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Volumn 100, Issue 23, 2012, Pages

Identifying passivated dynamic force microscopy tips on H:Si(100)

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DYNAMIC FORCE MICROSCOPY; FORCE CURVE; SI(1 0 0); SILICON SURFACES; SITE-SPECIFIC; TIP APEX;

EID: 84862142142     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.4726086     Document Type: Article
Times cited : (24)

References (32)
  • 13
    • 0000462153 scopus 로고
    • 10.1103/PhysRevLett.65.3325
    • J. Boland, Phys. Rev. Lett. 65, 3325 (1990). 10.1103/PhysRevLett.65.3325
    • (1990) Phys. Rev. Lett. , vol.65 , pp. 3325
    • Boland, J.1
  • 14
    • 0000010085 scopus 로고
    • 10.1080/00018739300101474
    • J. Boland, Adv. Phys. 42, 129 (1993). 10.1080/00018739300101474
    • (1993) Adv. Phys. , vol.42 , pp. 129
    • Boland, J.1
  • 15
    • 33751234965 scopus 로고    scopus 로고
    • 10.1016/j.surfre2006.08.002
    • M. Dürr and U. Höfer, Surf. Sci. Rep. 61, 465 (2006). 10.1016/j.surfrep.2006.08.002
    • (2006) Surf. Sci. Rep. , vol.61 , pp. 465
    • Dürr, M.1    Höfer, U.2


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.