Solvent effects on chain orientation and interchain π-interaction in conjugated polymer thin films: Direct measurements of the air and substrate interfaces by near-edge X-ray absorption spectroscopy

Advanced Materials

Volumn 19, Issue 2, 2007, Pages 215-221

  Ho, Peter K H ^a   Chua, Lay Lay ^a,b   Dipankar, Mandai ^a   Gao, Xingyu ^a   Qi, Dongchen ^a   Wee, Andrew T S ^a   Chang, Jui Fen ^b   Friend, Richard H ^b  

^a NATIONAL UNIVERSITY OF SINGAPORE   (Singapore)

^b UNIVERSITY OF CAMBRIDGE   (United Kingdom)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ABSORPTION SPECTROSCOPY; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; INTERFACES (MATERIALS); ORGANIC POLYMERS; ORGANIC SOLVENTS; X RAY ANALYSIS;

CHAIN ORIENTATION; NEAR-EDGE X-RAY ABSORPTION FINE-STRUCTURE SPECTROSCOPY (NEXAFS); SYSTEMATIC OPTIMIZATION;

THIN FILMS;

EID: 33846616451     PISSN: 09359648     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1002/adma.200601285     Document Type: Article

References (41)

1. K. Weiss, C. Wöll, E. Böhm, B. Fiebranz, G. Forstmann, B. Peng, V. Scheumann, D. Johannsmann, Macromolecules 1998, 31, 1930.
2. Y. Jung, T. Y. Cho, D. Y. Yoon, C. W. Frank, J. Lüning, Macromolecules 2005, 38, 867.
3. D. M. DeLongchamp, B. M. Vogel, Y. Jung, M. C. Gurau, C. A. Richter, O. A. Kirillov, J. Obrzut, D. A. Fisher, S. Sambasivan, L. J. Richter, E. K. Lin, Chem. Mater. 2005, 17, 5610.
4. A. Schöll, R. Fink, E. Umbach, G. E. Mitchell, S. G. Urquhart, H. Ade, Chem. Phys. Lett. 2003, 370, 834.
5. A. Schöll, Y. Zou, L. Kilian, D. Hübner, D. Gador, C. Jung, S. G. Urquhart, T. Schmidt, R. Fink, E. Umbach, Phys. Rev. Lett. 2004, 93, 146 406.
6. L. L. Chua, M. Dipankar, S. Sivaramakrishnan, X. Gao, D. Qi, A. T. S. Wee, P. K. H. Ho, Langmuir 2006, 22, 8587.
7. a) M. J. Winokur, D. Spiegel, Y. Kim, S. Hotta, A. J. Heeger, Synth. Met. 1989, 28, C419.
8. b) T. A. Chen, X. Wu, R. D. Rieke, J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 233.
9. K. Tashiro, K. Ono, Y. Minagawa, K. Kobayashi, T. Kawai, Y. K., Synth. Met. 1991, 47, 571.
10. a) H. Sirringhaus, P. J. Brown, R. H. Friend, M. M. Nielsen, K. Bechgaard, B. M. W. Langeveld-Voss, A. J. H. Spiering, R. A. J. Janssen, E. W. Meijer, P. Herwig, D. M. de Leeuw, Nature 1999, 401, 685.
11. b) K. E. Aasmundtveit, E. J. Samuelsen, M. Guldstein, C. Steinsland, O. Flornes, C. Fagermo, T. M. Seeberg, L. A. A. Pettersson, O. Inganäs, R. Feidenhans'l, S. Ferrer, Macromolecules 2000, 33, 3120.
12. J. F. Chang, B. Sun, D. W. Breiby, M. M. Nielsen, T. I. Söiling, M. Giles, I. McCulloch, H. Sirringhaus, Chem. Mater. 2004, 16, 4772.
13. a) N. W. Hayes, G. Beamson, D. T. Clark, D. S. L. Law, R. Raval, Surf. Interface Anal. 1996, 24, 723.
14. b) M. Durell, J. E. MacDonald, D. Trolley, A. Wehrum, P. C. Jukes, R. A. L. Jones, C. J. Walker, S. Brown, Europhys. Lett. 2002, 58, 844.
15. R. J. Kline, M. D. McGehee, M. F. Toney, Nature Mater. 2006, 5, 222.
