-
2
-
-
67650102619
-
-
Waser, R.; Dittmann, R.; Staikov, G.; Szot, K. Adv. Mater. 2009, 21, 2632-2663
-
(2009)
Adv. Mater.
, vol.21
, pp. 2632-2663
-
-
Waser, R.1
Dittmann, R.2
Staikov, G.3
Szot, K.4
-
4
-
-
36249018306
-
-
Lee, S. R.; Char, K.; Kim, D. C.; Jung, R.; Seo, S.; Li, X. S.; Park, G.-S.; Yoo, I. K. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 202115
-
(2007)
Appl. Phys. Lett.
, vol.91
, pp. 202115
-
-
Lee, S.R.1
Char, K.2
Kim, D.C.3
Jung, R.4
Seo, S.5
Li, X.S.6
Park, G.-S.7
Yoo, I.K.8
-
5
-
-
29744470409
-
-
Seo, S.; Lee, M. J.; Kim, D. C.; Ahn, S. E.; Park, B.-H.; Kim, Y. S.; Yoo, I. K.; Byun, I. S.; Hwang, I. R.; Kim, S. H.; Kim, J.-S.; Choi, J. S.; Lee, J. H.; Jeon, S. H.; Hong, S. H.; Park, B. H. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 263507
-
(2005)
Appl. Phys. Lett.
, vol.87
, pp. 263507
-
-
Seo, S.1
Lee, M.J.2
Kim, D.C.3
Ahn, S.E.4
Park, B.-H.5
Kim, Y.S.6
Yoo, I.K.7
Byun, I.S.8
Hwang, I.R.9
Kim, S.H.10
Kim, J.-S.11
Choi, J.S.12
Lee, J.H.13
Jeon, S.H.14
Hong, S.H.15
Park, B.H.16
-
6
-
-
33751557951
-
-
You, Y.-H.; So, B.-S.; Hwang, J.-H.; Cho, W.; Lee, S. S.; Chung, T.-M.; Kim, C. G.; An, K.-S. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 222105
-
(2006)
Appl. Phys. Lett.
, vol.89
, pp. 222105
-
-
You, Y.-H.1
So, B.-S.2
Hwang, J.-H.3
Cho, W.4
Lee, S.S.5
Chung, T.-M.6
Kim, C.G.7
An, K.-S.8
-
7
-
-
49149097171
-
-
Lee, B.; Kang, B. S.; Benayad, A.; Lee, M. J.; Ahn, S.-E.; Kim, K. H.; Stefanovich, G.; Park, Y.; Yoo, I. K. Appl. Phys. Lett. 2008, 93, 042115
-
(2008)
Appl. Phys. Lett.
, vol.93
, pp. 042115
-
-
Lee, B.1
Kang, B.S.2
Benayad, A.3
Lee, M.J.4
Ahn, S.-E.5
Kim, K.H.6
Stefanovich, G.7
Park, Y.8
Yoo, I.K.9
-
8
-
-
23944447615
-
-
Choi, B. J.; Jeong, D. S.; Kim, S. K.; Rohde, C.; Choi, S.; Oh, J. H.; Kim, H. J.; Hwang, C. S.; Szot, K.; Waser, R.; Reichenberg, B.; Tiedke, S. J. Appl. Phys. 2005, 98, 033715
-
(2005)
Appl. Phys.
, vol.98
, pp. 033715
-
-
Choi, B.J.1
Jeong, D.S.2
Kim, S.K.3
Rohde, C.4
Choi, S.5
Oh, J.H.6
Kim, H.J.7
Hwang, C.S.8
Szot, K.9
Waser, R.10
Reichenberg, B.11
Tiedke, S.J.12
-
9
-
-
76649133422
-
-
Kwon, D.-H.; Kim, K. M.; Jang, J. H.; Jeon, J. M.; Lee, M. H.; Kim, G. H.; Li, X.-S.; Park, G.-S.; Lee, B.; Han, S.; Kim, M.; Hwang, C. S. Nature Nanotechnol. 2010, 5, 148-153
-
(2010)
Nature Nanotechnol.
