Solvent-dependent assembly of terphenyl- And quaterphenyldithiol on gold and gallium arsenide

Langmuir

Volumn 21, Issue 13, 2005, Pages 5887-5893

  Krapchetov, Dmitry A ^a   Ma, Hong ^b   Jen, Alex K Y ^b   Fischer, Daniel A ^c   Loo, Yueh Lin ^a  

^a The University of Texas at Austin   (United States)

^b UNIVERSITY OF WASHINGTON   (United States)

^c NATIONAL INSTITUTE OF STANDARDS AND TECHNOLOGY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTRICAL BEHAVIOR; ORGANIC MOLECULES; SELF-ASSEMBLED MONOLAYERS (SAM); TETRAHYDROFURAN (THF);

ELLIPSOMETRY; ETHANOL; GALLIUM COMPOUNDS; MOLECULES; MONOLAYERS; SELF ASSEMBLY; SOLUTIONS; SOLVENTS; SURFACE PROPERTIES; SYNTHESIS (CHEMICAL); X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

GOLD;

EID: 21744438581     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la0503000     Document Type: Article

References (73)

1. Aviram, A.; Ratner, M. A. Chem. Phys. Lett. 1974, 29, 277.
2. Liang, W.; Shores, M. P.; Bockrath, M.; Long, J. R.; Park, H. Nature 2002, 417, 725.
3. Reed, M. A.; Zhou, C.; Muller, C. J.; Burgin, T. P.; Tour, J. M. Science 1997, 278, 252.
4. Zhitenev, N. B.; Meng, H.; Bao, Z. Phys. Rev. Lett. 2002, 88, 226801/1.
5. James, D. K.; Tour, J. M. Chem. Mater. 2004, 16, 4423.
6. Wang, W.; Lee, T.; Kretzschmar, I.; Reed, M. A. Nano Lett. 2004, 4, 643.
7. Tran, E.; Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. Angew. Chem., Int. Ed. 2004, 43, 3835.
8. Selzer, Y.; Salomon, A.; Cahen, D. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 2886.
9. Tour, J. M.; Rawlett, A. M.; Kozaki, M.; Yao, Y.; Jagessar, R. C.; Dirk, S. M.; Price, D. W.; Reed, M. A.; Zhou, C. W.; Chen, J.; Wang, W.; Campbell, I. Chemistry 2001, 7, 5118.
10. Salomon, A.; Arad-Yellin, R.; Shanzer, A.; Karton, A.; Cahen, D. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 11648.
11. Chen, J.; Reed, M. A.; Rawlett, A. M.; Tour, J. M. Science 1999, 286, 1550.
12. Xue, Y.; Datta, S.; Hong, S.; Reifenberger, R.; Henderson, J. I.; Kubiak, C. P. Phys. Rev. B 1999, 59, R7852.
13. Wassel, R. A.; Credo, G. M.; Fuierer, R. R.; Feldheim, D. L.; Gorman, C. B. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 295.
14. Metzger, R. M. Chem. Rec. 2004, 4, 291.
15. Metzger, R. M. Acc. Chem. Res. 1999, 32, 950.
16. Chen, Y.; Ohlberg, D. A. A.; Li, X.; Stewart, D. R.; Stanley, W. R.; Jeppesen, J. O.; Nielsen, K. A.; Stoddart, J. F.; Olynick, D. L.; Anderson, E. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 1610.
17. Luo, Y.; Collier, C. P.; Jeppesen, J. O.; Nielsen, K. A.; Delonno, E.; Ho, G.; Perkins, J.; Tseng, H.-R.; Yamamoto, T.; Stoddart, J. F.; Heath, J. R. ChemPhysChem 2002, 3, 519.
18. Heath, J. R. Pure Appl. Chem. 2000, 72, 11.
19. Hsu, J. W. P.; Loo, Y. L.; Lang, D. V.; Rogers, J. A. J. Vac. Sci. Technol., B 2003, 21, 1928.
