-
1
-
-
33646587721
-
-
Goto, M.; Kasahara, A.; Tosa, M. Vacuum 2006, 80, 740.
-
(2006)
Vacuum
, vol.80
, pp. 740
-
-
Goto, M.1
Kasahara, A.2
Tosa, M.3
-
2
-
-
0001187424
-
-
Bare, W. D.; Citra, A.; Chertihin, G. V.; rews, L. J. Phys. Chem. 1999, 103, 5456.
-
(1999)
J. Phys. Chem
, vol.103
, pp. 5456
-
-
Bare, W.D.1
Citra, A.2
Chertihin, G.V.3
rews, L.4
-
3
-
-
0041877492
-
-
Sabouralt, N.; Mignani, G.; Wagner, A.; Mioskowski, C. Org. Lett. 2002, 4, 2117.
-
(2002)
Org. Lett
, vol.4
, pp. 2117
-
-
Sabouralt, N.1
Mignani, G.2
Wagner, A.3
Mioskowski, C.4
-
4
-
-
34447520237
-
-
Hamze, A.; Provot, O.; Brion, J.-D.; Alami, M. Synthesis 2007, 2025.
-
(2007)
Synthesis
, pp. 2025
-
-
Hamze, A.1
Provot, O.2
Brion, J.-D.3
Alami, M.4
-
5
-
-
33644938386
-
-
Hamze, A.; Provot, O.; Alami, M.; Brion, J.-D. Org. Lett. 2006, 8, 931.
-
(2006)
Org. Lett
, vol.8
, pp. 931
-
-
Hamze, A.1
Provot, O.2
Alami, M.3
Brion, J.-D.4
-
6
-
-
33748340474
-
-
Seriani, N.; Pompe, W.; Ciacchi, L. C. J. Phys. Chem. B 2006, 110, 14860.
-
(2006)
J. Phys. Chem. B
, vol.110
, pp. 14860
-
-
Seriani, N.1
Pompe, W.2
Ciacchi, L.C.3
-
7
-
-
2142658248
-
-
Jin, Z.; Xi, C.; Zeng, Q.; Yin, F.; Zhao, J.; Xue, J. J. Mol. Catal. A: Chem. 2003, 191, 61.
-
(2003)
J. Mol. Catal. A: Chem
, vol.191
, pp. 61
-
-
Jin, Z.1
Xi, C.2
Zeng, Q.3
Yin, F.4
Zhao, J.5
Xue, J.6
-
8
-
-
29144462652
-
-
Ackermann, M. D.; Pedersen, T. M.; Hendriksen, B. L. M.; Robach, O.; Bobaru, S. C.; Popa, I.; Quiros, C.; Kim, H.; Hammer, B.; Ferrer, S.; Frenken, J. W. M. Phys. Rev. Lett. 2005, 95, 255505.
-
(2005)
Phys. Rev. Lett
, vol.95
, pp. 255505
-
-
Ackermann, M.D.1
Pedersen, T.M.2
Hendriksen, B.L.M.3
Robach, O.4
Bobaru, S.C.5
Popa, I.6
Quiros, C.7
Kim, H.8
Hammer, B.9
Ferrer, S.10
Frenken, J.W.M.11
-
9
-
-
0032131271
-
-
Abe, Y.; Yanagisawa, H.; Sasaki, K Jpn. J. Appl. Phys 1998, 37, 4482.
-
(1998)
Jpn. J. Appl. Phys
, vol.37
, pp. 4482
-
-
Abe, Y.1
Yanagisawa, H.2
Sasaki, K.3
-
10
-
-
33646417336
-
-
Huang, C.-K.; Chiou, Y.-K.; Chu, Y.-C.; Wu, T.-B.; Tsai, C.-J. J. Electrochem. Soc. 2006, 153, F115.
-
(2006)
J. Electrochem. Soc
, vol.153
-
-
Huang, C.-K.1
Chiou, Y.-K.2
Chu, Y.-C.3
Wu, T.-B.4
Tsai, C.-J.5
-
11
-
-
23144440712
-
-
Li, X.; Kim, C. I.; An, S. H.; Oh, S. G.; Kim, S. Y Jpn. J. Appl. Phys 2005, 44, 3623.
