Molecular level friction as revealed with a novel scanning probe

Langmuir

Volumn 15, Issue 8, 1999, Pages 2922-2930

  Burns, A R ^a   Houston, J E ^a   Carpick, R W ^a   Michalske, T A ^a  

^a SANDIA NATIONAL LABORATORIES   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ADHESION; FRICTION; HYDROGEN BONDS; MECHANICAL VARIABLES MEASUREMENT; OPTICAL MICROSCOPY; PROBES; TENSILE PROPERTIES; VIBRATIONS (MECHANICAL);

ADHESIVE FORCES; HYDROGEN BOND BREAKING; MOLECULAR LEVEL FRICTION; SCANNING PROBE MICROSCOPY;

MOLECULAR DYNAMICS;

EID: 0345045336     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la981521r     Document Type: Article

References (49)

1. Krim, J. Sci. Am. 1996, 275, 74.
2. Bhushan, B.; Israelachvili, J. N.; Landman, U. Nature 1995, 374, 607.
3. Carpick, R. W.; Salmeron, M. Chem. Rev. 1997, 97, 1163.
4. Israelachvili, J. N. In Handbook of Micro/Nanotribology; Bhushan, B., Ed.; Chemical Rubber Co.: Boca Raton, FL, 1995; p 267.
5. Dubois, L. H.; Nuzzo, R. G. Annu. Rev. Phys. Chem. 1992, 43, 437.
6. Sagiv, J. J. Am. Chem. Soc. 1980, 102, 92.
7. Lio, A.; Charych, D. H.; Salmeron, M. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 3800.
8. Shinn, N. D.; Kim, T.; Daly, C.; Mayer, T. M.; Crooks, R. M.; Michalske, T. A. Langmuir, in press.
9. Frisbie, C. D.; Rozsnyai, L. F.; Noy, A.; Wrighton, M. S.; Lieber, C. M. Science 1994, 265, 2071.
10. Noy, A.; Vezenov, D. V.; Lieber, C. M. Annu. Rev. Mater. Sci. 1997, 27, 381.
11. Peanasky, J.; Schneider, H.; Granick, S. Langmuir 1995, 11, 953.
12. Burnham, N. A., et al. Nanotechnology 1997, 8, 67.
13. Horn, R. G.; Israelachvili, J. N.; Pribac, F. J. Colloid Interface Sci. 1986, 115, 480.
14. Ogletree, D. F.; Carpick, R. W.; Salmeron, M. Rev. Sci. Instrum. 1996, 67, 3298-3306.
15. Betzig, E.; Finn, P. L.; Weiner, J. S. Appl. Phys. Lett. 1992, 60, 2484.
16. Toledo-Crow, R.; Yang, P. C.; Chen, Y.; Vaez-Iravani, M. Appl. Phys. Lett. 1982, 60, 2957.
17. Joyce, S. A.; Houston, J. E. Rev. Sci. Instrum. 1991, 62, 710.
18. Thomas, R. C.; Houston, J. E.; Crooks, R. M.; Kim, T.; Michalske, T. A. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 3830.
19. Burns, A. R.; Houston, J. E.; Carpick, R. W.; Michalske, T. A. Phys. Rev. Lett. 1999, 82, 1181.
20. Maboudian, R.; Howe, R. T. J. Vac. Sci. Technol. B 1997, 15, 1.
21. Warren, O. L.; Graham, J. F.; Norton, P. R. Rev. Sci. Instrum. 1997, 68, 4124.
22. Greenwood, J. A. Proc. R. Soc. London A 1997, 463, 1277.
23. Paesler, M. A.; Moyer, P. J. Near Field Optics Theory, Instrumentation, and Applications; John Wiley & Sons: New York, 1996.
24. Barentz, J.; Hollricher, O.; Marti, O. Rev. Sci. Instrum. 1996, 67, 1912.
25. Johnson, K. L.; Kendall, K.; Roberts, A. D. Proc. R. Soc. London A 1971, 324, 301.
26. Baljon, A. R. C.; Robbins, M. O. Science 1996, 271, 482.
27. Burnham, N. A.; Dominguez, D. D.; Mowery, R. L.; Colton, R. J. Phys. Rev. Lett. 1990, 64, 1931.
28. Israelachvili, J. N. Intermolecular and Surface Forces, 2nd ed.; Academic Press: London, 1992.
29. Blackman, G. S.; Mate, C. M.; Philpott, M. R. Phys. Rev. Lett. 1990, 65, 2270.
30. Burnham, N. A.; Colton, R. J.; Pollock, H. M. Nanotechnology 1993, 4, 64.
31. Gerlach, E. Phys. Stat. Solidi B 1993, 176, 365.
32. Krim, J. Comments Condens. Mater. Phys. 1995, 17, 263.
33. Nuzzo, R. G.; Dubois, L. H.; Allara, D. L. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 558.
34. Gregor, M. J.; Blome, P. G.; Schöfer, J.; Ulbrich, R. G. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 307.
35. Israelachvili, J. N.; Chen, Y.-L.; Yoshizawa, H. J. Adhes. Sci. Technol. 1994, 8, 1231.
36. Kumar, A.; Whitesides, G. M. Appl. Phys. Lett. 1993, 63, 2002.
37. Homola, A. M.; Israelachvili, J. N.; Gee, M. L.; McGuiggan, P. M. J. Tribol. 1989, 111, 675.
38. Green, J.-B. D.; McDermott, M. T.; Porter, M. D.; Siperko, L. M. J. Phys. Chem. 1995, 99, 10960.
39. McDermott, M. T.; Green, J.-B. D.; Porter, M. D. Langmuir 1997, 13, 2505.
40. Carpick, R. W.; Agraït, N.; Ogletree, D. F.; Salmeron, M. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 1289.
41. Muramatsu, H.; Chiba, N.; Fujihira, M. Appl. Phys. Lett. 1997, 71, 2061.
42. Fowkes, F. M. J. Phys. Chem. 1962, 66, 382.
43. Kim, H. I.; Koini, T.; Lee, T. R.; Perry, S. S. Langmuir 1997, 13, 7192.
44. Derjaguin, B. V.; Muller, V. M.; Toporov, Y. P. J. Colloid Interface Sci. 1975, 53, 314.
45. Karrai, K.; Grober, R. D. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 1842.
46. Yang, Y. T.; Heh, D.; Wei, P. K.; Fann, W. S.; Gray, M. H.; Hsu, J. W. P. J. Appl. Phys. 1997, 81, 1623.
47. Wei, C.-C.; Wei, P.-K.; Fann, W. Appl. Phys. Lett. 1995, 67, 3835.
48. Brandsch, R.; Bar, G.; Whangbo, M.-H. Langmuir 1997, 13, 6349.
49. Wei, P. K.; Fann, W. S. J. Appl. Phys. 1998, 83, 3461.