Two-color ultrafast photoexcited scanning tunneling microscopy

Journal of Physical Chemistry C

Volumn 115, Issue 20, 2011, Pages 10033-10043

  Dolocan, A ^a,b   Acharya, D P ^a,c   Zahl, P ^a   Sutter, P ^a   Camillone III, N ^a  

^a BROOKHAVEN NATIONAL LABORATORY   (United States)

^b The University of Texas at Austin   (United States)

^c PACIFIC NORTHWEST NATIONAL LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CURRENT SIGNAL; METAL SURFACES; ORDERS OF MAGNITUDE; PHOTOEXCITED SURFACES; SCANNING TUNNELING MICROSCOPES; SUBNANOMETERS; SUBPICOSECOND; SURFACE ELECTRON; THERMAL MODULATION; TIME-RESOLVED DETECTION; TUNNELING CURRENT; TWO PHOTON; TWO-COLOR; TWO-PHOTON PHOTOEMISSION; ULTRA-FAST;

ELECTRON TUNNELING; MODULATION; PHOTOEMISSION; PHOTOEXCITATION; PHOTONS; SCANNING TUNNELING MICROSCOPY; ULTRAFAST LASERS; ULTRAFAST PHENOMENA;

COLOR;

EID: 79959968282     PISSN: 19327447     EISSN: 19327455     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp111875f     Document Type: Article

References (43)

1. Laser Spectroscopy and Photochemistry on Metal Surfaces, Part II; Dai, H.-L., Ho, W., Eds.; World Scientific: Singapore, 1995.
2. Nienhaus, H. Surf. Sci. Rep. 2002, 45, 1.
3. Maximoff, S. N.; Head-Gordon, M. P. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2009, 106, 11460.
4. Park, J. Y.; Lee, H.; Renzas, J. R.; Zhang, Y.; Somorjai, G. A. Nano Lett. 2008, 8, 2388.
5. Binning, G.; Rohrer, H.; Gerber, Ch.; Weibel, E. Phys. Rev. Lett. 1982, 49, 57.
6. Grafström, S. J. Appl. Phys. 2002, 91, 1717.
7. Hamers, R. J.; Cahill, D. G. Appl. Phys. Lett. 1990, 57, 2031.
8. Feldstein, M. J.; Vöhringer, P.; Wang, W.; Scherer, N. F. J. Phys. Chem. 1996, 100, 4739.
9. Pfeiffer, W.; Sattler, F.; Vogler, S.; Gerber, G.; Grand, J.-Y.; Möller, R. Appl. Phys. B: Laser Opt. 1997, 64, 265.
10. Merschdorf, M.; Pfeiffer, W.; Thon, A.; Gerber, G. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 286.
11. Takeuchi, O.; Morita, R.; Yamashita, M.; Shigekawa, H. Jpn. J. Appl. Phys. 2002, 41, 4994.
12. Takeuchi, O.; Aoyama, M.; Oshima, R.; Okada, Y.; Oigawa, H.; Sano, N.; Shigekawa, H.; Morita, R.; Yamashita, M. Appl. Phys. Lett. 2004, 85, 3268.
13. Shigekawa, H.; Takeuchi, O.; Aoyama, M. Sci. Technol. Adv. Mater. 2005, 6, 582.
14. Takeuchi, O.; Aoyama, M.; Shigekawa, H. Jpn. J. Appl. Phys. 2005, 44, 5354.
15. Takeuchi, O.; Aoyama, M.; Kondo, H.; Taninaka, A.; Terada, Y.; Shigekawa, H. Jpn. J. Appl. Phys. 2006, 45, 1926.
16. Terada, Y.; Aoyama, M.; Kondo, H.; Taninaka, A.; Takeuchi, O.; Shigekawa, H. Nanotechnology 2007, 18, 044028.
17. Shigekawa, H.; Yoshida, S.; Takeuchi, O.; Aoyama, M.; Terada, Y.; Kondo, H.; Oigawa, H. Thin Solid Films 2008, 516, 2348.
18. Groeneveld, R. H. M.; van Kempen, H. Appl. Phys. Lett. 1996, 69, 2294.
19. Grafström, S.; Kowalski, J.; Neumann, R.; Probst, O.; Wörtge, M. J. Vac. Sci. Technol., B 1991, 9, 568.
20. Grafström, S.; Schuller, P.; Kowalski, J.; Neumann, R. J. Appl. Phys. 1998, 83, 3453.
21. Gerstner, V.; Thon, A.; Pfeiffer, W. J. Appl. Phys. 2000, 87, 2574.
22. Ukraintsev, V. A.; Yates, J. T., Jr. J. Appl. Phys. 1996, 80, 2561.
23. Lyubinetsky, I.; Dohnálek, Z.; Ukraintsev, V. A.; Yates, J. T., Jr. J. Appl. Phys. 1997, 82, 4115.
24. Geshev, P. I.; Klein, S.; Dickmann, K. Appl. Phys. B: Laser Opt. 2003, 76, 313.
25. Gerstner, V.; Knoll, A.; Pfeiffer, W.; Thon, A.; Gerber, G. J. Appl. Phys. 2000, 88, 4851.
26. Budde, F.; Heinz, T. F.; Loy, M. M. T.; Misewich, J. A.; de Rougemont, F.; Zacharias, H. Phys. Rev. Lett. 1991, 66, 3024.
27. Anisimov, S. I.; Kapeliovich, B. L.; Perel'man, T. L. Sov. Phys. JETP 1974, 39, 375.
28. Wu, S. W.; Ho, W. Phys. Rev. B 2010, 82, 085444.
29. Spanakis, E.; Chimmalgi, A.; Stratakis, E.; Grigoropoulos, C. P.; Fotakis, C.; Tzanetakis, P. Appl. Phys. Lett. 2006, 89, 013110.
30. Terada, Y.; Yoshida, S.; Takeuchi, O.; Shigekawa, H. Nat. Photonics 2010, 4, 869.
31. Chelvayohan, M.; Mee, C. H. B. J. Phys. C: Solid State Phys. 1982, 15, 2305.
32. Giesen, K.; Hage, F.; Himpsel, F. J.; Riess, H. J.; Steinmann, W. Phys. Rev. Lett. 1985, 55, 300.
33. Gucciardi, P. G.; Lopes, M.; Déturche, R.; Julien, C.; Barchiesi, D.; Lamy de la Chapelle, M. Nanotechnology 2008, 19, No. 215702.
34. Petek, H.; Ogawa, S. Prog. Surf. Sci. 1997, 56, 239.
35. Behr, N.; Raschke, M. B. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 3766.
36. Hansson, G. V.; Flodström, S. A. Phys. Rev. B 1978, 17, 473.
37. Nelson, J. G.; Kim, S.; Gignac, W. J.; Williams, R. S.; Tobin, J. G.; Robey, S. W.; Shirley, D. A. Phys. Rev. B 1985, 32, 3465.
38. Pontius, N.; Sametoglu, V.; Petek, H. Phys. Rev. B 2005, 72, No. 115105.
39. Ogawa, S.; Nagano, H.; Petek, H. Phys. Rev. B 1997, 55, 10869.
40. Knoesel, E.; Hotzel, A.; Wolf, M. Phys. Rev. B 1998, 57, 12812.
41. Ogawa, S.; Petek, H. Surf. Sci. 1996, 357, 585.
42. Knoesel, E.; Hotzel, A.; Hertel, T.; Wolf, M.; Ertl, G. Surf. Sci. 1996, 368, 76.
43. Wu, S. W.; Ogawa, N.; Ho, W. Science 2006, 312, 1362.