Probing voltage drop variations in graphene with photoelectron spectroscopy

Analytical Chemistry

Volumn 85, Issue 8, 2013, Pages 4172-4177

  Kocabas, Coskun ^a   Suzer, Sefik ^a  

^a BILKENT UNIVERSITY   (Turkey)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ANALYTICAL TOOL; CHEMICAL INFORMATION; GOLD ELECTRODES; MORPHOLOGICAL DEFECTS; OXIDATION PROCESS; QUARTZ SUBSTRATE; SPATIAL VARIATIONS; VOLTAGE VARIATION;

CHEMICAL ANALYSIS; CRACKS; GOLD DEPOSITS; PHOTOELECTRONS; QUARTZ; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

GRAPHENE;

EID: 84876226346     PISSN: 00032700     EISSN: 15206882     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ac400489e     Document Type: Article

References (43)

1. Novoselov, K. S.; Jiang, D.; Schedin, F.; Booth, T. J.; Khotkevich, V. V.; Morozov, S. V.; Geim, A. K. Proc Natl Acad Sci USA 2005, 102 (30) 10451-3
2. Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Katsnelson, M. I.; Grigorieva, I. V.; Dubonos, S. V.; Firsov, A. A. Nature 2005, 438 (7065) 197-200
3. Lin, Y. M.; Valdes-Garcia, A.; Han, S. J.; Farmer, D. B.; Meric, I.; Sun, Y. N.; Wu, Y. Q.; Dimitrakopoulos, C.; Grill, A.; Avouris, P.; Jenkins, K. A. Science 2011, 332 (6035) 1294-1297
4. Bolotin, K. I.; Sikes, K. J.; Jiang, Z.; Klima, M.; Fudenberg, G.; Hone, J.; Kim, P.; Stormer, H. L. Solid State Commun. 2008, 146 (9-10) 351-355
5. Nair, R. R.; Blake, P.; Grigorenko, A. N.; Novoselov, K. S.; Booth, T. J.; Stauber, T.; Peres, N. M.; Geim, A. K. Science 2008, 320 (5881) 1308
6. Bae, S.; Kim, H.; Lee, Y.; Xu, X.; Park, J. S.; Zheng, Y.; Balakrishnan, J.; Lei, T.; Kim, H. R.; Song, Y. I.; Kim, Y. J.; Kim, K. S.; Ozyilmaz, B.; Ahn, J. H.; Hong, B. H.; Iijima, S. Nat Nanotechnol 2010, 5 (8) 574-8
7. Ferrari, A. C. Solid State Commun. 2007, 143 (1-2) 47-57
8. Dresselhaus, M. S.; Jorio, A.; Hofmann, M.; Dresselhaus, G.; Saito, R. Nano Lett. 2010, 10 (3) 751-758
9. Das, A.; Pisana, S.; Chakraborty, B.; Piscanec, S.; Saha, S. K.; Waghmare, U. V.; Novoselov, K. S.; Krishnamurthy, H. R.; Geim, A. K.; Ferrari, A. C.; Sood, A. K. Nat Nanotechnol 2008, 3 (4) 210-5
10. Kalbac, M.; Reina-Cecco, A.; Farhat, H.; Kong, J.; Kavan, L.; Dresselhaus, M. S. Acs Nano 2010, 4 (10) 6055-6063
11. Yan, H. G.; Xia, F. N.; Zhu, W. J.; Freitag, M.; Dimitrakopoulos, C.; Bol, A. A.; Tulevski, G.; Avouris, P. Acs Nano 2011, 5 (12) 9854-9860
12. Jiang, Z.; Henriksen, E. A.; Tung, L. C.; Wang, Y. J.; Schwartz, M. E.; Han, M. Y.; Kim, P.; Stormer, H. L. Phys. Rev. Lett. 2007, 98 (19 197403
13. Acik, M.; Lee, G.; Mattevi, C.; Pirkle, A.; Wallace, R. M.; Chhowalla, M.; Cho, K.; Chabal, Y. J. Phys. Chem. C 2011, 115 (40) 19761-19781
14. Fei, Z.; Rodin, A. S.; Andreev, G. O.; Bao, W.; McLeod, A. S.; Wagner, M.; Zhang, L. M.; Zhao, Z.; Thiemens, M.; Dominguez, G.; Fogler, M. M.; Neto, A. H. C.; Lau, C. N.; Keilmann, F.; Basov, D. N. Nature 2012, 487 (7405) 82-85
15. Fei, Z.; Andreev, G. O.; Bao, W. Z.; Zhang, L. F. M.; McLeod, A. S.; Wang, C.; Stewart, M. K.; Zhao, Z.; Dominguez, G.; Thiemens, M.; Fogler, M. M.; Tauber, M. J.; Castro-Neto, A. H.; Lau, C. N.; Keilmann, F.; Basov, D. N. Nano Lett. 2011, 11 (11) 4701-4705
16. Yan, L.; Punckt, C.; Aksay, I. A.; Mertin, W.; Bacher, G. Nano Lett. 2011, 11 (9) 3543-9
17. Mueller, T.; Xia, F.; Freitag, M.; Tsang, J.; Avouris, P. Phys. Rev. B 2009, 79 (24 245430
