Effects of metal electrodes on the resistive memory switching property of NiO thin films

Applied Physics Letters

Volumn 93, Issue 4, 2008, Pages

  Lee, C B ^a   Kang, B S ^a   Benayad, A ^a   Lee, M J ^a   Ahn, S E ^a   Kim, K H ^a   Stefanovich, G ^a   Park, Y ^a   Yoo, I K ^a  

^a Samsung Advanced Institute of Technology (SAIT)   (South Korea)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ELECTRODES; METALLIZING; METALS; OHMIC CONTACTS; OXIDE FILMS; PLATINUM; SILVER; SWITCHING; SWITCHING SYSTEMS; TANTALUM; THICK FILMS; THIN FILMS; WORK FUNCTION;

AL ELECTRODES; AS-DEPOSITED STATE; HIGH WORK FUNCTION; LOW-WORK FUNCTIONS; METAL ELECTRODES; NIO THIN FILMS; OXIDE LAYERS; P-TYPE NIO; RESISTIVE MEMORY; RESISTIVE SWITCHING;

COPPER;

EID: 49149097171     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2967194     Document Type: Article

References (12)

1. M. J. Lee, S. Seo, D. C. Kim, S. E. Ahn, D. H. Seo, I. K. Yoo, I. G. Baek, D. S. Kim, I. S. Byun, S. H. Kim, I. R. Hwang, J. S. Kim, S. H. Jeon, and B. H. Park, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 0935-9648 10.1002/adma.200601025 19, 73 (2007).
2. S. Seo, M. J. Lee, D. H. Seo, E. J. Jeoung, D. -S. Suh, Y. S. Joung, I. K. Yoo, I. R. Hwang, S. H. Kim, I. S. Byun, J. -S. Kim, J. S. Choi, and B. H. Park, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.1831560 85, 5655 (2004).
3. D. C. Kim, M. J. Lee, S. E. Ahn, S. Seo, J. C. Park, I. K. Yoo, I. G. Baek, H. J. Kim, E. K. Yim, J. E. Lee, S. O. Park, H. S. Kim, U-In Chung, J. T. Moon, and B. I. Ryu, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.2210087 88, 232106 (2006).
4. R. Jung, M. J. Lee, S. Seo, D. C. Kim, G. -S. Park, K. Kim, S. Ahn, Y. Park, I. K. Yoo, J. -S. Kim, and B. H. Park, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.2755712 91, 022112 (2007).
5. K. Kinoshita, T. Tamura, M. Aoki, Y. Sugiyama, and H. Tanaka, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.2339032 89, 103509 (2006).
6. K. M. Kim, B. J. Choi, Y. C. Shin, S. Choi, and C. S. Hwang, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.2749846 91, 012907 (2007).
7. S. Seo, M. J. Lee, D. C. Kim, S. E. Ahn, B. -H. Park, Y. S. Kim, I. K. Yoo, I. S. Byun, I. R. Hwang, S. H. Kim, J. -S. Kim, J. S. Choi, J. H. Lee, S. H. Jeon, S. H. Hong, and B. H. Park, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.2150580 87, 263507 (2005).
8. S. R. Lee, K. Char, D. C. Kim, R. Jung, S. Seo, X. S. Le, G. -S. Park, and I. K. Yoo, Appl. Phys. Lett. 0003-6951 10.1063/1.2815658 91, 202115 (2007).
9. H. -G. Lee, Thermodynamics for Metals and Materials (Imperial College, London, 1999), pp. 127-130.
10. G. V. Samsonov, The Oxide Hand Book, 2nd ed. (IFI/Plenum, New York, 1982), pp. 44-48.
11. D. R. Lide, Handbook of Chemistry and Physics, 84th ed. (CRC, Boca Raton, FL, 2003), Vol. 12, p. 108.
12. S. C. Chae, J. S. Lee, S. K. Kim, S. Lee, S. H. Chang, C. Liu, B. Kahng, H. Shin, D. -W. Kim, C. U. Jung, S. Seo, M. -J. Lee, and T. W. Noh, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 0935-9648 10.1002/adma.200702024 20, 1154 (2008).