Spectroscopic characterization of 4′-substituted aromatic self-assembled monolayers on GaAs(100) surface

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 108, Issue 46, 2004, Pages 17964-17972

  Shaporenko, A ^a   Adlkofer, K ^b   Johansson, L S O ^c   Ulman, A ^d   Grunze, M ^a   Tanaka, M ^b   Zharnikov, M ^a  

^a UNIVERSITY OF HEIDELBERG   (Germany)

^b TECHNICAL UNIVERSITY OF MUNICH   (Germany)

^c KARLSTAD UNIVERSITY   (Sweden)

^d POLYTECHNIC UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EXCITATION ENERGIES; FILM STRUCTURE; MOLECULAR FILMS;

BINDING ENERGY; CHEMICAL SENSORS; CONTAMINATION; ELECTRIC EXCITATION; ELECTROLYTES; OXIDATION; PHOTOEMISSION; SEMICONDUCTING GALLIUM ARSENIDE; SYNCHROTRONS; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

SELF ASSEMBLY;

EID: 9944240380     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp040474a     Document Type: Article

References (76)

1. Baumgartner, P.; Engel, C.; Abstreiter, G.; Böhm, G.; Weimann, G. Appl. Phys. Lett. 1994, 64, 592.
2. Baumgartner, P.; Engel, C.; Abstreiter, G.; Böhm, G.; Weimann, G. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 751.
3. Ulman, A. Chem. Rev. 1996, 96, 1533.
4. Sheen, C. W.; Shi, J.-X.; Martensson, J.; Parikh, A. N.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 1514.
5. Lercel, M. J.; Redinbo, G. F.; Pardo, F. D.; Rooks, M.; Tiberio, R. C.; Simpson, P.; Craighead, H. G.; Sheen, C. W.; Parikh, A. N.; Allara, D. L. J. Vac. Sci. Technol., B 1994, 12, 3663.
6. Dorsten, J. F.; Maslar, J. E.; Bohn, P. W. Appl Phys. Lett. 1995, 66, 1755.
7. Onho, H.; Motomatsu, M.; Mizutani, W.; Tokumoto, H. Jpn. J. Appl. Phys. 1995, 34, 1381.
8. Lercel, M. J.; Craighead, H. G.; Parikh, A. N.; Seshadri, K.; Allara, D. L. J. Vac. Sci. Technol., A 1996, 14, 1844.
9. Seshadri, K.; Froyd, K.; Parikh, A. N.; Allara, D. L.; Lercel, M. J.; Craighead, H. G. J. Phys. Chem. 1996, 100, 15900.
10. Adlkofer, K.; Tanaka, M.; Hillebrandt, H.; Wiegand, G.; Sackmann, E.; Bolom, T.; Deutschmann, R.; Abstreiter, G. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 3313.
11. Adlkofer, K.; Tanaka, M. Langmuir 2001, 17, 4267.
12. Duijs, E. F.; Findeis, F.; Deutschmann, R. A.; Bichler, M.; Zrenner, A.; Abstreiter, G.; Adlkofer, A.; Tanaka, M.; Sackmann, E. Phys. Status Solidi B 2001, 224, 871.
13. Adlkofer, K.; Duijs, E. F.; Findeis, F.; Bichler, M.; Zrenner, A.; Sackmann, E.; Abstreiter, G.; Tanaka, M. Phys. Chem. Chem. Phys. 2002, 4, 785.
14. Adlkofer, K.; Eck, W.; Grunze, M.; Tanaka, M. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 587.
15. Shaporenko, A.; Adlkofer, K.; Johansson, L. S. O.; Tanaka, M.; Zharnikov, M. Langmuir 2003, 19, 4992.
16. Luber, S.; Adlkofer, A.; Rant, U.; Ulman, A.; Gölzhäuser, A.; Grunze, M.; Schuh, D.; Tanaka, M.; Tornow, M.; Abstreiter, G. Physica E 2004, 21, 1111.
17. Adlkofer, K.; Shaporenko, A.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Ulman, A.; Tanaka M. J. Phys. Chem. B 2003, 707, 11737.