-
(2005)
Jpn. J. Appl. Phys
, vol.44
, pp. 3623
-
-
Li, X.1
Kim, C.I.2
An, S.H.3
Oh, S.G.4
Kim, S.Y.5
-
12
-
-
33846128086
-
-
Qu, Q.-L.; Wang, Y.; Gan, F.-X. Chin. Phys. Lett. 2006, 23, 3363.
-
(2006)
Chin. Phys. Lett
, vol.23
, pp. 3363
-
-
Qu, Q.-L.1
Wang, Y.2
Gan, F.-X.3
-
13
-
-
14544274991
-
-
Hwang, I.; Kim, J.; Kim, H.; Park, I.; Shin, D. IEEE Trans. Magn. 2005, 41, 1001.
-
(2005)
IEEE Trans. Magn
, vol.41
, pp. 1001
-
-
Hwang, I.1
Kim, J.2
Kim, H.3
Park, I.4
Shin, D.5
-
14
-
-
23144448847
-
-
Kikukawa, T.; Fukuzawa, N.; Kobayashi, T. Jpn. J. Appl. Phys. 2005, 44, 3596.
-
(2005)
Jpn. J. Appl. Phys
, vol.44
, pp. 3596
-
-
Kikukawa, T.1
Fukuzawa, N.2
Kobayashi, T.3
-
15
-
-
34547683474
-
-
Qu, Q.; Wang, Y.; Gan, F. Phys. Lett. A 2007, 368, 271.
-
(2007)
Phys. Lett. A
, vol.368
, pp. 271
-
-
Qu, Q.1
Wang, Y.2
Gan, F.3
-
17
-
-
38049182743
-
-
Liu, Q.; Fukaya, T.; Cao, S.; Guo, C.; Zhang, Z.; Guo, Y.; Wei, J.; Tominaga, J. Opt. Express 2008, 16, 213.
-
(2008)
Opt. Express
, vol.16
, pp. 213
-
-
Liu, Q.1
Fukaya, T.2
Cao, S.3
Guo, C.4
Zhang, Z.5
Guo, Y.6
Wei, J.7
Tominaga, J.8
-
18
-
-
0001675210
-
-
Machalett, F.; Edinger, K.; Melngailis, J.; Venkatesan, T.; Diegel, M.; Steenbeck, K. Appl. Phys. Lett. 2000, 76, 3445.
-
(2000)
Appl. Phys. Lett
, vol.76
, pp. 3445
-
-
Machalett, F.1
Edinger, K.2
Melngailis, J.3
Venkatesan, T.4
Diegel, M.5
Steenbeck, K.6
-
19
-
-
0036532440
-
-
Machalett, F.; Edinger, K.; Diegel, M.; Steenbeck, K. Microelectron. Eng. 2002, 60, 429.
-
(2002)
Microelectron. Eng
, vol.60
, pp. 429
-
-
Machalett, F.1
Edinger, K.2
Diegel, M.3
Steenbeck, K.4
-
20
-
-
0037636418
-
-
Machalett, F; Gärtner, K.; Edinger, K.; Diegel, M J. Appl. Phys. 2003, 93, 9030.
-
(2003)
J. Appl. Phys
, vol.93
, pp. 9030
-
-
Machalett, F.1
Gärtner, K.2
Edinger, K.3
Diegel, M.4
-
21
-
-
33645345132
-
-
Kurihara, K.; Yamakawa, Y.; Nakano, T.; Tominaga, J. J. Opt. A: Pure Appl. Opt. 2006, 8, S139.
-
(2006)
J. Opt. A: Pure Appl. Opt
, vol.8
-
-
Kurihara, K.1
Yamakawa, Y.2
Nakano, T.3
Tominaga, J.4
-
22
-
-
28644439681
-
-
Park, S.; Boo, H.; Kim, Y.; Han, J.-H.; Kim, H. C.; Chung, T. D. Anal. Chem. 2005, 77, 7695.
-
(2005)
Anal. Chem
, vol.77
, pp. 7695
-
-
Park, S.1
Boo, H.2
Kim, Y.3
Han, J.-H.4
Kim, H.C.5
Chung, T.D.6
-
23
-
-
0032667580
-
-
Maya, L.; Brown, G. M.; Thundat, T. J. Appl. Electrochem. 1999, 29, 883.
