Chemical imaging of patterned inorganic thin-film structures by lateral force microscopy

Analytical Chemistry

Volumn 71, Issue 13, 1999, Pages 2452-2458

  Utriainen, Mikko ^a   Leijala, Antti ^a   Niinistö, Lauri ^a   Matero, Raija ^b  

^a AALTO UNIVERSITY   (Finland)

^b UNIVERSITY OF HELSINKI   (Finland)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

SILICON;

ARTICLE; CHEMICAL MODIFICATION; CONTACT ANGLE; FILM; HYDROPHILICITY; HYDROPHOBICITY; IMAGE DISPLAY; MICROSCOPE IMAGE; MICROSCOPY;

EID: 0033168117     PISSN: 00032700     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ac980325m     Document Type: Article

References (46)

1. Mate, C. M.; McClelland, G. M.; Erlandsson, R.; Chiang, S. Phys. Rev. Lett. 1987, 59, 1942-1945.
2. Meyer, G.; Amer, N. M. Appl. Phys. Lett. 1990, 57, 2089-2091.
3. Overney, R.; Meyer, E. MRS Bull. 1993, (May), 27-34.
4. Kim, Y.; Lieber, C. M. Science 1992, 257, 375-377.
5. Scandella, L.; Schumacher, A.; Kruse, N.; Prins, R.; Meyer, E.; Lüthi, R.; Howald, L.; Güntherodt, H.-J. Thin Solid Films 1994, 240, 101-104.
6. Schumacher, A.; Kruse, N.; Prins, R.; Meyer, E.; Lüthi, R.; Howald, L.; Güntherodt, H.-J.; Scandella, L. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 1264-1267.
7. Lüthi, R.; Haefke, H.; Meyer, E.; Howald, L.; Lang, H.-P.; Gerth, G.; Güntherodt, H.-J. Z. Phys. B 1994, 95, 1-3.
8. Bratina, G.; Vanzetti, L.; Franciosi, A. Phys. Rev. B 1995, 52, R8625-R8628.
9. Tamayo, J.; Gonzalez, L.; Gonzalez, Y.; Garcia, R. Appl. Phys. Lett. 1996, 68, 2297-2299.
10. Tamayo, J.; Garcia, R.; Utzmeier, T.; Briones, F. Phys. Rev. B 1997, 55, R13436-R13439.
11. Allers, W.; Hahn, C.; Löhndorf, M.; Lukas, S.; Pan, S.; Schwarz, U. D.; Wiesendanger, R. Nanotechnology 1996, 7, 346-350.
12. Marti, O. Phys. Scr. 1993, T49, 599-604.
13. Scandella, L.; Meyer, E.; Howald, L.; Lülthi, R.; Guggusberg, M.; Gobrecht, J.; Güntherodt, H.-J. J. Vac. Sci. Technol. B 1996, 14, 1255-1258.
14. Resch, R.; Friedbacher, G.; Grasserbauer, M.; Kanniainen, T.; Lindroos, S.; Leskelä, M.; Niinistö, L. Appl. Surf. Sci. 1997, 120, 51-57.
15. Utriainen, M.; Lehto, S.; Niinistö, L.; Dücsô, Cs.; Khanh, N. Q.; Horváth, Z. E.; Bársony, I.; Pécz, B. Thin Solid Films 1997, 297, 39-42.
16. Overney, R.; Meyer, E.; Frommer, J.; Brodbeck, D.; Lüthi, R.; Howald, L.; Güntherodt, H.-J.; Fujihara, M.; Takano, H.; Gotoh, Y. Nature 1992, 359, 133-135.
17. Frisbie, C. D.; Rozsnyai, L. F.; Noy, A.; Wrighton, M. S.; Lieber, C. M.; Science 1994, 265, 2071-2074.
18. Wilbur, J. L.; Biebuyck, H. A.; MacDonald, J. C.; Whitesides, G. M. Langmuir 1995, 11, 825-831.
