-
1
-
-
9744248669
-
-
Nomura, K.; Ohta, H.; Takagi, A.; Kamiya, T.; Hirano, M.; Hosono, H. Nature 2004, 432, 488
-
(2004)
Nature
, vol.432
, pp. 488
-
-
Nomura, K.1
Ohta, H.2
Takagi, A.3
Kamiya, T.4
Hirano, M.5
Hosono, H.6
-
3
-
-
0037429890
-
-
Li, C.; Zhang, D.; Liu, X.; Han, S.; Tang, T.; Han, J.; Zhou, C. Appl. Phys. Lett. 2003, 82, 1613
-
(2003)
Appl. Phys. Lett.
, vol.82
, pp. 1613
-
-
Li, C.1
Zhang, D.2
Liu, X.3
Han, S.4
Tang, T.5
Han, J.6
Zhou, C.7
-
4
-
-
10044287856
-
-
Tahar, R. B. H.; Ban, T.; Ohya, Y.; Takahashi, Y. J. Appl. Phys. 1998, 83, 2631
-
(1998)
J. Appl. Phys.
, vol.83
, pp. 2631
-
-
Tahar, R.B.H.1
Ban, T.2
Ohya, Y.3
Takahashi, Y.4
-
6
-
-
77649122278
-
-
Kamiya, T.; Nomura, K.; Hosono, H. J. Disp. Technol. 2009, 5, 273
-
(2009)
J. Disp. Technol.
, vol.5
, pp. 273
-
-
Kamiya, T.1
Nomura, K.2
Hosono, H.3
-
7
-
-
57049142035
-
-
Kwon, J. Y.; Son, K. S.; Jung, J. S.; Kim, T. S.; Ryu, M. K.; Park, K. B.; Yoo, B. W.; Kim, J. W.; Lee, Y. G.; Park, K. C.; Lee, S. Y.; Kim, J. M. IEEE Electron Device Lett. 2008, 29, 1309
-
(2008)
IEEE Electron Device Lett.
, vol.29
, pp. 1309
-
-
Kwon, J.Y.1
Son, K.S.2
Jung, J.S.3
Kim, T.S.4
Ryu, M.K.5
Park, K.B.6
Yoo, B.W.7
Kim, J.W.8
Lee, Y.G.9
Park, K.C.10
Lee, S.Y.11
Kim, J.M.12
-
8
-
-
73449096392
-
-
Kim, C.-J.; Kim, S.; Lee, J.-H.; Park, J.-S.; Kim, S.; Park, J.; Lee, E.; Lee, J.; Park, Y.; Kim, J. H.; Shin, S. T.; Chung, U.-I. Appl. Phys. Lett. 2009, 95, 252103
-
(2009)
Appl. Phys. Lett.
, vol.95
, pp. 252103
-
-
Kim, C.-J.1
Kim, S.2
Lee, J.-H.3
Park, J.-S.4
Kim, S.5
Park, J.6
Lee, E.7
Lee, J.8
Park, Y.9
Kim, J.H.10
Shin, S.T.11
Chung, U.-I.12
-
9
-
-
79954581570
-
-
Kwon, J.-Y.; Lee, D.-J.; Kim, K.-B. Electron. Mater. Lett. 2011, 7, 1
-
(2011)
Electron. Mater. Lett.
, vol.7
, pp. 1
-
-
Kwon, J.-Y.1
Lee, D.-J.2
Kim, K.-B.3
-
11
-
-
0001022502
-
-
Tahar, R. B. H.; Ban, T.; Ohya, Y.; Takahashi, Y. J. Appl. Phys. 1997, 82, 865
-
(1997)
J. Appl. Phys.
, vol.82
, pp. 865
-
-
Tahar, R.B.H.1
Ban, T.2
Ohya, Y.3
Takahashi, Y.4
-
12
-
-
0028548508
-
-
Asikainen, T.; Ritala, M.; Leskelä, M. J. Electromchem. Soc. 1994, 141, 3210
-
(1994)
J. Electromchem. Soc.
, vol.141
, pp. 3210
-
-
Asikainen, T.1
Ritala, M.2
Leskelä, M.3
-
13
-
-
0030405306
-
-
Ritala, M.; Asikainen, T.; Leskelä, M.; Skarp, J. Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 1996, 426, 513
-
(1996)
Mater. Res. Soc. Symp. Proc.