-
(1999)
J. Appl. Electrochem
, vol.29
, pp. 883
-
-
Maya, L.1
Brown, G.M.2
Thundat, T.3
-
24
-
-
28844440931
-
-
Ma, X.; Feng, C.; Jin, Z.; Guo, X.; Yang, J.; Zhang, Z. J. Nanopart. Res. 2005, 7, 681.
-
(2005)
J. Nanopart. Res
, vol.7
, pp. 681
-
-
Ma, X.1
Feng, C.2
Jin, Z.3
Guo, X.4
Yang, J.5
Zhang, Z.6
-
25
-
-
0001031667
-
-
Abe, Y.; Kawamura, M.; Sasaki, K Jpn. J. Appl. Phys 1999, 38, 2092.
-
(1999)
Jpn. J. Appl. Phys
, vol.38
, pp. 2092
-
-
Abe, Y.1
Kawamura, M.2
Sasaki, K.3
-
26
-
-
0001104843
-
-
Neff, H.; Henkel, S.; Hartmannsgruber, E.; Steinbeiss, E.; Michalke, W.; Steenbeck, K.; Schmidt, H. G. J. Appl. Phys. 1996, 79, 7672.
-
(1996)
J. Appl. Phys
, vol.79
, pp. 7672
-
-
Neff, H.1
Henkel, S.2
Hartmannsgruber, E.3
Steinbeiss, E.4
Michalke, W.5
Steenbeck, K.6
Schmidt, H.G.7
-
28
-
-
0032355931
-
-
Maya, L.; Riester, L.; Thundat, T.; Yust, C. S. J. Appl. Phys. 1998, 84, 6382.
-
(1998)
J. Appl. Phys
, vol.84
, pp. 6382
-
-
Maya, L.1
Riester, L.2
Thundat, T.3
Yust, C.S.4
-
30
-
-
16244392803
-
-
Blackstock, J. J.; Stewart, D. R.; Li, Z. Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 2005, 80, 1343.
-
(2005)
Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process
, vol.80
, pp. 1343
-
-
Blackstock, J.J.1
Stewart, D.R.2
Li, Z.3
-
31
-
-
23444459390
-
-
Chen, Y.-C.; Sun, Y.-M.; Yu, S.-Y.; Hsiung, C.-P.; Gan, J.-Y.; Kou, C.-S. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 2005, 237, 296.
-
(2005)
Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B
, vol.237
, pp. 296
-
-
Chen, Y.-C.1
Sun, Y.-M.2
Yu, S.-Y.3
Hsiung, C.-P.4
Gan, J.-Y.5
Kou, C.-S.6
-
32
-
-
33645850129
-
-
Alsabet, M.; Grden, M.; Jerkiewicz, G. J. Electroanal. Chem. 2006, 589, 120.
-
(2006)
J. Electroanal. Chem
, vol.589
, pp. 120
-
-
Alsabet, M.1
Grden, M.2
Jerkiewicz, G.3
-
33
-
-
0000836443
-
-
Nalwa, H. S, Ed, Academic Press: San Diego, CA
-
Ritala, M.; Leskelä, M. In Handbook of Thin Film Materials; Nalwa, H. S., Ed.; Academic Press: San Diego, CA, 2001; Vol. 1, pp 103-159.
-
(2001)
Handbook of Thin Film Materials
, vol.1
, pp. 103-159
-
-
Ritala, M.1
Leskelä, M.2
-
35
-
-
31644446942
-
-
Elers, K.-E.; Blomberg, T.; Peussa, M.; Aitchison, B.; Haukka, S.; Marcus, S. Chem. Vap. Deposition 2006, 12, 13.
-
(2006)
Chem. Vap. Deposition
, vol.12
, pp. 13
-
-
Elers, K.-E.1
Blomberg, T.2
Peussa, M.3
Aitchison, B.4
Haukka, S.5
Marcus, S.6
-
36
-
-
57049128101
-
-
Leskelä, M.; Aaltonen, T.; Hämäläinen, J.; Niskanen, A.; Ritala, M. Proc. Electrochem. Soc. 2005, 545, 2005-09.
