-
1
-
-
67649921102
-
-
Lin, Y. D.; Chakraborty, A.; Brinkley, S.; Kuo, H. C.; Melo, T.; Fujito, K.; Speck, J. S.; DenBaars, S. P.; Nakamura, S. Appl. Phys. Lett. 2009, 94, 261108-1-261108-3
-
(2009)
Appl. Phys. Lett.
, vol.94
, pp. 2611081-2611083
-
-
Lin, Y.D.1
Chakraborty, A.2
Brinkley, S.3
Kuo, H.C.4
Melo, T.5
Fujito, K.6
Speck, J.S.7
Denbaars, S.P.8
Nakamura, S.9
-
2
-
-
67650474971
-
-
Lee, J. W.; Sone, C.; Park, Y.; Lee, S. N.; Ryu, J. H.; Dupuis, R. D.; Hong, C. H.; Kim, H. Appl. Phys. Lett. 2009, 95, 011108-1-011108-3
-
(2009)
Appl. Phys. Lett.
, vol.95
, pp. 0111081-0111083
-
-
Lee, J.W.1
Sone, C.2
Park, Y.3
Lee, S.N.4
Ryu, J.H.5
Dupuis, R.D.6
Hong, C.H.7
Kim, H.8
-
3
-
-
67650504960
-
-
Kuo, Y. K.; Chang, J. Y.; Tsai, M. C.; Yen, S. H. Appl. Phys. Lett. 2009, 95, 011116-1-011116-3
-
(2009)
Appl. Phys. Lett.
, vol.95
, pp. 0111161-0111163
-
-
Kuo, Y.K.1
Chang, J.Y.2
Tsai, M.C.3
Yen, S.H.4
-
5
-
-
80555129579
-
-
Farrell, R. M.; Haeger, D. A.; Hsu, P. S.; Schmidt, M. C.; Fuijito, K.; Feezell, D. F.; DenBaars, S. P.; Speck, J. S.; Nakamura, S. Appl. Phys. Lett. 2011, 99, 171113-1-171113-3
-
(2011)
Appl. Phys. Lett.
, vol.99
, pp. 1711131-1711133
-
-
Farrell, R.M.1
Haeger, D.A.2
Hsu, P.S.3
Schmidt, M.C.4
Fuijito, K.5
Feezell, D.F.6
Denbaars, S.P.7
Speck, J.S.8
Nakamura, S.9
-
6
-
-
28344456271
-
-
Gradecak, S.; Qian, F.; Li, Y.; Park, H. G.; Lieber, C. M. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 173111-1-173111-3
-
(2005)
Appl. Phys. Lett.
, vol.87
, pp. 1731111-1731113
-
-
Gradecak, S.1
Qian, F.2
Li, Y.3
Park, H.G.4
Lieber, C.M.5
-
8
-
-
82355166899
-
-
Meneghini, M.; Barbisan, D.; Bilenko, Y.; Shataly, M.; Yang, J.; Gaska, R.; Meneghesso, G.; Zanoni, E. Microelectron. Reliab. 2010, 50, 1538-1542
-
(2010)
Microelectron. Reliab.
, vol.50
, pp. 1538-1542
-
-
Meneghini, M.1
Barbisan, D.2
Bilenko, Y.3
Shataly, M.4
Yang, J.5
Gaska, R.6
Meneghesso, G.7
Zanoni, E.8
-
10
-
-
33748306266
-
-
Hersee, S. D.; Sun, X.; Wang, X. Nano Lett. 2006, 6, 1808-1811
-
(2006)
Nano Lett.
, vol.6
, pp. 1808-1811
-
-
Hersee, S.D.1
Sun, X.2
Wang, X.3
-
11
-
-
57949105748
-
-
Lin, C.; Yu, G.; Wang, Z.; Cao, M.; Lu, H.; Gong, H.; Qi, M.; Li, A. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 18821-18824
-
(2008)
J. Phys. Chem. C
, vol.112
, pp. 18821-18824
-
-
Lin, C.1
Yu, G.2
Wang, Z.3
Cao, M.4
Lu, H.5
Gong, H.6
Qi, M.7
Li, A.8
-
12
-
-
77952660173
-
-
Ra, Y. H.; Navamathavan, R.; Cha, J. H.; Song, K. Y.; Lim, H. C.; Park, J. H.; Kim, D. W.; Lee, C. R. Jpn. J. Appl. Phys. 2010, 49, 045004-1-045004-4
-
(2010)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.49
, pp. 0450041-0450044
-
-
Ra, Y.H.1
Navamathavan, R.2
Cha, J.H.3
Song, K.Y.4
Lim, H.C.5
Park, J.H.6
Kim, D.W.7
Lee, C.R.8
-
13
-
-
84861060774
-
-
Schuster, F.; Furtmayr, F.; Zamani, R.; Magan, C.; Morante, J. R.; Arbiol, J.; Garrido, J. A.; Stutzmann, M. Nano Lett. 2012, 12, 2199-2204
-
(2012)
Nano Lett.