, vol.426
, pp. 513
-
-
Ritala, M.1
Asikainen, T.2
Leskelä, M.3
Skarp, J.4
-
14
-
-
68449095202
-
-
Nilsen, O.; Balasundaraprabhu, R.; Monakhov, E. V.; Muthukumarasamy, N.; Fjellvåg, H.; Svensson, B. G. Thin Solid Films 2009, 517, 6320
-
(2009)
Thin Solid Films
, vol.517
, pp. 6320
-
-
Nilsen, O.1
Balasundaraprabhu, R.2
Monakhov, E.V.3
Muthukumarasamy, N.4
Fjellvåg, H.5
Svensson, B.G.6
-
15
-
-
33746863663
-
-
Elam, J. W.; Martinson, A. B. F.; Pellin, M. J.; Hupp, J. T. Chem. Mater. 2006, 18, 3571
-
(2006)
Chem. Mater.
, vol.18
, pp. 3571
-
-
Elam, J.W.1
Martinson, A.B.F.2
Pellin, M.J.3
Hupp, J.T.4
-
16
-
-
84881570767
-
-
Ozasa, K.; Ye, T.; Aoyagi, Y. J. Vac. Sci. Technol. A 1994, 12, 120
-
(1994)
J. Vac. Sci. Technol. A
, vol.12
, pp. 120
-
-
Ozasa, K.1
Ye, T.2
Aoyagi, Y.3
-
17
-
-
0031547019
-
-
Ott, A. W.; Johnson, J. M.; Klaus, J. W.; George, S. M. Appl. Surf. Sci. 1997, 112, 205
-
(1997)
Appl. Surf. Sci.
, vol.112
, pp. 205
-
-
Ott, A.W.1
Johnson, J.M.2
Klaus, J.W.3
George, S.M.4
-
19
-
-
61549138088
-
-
Martinson, A. B. F.; Elam, J. W.; Liu, J.; Pellin, J.; Marks, T. J.; Hupp, J. T. Nano Lett. 2008, 8, 2862
-
(2008)
Nano Lett.
, vol.8
, pp. 2862
-
-
Martinson, A.B.F.1
Elam, J.W.2
Liu, J.3
Pellin, J.4
Marks, T.J.5
Hupp, J.T.6
-
20
-
-
59249104425
-
-
Kim, H.; Lee, H.-B.-R.; Maeng, W.-J. Thin Solid Films 2009, 517, 2563
-
(2009)
Thin Solid Films
, vol.517
, pp. 2563
-
-
Kim, H.1
Lee, H.-B.-R.2
Maeng, W.-J.3
-
22
-
-
41449111459
-
-
Shenai-Khatkhate, D. V.; DiCarlo, R. L., Jr.; Ware, R. A. J. Cryst. Growth 2008, 310, 2395
-
(2008)
J. Cryst. Growth
, vol.310
, pp. 2395
-
-
Shenai-Khatkhate, D.V.1
Dicarlo Jr., R.L.2
Ware, R.A.3
-
23
-
-
34247526821
-
-
Wang, C. Y.; Cimalla, V.; Romanus, H.; Kups, T.; Niebelschütz, M.; Ambacher, O. Thin Solid Films 2007, 515, 6611
-
(2007)
Thin Solid Films
, vol.515
, pp. 6611
-
-
Wang, C.Y.1
Cimalla, V.2
Romanus, H.3
Kups, T.4
Niebelschütz, M.5
Ambacher, O.6
-
25
-
-
0006840439
-
-
Jeong, W. G.; Menu, E. P.; Dapkus, P. D. Appl. Phys. Lett. 1989, 55, 244
-
(1989)
Appl. Phys. Lett.
, vol.55
, pp. 244
-
-
Jeong, W.G.1
Menu, E.P.2
Dapkus, P.D.3
-
26
-
-
42349086810
-
-
Lee, D.-J.; Yim, S.-S.; Kim, K.-S.; Kim, S.-H.; Kim, K.-B. Electrochem. Solid-State Lett. 2008, 11, K61
-
(2008)
Electrochem. Solid-State Lett.