, vol.5
, pp. 148-153
-
-
Kwon, D.-H.1
Kim, K.M.2
Jang, J.H.3
Jeon, J.M.4
Lee, M.H.5
Kim, G.H.6
Li, X.-S.7
Park, G.-S.8
Lee, B.9
Han, S.10
Kim, M.11
Hwang, C.S.12
-
10
-
-
79956096432
-
-
Szot, K.; Rogala, M.; Speier, W.; Klusek, Z.; Besmehn, A.; Waser, R. Nanotechnology 2011, 22, 254001
-
(2011)
Nanotechnology
, vol.22
, pp. 254001
-
-
Szot, K.1
Rogala, M.2
Speier, W.3
Klusek, Z.4
Besmehn, A.5
Waser, R.6
-
11
-
-
77249144043
-
-
Shang, S.; Shi, L.; Sun, J. R.; Shen, B. G.; Zhuge, F.; Li, R. W.; Zhao, Y. G. Appl. Phys. Lett. 2010, 96, 072103
-
(2010)
Appl. Phys. Lett.
, vol.96
, pp. 072103
-
-
Shang, S.1
Shi, L.2
Sun, J.R.3
Shen, B.G.4
Zhuge, F.5
Li, R.W.6
Zhao, Y.G.7
-
12
-
-
80053627082
-
-
Wu, W.-T.; Wu, J.-J.; Chen, J.-S. ACS Appl. Mater. Interfaces 2011, 3, 2616-2621
-
(2011)
ACS Appl. Mater. Interfaces
, vol.3
, pp. 2616-2621
-
-
Wu, W.-T.1
Wu, J.-J.2
Chen, J.-S.3
-
13
-
-
34247561316
-
-
Lin, C. Y.; Wu, C. Y.; Wu, C. Y.; Lee, T. C.; Yang, F. L.; Hu, C.; Tseng, T. Y. IEEE Electron Device Lett. 2007, 28, 366-368
-
(2007)
IEEE Electron Device Lett.
, vol.28
, pp. 366-368
-
-
Lin, C.Y.1
Wu, C.Y.2
Wu, C.Y.3
Lee, T.C.4
Yang, F.L.5
Hu, C.6
Tseng, T.Y.7
-
14
-
-
77953981208
-
-
Lee, S. R.; Kim, H. M.; Bak, J. H.; Park, Y. D.; Char, K.; Park, H. W.; Kwon, D.-H.; Kim, M.; Kim, D.-C.; Seo, S.; Li, X.-S.; Park, G.-S.; Jung, R. Jpn. J. Appl. Phys. 2010, 49, 031102
-
(2010)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.49
, pp. 031102
-
-
Lee, S.R.1
Kim, H.M.2
Bak, J.H.3
Park, Y.D.4
Char, K.5
Park, H.W.6
Kwon, D.-H.7
Kim, M.8
Kim, D.-C.9
Seo, S.10
Li, X.-S.11
Park, G.-S.12
Jung, R.13
-
15
-
-
84865217646
-
-
Kim, H.; Lee, S.; Bak, J.; Jo, M.; Park, Y. D.; Char, K. Jpn. J. Appl. Phys. 2010, 49, 075801
-
(2010)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.49
, pp. 075801
-
-
Kim, H.1
Lee, S.2
Bak, J.3
Jo, M.4
Park, Y.D.5
Char, K.6
-
16
-
-
75749104692
-
-
Goux, L.; Lisoni, J. G.; Jurczak, M.; Wouters, D. J.; Courtade, L.; Muller, Ch. J. Appl. Phys. 2010, 107, 024512
-
(2010)
J. Appl. Phys.
, vol.107
, pp. 024512
-
-
Goux, L.1
Lisoni, J.G.2
Jurczak, M.3
Wouters, D.J.4
Courtade, L.5
Muller, Ch.6
-
17
-
-
77954724103
-
-
Goux, L.; Polspoel, W.; Lisoni, J. G.; Chen, Y.-Y.; Pantisano, L.; Wang, X.-P.; Vandervorst, W.; Jurczak, M.; Wouters, D. J. J. Electrochem. Soc. 2010, 157, G187-G192
-
(2010)
J. Electrochem. Soc.
, vol.157
-
-
Goux, L.1
Polspoel, W.2
Lisoni, J.G.3
Chen, Y.-Y.4
Pantisano, L.5
Wang, X.-P.6
Vandervorst, W.7
Jurczak, M.8
Wouters, D.J.9
-
18
-
-
80051598530
-
-
Oka, K.; Yanagida, T.; Nagashima, K.; Kanai, M.; Kawai, T.; Kim, J.-S.; Park, B. H. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 12482-1485
-
(2011)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.133
, pp. 12482-21485
-
-
Oka, K.1
Yanagida, T.2
Nagashima, K.3
Kanai, M.4
Kawai, T.5
Kim, J.-S.6
Park, B.H.7
-
19
-
-
78649885498
-
-
Jeong, H. Y.; Lee, J. Y.; Choi, S.-Y. Adv. Funct. Mater. 2010, 20, 3912-3917
-
(2010)
Adv. Funct. Mater.
