1016/j.jcrysgro.2005.11.079 287, 522 (2006); K. A. Bartness, A. Roshko, N. A. Sanford, J. M. Barker, J. B. Schlager, A. Rosko, A. V. Davydov, and I. Levin, J. Electron. Mater. 0361-5235 10.1007/s11664-006-0102-4 35, 576 (2006); Y. N. Xia, P. Yang, Y. G. Sun, Y. Y. Wu, and B. Meyers, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 15, 353 (2003).
8. K. A. Basrtness, A. Roshko, N. A. Sanford, J. M. Barker, and A. V. Davydov, J. Cryst. Growth 0022-0248 10.1016/j.jcrysgro.2005.11.079 287, 522 (2006); K. A. Bartness, A. Roshko, N. A. Sanford, J. M. Barker, J. B. Schlager, A. Rosko, A. V. Davydov, and I. Levin, J. Electron. Mater. 0361-5235 10.1007/s11664-006-0102-4 35, 576 (2006); Y. N. Xia, P. Yang, Y. G. Sun, Y. Y. Wu, and B. Meyers, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 15, 353 (2003).
9. For various features of the VLS method, see R. S. Wagner and W. C. Ellis, Appl. Phys. Lett. 4, 89 (1964).
10. For various problems with the VLS method, see T. Schrimpf, P. Bonsch, D. Wulner, H. H. Wehmann, A. Schlachetki, F. Bertram, T. Riemann, and J. Christen, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.371502 86, 5207 (1999); K. Hiruma, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.359026 77, 447 (1995); A. N. Goldstein, C. M. Echer, and A. P. Alivisatos, Science 0036-8075 10.1126/science.256.5062.1425 256, 1425 (1992); T. I. Kamins, S. Williams, R. Basile, D. P. Hesjedal, and J. S. Harris, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.1335640 89, 1008 (2001); B. J. Ohlsson, Physica E (Amsterdam) 1386-9477 10.1016/S1386-9477(02)00318-1 13, 1126 (2002); M. T. Bjork, J. Ohlsson, T. Saas, A. I. Persson, C. Thelander, M. H. Magnusson, K. Deppert, L. R. Wallenberg, and L. Samuelson, Nano Lett. 2, 87 (2002).
11. For various problems with the VLS method, see T. Schrimpf, P. Bonsch, D. Wulner, H. H. Wehmann, A. Schlachetki, F. Bertram, T. Riemann, and J. Christen, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.371502 86, 5207 (1999); K. Hiruma, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.359026 77, 447 (1995); A. N. Goldstein, C. M. Echer, and A. P. Alivisatos, Science 0036-8075 10.1126/science.256.5062.1425 256, 1425 (1992); T. I. Kamins, S. Williams, R. Basile, D. P. Hesjedal, and J. S. Harris, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.1335640 89, 1008 (2001); B. J. Ohlsson, Physica E (Amsterdam) 1386-9477 10.1016/S1386-9477(02)00318-1 13, 1126 (2002); M. T. Bjork, J. Ohlsson, T. Saas, A. I. Persson, C. Thelander, M. H. Magnusson, K. Deppert, L. R. Wallenberg, and L. Samuelson, Nano Lett. 2, 87 (2002).
12. For various problems with the VLS method, see T. Schrimpf, P. Bonsch, D. Wulner, H. H. Wehmann, A. Schlachetki, F. Bertram, T. Riemann, and J. Christen, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.371502 86, 5207 (1999); K. Hiruma, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.359026 77, 447 (1995); A. N. Goldstein, C. M. Echer, and A. P. Alivisatos, Science 0036-8075 10.1126/science.256.5062.1425 256, 1425 (1992); T. I. Kamins, S. Williams, R. Basile, D. P. Hesjedal, and J. S. Harris, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.1335640 89, 1008 (2001); B. J. Ohlsson, Physica E (Amsterdam) 1386-9477 10.1016/S1386-9477(02)00318-1 13, 1126 (2002); M. T. Bjork, J. Ohlsson, T. Saas, A. I. Persson, C. Thelander, M. H. Magnusson, K. Deppert, L. R. Wallenberg, and L. Samuelson, Nano Lett. 2, 87 (2002).