, vol.11
, pp. 61
-
-
Lee, D.-J.1
Yim, S.-S.2
Kim, K.-S.3
Kim, S.-H.4
Kim, K.-B.5
-
27
-
-
70349753280
-
-
Park, S.-H.; Kim, S.; Lee, D-.J.; Yun, S.; Khim, Z. G.; Kim, K.-B. J. Electochem. Soc. 2009, 156, K181
-
(2009)
J. Electochem. Soc.
, vol.156
, pp. 181
-
-
Park, S.-H.1
Kim, S.2
Lee, D.J.3
Yun, S.4
Khim, Z.G.5
Kim, K.-B.6
-
28
-
-
0037166522
-
-
Groner, M. D.; Elam, J. W.; Fabreguette, F. H.; George, S. M. Thin Solid Films 2002, 413, 186
-
(2002)
Thin Solid Films
, vol.413
, pp. 186
-
-
Groner, M.D.1
Elam, J.W.2
Fabreguette, F.H.3
George, S.M.4
-
29
-
-
0029184808
-
-
Dillon, A. C.; Ott, A. W.; Way, J. D.; George, S. M. Surf. Sci. 1995, 322, 230
-
(1995)
Surf. Sci.
, vol.322
, pp. 230
-
-
Dillon, A.C.1
Ott, A.W.2
Way, J.D.3
George, S.M.4
-
30
-
-
0029356624
-
-
Minami, T.; Sonohara, H.; Kakumu, T.; Takata, S. Jpn. J. Appl. Phys. 1995, 34, L971
-
(1995)
Jpn. J. Appl. Phys.
, vol.34
, pp. 971
-
-
Minami, T.1
Sonohara, H.2
Kakumu, T.3
Takata, S.4
-
31
-
-
0032046559
-
-
Minami, T.; Kakumu, T.; Takeda, Y.; Takata, S. Thin Solid Films 1998, 317, 326
-
(1998)
Thin Solid Films
, vol.317
, pp. 326
-
-
Minami, T.1
Kakumu, T.2
Takeda, Y.3
Takata, S.4
-
33
-
-
36449000875
-
-
Tarsa, E. J.; English, J. H.; Speck, J. S. Appl. Phys. Lett. 1993, 62, 2332
-
(1993)
Appl. Phys. Lett.
, vol.62
, pp. 2332
-
-
Tarsa, E.J.1
English, J.H.2
Speck, J.S.3
-
35
-
-
40049110891
-
-
Elam, J. W.; Baker, D. A.; Martinson, A. B. F.; Pellin, M. J.; Hupp, J. T. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 1938
-
(2008)
J. Phys. Chem. C
, vol.112
, pp. 1938
-
-
Elam, J.W.1
Baker, D.A.2
Martinson, A.B.F.3
Pellin, M.J.4
Hupp, J.T.5
-
36
-
-
0000436901
-
-
Takahashi, Y.; Hayashi, H.; Ohya, Y. Mater. Res. Soc. Symp. Proc. 1992, 271, 401
-
(1992)
Mater. Res. Soc. Symp. Proc.
, vol.271
, pp. 401
-
-
Takahashi, Y.1
Hayashi, H.2
Ohya, Y.3
-
38
-
-
33845936317
-
-
Wang, C.; Cimalla, V.; Cherkashinin, G.; Romanus, H.; Ali, N.; Ambacher, O. Thin Solid Films 2007, 515, 2921
-
(2007)
Thin Solid Films
, vol.515
, pp. 2921
-
-
Wang, C.1
Cimalla, V.2
Cherkashinin, G.3
Romanus, H.4
Ali, N.5
Ambacher, O.6
-
39
-
-
25444435128
-
-
Kim, N. H.; Myung, J. H.; Kim, H. W.; Lee, C. Phys. Stat. Sol. A 2005, 202, 108
-
(2005)
Phys. Stat. Sol. A
, vol.202
, pp. 108
-
-
Kim, N.H.1
Myung, J.H.2
Kim, H.W.3
Lee, C.4
-
40
-
-
79955532729
-
-
Choi, S.-H.; Cheon, T.; Kim, S.-H.; Kang, D.-H.; Park, G.-S.; Kim, S. J. Electrochem. Soc. 2011, 158, D351
-
(2011)
J. Electrochem. Soc.
, vol.158
, pp. 351
-
-
Choi, S.-H.1
Cheon, T.2
Kim, S.-H.3
Kang, D.-H.4
Park, G.-S.5
Kim, S.6
-
41
-
-
44349096238
-
-
Hämäläinen, J.; Kemell, M.; Munnki, F.; Kreissig, U.; Ritala, M.; Leskelä, M. Chem. Mater. 2008, 20, 2903
-
(2008)
Chem. Mater.
, vol.20
, pp. 2903
-
-
Hämäläinen, J.1
Kemell, M.2
Munnki, F.3
Kreissig, U.4
Ritala, M.5
Leskelä, M.6
|