-
(2005)
Proc. Electrochem. Soc
, vol.545
, pp. 2005-2009
-
-
Leskelä, M.1
Aaltonen, T.2
Hämäläinen, J.3
Niskanen, A.4
Ritala, M.5
-
37
-
-
0038708429
-
-
Aaltonen, T.; Ritala, M.; Sajavaara, T.; Keinonen, J.; Leskelä, M Chem. Mater. 2003, 15, 1924.
-
(2003)
Chem. Mater
, vol.15
, pp. 1924
-
-
Aaltonen, T.1
Ritala, M.2
Sajavaara, T.3
Keinonen, J.4
Leskelä, M.5
-
38
-
-
11244346842
-
-
Aaltonen, T.; Ritala, M; Tung, Y.-L.; Chi, Y.; Arstila, K.; Meinander, K.; Leskelä, M. J. Mater. Res. 2004, 19, 3353.
-
(2004)
J. Mater. Res
, vol.19
, pp. 3353
-
-
Aaltonen, T.1
Ritala, M.2
Tung, Y.-L.3
Chi, Y.4
Arstila, K.5
Meinander, K.6
Leskelä, M.7
-
39
-
-
0037943019
-
-
Aaltonen, T.; Alén, M; Ritala, M.; Leskelä, M Chem. Vap. Deposition 2003, 9, 45.
-
(2003)
Chem. Vap. Deposition
, vol.9
, pp. 45
-
-
Aaltonen, T.1
Alén, M.2
Ritala, M.3
Leskelä, M.4
-
40
-
-
3142538692
-
-
Aaltonen, T.; Ritala, M.; Arstila, K.; Keinonen, J.; Leskelä, M. Chem. Vap. Deposition 2004, 10, 215.
-
(2004)
Chem. Vap. Deposition
, vol.10
, pp. 215
-
-
Aaltonen, T.1
Ritala, M.2
Arstila, K.3
Keinonen, J.4
Leskelä, M.5
-
41
-
-
33947543555
-
-
Biener, J.; Baumann, T. F.; Wang, Y.; Nelson, E. J.; Kucheyev, S. O.; Hamza, A. V.; Kemell, M.; Ritala, M.; Leskelä, M. Nanotechnology 2007, 18, 055303.
-
(2007)
Nanotechnology
, vol.18
, pp. 055303
-
-
Biener, J.1
Baumann, T.F.2
Wang, Y.3
Nelson, E.J.4
Kucheyev, S.O.5
Hamza, A.V.6
Kemell, M.7
Ritala, M.8
Leskelä, M.9
-
43
-
-
34547295977
-
-
Ten Eyck, G. A.; Pimanpang, S.; Bakhru, H.; Lu, T.-M.; Wang, G.-C. Chem. Vap. Deposition 2006, 12, 290.
-
(2006)
Chem. Vap. Deposition
, vol.12
, pp. 290
-
-
Ten Eyck, G.A.1
Pimanpang, S.2
Bakhru, H.3
Lu, T.-M.4
Wang, G.-C.5
-
44
-
-
33750811388
-
-
Elam, J. W.; Zinovev, A.; Han, C. Y.; Wang, H. H.; Welp, U.; Hryn, J. N.; Pellin, M. J. Thin Solid Films 2006, 515, 1664.
-
(2006)
Thin Solid Films
, vol.515
, pp. 1664
-
-
Elam, J.W.1
Zinovev, A.2
Han, C.Y.3
Wang, H.H.4
Welp, U.5
Hryn, J.N.6
Pellin, M.J.7
-
45
-
-
4344694233
-
-
Aaltonen, T.; Ritala, M; Sammelselg, V.; Leskelä, M. J. Electrochem. Soc. 2004, 151, G489.
-
(2004)
J. Electrochem. Soc
, vol.151
-
-
Aaltonen, T.1
Ritala, M.2
Sammelselg, V.3
Leskelä, M.4
-
46
-
-
33845616203
-
-
Färm, E.; Kemell, M.; Ritala, M.; Leskelä, M. Chem. Vap. Deposition 2006, 12, 415.
