Correlation between dielectric/organic interface properties and key electrical parameters in PPV-based OFETs

Journal of Physical Chemistry B

Volumn 112, Issue 33, 2008, Pages 10130-10136

  Todescato, Francesco ^a   Capelli, Raffaella ^a   Dinelli, Franco ^b   Murgia, Mauro ^a   Camaioni, Nadia ^c   Yang, Mujie ^d   Bozio, Renato ^e   Muccini, Michele ^a  

^a CNR   (Italy)

^b AREA DELLA RICERCA   (Italy)

^c Istituto Per La Sintesi Organica E La Fotoreattività   (Italy)

^d ZHEJIANG UNIVERSITY   (China)

^e UNIVERSITY OF PADOVA   (Italy)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ABS RESINS; CHARGE CARRIERS; CIVIL AVIATION; CORRELATION METHODS; DIELECTRIC DEVICES; DIELECTRIC MATERIALS; ELASTICITY; ELECTRIC CONDUCTIVITY; HOLE MOBILITY; HYSTERESIS; PHASE INTERFACES; POLYMERS; SEMICONDUCTING SILICON; SEMICONDUCTING SILICON COMPOUNDS; SEMICONDUCTOR MATERIALS; SILANES; SILICA; TRANSISTORS;

HEXAMETHYL DISILAZANE; OH GROUPS;

FIELD EFFECT TRANSISTORS;

EID: 51049085808     PISSN: 15206106     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/jp8012255     Document Type: Article

References (38)

