Functionalization of GaAs surfaces with aromatic self-assembled monolayers: A synchrotron-based spectroscopic study

Langmuir

Volumn 19, Issue 12, 2003, Pages 4992-4998

  Shaporenko, A ^a   Adlkofer, K ^b   Johansson, L S O ^c   Tanaka, M ^b   Zharnikov, M ^a  

^a UNIVERSITY OF HEIDELBERG   (Germany)

^b TECHNICAL UNIVERSITY OF MUNICH   (Germany)

^c KARLSTAD UNIVERSITY   (Sweden)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ABSORPTION SPECTROSCOPY; AROMATIC COMPOUNDS; CRYSTAL ORIENTATION; MOLECULAR STRUCTURE; MONOLAYERS; NANOSTRUCTURED MATERIALS; OXIDATION; SELF ASSEMBLY; STOICHIOMETRY; SUBSTRATES; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

AROMATIC SELF ASSEMBLED MONOLAYERS; BIO ORGANIC MOLECULAR ASSEMBLIES; GALLIUM ARSENIDE; NEAR EDGE X RAY ABSORPTION FINE STRUCTURE SPECTROSCOPY; SYNCHROTRON BASED SPECTROSCOPIC STUDY; THIOLATE;

SEMICONDUCTING GALLIUM COMPOUNDS;

EID: 0037937410     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la020909q     Document Type: Article

References (74)

