Structural characterization of 4-bromostyrene self-assembled monolayers on Si(111)

Langmuir

Volumn 23, Issue 4, 2007, Pages 1905-1911

  Basu, Rajiv ^a   Lin, Jui Ching ^a   Kim, Chang Yong ^a   Schmitz, Matthew J ^a   Yoder, Nathan L ^a   Kellar, Joshua A ^a   Bedzyk, Michael J ^a   Hersam, Mark C ^a  

^a Northwestern University   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ORGANIC FUNCTIONALIZATION; ORGANOSILICON DEVICES; PHOTOCHEMICAL GROWTH; SUBMOLECULAR SPATIAL RESOLUTION;

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; BIOSENSORS; MOLECULAR ELECTRONICS; PHOTOCHEMICAL REACTIONS; SELF ASSEMBLED MONOLAYERS; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

SILICON;

4 BROMOSTYRENE; 4-BROMOSTYRENE; SILICON; STYRENE DERIVATIVE; UNCLASSIFIED DRUG;

ARTICLE; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CHEMICAL STRUCTURE; CHEMISTRY; CONFORMATION; SPECTROSCOPY;

MICROSCOPY, ATOMIC FORCE; MODELS, MOLECULAR; MOLECULAR CONFORMATION; SILICON; SPECTRUM ANALYSIS; STYRENES;

EID: 33947182052     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la062759f     Document Type: Article

References (58)

