Thickness profiles through fatigued bulk ceramic lead zirconate titanate

Journal of Applied Physics

Volumn 100, Issue 11, 2006, Pages

  Balke, Nina ^a   Lupascu, Doru C ^b   Blair, Thomas ^c   Gruverman, Alexei ^c  

^a DARMSTADT UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Germany)

^b DRESDEN UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Germany)

^c North Carolina State University   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTRICAL HYSTERESIS; LEAD ZIRCONATE TITANATE; PIEZORESPONSE FORCE MICROSCOPY;

COERCIVE FORCE; ELECTRIC SPACE CHARGE; ELECTRODES; FATIGUE OF MATERIALS; FERROELECTRIC MATERIALS; LEAD COMPOUNDS;

CERAMIC MATERIALS;

EID: 33845738358     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2395600     Document Type: Article

References (71)

1. D. B. Fraser and J. R. Maldonado, J. Appl. Phys. 41, 2172 (1970).
2. Q. Jiang, E. C. Subbarao, and L. E. Cross, J. Appl. Phys. 75, 7433 (1994).
3. D. Wang, Y. Fotinich, and G. P. Carman, J. Appl. Phys. 83, 5342 (1998).
4. H. Weitzing, G. A. Schneider, J. Steffens, M. Hammer, and M. J. Hoffmann, J. Eur. Ceram. Soc. 19, 1333 (1999).
5. V. Bobnar, Z. Kutnjak, A. Levstik, J. Holc, M. Kosec, T. Hauke, R. Steinhausen, and H. Beige, J. Appl. Phys. 85, 622 (1999).
6. M. Mitrovic, G. P. Carman, and F. K. Straub, Proc. SPIE 3992, 217 (2000).
7. J. Nuffer, D. C. Lupascu, and J. Rödel, Acta Mater. 48, 3783 (2000).
8. J. F. Scott, B. Pouligny, K. Dimmler, M. Parris, D. Butler, and S. Eaton, J. Appl. Phys. 62, 4510 (1987).
9. J. F. Scott and B. Pouligny, J. Appl. Phys. 64, 1547 (1988).
10. H. M. Duiker, P. D. Beale, J. F. Scott, C. A. Paz de Araujo, B. M. Melnick, J. D. Cuchiaro, and L. D. McMillan, J. Appl. Phys. 68, 5783 (1992).
11. I. K. Yoo and S. B. Desu, Mater. Sci. Eng., B 13, 319 (1992).
12. C. Brennan, Ferroelectrics 150, 199 (1993).
13. C. J. Brennan, R. D. Parrella, and D. E. Larsen, Ferroelectrics 151, 33 (1994).
14. W. L. Warren, D. Dimos, B. A. Tuttle, R. D. Nasby, and G. E. Pike, Appl. Phys. Lett. 65, 1018 (1994).
15. P. K. Larsen, G. J. M. Dormans, D. J. Taylor, and P. J. van Veldhoven, J. Appl. Phys. 76, 2405 (1994).
16. A. L. Kholkin, E. L. Colla, A. K. Tagantsev, D. V. Taylor, and N. Setter, Appl. Phys. Lett. 68, 2577 (1996).
17. X. Du and I.-W. Chen, Appl. Phys. Lett. 72, 1923 (1998).
18. X. Du and I.-W. Chen, J. Appl. Phys. 83, 7789 (1998).
19. E. L. Colla, S. Hong, D. V. Taylor, A. K. Tagantsev, and N. Setter, Appl. Phys. Lett. 72, 2763 (1998).
20. M. Grossmann, D. Bolten, O. Lohse, U. Boettger, R. Waser, and S. Tiedke, Appl. Phys. Lett. 77, 1894 (2000).
21. B. G. Chae, C. H. Park, Y. S. Yang, and M. S. Jang, Appl. Phys. Lett. 75, 2135 (1999).
22. J. Nuffer, D. C. Lupascu, and J. Rödel, J. Eur. Ceram. Soc. 21, 1421 (2001).
23. J. F. Scott and M. Dawber, Appl. Phys. Lett. 76, 3801 (2000).
24. D. C. Lupascu and U. Rabe, Phys. Rev. Lett. 89, 187601 (2002).
25. E. L. Colla, D. V. Taylor, A. K. Tagantsev, and N. Setter, Appl. Phys. Lett. 72, 2478 (1998).
26. B. M. Melnick, J. F. Scott, C. A. Paz de Araujo, and L. D. McMillan, Ferroelectrics 135, 163 (1992).
27. B. Li, F. Koch, X. J. Meng, J. G. Cheng, and J. H. Chu, Appl. Phys. Lett. 77, 898 (2000).
28. I. K. Yoo and C. J. Kim, Integr. Ferroelectr. 11, 269 (1995).
29. S. Takatani, H. Miki, K. Kushida-Abdelgahfar, and K. Torii, J. Appl. Phys. 85, 7784 (1999).
30. M. Dawber and J. F. Scott, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 41, 6848 (2002).
31. H. Kanaya, T. Iwamoto, Y. Takahagi, I. Kunishima, and S. Tanaka, Integr. Ferroelectr. 25, 235 (1999).
32. A. Ruediger, O. F. Schirmer, A. K. Kadashchuk, and Yu. A. Skryshevskii, Europhys. Lett. 57, 592 (2002).
33. M. Moert, G. Schindler, T. Mikolajick, N. Nagel, W. Hartner, C. Dehm, H. Kohlstedt, and R. Waser, Appl. Surf. Sci. 249, 23 (2005).