16. M. J. Banach, R. H. Friend, H. Sirringhaus, Macromolecules 2004, 37, 6079.
17. A. P. Hitchcock, J. A. Horsley, J. Stöhr, J. Chem. Phys. 1986, 85, 4835.
18. a) T. Okajima, S. Narioka, S. Tanimura, K. Hamano, T. Kurata, Y. Uehara, T. Araki, H. Ishii, Y. Ouchi, K. Seki, H. Nakahara, T. Ogama, H. Koezuka, Jpn. J. Appl. Phys., Part I 1996, 55, 2822.
19. b) P. Väterlein, M. Schmelzer, J. Taborski, T. Krause, F. Viczian, M. Bäbler, R. Fink, E. Umbach, W. Wurth, Surf Sci. 2000, 452, 20.
20. G. Tourillon, E. Dartyge, A. Fontaine, R. Garrett, M. Sagurton, P. Xu, G. P. Williams, Europhys. Lett. 1987, 4, 1391.
21. J. Stöhr, NEXAFS Spectroscopy, Springer-Verlag, Berlin, Germany 1992.
22. E. J. Samuelsen, D. W. Breiby, O. Konovalov, B. Struth, D. M. Smilgies, Synth. Met. 2001, 123, 165.
23. a) D. A. Outka, J. Stöhr, J. P. Rabe, J. D. Swalen, H. H. Rotermund, Phys. Rev. Lett. 1987, 59, 1321.
24. b) G. Hähner, M. Kinzler, C. Wöll, M. Grunze, M. K. Scheller, L. S. Cederbaum, Phys. Rev. Lett. 1991, 67, 851.
25. A. Schertel, G. Hähner, M. Grunze, C. Wöll, J. Vac. Sci. Technol. A 1996, 14, 1801.
26. a) M. D. Porter, T. B. Bright, D. L. Allara, C. E. D. Chidsey, J. Am. Chem. Soc. 1987, 109, 3559.
27. b) A. N. Parikh, D. L. Allara, I. B. Azouz, F. Rondelez, J. Phys. Chem. 1994, 98, 7577.
28. a) P. Väterlein, R. Fink, E. Umbach, W. Wurth, J. Chem. Phys. 1998, 108, 3313.
29. b) K. Weiss, P. S. Bagus, C. Wöll, J. Chem. Phys. 1999, 111, 6834.
30. S. G. Urquhart, R. Gillies, J. Chem. Phys. 2006, 124, 234 704.
31. Y. Yamamoto, R. Mitsumoto, E. Ito, T. Araki, Y. Ouchi, K. Seki, Y. Takanishi, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1996, 78, 367.
32. J. Stöhr, D. A. Outka, K. Baberschke, D. Arvanitis, J. A. Horsley, Phys. Rev. B: Condens. Matter 1987, 36, 2976.
33. J. Cornil, D. Beljonne, J. P. Calbert, J. L. Brédas, Adv. Mater. 2001, 13, 1053.
34. C. Kolczewski, R. Püttner, M. Martins, A. S. Schlachter, G. Snell, M. M. Sant'Anna, K. Hermann, G. Kaindl, J. Chem. Phys. 2006, 124, 034 302.
35. D. Menzel, G. Rocker, H. P. Steinrück, D. Coulman, P. A. Heimann, W. Huber, P. Zebisch, D. R. Lloyd, J. Chem. Phys. 1992, 96, 1724.
36. P. J. Brown, D. S. Thomas, A. Köhler, J. S. Wilson, J. S. Kim, C. M. Ramsdale, H. Sirringhaus, R. H. Friend, Phys. Rev. B: Condens. Matter 2003, 67, 064203.
37. R. J. Kline, M. D. McGehee, E. N. Kadnikova, J. Liu, J. M. J. Fréchet, Adv. Mater. 2003, 15, 1519.
38. E. Mena-Osteritz, A. Meyer, B. M. W. Langeveld-Voss, R. A. J. Janssen, E. W. Meijer, P. Bäuerle, Angew. Chem. Int. Ed. 2000, 39, 2680.
39. L. L. Chua, P. K. H. Ho, H. Sirringhaus, R. H. Friend, Adv. Mater. 2004, 16, 1609.
40. X. Yu, O. Wilhelmi, H. O. Moser, S. V. Vidyaraj, X. Gao, A. T. S. Wee, T. Nyunt, H. Qian, H. Zheng, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2005, 144, 1031.
41. A. Schöll, Y. Zou, T. Schmidt, R. Fink, E. Umbach, J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2003, 129, 1.