1. Linford, M. R.; Chidsey, C. E. D. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 12631-12632.
2. Linford, M. R.; Fenter, F.; Eisenberger, P. M.; Chidsey, C. E. D. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 3145-3155.
3. Buriak, J. M. Chem. Rev. 2002, 102, 1271-1308.
4. Strother, T.; Cai, W.; Zhao, X. S.; Hamers, R. J.; Smith, L. M. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 1205-1209.
5. Lin, Z.; Strother, T.; Cai, W.; Cao, X. P.; Smith, L. M.; Hamers, R. J. Langmuir 2002, 18, 788-796.
6. Wagner, P.; Nock, S.; Spudich, J. A.; Volkmuth, W. D.; Chu, S.; Cicero, R. L.; Wade, C. P.; Linford, M. R.; Chidsey, C. E. D. J. Struct. Biol. 1997, 119, 189-201.
7. Wei, F.; Sun, B.; Guo, Y.; Zhao, X. S. Biosens. Bioelectron. 2003, 18, 1157-1163.
8. Ivanisevic, A.; Mirkin, C. A. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 7887-7889.
9. Langner, A.; Panarello, A.; Rivillon, S.; Vassylyev, O.; Khinast, J. G.; Chabal, Y. J. J. Am. Chem. Soc. 2005, 127, 12798-12799.
10. Perring, M.; Dutta, S.; Arafat, S.; Mitchell, M.; Kenis, P. J. A.; Bowden, N. B. Langmuir 2005, 27, 10537-10544.
11. Allongue, P.; de Vüleneuve, C. H.; Pinson, J.; Ozanam, F.; Chazalviel, J. N.; Wallart, X. Electrochim. Acta 1998, 43, 2791-2798.
12. Guisinger, N. P.; Greene, M. E.; Basu, R.; Baluch, A. S.; Hersam, M. C. Nano Lett. 2004, 4, 55-59.
13. Rakshit, T.; Liang, G. C.; Ghosh, A. W.; Datta, S. Nano Lett. 2004, 4, 1803-1807.
14. Rakshit, T.; Liang, G. C.; Ghosh, A. W.; Hersam, M. C.; Datta, S. Phys. Rev. B 2005, 72, 125305.
15. Guisinger, N. P.; Yoder, N. L.; Hersam, M. C. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2005, 102, 8838-8843.
16. Basu, R.; Guisinger, N. P.; Greene, M. E.; Hersam, M. C. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 2619-2621.
17. Hersam, M. C.; Reifenberger, R. G. MRS Bull. 2004, 29, 385-390.
18. Guisinger, N. P.; Basu, R.; Greene, M. E.; Baluch, A. S.; Hersam, M. C. Nanotechnology 2004, 15, S452-S458.
19. Guisinger, N. P.; Basu, R.; Baluch, A. S.; Hersam, M. C. Ann. N. Y. Acad. Sci. 2003, 1006, 227-234.
20. Beckman, R.; Beverly, K.; Boukai, A.; Bunimovich, Y.; Choi, J. W.; Delonno, E.; Green, J.; Johnston-Halperin, E.; Luo, Y.; Sheriff, B.; Stoddart, J. F.; Heath, J. R. Faraday Discuss. 2006, 131, 9-22.
21. Blum, A. S.; Kushmerick, J. G.; Long, D. P.; Patterson, C. H.; Yang, J. C.; Henderson, J. C.; Yao, Y. X.; Tour, J. M.; Shashidhar, R.; Ratna, B. R. Nat. Mater. 2005, 4, 167-172.
22. Gowda, S.; Mathur, G.; Li, Q. L.; Surthi, S.; Misra, V. IEEE Trans. Nanotechnol. 2006, 5, 258-264.
23. Teplyakov, A. V.; Kong, M. J.; Bent, S. F. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 11100-11101.
24. Lenfant, S.; Krzeminski, C.; Delerue, C.; Allan, G.; Vuillaume, D. Nano Lett. 2003, 3, 741-746.
25. Piva, P. G.; DiLabio, G. A.; Pitters, J. L.; Zikovsky, J.; Rezeq, M.; Dogel, S.; Hofer, W. A.; Wolkow, R. A. Nature 2005, 435, 658-661.
26. Sieval, A. B.; Demirel, A. L.; Nissink, J. W. M.; Linford, M. R.; van der Maas, J. H.; de Jeu, W. H.; Zuilhof, H.; Sudholter, E. J. R. Langmuir 1998, 14, 1759-1768.
27. Cicero, R. L.; Linford, M. R.; Chidsey, C. E. D. Langmuir 2000, 16, 5688-5695.
28. Boukherroub, R.; Wayner, D. D. M. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 11513-11515.
29. Strother, T.; Hamers, R. J.; Smith, L. M. Nucleic Acids Res. 2000, 28, 3535-3541.
30. Sieval, A. B.; Linke, R.; Heij, G.; Meijer, G.; Zuilhof, H.; Sudholler, E. J. R. Langmuir 2001, 17, 7554-7559.
31. Basu, R.; Kinser, C. R.; Tovar, J. D.; Hersam, M. C. Chem. Phys. 2006, 326, 144-150.
32. Jin, H.; Kinser, C. R.; Bertin, P. A.; Kramer, D. E.; Libera, J. A.; Hersam, M. C.; Nguyen, S. T.; Bedzyk, M. J. Langmuir 2004, 20, 6252-6258.
33. Higashi, G. S.; Chabal, Y. J.; Trucks, G. W.; Raghavachari, K. Appl. Phys. Lett. 1990, 56, 656-658.
34. Saga, K.; Hattori, T. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, L250-L252.
35. Kong, J.; White, C. A.; Krylov, A. I.; Sherrill, D.; Adamson, R. D.; Furlani, T. R.; Lee, M. S.; Lee, A. M.; Gwaltney, S. R.; Adams, T. R.; Ochsenfeld, C.; Gilbert, A. T. B.; Kedziora, G. S.; Rassolov, V. A.; Maurice, D. R.; Nair, N.; Shao, Y. H.; Besley, N. A.; Maslen, P. E.; Dombroski, J. P.; Daschel, H.; Zhang, W. M.; Korambath, P. P.; Baker, J.; Byrd, E. F. C.; Van, Voorhis, T.; Oumi, M.; Hirata, S.; Hsu, C. P.; Ishikawa, N.; Florian, J.; Warshel, A.; Johnson, B. G.; Gill, P. M. W.; Head-Gordon, M.; Pople, J. A. J. Comput. Chem. 2000, 21, 1532-1548.
36. Becke, A. D. J. Chem. Phys. 1993, 98, 5648-5652.
37. Harihara, Pc.; Pople, J. A. Theor. Chim. Acta 1973, 28, 213-222.
38. Francl, M. M.; Pietro, W. J.; Hehre, W. J.; Binkley, J. S.; Gordon, M. S.; Defrees, D. J.; Pople, J. A. J. Chem. Phys. 1982, 77, 3654-3665.
39. Pei, Y.; Ma, J.; Jiang, Y. S. Langmuir 2003, 19, 7652-7661.
40. Pei, Y.; Ma, J. Langmuir 2006, 22, 3040-3048.
41. Walko, D. A.; Sakata, O.; Lyman, P. F.; Lee, T.-L.; Tinkham, B. P.; Okasinski, J. S.; Zhang, Z.; Bedzyk, M. J. AIP Conf. Proc. 2004, 705, 1166.
42. For a review of XSW see: Bedzyk, M. J.; Cheng, L. W. Rev. Mineral. Geochem. 2002, 49, 221-266.
43. Golovchenko, J. A.; Patel, J. R.; Kaplan, D. R.; Cowan, P. L.; Bedzyk, M. J. Phys. Rev. Lett. 1982, 49, 560-563.
44. Zegenhagen, J. Surf. Sci. Rep. 1993, 18, 199-271.
45. Bedzyk, M. J.; Fenter, P.; Zhang, Z.; Cheng, L.; Okasinski, J. S.; Sturchio, N. C. Synchrotron Radiat. News (Tech. Rev.) 2004, 17, 5-10.
46. Cheng, L.; Fenter, P.; Bedzyk, M. J.; Sturchio, N. C. Phys. Rev. Lett. 2003, 90, 255503.
47. Okasinski, J. S.; Kim, C.; Walko, D. A.; Bedzyk, M. J. Phys. Rev. B 2004, 69, 041401.
48. Eves, B. J.; Sun, Q. Y.; Lopinski, G. P.; Zuilhof, H. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 14318-14319.
49. Kwok, R. W. M. Computer code XPSPeak, version 4.1 ; The Chinese University of Hong Kong: Shatin, New Territories, Hong Kong SAR, 1999.
50. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy; Chastain, J., Ed.; Perkin-Elmer Corp., Physical Electronics Division: Eden Prairie, MN, 1995; Chapter 1, p 10; Chapter 2, p 98.
51. Zhou, X. J.; Li, Q.; He, Z. H.; Yang, X.; Leung, K. T. Surf. Sci. 2003, 543, L668-L674.
52. Deluge, M.; Cai, C. Z. Langmuir 2005, 21, 1917-1922.
53. Beamson, G.; Briggs, D. High Resolution XPS of Organic Polymers: The Scienta ESCA300 Database. Wiley-Interscience: New York, 1992.
54. Als-Nielsen, J.; McMorrow, D. Elements of Modem X-ray Physics: Wiley: New York, 2001.
55. Robinson, I. K.; Tweet, D. J. Rep. Prog. Phys. 1992, 55, 599-651.
56. Bedzyk, M. J.; Materlik, G. Phys. Rev. B 1985, 31, 4110-4112.
57. Hundertmark, T.; Linke, A. F.; Buchwald, S. L.; Fu, G. C. Org. Lett. 2000, 2, 1729-1731.
58. Littke, A. F.; Schwarz, L.; Fu, G. C. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 6343-6348.