18. Kang, J. F.; Jordan. R.; Ulman, A. Langmuir 1998, 14, 3983.
19. Wirde, M.; Gelius, U.; Dunbar, T.; Allara, D. L. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., B 1997, 131, 245.
20. Jäger, B.; Schürmann, H.; Müller, H. U.; Himmel, H.-J.; Neumann, M.; Grunze, M.; Wöll, Ch. Z. Phys. Chem. 1997, 202, 263.
21. Heister, K.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Johansson, L. S. O.; Ulman, A. Langmuir 2001, 17, 8.
22. Zharnikov, M.; Grunze, M. J. Vac. Sci. Technol., B 2002, 20, 1793.
23. Band, I. M.; Kharitonov, Yu. I.; Trzhaskovskaya, M. B. At. Data Nucl. Data Tables 1979, 23, 443.
24. Goldberg, S. M.; Fadley, C. S.; Kono, S. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1981, 21, 285.
25. Yen, J. J.; Lindau, I. At. Data Nucl. Data Tables 1985, 32, 1.
26. Heister, K.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Johansson, L. S. O. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 4058.
27. Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectrometers - Calibration of energy scales, ISO 15472: 2001.
28. Heister, K.; Rong, H.-T.; Buck, M.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Johansson, L. S. O. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 6888.
29. Stöhr, J. NEXAFS Spectroscopy; Springer Series in Surface Science 25; Springer-Verlag: Berlin, 1992.
30. Frey, S.; Heister, K.; Zharnikov, M.; Grunze, M., Tamada, K.; Colorado, R., Jr.; Graupe, M.; Shmakova, O. E.; Lee, T. R. Isr. J. Chem. 2000, 40, 81.
31. Zharnikov, M.; Frey, S.; Heister, K.; Grunze, M. Langmuir 2000, 16, 2697.
32. Batson, P. E. Phys. Rev. B 1993, 48, 2608.
33. Lindau, I.; Spicer, W. E. J. Electron Spectrosc. 1974, 3, 409.
34. Powell, C. J. Surf. Sci. 1974, 44, 29.
35. Chang, S.; Vitomirov, I. M.; Brillson, L. J.; Rioux, D. F.; Kirchner, P. D.; Pettit, G. D.; Woodall, J. M. J. Vac. Sci. Technol., B 1991, 9, 2129.
36. Wagner, C. D.; Riggs, W. M.; Davis, L. E.; Moulder, J. F.; Muilenberg, J. E. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy; Perkin-Elmer Corp.: Eden Prairie, MN, 1979.
37. Mao, D.; Kahn, A.; Le Lay, G.; Marsi, M.; Hwu, Y.; Margaritondo, G.; Santos, M.; Shayegan, M.; Florez, L. T.; Harbison, J. P. J. Vac. Sci. Technol., B 1991, 9, 2083.
38. Lunt, S. R.; Ryba, G. N.; Santangelo, P. G.; Lewis, N. S. J. Appl. Phys. 1991, 70, 7449.
39. Lunt, S. R.; Santangelo, P. G.; Lewis, N. S J. Vac. Sci. Technol., B 1991, 9, 2333.
40. Shin, J.; Geib, K. M.; Wilmsen, C. W. J. Vac. Sci. Technol., B 1991, 9, 2337.
41. Moulder, J. F.; Stickle, W. E.; Sobol, P. E.; Bomben, K. D. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy, Chastian, J., Ed.; Perkin-Elmer Corp.: Eden Prairie, MN, 1992.
42. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152.
43. Himmelhaus, M.; Gauss, I.; Buck, M.; Eisert, F.; Wöll. Ch.; Grunze, M. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 92, 139.
44. Zharnikov, M.; Grunze, M. J. Phys.: Condens. Matter 2001, 13, 11333.