13. For various problems with the VLS method, see T. Schrimpf, P. Bonsch, D. Wulner, H. H. Wehmann, A. Schlachetki, F. Bertram, T. Riemann, and J. Christen, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.371502 86, 5207 (1999); K. Hiruma, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.359026 77, 447 (1995); A. N. Goldstein, C. M. Echer, and A. P. Alivisatos, Science 0036-8075 10.1126/science.256.5062.1425 256, 1425 (1992); T. I. Kamins, S. Williams, R. Basile, D. P. Hesjedal, and J. S. Harris, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.1335640 89, 1008 (2001); B. J. Ohlsson, Physica E (Amsterdam) 1386-9477 10.1016/S1386-9477(02)00318-1 13, 1126 (2002); M. T. Bjork, J. Ohlsson, T. Saas, A. I. Persson, C. Thelander, M. H. Magnusson, K. Deppert, L. R. Wallenberg, and L. Samuelson, Nano Lett. 2, 87 (2002).
14. For various problems with the VLS method, see T. Schrimpf, P. Bonsch, D. Wulner, H. H. Wehmann, A. Schlachetki, F. Bertram, T. Riemann, and J. Christen, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.371502 86, 5207 (1999); K. Hiruma, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.359026 77, 447 (1995); A. N. Goldstein, C. M. Echer, and A. P. Alivisatos, Science 0036-8075 10.1126/science.256.5062.1425 256, 1425 (1992); T. I. Kamins, S. Williams, R. Basile, D. P. Hesjedal, and J. S. Harris, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.1335640 89, 1008 (2001); B. J. Ohlsson, Physica E (Amsterdam) 1386-9477 10.1016/S1386-9477(02)00318-1 13, 1126 (2002); M. T. Bjork, J. Ohlsson, T. Saas, A. I. Persson, C. Thelander, M. H. Magnusson, K. Deppert, L. R. Wallenberg, and L. Samuelson, Nano Lett. 2, 87 (2002).
15. For various problems with the VLS method, see T. Schrimpf, P. Bonsch, D. Wulner, H. H. Wehmann, A. Schlachetki, F. Bertram, T. Riemann, and J. Christen, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.371502 86, 5207 (1999); K. Hiruma, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.359026 77, 447 (1995); A. N. Goldstein, C. M. Echer, and A. P. Alivisatos, Science 0036-8075 10.1126/science.256.5062.1425 256, 1425 (1992); T. I. Kamins, S. Williams, R. Basile, D. P. Hesjedal, and J. S. Harris, J. Appl. Phys. 0021-8979 10.1063/1.1335640 89, 1008 (2001); B. J. Ohlsson, Physica E (Amsterdam) 1386-9477 10.1016/S1386-9477(02)00318-1 13, 1126 (2002); M. T. Bjork, J. Ohlsson, T. Saas, A. I. Persson, C. Thelander, M. H. Magnusson, K. Deppert, L. R. Wallenberg, and L. Samuelson, Nano Lett. 2, 87 (2002).
16. For detailed description of the mechanisms of the substrate-free, contamination-free, self-catalytic growth technique and for its strengths, weaknesses, and novelty, see S. N. Mohammad, J. Chem. Phys. 125, 094705 (2006).
17. M. He, I. Minus, P. Zhou, S. N. Mohammad, J. B. Halpern, R. Jacobs, W. L. Sarney, L. Salamanca-Riba, and R. D. Vispute, Appl. Phys. Lett. 77, 3731 (2000).
18. M. He and S. N. Mohammad, J. Chem. Phys. 124, 064714 (2006).
19. M. He, P. Zhou, S. N. Mohammad, G. L. Harris, J. B. Halpern, R. Jacobs, W. L. Sarney, and L. Salamanco-Riba, J. Cryst. Growth 231, 357 (2001).