34. H. Ishiwara, M. Okuyama, and Y. Arimoto, Ferroelectric Random Access Memories (Springer, Berlin, 2004).
35. K. Franke, H. Huelz, and S. Seifert, Ferroelectr., Lett. Sect. 23, 1 (1997).
36. A. K. Tagantsev, I. Stolichnov, E. L. Colla, and N. Setter, J. Appl. Phys. 90, 1387 (2001).
37. M. Dawber, K. M. Rabe, and J. F. Scott, Rev. Mod. Phys. 77, 1083 (2005).
38. W. Wu, K. H. Wong, C. L. Choy, and Y. H. Zhang, Appl. Phys. Lett. 77, 3441 (2000).
39. C. A. Paz de Araujo, J. D. Cuchiaro, L. D. McMillan, M. C. Scott, and J. F. Scott, Nature (London) 374, 627 (1995).
40. B. H. Park, B. S. Kang, S. D. Bu, T. W. Noh, J. Lee, and W. Jo, Nature (London) 401, 682 (1999).
41. D. C. Lupascu, E. Aulbach, and J. Rödel, J. Appl. Phys. 93, 5551 (2003).
42. C. Verdier, D. C. Lupascu, and J. Rödel, J. Eur. Ceram. Soc. 23, 1409 (2003).
43. R. Ramesh, Appl. Phys. Lett. 61, 1537 (1992).
44. I. K. Yoo, S. B. Desu, and J. Xing, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 310, 165 (1993).
45. T. Nakamura, Y. Nakao, A. Kamisawa, and H. Takasu, Appl. Phys. Lett. 65, 1522 (1994).
46. J. J. Lee, C. L. Thio, and S. B. Desu, J. Appl. Phys. 78, 5073 (1995).
47. H. N. Al-Shareef, B. A. Tuttle, W. L. Warren, T. J. Headley, D. Dimos, J. A. Voigt, and R. D. Nasby, J. Appl. Phys. 79, 1013 (1996).
48. J. F. Scott, J. Am. Ceram. Soc. 88, 1691 (2005).
49. D. Ricinschi, M. Okuyama, and M. Shimiza, Appl. Phys. Lett. 81, 4040 (2002).
50. Y. Zhang, D. C. Lupascu, E. Aulbach, I. Baturin, A. Bell, and J. Rödel, Acta Mater. 53, 2203 (2005).
51. M. Alexe and A. Gruverman, Nanoscale Characterization of Ferroelectric Materials (Springer, Berlin, 2004).
52. X. M. Lu, F. Schlaphof, S. Grafström, C. Loppacher, L. M. Eng, G. Suchaneck, and G. Gerlach, Appl. Phys. Lett. 81, 3215 (2002).
53. Z. Wang, J. E. Blendell, G. S. White, and Q. Jiang, Smart Mater. Struct. 12, 217 (2003).
54. A. Gruverman, O. Auciello, and H. Tokumoto, Annu. Rev. Mater. Sci. 28, 101 (1998).
55. S. V. Kalinin, E. Karapetian, and M. Kachanov, Phys. Rev. B 70, 184101 (2004).
56. S. V. Kalinin and D. A. Bonnell, in Nanoscale Characterization of Ferroelectric Materials, edited by, M. Alexe, and, A. Gruverman, (Springer, Berlin, 2004), pp. 1-43.
57. M. Grossmann, O. Lohse, D. Bolten, U. Boettger, T. Schneller, and R. Waser, J. Appl. Phys. 92, 2680 (2002).
58. M. Grossmann, O. Lohse, D. Bolten, U. Boettger, and R. Waser, J. Appl. Phys. 92, 2688 (2002).
59. C. Verdier, F. D. Morrison, D. C. Lupascu, and J. F. Scott, J. Appl. Phys. 97, 024107 (2005).
60. Y. Zhang, D. C. Lupascu, N. Balke, and J. Rödel, J. Phys. IV 128, 97 (2005).
61. P. Chaplya and G. P. Carman, ASME Adaptive Structures and Materials Systems Symposium, Nashville, TN, November 1999, AD-Vol. 59, pp. 105-111.
62. J. S. Liu, S. R. Zhang, L. S. Dai, and Y. Yuan, J. Appl. Phys. 97, 104102 (2005).
63. D.-H. Do, P. E. Evans, E. D. Isaacs, D.-M. Kim, C.-B. Eom, and E. M. Dufresne, Nat. Mater. 3, 365 (2004).
64. A. Gruverman, B. J. Rodriguez, A. I. Kingon, R. J. Nemanich, J. S. Cross, and M. Tsukada, Appl. Phys. Lett. 82, 3071 (2003).
65. S. Dunn, J. Appl. Phys. 94, 5964 (2003).
66. V. M. Fridkin, Ferroelectric Semiconductors (Consultants Bureau, New York, 1980).
67. X. Du and I.-W. Chen, Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 493, 311 (1998).
68. V. V. Shvartsman, A. L. Kholkin, C. Verdier, and D. C. Lupascu, J. Appl. Phys. 98, 094109 (2005).
69. J. Nuffer, D. C. Lupascu, A. Glazounov, H.-J. Kleebe, and J. Rödel, J. Eur. Ceram. Soc. 22, 2133 (2002).
70. A. Gruverman, O. Auciello, and H. Tokumoto, Appl. Phys. Lett. 69, 3191 (1996).
71. V. Ya. Shur, E. L. Rumyantsev, E. V. Nikolaeva, and E. I. Shishkin, and I. S. Baturin, Phys. Solid State 1063-7834 10.1134/1.1521472 44, 2151 (2002)