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Volumn 12, Issue 8, 2012, Pages 3925-3930

Probing the nature of defects in graphene by Raman spectroscopy

Author keywords

conductive AFM; defects; Graphene; Raman spectroscopy

Indexed keywords

CONDUCTIVE AFM; INTENSITY RATIO; VACANCY-LIKE DEFECTS;

EID: 84864672827     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl300901a     Document Type: Article
Times cited : (1883)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.