1. Forrest, S. R. Nature 2004, 428, 911.
2. Zaumseil, J.; Sirringhaus, H. Chem. Rev. 2007, 107, 1296.
3. Muccini, M. Nat. Mater. 2006, 5 (8), 605.
4. Hepp, A.; Heil, H.; Weise, W.; Ahles, M.; Schmechel, R.; Von Seggern, H. Phys. Rev. Lett. 2003, 91 (15), 157406.
5. Zaumseil, J.; Friend, R. H.; Sirringhaus, H. Nat. Mater. 2006, 5, 69.
6. Dinelli, F.; Capelli, R.; Loi, M. A.; Murgia, M.; Muccini, M.; Facchetti, A.; Marks, T. J. Adv. Mater. 2006, 18, 1413.
7. Swensen, J. S.; Soci, C.; Heeger, A. J. Appl. Phys. Lett. 2005, 87, 253511.
8. Dimitrakopoulos, C. D.; Malefant, P. R. L. Adv. Mater. 2002, 14, 99.
9. Malliaras, G.; Friend, R. Phys. Today 2005, 58, 53.
10. Horowitz, G.; Peng, X.; Fichou, D.; Garnier, F. J. Appl. Phys. 1990, 67, 528.
11. Dinelli, F.; Murgia, M.; Levy, P.; Cavallini, M.; de Leeuw, D.; Biscarini, F. Phys. Rev. Lett. 2004, 92, 6802.
12. Facchetti, A.; Yoon, M.; Marks, T. J. Adv. Mater. 2005, 17, 1705.
13. Veres, J.; Ogier, S.; Lloyd, G. Chem. Mater. 2004, 16, 4543.
14. Chua, L. L.; Ho, P. K. H.; Sirringhaus, H.; Friend, R. H. Adv. Mater. 2004, 16, 1609.
15. Smith, J. W. H.; Hill, I. G. J. Appl. Phys. 2007, 101, 044503-1.
16. Sirringhaus, H.; Brown, P. J.; Friend, R. H.; Nielsen, M. M.; Bechgaard, K.; Langeveld-Voss, B. M. W.; Spiering, A. J. H.; Janssen, R. A. J.; Meijer, E. W.; Herwig, P.; De Leeuw, D. M. Nature 1999, 401, 685.
17. Yasuda, T.; Fujita, K.; Nakashima, H.; Tsutsui, T. Jpn. J. Appl. Phys. 2003, 42, 6614.
18. Halik, M.; Klauk, H.; Zschieschang, U.; Schmid, G.; Dhem, C.; Schutz, M.; Maisch, S.; Effenberg, F.; Brunnbauer, M.; Stellaci, F. Nature 2004, 431, 963.
19. Jin, S. H.; Yu, J. S.; Lee, A. L.; Kim, J. W.; Park, B. G.; Lee, J. D. J. Koeran Phys. Soc. 2004, 44, 181.
20. Gorjanc, T. C.; Levesque, I.; D'Iorio, M. J. Vac. Sci. Technol. 2004, 22, 760.
21. Puigdolers, J.; Voz, C.; Orpella, A.; Quidant, R.; Matrin, I.; Vetter, M.; Alcubilla, R. Organic Electronics 2004, 5, 67.
22. Sirringhaus, H. Adv. Mater. 2005, 17, 2411.
23. Babel, A.; Jenekhe, S. A. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 13656.
24. Goffri, S.; Muller, C.; Stingelin-Stutzmann, N.; Breiby, D. W.; Radano, C. P.; Andreasen, J. W.; Thompson, R.; Janssen, R. A. J.; Nielsen, M. M.; Smith, P.; Sirringhaus, H. Nat. Mater. 2006, 5, 950.
25. Tanase, C.; Wildeman, J.; Blom, P. W. M. Adv. Funct. Mater. 2005, 15, 2011.
26. Tanase, C.; Wildeman, J.; Blom, P. W. M.; Mena Benito, M. E.; De Leeuw, D. M.; Van Breemen, A. J. J. M.; Herwig, P. T.; Chlon, C. H. T.; Sweelssen, J.; Schoo, H. F. M. J. Appl. Phys. 2005, 97, 123703-1.
27. Van Breemen, A. J. J. M.; Herwig, P. T.; Chlon, C. H. T.; Sweelssen, J.; Schoo, H. F. M.; Mena Benito, M. E.; De Leeuw, D. M.; Tanase, C.; Wildeman, J.; Blom, P. W. M. Adv. Funct. Mater. 2005, 15, 872.
28. Jaiswal, M.; Menon, R. Polym. Int. 2006, 55 (12), 1371.
29. Chua, L. L.; Zaumseill, J.; Chang, J. F.; Ou, E. C. W.; Ho, P. K.-H.; Sirringhaus, H.; Friend, R. H. Nature 2005, 434, 194.
30. Veres, J.; Ogier, S. D.; Leeming, S. W.; Cupertino, C.; Khaffaf, S. M. Adv. Funct. Mater. 2003, 13, 199.
31. Jin, S. H.; Yu, J. S.; Lee, C. A.; Wook, J.; Park, B. G.; Lee, J. D. J. Korean Phys. Soc. 2004, 44, 181.
32. Chen, H. L.; Chu, T. C.; Li, M. Y.; Ko, F. H.; Cheng, H. C.; Huang, T. Y. J. Vac. Sci. Technol. B 2001, 16, 2381.
33. Yoon, M.; Kim, C.; Facchetti, A.; Marks, T. J. J. Am. Chem. Soc. 2006, 128, 12851.
34. Lim, S. C.; Kim, S. H.; Lee, J. H.; Kim, M. K.; Kim, D. J.; Zyung, T. Synth. Met. 2005, 148, 75.
35. Ho, P. K. H.; Chua, L. L.; Dipnakar, M.; Gao, X.; Qi, D.; Wee, A. T. S.; Chang, J. F.; Friend, R. H. Adv. Mater. 2007, 19, 215.
36. Newmann, C. R.; Frisbie, C. D.; Da Silva Filho, D. A.; Bredas, J. L.; Ewbank, P. C.; Mann, K. R. Chem. Mater. 2004, 16, 4436.
37. Pernstich, K. P.; Haas, S.; Oberhoff, D.; Goldmann, C.; Gundlach, D. J.; Batlogg, B.; Rashid, A. N.; Schitter, G. J. Appl. Phys. 2004, 96, 11-6431.
38. Kawakami, D.; Yasutake, Y.; Nishizawa, H.; Majima, Y. Jpn. J. Appl. Phys. (Part 2) 2006, 45, L1127.