Insights into the interfacial properties of low-voltage CuPc field-effect transistor

ACS Applied Materials and Interfaces

Volumn 5, Issue 11, 2013, Pages 4960-4965

  Su, Yaorong ^b   Ouyang, Ming ^a   Liu, Pengyi ^a   Luo, Zhi ^a   Xie, Weiguang ^a   Xu, Jianbin ^b  

^a JINAN UNIVERSITY   (China)

^b CHINESE UNIVERSITY OF HONG KONG   (Hong Kong)

Author keywords

density of state; high k; interface; Kelvin probe force microscopy; organic field effect transistor

Indexed keywords

DENSITY OF STATE; DIELECTRIC SURFACE; ELECTRICAL FIELD; HIGH- K; HIGHEST OCCUPIED MOLECULAR ORBITAL; INTERFACIAL PROPERTY; INTERFACIAL TRANSPORT; KELVIN PROBE FORCE MICROSCOPY;

INTERFACES (MATERIALS); ORGANIC FIELD EFFECT TRANSISTORS; PRASEODYMIUM COMPOUNDS; PROBES; TRANSPORT PROPERTIES;

ELECTRIC PROPERTIES;

EID: 84879097944     PISSN: 19448244     EISSN: 19448252     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/am4006447     Document Type: Article

References (37)

1. Gelinck, G.; Heremans, P.; Nomoto, K.; Anthopoulos, T. D. Adv. Mater. 2010, 22, 3778-3798
2. Rogers, J. A.; Bao, Z.; Baldwin, K.; Dodabalapur, A.; Crone, B.; Raju, V. R.; Kuck, V.; Katz, H.; Amundson, K.; Ewing, J.; Drzaic, P. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2001, 98, 4835-4840
3. Sekitani, T.; Yokota, T.; Zschieschang, U.; Klauk, H.; Bauer, S.; Takeuchi, K.; Takamiya, M.; Sakurai, T.; Someya, T. Science 2009, 326, 1516-1519
4. Nicolai, H. T.; Kuik, M.; Wetzelaer, G. A. H.; de Boer, B.; Campbell, C.; Risko, C.; Brédas, J. L.; Blom, P. W. M. Nat. Mater. 2012, 11, 882-887
5. Gershenson, M. E.; Podzorov, V.; Morpurgo, A. F. Rev. Mod. Phys. 2006, 78, 973-989
6. Halik, M.; Klauk, H.; Zschieschang, U.; Schmid, G.; Dehm, C.; Schutz, M.; Maisch, S.; Effenberger, F.; Brunnbauer, M.; Stellacci, F. Nature 2004, 431, 963-966
7. Klauk, H.; Zschieschang, U.; Pflaum, J.; Halik, M. Nature 2007, 445, 745-748
8. Li, J. H.; Sun, Z. H.; Yan, F. Adv. Mater. 2012, 24, 88-93
9. Wang, C.-H.; Hsieh, C.-Y.; Hwang, J.-C. Adv. Mater. 2011, 23, 1630-1634
10. Ortiz, R. P.; Facchetti, A.; Marks, T. J. Chem. Rev. 2010, 110, 205-239
11. Hulea, I. N.; Fratini, S.; Xie, H.; Mulder, C. L.; Iossad, N. N.; Rastelli, G.; Ciuchi, S.; Morpurgo, A. F. Nat. Mater. 2006, 5, 982-986
12. Stassen, A. F.; de Boer, R. W. I.; Iosad, N. N.; Morpurgo, A. F. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 3899-3901
13. Veres, J.; Ogier, S. D.; Leeming, S. W.; Cupertino, D. C.; Khaffaf, S. M. Adv. Funct. Mater. 2003, 13, 199-204
14. Sueyoshi, T.; Kakuta, H.; Ono, M.; Sakamoto, K.; Kera, S.; Ueno, N. Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 093303-3
15. Braun, S.; Salaneck, W. R.; Fahlman, M. Adv. Mater. 2009, 21, 1450-1472
16. Krellner, C.; Haas, S.; Goldmann, C.; Pernstich, K. P.; Gundlach, D. J.; Batlogg, B. Phys. Rev. B 2007, 75, 245115
17. Tal, O.; Rosenwaks, Y.; Preezant, Y.; Tessler, N.; Chan, C. K.; Kahn, A. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 256405
18. Tal, O.; Rosenwaks, Y. J. Phys. Chem. B 2006, 110 (50) 25521-25524
19. Kalb, W. L.; Haas, S.; Krellner, C.; Mathis, T.; Batlogg, B. Phys. Rev. B 2010, 81 (15) 155315
20. Lang, D. V.; Chi, X.; Siegrist, T.; Sergent, A. M.; Ramirez, A. P. Phys. Rev. Lett. 2004, 93 (8) 087203
21. Su, Y. R.; Wang, C. L.; Xie, W. G.; Xie, F. Y.; Chen, J.; Zhao, N.; Xu, J. B. ACS Appl. Mater. Interfaces 2011, 3, 4662-4667
22. Xie, W. G.; Xu, J. B.; An, J.; Xue, K. J. Phys. Chem. C 2010, 114, 19044-19047
23. Wang, X. M.; Xu, J. B.; Xie, W. G.; Du, J. J. Phys. Chem. C 2011, 115 (15) 7596-7602
24. Wang, X. M.; Xie, W. G.; Du, J.; Wang, C. L.; Zhao, N.; Xu, J. B. Adv. Mater. 2012, 24, 2614-2619
25. Palermo, V.; Palma, M.; Samori, P. Adv. Mater. 2006, 18, 145-164
26. Ruiz, R.; Papadimitratos, A.; Mayer, A. C.; Malliaras, G. G. Adv. Mater. 2005, 17, 1795-1798
27. Dinelli, F.; Murgia, M.; Levy, P.; Cavallini, M.; Biscarini, F.; de Leeuw, D. M. Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 116802
28. Celebi, K.; Jadhav, P. J.; Milaninia, K. M.; Bora, M.; Baldo, M. A. Appl. Phys. Lett. 2008, 93, 083308
29. Goldmann, C.; Gundlach, D. J.; Batlogg, B. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 06350
30. Kalb, W. L.; Haas, S.; Krellner, C.; Mathis, T.; Batlogg, B. Phys. Rev. B 2010, 81, 155315
31. Berger, O.; Fischer, W. J.; Adolphi, B.; Tierbach, S.; Melev, V.; Schreiber, J. J. Mater. Sci.: Mater. Electron. 2000, 11, 331-346
32. Jurchescu, O. D.; Baas, J.; Palstra, T. T. M. Appl. Phys. Lett. 2004, 84, 3061-3063
33. Szuber, J.; Grzadziel, L. Thin Solid Films 2001, 391, 282-287
34. Yang, R. D.; Park, J.; Colesniuc, C. N.; Schuller, I. K.; Royer, J. E.; Trogler, W. C.; Kummel, A. C. J. Chem. Phys. 2009, 130, 164703
35. Gould, R. D. Coord. Chem. Rev. 1996, 156, 237-274
36. Kawasaki, N.; Kubozono, Y.; Okamoto, H.; Fujiwara, A.; Yamaji, M. Appl. Phys. Lett. 2009, 94, 043310
37. Richards, T.; Bird, M.; Sirringhaus, H. J. Chem. Phys. 2008, 128, 234905