Contact printed Co/insulator/Co molecular junctions

Applied Physics Letters

Volumn 90, Issue 16, 2007, Pages

  Fan, Xiaojuan ^a   Rogow, David L ^a   Swanson, Claudia H ^a   Tripathi, Akhilesh ^b   Oliver, Scott R J ^a  

^a UNIVERSITY OF CALIFORNIA   (United States)

^b RIGAKU CORPORATION   (Japan)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

FEATURE SIZE; MOLECULAR JUNCTIONS; X-RAY REFLECTIVITY;

COBALT; CURRENT VOLTAGE CHARACTERISTICS; FILM THICKNESS; PRINTED CIRCUIT DESIGN; SURFACE ROUGHNESS;

SEMICONDUCTOR JUNCTIONS;

EID: 34247331876     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2728741     Document Type: Article

References (35)

1. R. E. Holmlin, R. Haag, M. L. Chabinyc, R. F. Ismagilov, A. E. Cohen, A. Terfort, M. A. Rampi, and G. M. Whitesides, J. Am. Chem. Soc. 123, 5075 (2001).
2. W. Y. Wang, T. Lee, and M. A. Reed, Phys. Rev. B 68, 035416 (2003).
3. J. Park, A. N. Pasupathy, J. I. Goldsmith, C. Chang, Y. Yaish, J. R. Petta, M. Rinkoski, J. P. Sethna, H. D. Abruna, P. L. McEuen, and D. C. Ralph, Nature (London) 417, 722 (2002).
4. M. A. Reed, C. Zhou, C. J. Muller, T. P. Burgin, and J. M. Tour, Science 278, 252 (1997).
5. A. S. Blum, J. G. Kushmerick, D. P. Long, C. H. Patterson, J. C. Yang, J. C. Henderson, Y. X. Yao, J. M. Tour, R. Shashidhar, and B. R. Ratna, Nat. Mater. 4, 167 (2005).
6. X. D. Cui, X. Zarate, J. Tomfohr, O. F. Sankey, A. Primak, A. L. Moore, T. A. Moore, D. Gust, G. Harris, and S. M. Lindsay, Nanotechnology 13, 5 (2002).
7. F. R. F. Fan, Y. X. Yao, L. T. Cai, L. Cheng, J. M. Tour, and A. J. Bard, J. Am. Chem. Soc. 126, 4035 (2004).
8. J. Chen, M. A. Reed, A. M. Rawlett, and J. M. Tour, Science 286, 1550 (1999).
9. C. Zhou, M. R. Deshpande, M. A. Reed, L. Jonesll, and J. M. Tour, Appl. Phys. Lett. 71, 2857 (1997).
10. X. D. Cui, A. Primak, X. Zarate, J. Tomfohr, O. F. Sankey, A. L. Moore, T. A. Moore, D. Gust, L. A. Nagahara, and S. M. Lindsay, J. Phys. Chem. B 106, 8609 (2002).
11. C. N. Lau, D. R. Stewart, R. S. Williams, and M. Bockrath, Nano Lett. 4, 569 (2004).
12. Z. J. Donhauser, B. A. Mantooth, K. F. Kelly, L. A. Bumm, J. D. Monnell, J. J. Stapleton, D. W. Price, A. M. Rawlett, D. L. Allara, J. M. Tour, and P. S. Weiss, Science 292, 2303 (2001).
13. J. Taylor, M. Brandbyge, and K. Stokbro, Phys. Rev. Lett. 89, 138301 (2002).
14. V. B. Engelkes, J. M. Beebe, and C. D. Frisbie, J. Am. Chem. Soc. 126, 14287 (2004).
15. A. Vilan, J. Ghabboun, and D. Cahen, J. Phys. Chem. B 107, 6360 (2003).
16. J. O. Lee, G. Lientschnig, F. Wiertz, M. Struijk, R. A. J. Janssen, R. Egberink, D. N. Reinhoudt, P. Hadley, and C. Dekker, Nano Lett. 3, 113 (2003).
17. Y. N. Xia and G. M. Whitesides, Annu. Rev. Mater. Sci. 28, 153 (1998).
18. Y. L. Loo, D. V. Lang, J. A. Rogers, and J. W. P. Hsu, Nano Lett. 3, 913 (2003).
19. K. T. Shimizu, J. D. Tabbri, J. J. Jelincic, and N. A. Melosh, Adv. Mater. (Weinheim, Ger.) 18, 1499 (2006).
20. A. Kumar and G. M. Whitesides, Appi. Phys. Lett. 63, 2002 (1993).
21. J. A. Rogers, Z. Bao, K. Baldwin, A. Dodabalapur, B. Crone, V. R. Raju, V. Kuck, H. Katz, K. Amundson, J. Ewing, and P. Drzaic, Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 98, 4835 (2001).
22. N. B. Zhitenev, A. Erbe, Z. A. Bao, W. R. Jiang, and E. Garfunkel, Nanotechnology 16, 495 (2005).
23. N. B. Zhitenev, A. Erbe, and Z. Bao, Phys. Rev. Lett. 92, 186805 (2004).
24. X. Fan, D. T. Tran, D. P. Brennan, and S. R. J. Oliver, J. Phys. Chem. B 110, 11986 (2006).
25. A. N. Caruso, L. G. Wang, S. S. Jaswal, E. Y. Tsymbal, and P. A. Dowben, J. Mater. Sci. 41, 6198 (2006).
26. D. K. Sarkar, M. Falke, H. Giesler, S. Teichert, G. Beddies, and H. J. Hinneberg, J. Appl. Phys. 89, 6506 (2001).
27. G. E. Poirier, Chem. Rev. (Washington, D.C.) 97, 1117 (1997).
28. N. Bowden, S. Brittain, A. G. Evans, J. W. Hutchinson, and G. M. Whitesides, Nature (London) 393, 146 (1998).
29. N. B. Zhitenev, W. R. Jiang, A. Erbe, Z. Bao, E. Garfunkel, D. M. Tennant, and R. A. Cirelli, Nanotechnology 17, 1272 (2006).
30. M. L. Chabinyc, X. X. Chen, R. E. Holmlin, H. Jacobs, H. Skulason, C. D. Frisbie, V. Mujica, M. A. Ratner, M. A. Rampi, and G. M. Whitesides, J. Am. Chem. Soc. 124, 11730 (2002).
31. A. S. Blum, J. G. Kushmerick, S. K. Pollack, J. C. Yang, M. Moore, J. Naciri, R. Shashidhar, and B. R. Ratna, J. Phys. Chem. B 108, 18124 (2004).
32. J. G. Kushmerick, D. B. Holt, J. C. Yang, J. Naciri, M. H. Moore, and R. Shashidhar, Phys. Rev. Lett. 89, 086802 (2002).
33. C. A. Richter, D. R. Stewart, D. A. A. Ohlberg, and R. S. Williams, Appl. Phys. A: Mater. Sci. Process. 80, 1355 (2005).
34. C. A. Hacker, P. Liu, D. J. Vanderah, C. A. Richter, and L. J. Richter, Abstr. Pap. - Am. Chem. Soc. 230, U1057 (2005).
35. W. R. McGovern, F. Anariba, and R. L. McCreery, J. Electrochem. Soc. 152, E176 (2005).