-
5
-
-
0029333572
-
-
Edelstein, D. C.; Sai-Halasz, G. A.; Mii, Y. J. IBM J. Res. Dev. 1995, 29, 383
-
(1995)
IBM J. Res. Dev.
, vol.29
, pp. 383
-
-
Edelstein, D.C.1
Sai-Halasz, G.A.2
Mii, Y.J.3
-
6
-
-
36449009293
-
-
Kim, H. K.; Liou, H. K.; Tu, K. N. Appl. Phys. Lett. 1995, 66, 2337
-
(1995)
Appl. Phys. Lett.
, vol.66
, pp. 2337
-
-
Kim, H.K.1
Liou, H.K.2
Tu, K.N.3
-
7
-
-
77957003623
-
-
Chen, C.; Tong, H. M.; Tu, K. N. Annu. Rev. Mater. Res. 2010, 40, 531-55
-
(2010)
Annu. Rev. Mater. Res.
, vol.40
, pp. 531-555
-
-
Chen, C.1
Tong, H.M.2
Tu, K.N.3
-
9
-
-
4544358607
-
-
Lu, L.; Shen, Y. F.; Chen, X. H.; Qian, L. H.; Lu, K. Science 2004, 304, 422
-
(2004)
Science
, vol.304
, pp. 422
-
-
Lu, L.1
Shen, Y.F.2
Chen, X.H.3
Qian, L.H.4
Lu, K.5
-
10
-
-
84867021840
-
-
Lu, L.; Chen, X.; Huang, X.; Lu, K. Science 2009, 323, 30
-
(2009)
Science
, vol.323
, pp. 30
-
-
Lu, L.1
Chen, X.2
Huang, X.3
Lu, K.4
-
11
-
-
0034712068
-
-
Lu, L.; Sui, M. L.; Lu, K. Science 2000, 287, 1463
-
(2000)
Science
, vol.287
, pp. 1463
-
-
Lu, L.1
Sui, M.L.2
Lu, K.3
-
12
-
-
84867014794
-
-
Lu, K.; Lu, L.; Suresh, S. Science 2009, 324, 17
-
(2009)
Science
, vol.324
, pp. 17
-
-
Lu, K.1
Lu, L.2
Suresh, S.3
-
13
-
-
77957725514
-
-
Chen, K. C.; Wu, W. W.; Liao, C. N.; Chen, L. J.; Tu, K. N. J. Appl. Phys. 2010, 108, 066103
-
(2010)
J. Appl. Phys.
, vol.108
, pp. 066103
-
-
Chen, K.C.1
Wu, W.W.2
Liao, C.N.3
Chen, L.J.4
Tu, K.N.5
-
14
-
-
82955220246
-
-
Chan, T. C.; Chueh, Y. L.; Liao, C. N. Cryst. Growth Des. 2011, 11, 4970
-
(2011)
Cryst. Growth Des.
, vol.11
, pp. 4970
-
-
Chan, T.C.1
Chueh, Y.L.2
Liao, C.N.3
-
15
-
-
79954545554
-
-
Jang, D.; Cai, C.; Greer, J. R. Nano Lett. 2011, 11, 1743-1746
-
(2011)
Nano Lett.
, vol.11
, pp. 1743-1746
-
-
Jang, D.1
Cai, C.2
Greer, J.R.3
-
16
-
-
58149267504
-
-
Xu, L.; Xu, D.; Tu, K. N.; Ca,i, Y.; Wang, N.; Dixit, P.; Pang, J. H. L.; Miao, J. J. Appl. Phys. 2008, 104, 113717
-
(2008)
J. Appl. Phys.
, vol.104
, pp. 113717
-
-
Xu, L.1
Xu, D.2
Tu, K.N.3
Ca, I.Y.4
Wang, N.5
Dixit, P.6
Pang, J.H.L.7
Miao, J.8
-
17
-
-
14544288579
-
-
Lu, L.; Schwaiger, R.; Shan, Z. W.; Dao, M.; Lu, K.; Suresh, S. Acta Mater. 2005, 53, 2169-2179
-
(2005)
Acta Mater.
, vol.53
, pp. 2169-2179
-
-
Lu, L.1
Schwaiger, R.2
Shan, Z.W.3
Dao, M.4
Lu, K.5
Suresh, S.6
-
18
-
-
50149122276
-
-
Chen, K. C; Wu, W. W; Liao, C. N.; Chen, L. J.; Tu, K. N. Science 2008, 321, 1066
-
(2008)
Science
, vol.321
, pp. 1066
-
-
Chen, K.C.1
Wu, W.W.2
Liao, C.N.3
Chen, L.J.4
Tu, K.N.5
-
19
-
-
33646386190
-
-
Zhang, X.; Wang, H.; Chen, X. H.; Lu, L.; Lu, K.; Hoagland, R. G.; Misra, A. Appl. Phys. Lett. 2006, 88, 173116
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.88
, pp. 173116
-
-
Zhang, X.1
Wang, H.2
Chen, X.H.3
Lu, L.4
Lu, K.5
Hoagland, R.G.6
Misra, A.7
-
20
-
-
33947407658
-
-
Patti, R. S. Proc. IEEE 2006, 94 (6) 1214-1224
-
(2006)
Proc. IEEE
, vol.94
, Issue.6
, pp. 1214-1224
-
-
Patti, R.S.1
-
22
-
-
0031706682
-
-
Abe, K.; Harada, Y.; Onoda, H. IEEE Annual International Reliability Physics Symposium, Reno, Nevada; 1998; pp 342-347.
-
(1998)
IEEE Annual International Reliability Physics Symposium, Reno, Nevada
, pp. 342-347
-
-
Abe, K.1
Harada, Y.2
Onoda, H.3
-
23
-
-
2342544122
-
-
Abe, K.; Harada, Y.; Yoshimaru, M.; Onoda, H. J. Vac. Sci. Technol. 2004, B22 (2) 721-728
-
(2004)
J. Vac. Sci. Technol.
, vol.22
, Issue.2
, pp. 721-728
-
-
Abe, K.1
Harada, Y.2
Yoshimaru, M.3
Onoda, H.4
-
25
-
-
61549136670
-
-
Niu, W.; Li, Z.-Y.; Shi, L.; Liu, X.; Li, H.; Han, S.; Chen, J.; Xu, Guobao Cryst. Growth. Des. 2008, 8, 4440-4444
-
(2008)
Cryst. Growth. Des.
, vol.8
, pp. 4440-4444
-
-
Niu, W.1
Li, Z.-Y.2
Shi, L.3
Liu, X.4
Li, H.5
Han, S.6
Chen, J.7
Xu, G.8
-
26
-
-
84861438447
-
-
Hsiao, H. Y.; Liu, C. M.; Lin, H. W.; Liu, T. C.; Lu, C. L; Huang, Y. S; Chen, C.; Tu, K. N. Science 2012, 336, 1007-1010
-
(2012)
Science
, vol.336
, pp. 1007-1010
-
-
Hsiao, H.Y.1
Liu, C.M.2
Lin, H.W.3
Liu, T.C.4
Lu, C.L.5
Huang, Y.S.6
Chen, C.7
Tu, K.N.8
-
27
-
-
84866091745
-
-
Jang, D.; Li, X.; Gao, H.; Greer, J. R. Nat. Nanotechnol. 2012, 7 (9) 594-601
-
(2012)
Nat. Nanotechnol.
, vol.7
, Issue.9
, pp. 594-601
-
-
Jang, D.1
Li, X.2
Gao, H.3
Greer, J.R.4
|