-
2
-
-
0029256086
-
-
10.1016/0167-9317(94)00096-D
-
E. Louis, H. Voorma, N. Koster, F. Bijkerk, Y. Platonov, S. Zuev, S. Andreev, E. Shamov, and N. N. Salashchenko, Microelectron. Eng. 27, 235 (1995). 10.1016/0167-9317(94)00096-D
-
(1995)
Microelectron. Eng.
, vol.27
, pp. 235
-
-
Louis, E.1
Voorma, H.2
Koster, N.3
Bijkerk, F.4
Platonov, Y.5
Zuev, S.6
Andreev, S.7
Shamov, E.8
Salashchenko, N.N.9
-
3
-
-
35148835211
-
-
R. W. E. v. d. Kruijs, 10.1117/12.731809
-
A. E. Yakshin, R. W. E. v. d. Kruijs, I. Nedelcu, E. Zoethout, E. Louis, F. Bijkerk, H. Enkisch, and S. Mullender, SPIE 6517, 651701 (2007). 10.1117/12.731809
-
(2007)
SPIE
, vol.6517
, pp. 651701
-
-
Yakshin, A.E.1
Nedelcu, I.2
Zoethout, E.3
Louis, E.4
Bijkerk, F.5
Enkisch, H.6
Mullender, S.7
-
4
-
-
0040708640
-
-
10.1116/1.590942
-
R. Stuik, E. Louis, A. E. Yakshin, P. C. Gorts, E. L. G. Maas, F. Bijkerk, D. Schmitz, F. Scholze, G. Ulm, and M. Haidl, J. Vac. Sci. Technol. B 17, 2998 (1999). 10.1116/1.590942
-
(1999)
J. Vac. Sci. Technol. B
, vol.17
, pp. 2998
-
-
Stuik, R.1
Louis, E.2
Yakshin, A.E.3
Gorts, P.C.4
Maas, E.L.G.5
Bijkerk, F.6
Schmitz, D.7
Scholze, F.8
Ulm, G.9
Haidl, M.10
-
5
-
-
43049090886
-
-
10.1063/1.2907964
-
I. Nedelcu, R. v. d. Kruijs, A. Yakshin, and F. Bijkerk, J. Appl. Phys. 103, 083549 (2008). 10.1063/1.2907964
-
(2008)
J. Appl. Phys.
, vol.103
, pp. 083549
-
-
Nedelcu, I.1
Kruijs, R.V.D.2
Yakshin, A.3
Bijkerk, F.4
-
6
-
-
0027842568
-
-
10.1364/AO.32.006975
-
R. S. Rosen, D. G. Stearns, M. A. Viliardos, M. E. Kassner, S. P. Vernon, and Y. D. Cheng, Appl. Opt. 32, 6975 (1993). 10.1364/AO.32.006975
-
(1993)
Appl. Opt.
, vol.32
, pp. 6975
-
-
Rosen, R.S.1
Stearns, D.G.2
Viliardos, M.A.3
Kassner, M.E.4
Vernon, S.P.5
Cheng, Y.D.6
-
7
-
-
60849132753
-
-
10.1364/AO.48.000155
-
I. Nedelcu, R. van de Kruijs, A. Yakshin, and F. Bijkerk, Appl. Opt. 48, 155 (2009). 10.1364/AO.48.000155
-
(2009)
Appl. Opt.
, vol.48
, pp. 155
-
-
Nedelcu, I.1
Van De Kruijs, R.2
Yakshin, A.3
Bijkerk, F.4
-
8
-
-
0036671788
-
-
10.1117/1.1489426
-
S. Bajt, J. Alameda, T. Barbee, W. Clift, J. Folta, B. Kaufman, and E. Spiller, Opt. Eng. 41, 1797 (2002). 10.1117/1.1489426
-
(2002)
Opt. Eng.
, vol.41
, pp. 1797
-
-
Bajt, S.1
Alameda, J.2
Barbee, T.3
Clift, W.4
Folta, J.5
Kaufman, B.6
Spiller, E.7
-
10
-
-
77955206061
-
-
R. W., 10.1063/1.3460107
-
V. I. T. A. de Rooij-Lohmann, A. E. Yakshin, R. W. E. van de Kruijs, E. Zoethout, A. W. Kleyn, E. G. Keim, M. Gorgoi, F. Schäfers, H. H. Brongersma, and F. Bijkerk, J. Appl. Phys. 108, 014314 (2010). 10.1063/1.3460107
-
(2010)
J. Appl. Phys.
, vol.108
, pp. 014314
-
-
De Rooij-Lohmann, V.I.T.A.1
Yakshin, A.E.2
Van De Kruijs, E.3
Zoethout, E.4
Kleyn, A.W.5
Keim, E.G.6
Gorgoi, M.7
Schäfers, F.8
Brongersma, H.H.9
Bijkerk, F.10
-
11
-
-
78649308165
-
-
R. W., 10.1063/1.3503521
-
V. I. T. A. d. Rooij-Lohmann, L. W. Veldhuizen, E. Zoethout, A. E. Yakshin, R. W. E. van de Kruijs, B. J. Thijsse, M. Gorgoi, F. Schäfers, and F. Bijkerk, J. Appl. Phys. 108, 094314 (2010). 10.1063/1.3503521
-
(2010)
J. Appl. Phys.
, vol.108
, pp. 094314
-
-
Rooij-Lohmann, V.I.T.A.D.1
Veldhuizen, L.W.2
Zoethout, E.3
Yakshin, A.E.4
Van De Kruijs, E.5
Thijsse, B.J.6
Gorgoi, M.7
Schäfers, F.8
Bijkerk, F.9
-
12
-
-
78649744703
-
-
10.1016/j.surfcoat.2010.09.044
-
S. Bruijn, R. v. d. Kruijs, A. Yakshin, E. Zoethout, and F. Bijkerk, Surf. Coat. Technol. 205, 2469 (2010). 10.1016/j.surfcoat.2010.09.044
-
(2010)
Surf. Coat. Technol.