45. Himmel, H.-J.; Terfort, A.; Wöll, Ch. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 12069.
46. Geyer, W.; Stadier, V.; Eck, W.; Zharnikov, M.; Gölzhäuser, A.; Grunze, M. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 2401.
47. Frey, S.; Stadler, V.; Heister, K.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Zeysing, B.; Terfort, A. Langmuir 2001, 17, 2408.
48. Fuxen, C.; Azzam, W.; Arnold, R.; Witte, G.; Terfort, A.; Wöll, Ch. Langmuir 2001, 17, 3689.
49. Zharnikov, M.; Küller, A.; Shaporenko, A.; Schmidt, E.; Eck, W. Langmuir 2003, 19, 4682.
50. Horsley, J. A.; Stöhr, J.; Hitchcock, A. P.; Newbury, D. C.; Johnson, A. L.; Sette, F. J. Chem. Phys. 1985, 83, 6099.
51. Stöhr, J.; Outka, D. A. Phys. Rev. B 1987, 36, 7891.
52. Weiss, K.; Gebert, S.; Wüh'n, M.; Wadepohl, H.; Wöll, Ch. J. Vac. Sci. Technol., A 1998, 16, 1017.
53. Yokoyama, T.; Seki, K.; Morisada, I.; Edamatsu, K.; Ohta, T. Phys. Scr. 1990, 41, 189.
54. Ågren, H.; Vahtras, O.; Carravetta, V. Chem. Phys. 1995, 796, 47.
55. Lii, J.-H.; Allinger, N. L. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 8576.
56. Chang, S.-C.; Chao, I.; Tao, Y.-T. J. Am. Chem. Soc. 1994, 116, 6792.
57. Dhirani, A.-A.; Zehner, W.; Hsung, R. P.; Guyot-Sionnest, P.; Sita, L. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 3319.
58. Sabatani, E.; Cohen-Boulakia, J.; Bruening, M.; Rubinstein, I. Langmuir 1993, 9, 2974.
59. Ulman, A. Acc. Chem. Res. 2001, 34, 855.
60. Cruickshank, D. W. J. Acta Crystallogr. 1956, 9, 915.
61. Kitaigorodskii, I. A. Organic Chemical Crystallography; Consultants Bureau; New York, 1961.
62. Trotter, J. Acta Crystallogr. 1961, 14, 1135.
63. Charbonneau, G.-P.; Delugeard, Y. Acta Crystallogr. 1976, B32, 1420.
64. Dannenberger, O.; Weiss, K.; Himmel, H.-J.; Jäger, B.; Buck, M.; Wöll, Ch. Thin Solid Films 1997, 307, 183.
65. Frey, S.; Shaporenko, A.; Zharnikov, M.; Harder, P.; Allara. D. L. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 7716.
66. Razek, N.; Otte, K.; Chasse, T.; Hirsch, D.; Schindler, A.: Frost, F.; Rauschenbach, B. J. Vac. Sci. Technol., A 2002, 20, 1492.
67. Vasquez, R. P.; Lewis, B. F.; Grunthar, F. J. J. Vac. Sci. Technol. 1983, B1, 791.
68. Woodall, J. M.; Oelhafen, P.; Jackson, T. N.; Freeouf, J. L.; Pettit, G. D. J. Vac. Sci. Technol. 1983, B1, 795.
69. Sze, S. M. Semiconductor Devices: Physics and Technology, John Wiley & Sons: New York, 1985.
70. Lunt. S. R.; Ryba. G. N.; Santangelo, P. G.; Lewis. N. S. J. Appl. Phys. 1991, 70, 7449.
71. Nakagawa, O. S.; Ashok, S.; Sheen. C. W.; Murtensson, J.: Allara, D. L. Jpn. J. Appl. Phys. 1991, 30, 3759.
72. Bain, C. D. Adv. Mater. 1992, 4, 591.
73. Sackmann, E.; Tanaka. M. Trends Biotechnol. 2000, 18, 58.
74. Hillebrandt, H.: Wiegand, G.; Tanaka, M.; Sackmann, E. Langmuir 1999, 15, 8451.
75. Tanaka, M.; Kaufmann, S.; Nissen, J.; Hochrein, M. Phys. Chem. Chem. Phys. 2001, 3, 4091.
76. Hillebrandt, H.; Tanaka, M.; Sackmann, E. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 477.