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Nanoscale

Volumn 7, Issue 34, 2015, Pages 14489-14495

In situ degradation studies of two-dimensional WSe2-graphene heterostructures

(5) Wang, B a,b Eichfield, S M b Wang, D b Robinson, J A b Haque, M A a,b

a The Pennsylvania State University (United States)

b PENNSYLVANIA STATE UNIVERSITY (United States)

Author keywords

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Indexed keywords

CRYSTAL ATOMIC STRUCTURE; SELENIUM; SILICON CARBIDE; THERMAL EXPANSION; THERMAL LOAD; TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY; TUNGSTEN COMPOUNDS;

HARSH ENVIRONMENT; IN-SITU EXPERIMENTS; INTERFACIAL DEFECT; RAPID DEGRADATION; SYSTEMATIC STUDY; THERMAL EXPANSION MISMATCH; TUNGSTEN DISILICIDE; TWO-DIMENSIONAL MATERIALS;

GRAPHENE;

EID: 84939863911 PISSN: 20403364 EISSN: 20403372 Source Type: Journal
DOI: 10.1039/c5nr03357h Document Type: Article

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.