20. M. He, M. M. E. Fahmi, S. N. Mohammad, R. N. Jacobs, L. Salamanca-Riba, F. Felt, M. Jah, A. Sharma, and D. Lakins, Appl. Phys. Lett. 82, 3749 (2003).
21. A. M. S. El Ahl, J. Appl. Phys. 94, 7749 (2003).
22. M. He, A. Motayed, and S. N. Mohammad, J. Chem. Phys. 126, 064704 (2007).
23. C.-Y. Chang, G.-C. Chi, W.-M. Wang, L.-C. Chen, K.-H. Chen, F. Ren, and S. J. Pearton, J. Electron. Mater. 35, 738 (2006).
24. O. Kryliouk, H. J. Park, H. T. Wang, B. S. Kang, T. J. Anderson, F. Ren, and S. J. Pearton, J. Vac. Sci. Technol. B 23, 1891 (2005).
25. P. A. Anderson, T. E. Lee, C. E. Kendrick, W. Diehl, R. J. Kinsey, V. J. Kennedy, A. Markwitz, R. J. Reeves, and S. M. Durbin, Proc. SPIE 5277, 90 (2004).
26. L.-W. Yin, Y. Bando, Y.-C. Zhu, D. Golberg, and M.-S. Li, Appl. Phys. Lett. 84, 1546 (2004).
27. T. Stoica, R. J. Meijers, R. Calarco, T. Ritcher, E. Sutter, and H. Luth, Nano Lett. 6, 1541 (2006).
28. R. Calarco and M. Marso, see http://arxiv.org/PS_cache/Cond-Mat/pdf.0611/ 0611674.pdf
29. C. Y. Chang, G. C. Chi, W. M. Wang, L. C. Chen, K. H. Hsien, F. Ren, and S. J. Pearton, Appl. Phys. Lett. 87, 093112 (2005).
30. V. W. L. Chin, T. L. Tansley, and T. Osotchan, J. Appl. Phys. 75, 7365 (1994).
31. B. E. Foutz, S. K. O'Leary, M. S. Shur, and L. F. Eastman, J. Appl. Phys. 85, 7727 (1999).
32. A. G. Bhuiyan, A. Hashimoto, and A. Yamamoto, J. Appl. Phys. 94, 2779 (2003).
33. A. Motayed, M. He, A. V. Davydov, J. Melngailis, and S. N. Mohammad, J. Appl. Phys. 100, 114310 (2006).
34. A. Motayed, M. He, A. V. Davydov, J. Melngailis, and S. N. Mohammad, J. Vac. Sci. Technol. B 25, 120 (2007).
35. A. Motayed, M. Vaudin, A. V. Davydov, J. Melngailis, M. He, and S. N. Mohammad, Appl. Phys. Lett. 90, 043104 (2007).
36. A. Motayed, M. He, A. V. Davydov, J. Melngailis, and S. N. Mohammad, Appl. Phys. Lett. (in press).
37. L. A. Marasina, I. G. Pichugin, and M. Tlaczala, Krist. Tech. 12, 541 (1977).
38. H. Parala, A. Devi, F. Hipler, E. Maile, A. Birkner, H. W. Becker, and R. A. Fischer, J. Cryst. Growth 231, 68 (2001).
39. J. Zhang, L. Zhang, X. Peng, and X. Wang, J. Mater. Chem. 12, 802 (2002).
40. C. H. Liang, L. C. Chen, J. S. Hwang, K. H. Chen, Y. T. Hung, and Y. F. Chen, Appl. Phys. Lett. 81, 22 (2002).
41. T. Tang, J. Mater. Res. 19, 423 (2004).
42. S. Vaddiraju, A. Mohite, A. Chin, M. Meyyappan, G. Sumanasekera, B. W. Alphenaar, and M. K. Sunkara, Nano Lett. 5, 1625 (2005).
43. M. C. Johnson, C. J. Lee, E. D. Bourret-Courchesne, S. L. Konsek, S. Aloni, W. Q. Han, and A. Zettl, Appl. Phys. Lett. 85, 5670 (2004).