Optical and structural properties of m -plane GaN substrates grown by ammonothermal method and GaN epilayers grown on these substrates

Physica Status Solidi (C) Current Topics in Solid State Physics

Volumn 7, Issue 10, 2010, Pages 2359-2364

  Kudrawiec, R ^a   Rudzinski M ^b   Kucharski, R ^c   ZajaC, M ^c   Doradzinski R ^c   Sierzputowski, L P ^c   Garczynski J ^c   Serafinczuk J ^a   Strupinski W ^b   Misiewicz, J ^a   Dwilinski R ^c  

^a WROCLAW UNIVERSITY OF TECHNOLOGY   (Poland)

^b ukasiewicz Research Network Institute of Microelectronics and Photonics   (Poland)

^c AMMONO Sp Zoo   (Poland)

Author keywords

Dislocations; GaN; MOCVP; Photoluminescence; Reflectance; Structure

Indexed keywords

DISLOCATIONS; GAN; MOCVP; REFLECTANCE; STRUCTURE;

DIAMOND FILMS; EPILAYERS; EPITAXIAL GROWTH; EXCITONS; GALLIUM NITRIDE; METALLORGANIC CHEMICAL VAPOR DEPOSITION; OPTICAL PROPERTIES; PHOTOLUMINESCENCE; REFLECTION; SEMICONDUCTING GALLIUM COMPOUNDS; SEMICONDUCTOR QUANTUM WELLS; STACKING FAULTS; SUBSTRATES;

GALLIUM ALLOYS;

EID: 78149451080     PISSN: 18626351     EISSN: 16101642     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/pssc.200983880     Document Type: Article

References (24)

1. P. Waltereit, O. Brandt, A. Trampert, H. T. Gran, J. Menniger, M. Ramsteiner, M. Reiche, and K. H. Ploog, Nature 406, 865 (2000).
2. B. Liu, R. Zhang, Z. L. Xie, C. X. Liu, J. Y. Kong, J. Yao, Q. J. Liu, Z. Zhang, D. Y. Fu, X. Q. Xiu, H. Lu, P. Chen, P. Han, S. L. Gu, Y. Shi, Y. D. Zheng, J. Zhou, and S. M. Zhou, Appl. Phys. Lett. 91, 253506 (2007).
3. A. Tyagi, Y.-D. Lin, D. A. Cohen, M. Saito, K. Fujito, J. S. Speck, S. P. DenBaars, and S. Nakamura, Appl. Phys. Express 1, 091103 (2008).
4. K. Okamoto, J. Kashiwagi, T. Tanaka, and M. Kubota, Appl. Phys. Lett. 94, 071105 (2009).
5. A. M. Fischer, Z. Wu, K. Sun, Q. Wei, Y. Huang, R. Senda, D. Iida, H. Amano, and F. A. Ponce, Appl. Phys. Express 2, 041002 (2009).
6. Y. Saito, K. Okuno, S. Boyama, N. Nakada, S. Nitta, Y. Ushida, and N. Shibata, Appl. Phys. Express 2, 041001 (2009).
7. T. Miyoshi, S. Masui, T. Okada, T. Yanamoto, T. Kozaki, S. Nagahana, and T. Mukai, Appl. Phys. Express 2, 062201 (2009).
8. R. Dwilinski, R. Doradzinski, J. Garczynski, L. P. Sierzputowski, A. Puchalski, Y. Kanbara, K. Yagi, H. Minakuchi, H. Hayashi, J. Cryst. Growth 310, 3911 (2008).
9. R. Dwiliński, R. Doradziński, J. Garczyński, L. P. Sierzputowski, A. Puchalski, Y. Kanbara, K. Yagi, H. Minakuchi, H. Hayashi, J. Cryst. Growth 311, 3015 (2009).
10. T. Hashimoto, F. Wu, J. S. Speck, and S. Nakamura, J. Cryst. Growth 310, 3907 (2008).
11. M. Saito, D. S. Kamber, T. J. Baker, K. Fujito, S. P. DenBaars, J. S. Speck, and S. Nakamura, Appl. Phys. Express 1, 121103 (2008).
12. T. Fukuda and D. Ehrentraut, J. Cryst. Growth 305, 304 (2007).
13. B. Wang, M. J. Callahan, K. D. Rakes, L. O. Bouthillette, S.-Q. Wang, D. F. Bliss, and J. W. Kolis, J. Cryst. Growth 287, 376 (2006).
14. T. Paskova, R. Kroeger, D. Hommel, P. P. Paskov, B. Monemar, E. Preble, A. Hanser, N. M. Wiliams, and M. Tutor, Phys. Status Solidi C 4, 2536 (2007).
15. K. Fujito, K. Kiyomi, T. Mochizuki, H. Oota, H. Namita, S. Nagao, and I. Fujimura, Phys. Status Solidi A 205, 1056 (2008).
16. R. Kucharski, M. Rudziński, M. Zaja{ogonek}c, R. Doradziński, J. Garczyński, L. Sierzputowski, R. Kudrawiec, J. Serafińczuk, W. Strupiński, and R. Dwiliński, Appl. Phys. Lett. 95, 131119 (2009).
17. M. Motyka, R. Kudrawiec, and J. Misiewicz, Phys. Status Solidi A 204, 354 (2007).
18. J. L. Weyher, Superlattices Microstruct. 40, 279 (2006).
19. R. Kudrawiec, J. Misiewicz, M. Rudziński, and M. Zaja{ogonek}c, Appl. Phys. Lett. 93, 061910 (2008).
20. R. Kudrawiec, M. Motyka, J. Misiewicz, B. Paszkiewicz, R. Paszkiewicz, and M. Tlaczala, Microelectron. J. 40, 370 (2009).
21. M. Rudziński et al., in preparation.
22. R. Kudrawiec, M. Rudziński, J. Serafinczuk, M. Zaja{ogonek}c, and J. Misiewicz, J. Appl. Phys. 105, 093541 (2009).
23. P. Misra, O. Brandt, H. T. Grahn, H. Teisseyre, M. Siekacz, C. Skierbiszewski, and B. Lucznik, Appl. Phys. Lett. 91, 141903 (2007).
24. K. P Korona, A. Wysmołek, K. Pakuła, R. Ste{ogonek}pniewski, J. M. Baranowski, I. Grzegory, B. Łucznik, M. Wróblewski, and S. Porowski, Appl. Phys. Lett. 69, 788 (1996).