-
(2006)
Chem. Vap. Deposition
, vol.12
, pp. 415
-
-
Färm, E.1
Kemell, M.2
Ritala, M.3
Leskelä, M.4
-
47
-
-
33845613901
-
-
Kemell, M.; Pore, V.; Ritala, M.; Leskelä, M. Chem. Vap. Deposition 2006, 12, 419.
-
(2006)
Chem. Vap. Deposition
, vol.12
, pp. 419
-
-
Kemell, M.1
Pore, V.2
Ritala, M.3
Leskelä, M.4
-
48
-
-
44349091803
-
-
Niskanen, A.; Hatanpää, T.; Arstila, K.; Leskelä, M.; Ritala, M. Chem. Vap. Deposition 2007, 13, 408.
-
(2007)
Chem. Vap. Deposition
, vol.13
, pp. 408
-
-
Niskanen, A.1
Hatanpää, T.2
Arstila, K.3
Leskelä, M.4
Ritala, M.5
-
49
-
-
0041916147
-
-
Aaltonen, T.; Rahtu, A.; Ritala, M.; Leskelä, M. Electrochem. Solid-State Lett. 2003, 6, C130.
-
(2003)
Electrochem. Solid-State Lett
, vol.6
-
-
Aaltonen, T.1
Rahtu, A.2
Ritala, M.3
Leskelä, M.4
-
50
-
-
57049129756
-
-
Ph.D. thesis, University of Helsinki, Helsinki, Finland, available from
-
Aaltonen, T. Ph.D. thesis, University of Helsinki, Helsinki, Finland, 2005; available from http://ethesis.helsinki.fi/en/.
-
(2005)
-
-
Aaltonen, T.1
-
51
-
-
44349096238
-
-
Hämäläinen, J.; Kemell, M.; Munnik, F.; Kreissig, U.; Ritala, M.; Leskelä, M Chem. Mater. 2008, 20, 2903.
-
(2008)
Chem. Mater
, vol.20
, pp. 2903
-
-
Hämäläinen, J.1
Kemell, M.2
Munnik, F.3
Kreissig, U.4
Ritala, M.5
Leskelä, M.6
-
52
-
-
0342323747
-
-
Utriainen, M.; Kröger-Laukkanen, M.; Johansson, L-S.; Niinistö, L. Appl. Surf. Sci. 2000, 157, 151.
-
(2000)
Appl. Surf. Sci
, vol.157
, pp. 151
-
-
Utriainen, M.1
Kröger-Laukkanen, M.2
Johansson, L.-S.3
Niinistö, L.4
-
53
-
-
23844550618
-
-
Aaltonen, T.; Ritala, M.; Leskelä, M. Atomic Layer Deposition of Noble Metals. In Advanced Metallization Conference 2004 (AMC 2004), San Diego, CA, Oct 19-21, 2004, and Tokyo, Sept 28-29, 2004; Erb, D., Ramm, P., Masu, K., Osaki, A. , Eds.; Materials Research Society, Warrendale, PA, 2005; pp 663-667.
-
Aaltonen, T.; Ritala, M.; Leskelä, M. Atomic Layer Deposition of Noble Metals. In Advanced Metallization Conference 2004 (AMC 2004), San Diego, CA, Oct 19-21, 2004, and Tokyo, Sept 28-29, 2004; Erb, D., Ramm, P., Masu, K., Osaki, A. , Eds.; Materials Research Society, Warrendale, PA, 2005; pp 663-667.
-
-
-
-
55
-
-
34547544804
-
-
Kreissig, U.; Grigull, S.; Lange, K.; Nitzsche, P.; Schmidt, B. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 1998, 674, 136-138.
-
(1998)
Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B
, vol.674
, pp. 136-138
-
-
Kreissig, U.1
Grigull, S.2
Lange, K.3
Nitzsche, P.4
Schmidt, B.5
-
56
-
-
47649127135
-
-
Jiang, X.; Huang, H.; Prinz, F. B.; Bent, S. F. Chem. Mater. 2008, 20, 3897.
-
(2008)
Chem. Mater
, vol.20
, pp. 3897
-
-
Jiang, X.1
Huang, H.2
Prinz, F.B.3
Bent, S.F.4
|