, vol.12
, pp. 2199-2204
-
-
Schuster, F.1
Furtmayr, F.2
Zamani, R.3
Magan, C.4
Morante, J.R.5
Arbiol, J.6
Garrido, J.A.7
Stutzmann, M.8
-
15
-
-
56849087698
-
-
Hayden, O.; Agarwal, R.; Liu, W. Nano Today 2008, 3, 12-22
-
(2008)
Nano Today
, vol.3
, pp. 12-22
-
-
Hayden, O.1
Agarwal, R.2
Liu, W.3
-
17
-
-
84862281022
-
-
Weisse, J. M.; Lee, C. H.; Kim, D. R.; Zhang, X. Nano Lett. 2012, 12, 3339-3343
-
(2012)
Nano Lett.
, vol.12
, pp. 3339-3343
-
-
Weisse, J.M.1
Lee, C.H.2
Kim, D.R.3
Zhang, X.4
-
18
-
-
77955586841
-
-
Rigutti, L.; Tchernycheva, M.; Bugallo, A. D. L.; Jacopin, G.; Julien, F. H.; Zagonel, L. F.; March, K.; Stephan, O.; Kociak, M.; Songmuang, R. Nano Lett. 2010, 10, 2939-2943
-
(2010)
Nano Lett.
, vol.10
, pp. 2939-2943
-
-
Rigutti, L.1
Tchernycheva, M.2
Bugallo, A.D.L.3
Jacopin, G.4
Julien, F.H.5
Zagonel, L.F.6
March, K.7
Stephan, O.8
Kociak, M.9
Songmuang, R.10
-
19
-
-
84855794029
-
-
Posada, F. G.; Songmuang, R.; Hertog, M. D.; Monroy, E. Nano Lett. 2012, 12, 172-176
-
(2012)
Nano Lett.
, vol.12
, pp. 172-176
-
-
Posada, F.G.1
Songmuang, R.2
Hertog, M.D.3
Monroy, E.4
-
20
-
-
84860320697
-
-
Wierer, J. J.; Li, Q.; Koleske, D. D.; Lee, S. R.; Wang, G. T. Nanotechnology 2012, 23, 194007
-
(2012)
Nanotechnology
, vol.23
, pp. 194007
-
-
Wierer, J.J.1
Li, Q.2
Koleske, D.D.3
Lee, S.R.4
Wang, G.T.5
-
21
-
-
84862280898
-
-
Yeh, T. W.; Lin, Y. T.; Stewart, L. S.; Dapkus, P. D.; Sarkissian, R.; Obrien, J. D.; Ahn, B.; Nutt, S. R. Nano Lett. 2012, 12, 3257-3262
-
(2012)
Nano Lett.
, vol.12
, pp. 3257-3262
-
-
Yeh, T.W.1
Lin, Y.T.2
Stewart, L.S.3
Dapkus, P.D.4
Sarkissian, R.5
Obrien, J.D.6
Ahn, B.7
Nutt, S.R.8
-
22
-
-
79851488393
-
-
Carnevale, S. D.; Yang, J.; Phillips, P. J.; Mills, M. J.; Myers, R. C. Nano Lett. 2011, 11, 866-871
-
(2011)
Nano Lett.
, vol.11
, pp. 866-871
-
-
Carnevale, S.D.1
Yang, J.2
Phillips, P.J.3
Mills, M.J.4
Myers, R.C.5
-
23
-
-
79955901965
-
-
Nguyen, H. P. T.; Zhang, S.; Cui, K.; Hui, X.; Han, X.; Fathololoumi, S.; Couillard, M.; Botton, G. A.; Mi, Z. Nano Lett. 2011, 11, 1919-1924
-
(2011)
Nano Lett.