20. Cui, X. D.; Zarate, X.; Tomfohr, J.; Sankey, O. F.; Primak, A.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Harris, G.; Lindsay, S. M. Nanotechnology 2002, 13, 5.
21. Hipps, K. W. Science 2001, 294, 536.
22. Dubois, L. H.; Nuzzo, R. G. Annu. Rev. Phys. Chem. 1992, 43, 437.
23. Dubois, L. H.; Zegarski, B. R.;Nuzzo, R. G. J. Chem. Phys. 1993, 98, 678.
24. Ye, S.; Li, G.; Noda, H.; Uosaki, K.; Osawa, M. Surf. Sci. 2003, 529, 163.
25. Karpovich, D. S.; Blanchard, G. J. Langmuir 1994, 10, 3315.
26. Ulman, A. Chem. Rev. 1996, 96, 1533.
27. Fischer, D.; Marti, A.; Hahner, G. J. Vac. Sci. Technol., A 1997, 15, 2173.
28. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y. T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152.
29. Kondoh, H.; Nambu, A.; Ehara, Y.; Matsui, F.; Yokoyama, T.; Ohta, T. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 12946.
30. Baum, T.; Ye, S.; Uosaki, K. Langmuir 1999, 15, 8577.
31. Tiberio, R. C.; Craighead, H. G.; Lercel, M.; Lau, T.; Sheen, C. W.; Allara, D. L. Appl. Phys. Lett. 1993, 62, 476.
32. Leung, T. Y. B.; Gerstenberg, M. C.; Lavrich, D. J.; Scoles, G.; Schreiber, F.; Poirier, G. E. Langmuir 2000, 16, 549.
33. Cavallini, M.; Bracali, M.; Aloisi, G.; Guidelli, R. Langmuir 1999, 15, 3003.
34. Loo, Y.-L.; Lang, D. V.; Rogers, J. A.; Hsu, J. W. P. Nano Lett. 2003, 3, 913.
35. Loo, Y.-L.; Hsu, J. W. P.; Willett, R. L.; Baldwin, K. W.; West, K. W.; Rogers, J. A. J. Vac. Sci. Technol., B 2002, 20, 2853.
36. Loo, Y.-L.; Willett, R. L.; Baldwin, K. W.; Rogers, J. A. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 7654.
37. Felmet, K.; Loo, Y.-L.; Sun, Y. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 3316.
38. Rieley, H.; Kendall, G. K.; Zemicael, F. W.; Smith, T. L.; Yang, S. Langmuir 1998, 14, 5147.
39. Azzam, W.; Wehner, B. I.; Fischer, R. A.; Terfort, A.; Woell, C. Langmuir 2002, 18, 7766.
40. de Boer, B.; Meng, H.; Perepichka, D. F.; Zheng, J.; Frank, M. M.; Chabal, Y. J.; Bao, Z. Langmuir 2003, 19, 4272.
41. Tai, Y.; Shaporenko, A.; Rong, H. T.; Buck, M.; Eck, W.; Grunze, M.; Zharnikov, M. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 16806.
42. Weckenmann, U.; Mittler, S.; Naumann, K.; Fischer, R. A. Langmuir 2002, 18, 5479.
43. Frey, S.; Stadler, V.; Heister, K.; Eck, W.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Zeysing, B.; Terfort, A. Langmuir 2001, 17, 2408.
44. Shaporenko, A.; Adlkofer, K.; Johansson, L. S. O.; Tanaka, M.; Zharnikov, M. Langmuir 2003, 19, 4992.
45. Fuxen, C.; Azzam, W.; Arnold, R.; Witte, G.; Terfort, A.; Woell, G. Langmuir 2001, 17, 3689.
46. Pinchart, A.; Dallaire, C.; Van Bierbeek, A.; Gingras, M. Tetrahedron Lett. 1999, 40, 5479.