, vol.205
, pp. 2469
-
-
Bruijn, S.1
Kruijs, R.V.D.2
Yakshin, A.3
Zoethout, E.4
Bijkerk, F.5
-
13
-
-
0028444986
-
-
10.1016/0169-4332(94)00108-1
-
R. Schlatmann, C. Lu, J. Verhoeven, E. J. Puik, and M. J. van der Wiel, Appl. Surf. Sci. 78, 147 (1994). 10.1016/0169-4332(94)00108-1
-
(1994)
Appl. Surf. Sci.
, vol.78
, pp. 147
-
-
Schlatmann, R.1
Lu, C.2
Verhoeven, J.3
Puik, E.J.4
Van Der Wiel, M.J.5
-
14
-
-
0001634592
-
-
10.1063/1.168689
-
D. Windt, Comput. Phys. 12, 360 (1998). 10.1063/1.168689
-
(1998)
Comput. Phys.
, vol.12
, pp. 360
-
-
Windt, D.1
-
15
-
-
79251598377
-
-
10.1016/j.apsusc.2010.10.049
-
S. Bruijn, R. v. d. Kruijs, A. Yakshin, and F. Bijkerk, Appl. Surf. Sci. 257, 2707 (2011). 10.1016/j.apsusc.2010.10.049
-
(2011)
Appl. Surf. Sci.
, vol.257
, pp. 2707
-
-
Bruijn, S.1
Kruijs, R.V.D.2
Yakshin, A.3
Bijkerk, F.4
-
16
-
-
0018000998
-
-
10.1016/0040-6090(78)90184-0
-
M. Nicolet, Thin Solid Films 52, 415 (1978). 10.1016/0040-6090(78)90184-0
-
(1978)
Thin Solid Films
, vol.52
, pp. 415
-
-
Nicolet, M.1
-
17
-
-
1942516270
-
-
10.1016/j.matchemphys.2004.02.001
-
W. Lee, Y. Kuo, H. Huang, and C. Lee, Mater. Chem. Phys. 85, 444 (2004). 10.1016/j.matchemphys.2004.02.001
-
(2004)
Mater. Chem. Phys.
, vol.85
, pp. 444
-
-
Lee, W.1
Kuo, Y.2
Huang, H.3
Lee, C.4
-
18
-
-
65649094119
-
-
10.1016/j.tsf.2009.01.001
-
Y. Wang, F. Cao, L. Shao, and M.-h. Ding, Thin Solid Films 517, 5593 (2009). 10.1016/j.tsf.2009.01.001
-
(2009)
Thin Solid Films
, vol.517
, pp. 5593
-
-
Wang, Y.1
Cao, F.2
Shao, L.3
Ding, M.-H.4
-
19
-
-
0003998388
-
-
90th ed., edited by D. L. Lide (CRC Press, Boca Raton)
-
CRC Handbook of Chemistry and Physics, 90th ed., edited by, D. L. Lide, (CRC Press, Boca Raton, 2009-2010).
-
(2009)
CRC Handbook of Chemistry and Physics
-
-
-
20
-
-
0034826309
-
-
S. Santucci, A. la Cecilia, A. DiGiacomo, R. Phani, and L. Lozzi, J. Non-Cryst. Solids 280, 228 (2001);
-
(2001)
J. Non-Cryst. Solids
, vol.280
, pp. 228
-
-
Santucci, S.1
La Cecilia, A.2
Digiacomo, A.3
Phani, R.4
Lozzi, L.5
-
21
-
-
84859536596
-
-
Proceeding of the 3rd Symposium on SiO2 and Advanced Dielectrics (Elsevier)
-
in Proceeding of the 3rd Symposium on SiO2 and Advanced Dielectrics (Elsevier).
-
-
-
-
22
-
-
58449128738
-
-
10.1002/chem.200800987
-
P. Pyykk and M. Atsumi, Chem.-Eur. J. 15, 186 (2008). 10.1002/chem.200800987
-
(2008)
Chem.-Eur. J.
, vol.15
, pp. 186
-
-
Pyykk, P.1
Atsumi, M.2
-
23
-
-
84892817707
-
-
edited by P. Heitjans and J. Kärger (Springer, Berlin)
-
Diffusion in Condensed Matter: Methods, Materials, Models, edited, by P., Heitjans and, J. Kärger, (Springer, Berlin, 2005).
-
(2005)
Diffusion in Condensed Matter: Methods, Materials, Models
-
-
-
24
-
-
84859554413
-
-
SRIM - The Stopping and Range of Ions in Matter (2008)
-
J. F. Ziegler, J. P. Biersack, and M. D. Ziegler, SRIM - The Stopping and Range of Ions in Matter (2008).
-
-
-
Ziegler, J.F.1
Biersack, J.P.2
Ziegler, M.D.3
|