18. Burnett, T.; Yakimova, R.; Kazakova, O. Nano Lett. 2011, 11 (6) 2324-2328
19. Xu, M.; Fujita, D.; Gao, J.; Hanagata, N. ACS Nano 2010, 4 (5) 2937-45
20. Wang, F.; Graetz, J.; Moreno, M. S.; Ma, C.; Wu, L.; Volkov, V.; Zhu, Y. ACS Nano 2011, 5 (2) 1190-7
21. Yang, D.; Velamakanni, A.; Bozoklu, G.; Park, S.; Stoller, M.; Piner, R. D.; Stankovich, S.; Jung, I.; Field, D. A.; Ventrice, C. A.; Ruoff, R. S. Carbon 2009, 47 (1) 145-152
22. Brako, R.; Sokcevic, D.; Lazic, P.; Atodiresei, N. New J. Phys. 2010, 12
23. Busse, C.; Lazic, P.; Djemour, R.; Coraux, J.; Gerber, T.; Atodiresei, N.; Caciuc, V.; Brako, R.; N'Diaye, A. T.; Blugel, S.; Zegenhagen, J.; Michely, T. Phys. Rev. Lett. 2011, 107 (3 36101
24. Chiu, P. L.; Mastrogiovanni, D. D. T.; Wei, D. G.; Louis, C.; Jeong, M.; Yu, G.; Saad, P.; Flach, C. R.; Mendelsohn, R.; Garfunkel, E.; He, H. X. J. Am. Chem. Soc. 2012, 134 (13) 5850-5856
25. Eckmann, A.; Felten, A.; Mishchenko, A.; Britnell, L.; Krupke, R.; Novoselov, K. S.; Casiraghi, C. Nano Lett. 2012, 12 (8) 3925-3930
26. Filleter, T.; Emtsev, K. V.; Seyller, T.; Bennewitz, R. Appl. Phys. Lett. 2008, 93 (13 133117
27. Hammock, M. L.; Sokolov, A. N.; Stoltenberg, R. M.; Naab, B. D.; Bao, Z. A. ACS Nano 2012, 6 (4) 3100-3108
28. Kim, M.; Safron, N. S.; Huang, C. H.; Arnold, M. S.; Gopalan, P. Nano Lett. 2012, 12 (1) 182-187
29. Larciprete, R.; Lacovig, P.; Gardonio, S.; Baraldi, A.; Lizzit, S. J. Phys. Chem. C 2012, 116 (18) 9900-9908
30. Perera, S. D.; Mariano, R. G.; Vu, K.; Nour, N.; Seitz, O.; Chabal, Y.; Balkus, K. J. ACS Catal. 2012, 2 (6) 949-956
31. Prezioso, S.; Perrozzi, M.; Donarelli, M.; Bisti, F.; Santucci, S.; Palladino, L.; Nardone, M.; Treossi, E.; Palermo, V.; Ottaviano, L. Langmuir 2012, 28 (12) 5489-5495
32. Rana, K.; Kucukayan-Dogu, G.; Sen, H. S.; Boothroyd, C.; Gulseren, O.; Bengu, E. J. Phys. Chem. C 2012, 116 (20) 11364-11369
33. Usachov, D.; Vilkov, O.; Gruneis, A.; Haberer, D.; Fedorov, A.; Adamchuk, V. K.; Preobrajenski, A. B.; Dudin, P.; Barinov, A.; Oehzelt, M.; Laubschat, C.; Vyalikh, D. V. Nano Lett. 2011, 11 (12) 5401-5407
34. Wang, S. N.; Wang, R.; Liu, X. F.; Wang, X. W.; Zhang, D. D.; Guo, Y. J.; Qiu, X. H. J. Phys. Chem. C 2012, 116 (19) 10702-10707
35. Wei, D. C.; Liu, Y. Q.; Wang, Y.; Zhang, H. L.; Huang, L. P.; Yu, G. Nano Lett. 2009, 9 (5) 1752-1758
36. Xu, Z.; Bando, Y.; Liu, L.; Wang, W. L.; Bai, X. D.; Golberg, D. ACS Nano 2011, 5 (6) 4401-4406
37. Ho, P.-H.; Yeh, Y.-C.; Wang, D.-Y.; Li, S.-S.; Chen, H.-A.; Chung, Y.-H.; Lin, C.-C.; Wang, W.-H.; Chen, C.-W. ACS Nano 2012, 6 (7) 6215-6221
38. Tsen, A. W.; Brown, L.; Levendorf, M. P.; Ghahari, F.; Huang, P. Y.; Havener, R. W.; Ruiz-Vargas, C. S.; Muller, D. A.; Kim, P.; Park, J. Science 2012, 336 (6085) 1143-1146
39. Briggs, D. S., M. P. Practical Surface Analysis: Auger and X-ray photoelectron spectroscopy, 2 nd ed.; John Wiley & Sons: Chichester, 1996.
40. Sezen, H.; Suzer, S. Anal. Chem. 2012, 84, 2990-2994
41. Suzer, S. Anal. Meth.-UK 2012, 4 (11) 3527-3530
42. Li, X. S.; Cai, W. W.; An, J. H.; Kim, S.; Nah, J.; Yang, D. X.; Piner, R.; Velamakanni, A.; Jung, I.; Tutuc, E.; Banerjee, S. K.; Colombo, L.; Ruoff, R. S. Science 2009, 324 (5932) 1312-1314
43. Salihoglu, O.; Balci, S.; Kocabas, C. Appl. Phys. Lett. 2012, 100 (21 213110