47. Kang, J. F.; Ulman, A.; Liao, S.; Jordan, R.; Yang, G.; Liu, G.-Y. Langmuir 2001, 17, 95.
48. Tour, J. M.; Jones, L.; Pearson, D. L.; Lamba, J. J. S.; Burgin, T. P.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Parikh, A. N.; Atre, S. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 9529.
49. Pearson, D. L.; Tour, J. M. J. Org. Chem. 1997, 62, 1376.
50. For detailed information on the NIST/Dow Soft X-ray Materials Characterization Facility at NSLS BNL, see http://www.nsls.bnl.gov/ newsroom/publications/newsletters/1996/96-nov.pdf.
51. Genzer, J.; Kramer, E. J.; Fischer, D. A. J. Appl. Phys. 2002, 92, 7070.
52. Genzer, J.; Sivaniah, E.; Kramer, E. J.; Wang, J.; Koerner, H.; Char, K. ; Ober, C. K.; DeKoven, B. M.; Bubeck, R. A.; Fischer, D. A.; Sambasivan, S. Langmuir 2000, 16, 1993.
53. Stohr, J. NEXAFS Spectroscopy; Springer: Berlin, 1992.
54. Outka, D. A.; Stohr, J.; Rabe, J. P.; Swalen, J. D.; Rotermund, H. H. Phys. Rev. Lett. 1987, 59, 1321.
55. Stohr, J.; Outka, D. A. Phys. Rev. B 1987, 36, 7891.
56. Fischer, D. A.; Efimenko, K.; Bhat, R. R.; Sambasivan, S.; Genzer, J. Macromol. Rapid Commun. 2004, 25, 141.
57. Kinzler, M.; Schertel, A.; Haehner, G.; Woell, C.; Grunze, M.; Albrecht, H.; Holzhueter, G.; Gerber, T. J. Chem. Phys. 1994, 100, 7722.
58. Outka, D. A.; Stoehr, J.; Rabe, J. P.; Swalen, J. D. J. Chem. Phys. 1988, 88, 4076.
59. Dzyabchenko, A.; Scheraga, H. A. Acta Crystallogr. 2004, B60, 228.
60. Stapleton, J. J.; Harder, P.; Daniel, T. A.; Reinard, M. D.; Yao, Y.; Price, D. W.; Tour, J. M.; Allara, D. L. Langmuir 2003, 19, 8245.
61. Dhirani, A.-A.; Zehner, R. W.; Hsung, R. P.; Guyot-Sionnest, P.; Sita, L. R. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 3319.
62. Chang, S.-C.; Chao, I.; Tao, Y.-T. J. Am. Chem. Soc. 1994, 116, 6792.
63. Torkhov, N. A. Semiconductors 2003, 37, 1177.
64. Moriarty, P.; Hughes, G. Ultramicroscopy 1992, 42-44, 956.
65. Himmel, H.-J.; Terfort, A.; Woell, C. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 12069.
66. Urquhart, S. G.; Ade, H. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 8531.
67. Krapchetov, D.; Loo, Y.-L. Unpublished results, 2005.
68. Corish, J.; Morton-Blake, D. A.; O'Donoghue, F.; Baudour, J. L.; Beniere, F.; Toudic, B. THEOCHEM 1995, 358, 29.
69. Cailleau, H.; Baudour, J. L.; Zeyen, C. M. E. Acta Crystallogr. 1979, B35, 426.
70. Baudour, J. L.; Delugeard, Y.; Rivet, P. Acta Crystallogr. 1978, B34, 625.
71. Ishida, T.; Mizutani, W.; Azehara, H.; Sato, F.; Choi, N.; Akiba, U.; Fujihira, M.; Tokumoto, H. Langmuir 2001, 17, 7459.
72. Mekhalif,Z.; Laffineur, F.; Couturier,N.;Delhalle, J.Langmuir 2003, 19, 637.
73. Shaporenko, A.; Adlkofer, K.; Johansson, L. S. O.; Ulman, A.; Grunze, M. ; Tanaka, M.; Zharnikov, M. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 17964.