19. Green, J.-B. D.; McDermott, M. T.; Porter, M. D.; Siperko, L. M. J. Phys. Chem. 1995, 99, 10960-10965.
20. Putman, C. A. J.; Igarashi, M.; Kaneko, R. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 3221-3223.
21. Schwartz, U. D.; Zwörner, O.; Köster, P.; Wiesendanger, R. Phys. Rev. B 1997, 56, 6987-6996.
22. Binggeli, M.; Mate, C. M. J. Vac. Sci. Tecknol. B 1995, 13, 1312-1315.
23. Binggeli, M.; Mate, C. M. Appl. Phys. Lett. 1994, 65, 415-417.
24. Thundat, T.; Zheng, X.-Y.; Chen, G. Y.; Warmack, R. J. Surf. Sci. 1993, 294, L939-L943.
25. Friedbacher, G.; Bouveresse, E.; Fuchs, G.; Grasserbauer, M.; Schwarzbach, D.; Haubner, R.; Lux, B. Appl. Surf. Sci. 1995, 84, 133-143.
26. Burnham, N. A.; Colton, R. J.; Pollock, H. M. Nanotechnology 1993, 4, 64-80.
27. Suntola, T. In Handbook of Crystal Growth; Hurle, D. T. J.; Elsevier: Amsterdam, 1994; Vol. 3, pp 601-663.
28. Niinistö, L.; Ritala, M.; Leskelä, M. Mater. Sci. Eng. B 1996, 41, 23-29.
29. Germann, G. J.; McClelland, G. M.; Mitsuda, Y.; Buck, M.; Seki, H. Rev. Sci. Instrum. 1992, 63, 4053-4055.
30. Niedermann, Ph.; Hänni, W.; Blanc, N.; Christoph, R.; Burger, J. J. Vac. Sci. Technol. A 1996, 14, 1233-1236.
31. Schwartz, U. D.; Köster, P.; Wiesendanger, R. Rev. Sci. Instrum. 1996, 67, 2560-2567.
32. Viirola, H.; Niinistö, L. Thin Solid Films 1994, 249, 144-149.
33. Ylilammi, M.; Ranta-aho, T. Thin Solid Films 1993, 232, 56-62.
34. Rautanen, J.; Leskelä, M.; Niinistö, L.; Nykänen, E.; Soininen, P.; Utriainen, M. Appl. Surf. Sci. 1994, 82/83, 553-558.
35. Mölsä, H.; Niinistö, L. Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 1994, 335, 341-349.
36. Kukli, K.; Ihanus, J.; Ritala, M.; Leskelä, M. J. Electrochem. Soc. 1997, 144, 300-306.
37. Nieminen, M.; Niinistö, L.; Rauhala, E. J. Mater. Chem. 1996, 6, 27-31.
38. Utriainen, M.; Kröger-Laukkanen, M.; Niinistö, L. Mater. Sci. Eng. B 1998, 54, 98-103.
39. Seim, H.; Mölsä, H.; Nieminen, M.; Fjellvå, H.; Niinistö, L. J. Mater. Chem. 1997, 7, 449-454.
40. Kukli, K.; Ritala, M.; Leskelä, M. Nanostruct. Mater. 1997, 8, 785-793.
41. Ritala, M.; Leskelä, M.; Nykänen, E.; Soininen, P.; Niinistö, L. Thin Solid Films 1993, 225, 288-295.
42. Viirola, H.; Niinistö, L. Thin Solid Films 1994, 251, 127-135.
43. Yamazoe, N. Sens. Actuators B 1991, 5, 7-19.
44. Gmelins Handbuch der anorganischen Chemie; Systemnummer 46; Verlag Chemie: Weinheim, 1972; Teil C1, p 72.
45. Hellwege, K.-H., Hellwege, A. M., Eds. Landolt-Börnstein New Series; Springer: Berlin 1979; Vol. III/11, p 60.
46. Utriainen, M.; Niinistö, L.; Matero, R. Appl. Phys. A 1999, 68, 339-342.