1. Sackmann, E., Tanaka, M. Trends Biotechnol. 2000, 18, 58.
2. Baumgartner, P., Engel, C., Abstreiter, G., Böhm, G., Weimann, G. Appl. Phys. Lett. 1994, 64, 592.
3. Baumgartner, P., Engel, C., Abstreiter, G., Böhm, G., Weimann, G. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 751.
4. Sheen, C. W.; Shi, J.-X.; Martenson, J.; Parikh, A. N. Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1992, 114, 1514.
5. Lercel, M. J.; Redinbo, G. F.; Pardo, F. D.; Rooks, M.; Tiberio, R. C.; Simpson, P.; Craighead, H. G.; Sheen, C. W.; Parikh, A. N.; Allara, D. L. J. Vac. Sci. Technol., B 1994, 12, 3663.
6. Dorsten, J. F.; Maslar, J. E.; Bohn, P. W. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 1755.
7. Onho, H.; Motomatsu, M.; Mizutani, W.; Tokumoto, H. Jpn. J. Appl. Phys. 1995, 34, 1381.
8. Lercel, M. J.; Craighead, H. G.; Parikh, A. N.; Seshadri, K.; Allara, D. L. J. Vac. Sci. Technol., A 1996, 14, 1844.
9. Seshadri, K.; Froyd, K.; Parikh, A. N.; Allara, D. L.; Lercel, M. J.; Craighead, H. G. J. Phys. Chem. 1996, 100, 15900.
10. Adlkofer, K.; Tanaka, M.; Hillebrandt, H.; Wiegand, G.; Sackmann, E.; Bolom, T.; Deutschmann, R.; Abstreiter, G. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 3313.
11. Adlkofer, K.; Tanaka, M. Langmuir 2001, 17, 4267.
12. Duijs, E. F.; Findeis, F.; Deutschmann, R. A.; Bichler, M.; Zrenner, A.; Abstreiter, G.; Adlkofer, A.; Tanaka, M.; Sackmann, E. Phys. Status Solidi B 2001, 224, 871.
13. Adlkofer, K.; Duijs, E. F.; Findeis, F.; Bichler, M.; Zrenner, A.; Sackmann, E.; Abstreiter, G.; Tanaka, M. Phys. Chem. Chem. Phys. 2002, 4, 785.
14. Eck, W.; Stadler, V.; Geyer, W.; Zharnikov, M.; Gölzhäuser, A.; Grunze, M. Adv. Mater. 2000, 12, 805.
15. Gölzhäuser, A.; Eck, W.; Geyers, W.; Stadler, V.; Weimann, T.; Hinze, P.; Grunze, M. Adv. Mater. 2001, 13, 806.
16. Zharnikov, M.; Grunze, M. J. Vac. Sci. Technol., B 2002, 20, 1793.
17. Adlkofer, K.; Eck, W.; Grunze, M.; Tanaka, M. J. Phys. Chem. B 2003, 107, 587.
18. Sabatani, E.; Cohen-Boulakia, J.; Bruening, M.; Rubinstein, I. Langmuir 1993, 9, 2974.
19. Band, I. M.; Kharitonov, Yu. I.; Trzhaskovskaya, M. B. At. Data Nucl. Data Tables 1979, 23, 443.
20. Goldberg, S. M.; Fadley, C. S.; Kono, S. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1981, 21, 285.
21. Yeh, J. J.; Lindau, I. At. Data Nucl. Data Tables 1985, 32, 1.
22. Heister, K.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Johansson, L. S. O. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 4058.
23. Heister, K.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Johansson, L. S. O.; Ulman, A. Langmuir 2001, 17, 8.
24. Heister, K.; Rong, H.-T.; Buck, M.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Johansson, L. S. O. J. Phys. Chem. B 2001, 05, 6888.
25. Stöhr, J. NEXAFS Spectroscopy; Springer Series in Surface Science 25; Springer-Verlag: Berlin, 1992. 1992.
26. Frey, S.; Heister, K.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Tamada, K.; Colorado, R., Jr.; Graupe, M.; Shmakova, O. E.; Lee, T. R. Isr. J. Chem. 2000, 40, 81.
27. Zharnikov, M.; Frey, S.; Heister, K.; Grunze, M. Langmuir 2000, 16, 2697.
28. Batson, P. E. Phys. Rev. B 1993, 48, 2608.
29. Wirde, M.; Gelius, U.; Dunbar, T.; Allara, D. L. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 1997, 131, 245.
30. Jäger, B.; Schürmann, H.; Müller, H. U.; Himmel, H.-J.; Neumann, M.; Grunze, M.; Wöll, Ch. Z. Phys. Chem. 1997, 202, 263.
31. Chang, S.; Vitomirov, I. M.; Brillson, L. J.; Rioux,D. F.; Kirchner, P. D.; Pettit, G. D.; Woodall, J. M. J. Vac. Sci. Technol., B 1991, 9, 2129.
32. Lindau, I.; Spicer, W. E. J. Electron Spectrosc. 1974, 3, 409.
33. Powell, C. J. Surf. Sci. 1974, 44, 29.
34. Wagner, C. D.; Riggs, W. M.; Davis, L. E.; Moulder, J. F.; Muilenberg, J. E. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy; Perkin-Elmer Corp.: Eden Prairie, MN, 1979.
35. Mao, D.; Kahn, A.; Le Lay, G.; Marsi, M.; Hwu, Y.; Margaritondo, G.; Santos, M.; Shayegan, M.; Florez, L. T.; Harbison, J. P. J. Vac. Sci. Technol., B 1991, 9, 2083.