, vol.11
, pp. 1919-1924
-
-
Nguyen, H.P.T.1
Zhang, S.2
Cui, K.3
Hui, X.4
Han, X.5
Fathololoumi, S.6
Couillard, M.7
Botton, G.A.8
Mi, Z.9
-
24
-
-
3042835508
-
-
Kim, H. M.; Cho, Y. H.; Lee, H.; Kim, S. I.; Ryu, S. R.; Kim, D. Y.; Kang, T. W.; Chung, K. S. Nano Lett. 2004, 6, 1059-1064
-
(2004)
Nano Lett.
, vol.6
, pp. 1059-1064
-
-
Kim, H.M.1
Cho, Y.H.2
Lee, H.3
Kim, S.I.4
Ryu, S.R.5
Kim, D.Y.6
Kang, T.W.7
Chung, K.S.8
-
25
-
-
84862285908
-
-
Dick, K. A.; Bolinsson, J.; Borg, B. M.; Johansson, J. Nano Lett. 2012, 12, 3200-3206
-
(2012)
Nano Lett.
, vol.12
, pp. 3200-3206
-
-
Dick, K.A.1
Bolinsson, J.2
Borg, B.M.3
Johansson, J.4
-
26
-
-
78751544074
-
-
Guo, W.; Zhang, M.; Banerjee, A.; Bhattacharya, P. Nano Lett. 2010, 10, 3355-3359
-
(2010)
Nano Lett.
, vol.10
, pp. 3355-3359
-
-
Guo, W.1
Zhang, M.2
Banerjee, A.3
Bhattacharya, P.4
-
27
-
-
84862295284
-
-
Yeh, T. W.; Lin, Y. T.; Ahn, B.; Stewart, L. S.; Dapkus, P. D.; Nutt, S. R. Appl. Phys. Lett. 2012, 100, 033119-1-033119-3
-
(2012)
Appl. Phys. Lett.
, vol.100
, pp. 0331191-0331193
-
-
Yeh, T.W.1
Lin, Y.T.2
Ahn, B.3
Stewart, L.S.4
Dapkus, P.D.5
Nutt, S.R.6
-
28
-
-
78049406748
-
-
Ra, Y. H.; Navamathavan, R.; Park, J. H.; Song, K. Y.; Lee, Y. M.; Kim, D. W.; Jun, B. B.; Lee, C. R. Jpn. J. Appl. Phys. 2010, 49, 091003-1-091003-5
-
(2010)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.49
, pp. 0910031-0910035
-
-
Ra, Y.H.1
Navamathavan, R.2
Park, J.H.3
Song, K.Y.4
Lee, Y.M.5
Kim, D.W.6
Jun, B.B.7
Lee, C.R.8
-
29
-
-
77957267580
-
-
Navamathavan, R.; Ra, Y. H.; Song, K. Y.; Kim, D. W.; Lee, C. R. Current Appl. Phys. 2011, 11, 77-81
-
(2011)
Current Appl. Phys.
, vol.11
, pp. 77-81
-
-
Navamathavan, R.1
Ra, Y.H.2
Song, K.Y.3
Kim, D.W.4
Lee, C.R.5
-
30
-
-
77952725658
-
-
Jang, E. S.; Ra, Y. H.; Lee, Y. M.; Yun, S. H.; Kim, D. W.; Navamathavan, R.; Kim, J. S.; Lee, I. H.; Lee, C. R. Jpn. J. Appl. Phys. 2009, 48, 091001-1-091001-4
-
(2009)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.48
, pp. 0910011-0910014
-
-
Jang, E.S.1
Ra, Y.H.2
Lee, Y.M.3
Yun, S.H.4
Kim, D.W.5
Navamathavan, R.6
Kim, J.S.7
Lee, I.H.8
Lee, C.R.9
-
31
-
-
84868523728
-
-
(DOI: 10.1039/C2CE26281A). - 8214
-
Ra, Y.-H.; Navamathavan, R.; Lee, C.-R. CrystEngComm 2012, 14, 8208-8214 (DOI: 10.1039/C2CE26281A).
-
(2012)
CrystEngComm
, vol.14
, pp. 8208-8214
-
-
Ra, Y.-H.1
Navamathavan, R.2
Lee, C.-R.3
|