, vol.20
, pp. 3912-3917
-
-
Jeong, H.Y.1
Lee, J.Y.2
Choi, S.-Y.3
-
20
-
-
77956174683
-
-
Zhang, L.; Huang, R.; Zhu, M.; Qin, S.; Kuang, Y.; Gao, D.; Shi, C.; Wang, Y. IEEE Electron Device Lett. 2010, 31, 966-968
-
(2010)
IEEE Electron Device Lett.
, vol.31
, pp. 966-968
-
-
Zhang, L.1
Huang, R.2
Zhu, M.3
Qin, S.4
Kuang, Y.5
Gao, D.6
Shi, C.7
Wang, Y.8
-
21
-
-
84863116402
-
-
Wang, L.-H.; Yang, W.; Sun, Q.-Q.; Zhou, P.; Lu, H.-L.; Ding, S.-J.; Zhang, D. W. Appl. Phys. Lett. 2012, 100, 063509
-
(2012)
Appl. Phys. Lett.
, vol.100
, pp. 063509
-
-
Wang, L.-H.1
Yang, W.2
Sun, Q.-Q.3
Zhou, P.4
Lu, H.-L.5
Ding, S.-J.6
Zhang, D.W.7
-
22
-
-
77958562833
-
-
Wu, W.-T.; Liao, W.-P.; Chen, J.-S.; Wu, J.-J. ChemPhysChem 2010, 11, 3306-3312
-
(2010)
ChemPhysChem
, vol.11
, pp. 3306-3312
-
-
Wu, W.-T.1
Liao, W.-P.2
Chen, J.-S.3
Wu, J.-J.4
-
23
-
-
79955037663
-
-
Kim, M.-G.; Kanatzidis, M. G.; Facchetti, A.; Marks, T. J. Nat. Mater. 2011, 10, 382-388
-
(2011)
Nat. Mater.
, vol.10
, pp. 382-388
-
-
Kim, M.-G.1
Kanatzidis, M.G.2
Facchetti, A.3
Marks, T.J.4
-
25
-
-
0003459529
-
-
Physical Electronic Inc. Eden Prairie, MN
-
Moulder, J. F.; Stickle, W. F.; Sobol, P. E.; Bomben, K. D. Handbook of x-ray photoelectron spectroscopy; Physical Electronic Inc.: Eden Prairie, MN, 1995.
-
(1995)
Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy
-
-
Moulder, J.F.1
Stickle, W.F.2
Sobol, P.E.3
Bomben, K.D.4
-
26
-
-
77953492461
-
-
Sixth ed. Thomson Brooks/Cole, Belmont, Ch. 21
-
Skoog, D. A.; Holler, F. J.; Crouch, S. R. Principles of Instrumental analysis; Sixth ed., Thomson Brooks/Cole, Belmont, 2007, Ch. 21.
-
(2007)
Principles of Instrumental Analysis
-
-
Skoog, D.A.1
Holler, F.J.2
Crouch, S.R.3
-
28
-
-
36549080841
-
-
Park, G.-S.; Li, X.-S.; Kim, D.-C.; Jung, R.-J.; Lee, M.-J.; Seo, S. Appl. Phys. Lett. 2007, 91, 222103
-
(2007)
Appl. Phys. Lett.
, vol.91
, pp. 222103
-
-
Park, G.-S.1
Li, X.-S.2
Kim, D.-C.3
Jung, R.-J.4
Lee, M.-J.5
Seo, S.6
-
30
-
-
77951151750
-
-
Chen, M.-C.; Chang, T.-C.; Huang, S.-Y.; Chen, S.-C.; Hu, C.-W.; Tsai, C.-T.; Sze, S. M. Electrochem. Solid-State Lett. 2010, 13, H191-H193
-
(2010)
Electrochem. Solid-State Lett.
, vol.13
-
-
Chen, M.-C.1
Chang, T.-C.2
Huang, S.-Y.3
Chen, S.-C.4
Hu, C.-W.5
Tsai, C.-T.6
Sze, S.M.7
-
31
-
-
77955583640
-
-
Lee, H. D.; Magyari-Kope, B.; Nishi, Y. Phys. Rev. B 2010, 81, 193202
-
(2010)
Phys. Rev. B
, vol.81
, pp. 193202
-
-
Lee, H.D.1
Magyari-Kope, B.2
Nishi, Y.3
|