36. Lunt, S. R.; Ryba, G. N.; Santangelo, P. G.; Lewis, N. S. J. Appl. Phys. 1991, 70, 7449.
37. Shin, J.; Geib, K. M.; Wilmsen, C. W. J. Vac. Sci. Technol., B 1991, 9, 2337.
38. Lunt, S. R.; Santangelo, P. G.; Lewis, N. S. J. Vac. Sci. Technol., B 1991, 9, 2333.
39. Moulder, J. F.; Stickle, W. E.; Sobol, P. E.; Bomben, K. D. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy; Chastian, J., Ed.; Perkin-Elmer Corp.: Eden Prairie, MN, 1992.
40. Laibinis, P. E.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Tao, Y.-T.; Parikh, A. N.; Nuzzo, R. G. J. Am. Chem. Soc. 1991, 113, 7152.
41. Himmelhaus, M.; Gauss, I.; Buck, M.; Eisert, F.; Wöll, Ch.; Grunze, M. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 92, 139.
42. Zharnikov, M.; Grunze, M. J. Phys.: Condens. Matter. 2001, 13, 11333.
43. Ishida, T.; Choi, N.; Mizutani, W.; Tokumoto, H.; Kojima, I.; Azehara, H.; Hokari, H.; Akiba, U.; Fujihira, M. Langmuir 1999, 15, 6799.
44. Takiguchi, H.; Sato, K.; Ishida, T.; Abe, K.; Yase, K.; Tamada, K. Langmuir 2000, 16, 1703.
45. Yang, Y. W.; Fan, L. J. Langmuir 2002, 18, 1157.
46. Himmel, H.-J.; Terfort, A.; Wöll, Ch. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 12069.
47. Geyer, W.; Stadler, V.; Eck, W.; Zharnikov,M.; Gölzhäuser, A.; Grunze, M. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 2401.
48. Frey, S.; Stadler, V.; Heister, K.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Zeysing, B.; Terfort, A. Langmuir 2001, 17, 2408.
49. Fuxen, C.; Azzam, W.; Arnold, R.; Witte, G.; Terfort, A.; Wöll, Ch. Langmuir 2001, 17, 3689.
50. Zharnikov, M.; Küller, A.; Shaporenko, A.; Schmidt, E.; Eck, W. Langmuir, in press.
51. Horsley, J. A.; Stöhr, J.; Hitchcock, A. P.; Newbury, D. C.; Johnson, A. L.; Sette, F. J. Chem. Phys. 1985, 83, 6099.
52. Stöhr, J.; Outka, D. A. Phys. Rev. B 1987, 36, 7891.
53. Weiss, K.; Gebert, S.; Wühn, M.; Wadepohl, H.; Wöll, Ch. J. Vac. Sci. Technol., A 1998, 16, 1017.
54. Yokoyama, T.; Seki, K.; Morisada, I.; Edamatsu, K.; Ohta, T. Phys. Scr. 1990, 41, 189.
55. Agren, H.; Vahtras, O.; Carravetta, V. Chem. Phys. 1995, 196, 47.
56. Rong, H.T.; Frey, S.; Yang, Y.-J.; Zharnikov, M.; Buck, M.; Wühn, M.; Wöll, Ch.; Helmchen, G. Langmuir 2001, 17, 1582.
57. Lii, J.-H.; Allinger, N. L. J. Am. Chem. Soc. 1989, 111, 8576.
58. Chang, S.-C.; Chao, I.; Tao, Y.-T. J. Am. Chem. Soc. 1994, 116, 6792.
59. Dhirani, A.-A.; Zehner, W.; Hsung, R. P.; Guyot-Sionnest, P.; Sita, L. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 3319.
60. Cruickshank, D. W. J. Acta Crystallogr. 1956, 9, 915.
61. Kitaigorodskii, I. A. Organic Chemical Crystallography; Consultants Bureau: New York, 1961.
62. Trotter, J. Acta Crystallogr. 1961, 14, 1135.
63. Charbonneau, G.-P.; Delugeard, Y. Acta Crystallogr. 1976, B32, 1420.
64. Hellwege, K.-H. Landolt-Börnstein Numerical Data and Functional Relationships in Science and Technology; Springer-Verlag: Berlin, 1983.
65. Ulman, A. Chem. Rev. 1996, 96, 1533.
66. Razek, N.; Otte, K.; Chasse, T.; Hirsch, D.; Schindler, A.; Frost, F.; Rauschenbach, B. J. Vac. Sci. Technol., A 2002, 20, 1492.
67. Vasquez, R. P.; Lewis, B. F.; Grunthar, F. J. J. Vac. Sci. Technol. 1983, B1, 791-794.
68. Woodall, J. M.; Oelhafen, P.; Jackson, T. N.; Freeouf, J. L.; Pettit, G. D. J. Vac. Technol. 1983, B1, 795.
69. Sze, S. M. Semiconductor Devices: Physics and Technology; John Wiley & Sons: New York, 1985.
70. Lunt, S. R.; Ryba, G. N.; Santangelo, P. G.; Lewis, N. S. J. Appl. Phys. 1991, 70, 7449.
71. Nakagawa, O.S.; Ashok, S.; Sheen, C.W.; Märtensson, J.; Allara, D. L. Jpn. J. Appl. Phys. 1991, 30, 3759.
72. Hillebrandt, H.; Wiegand,G.; Tanaka, M.; Sackmann, E. Langmuir 1999, 15, 8451.
73. Tanaka, M.; Kaufmann, S.; Nissen, J.; Hochrein, M. Phys. Chem. Chem. Phys. 2001, 3, 4091.
74. Hillebrandt, H.; Tanaka, M.; Sackmann, E. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 477.