-
1
-
-
0042093589
-
-
Lime F., Oshima K., Cassé M., Ghibaudo G., Cristoloveanu S., Guillaumot B., et al. Solid-State Electron 47 (2003) 1617
-
(2003)
Solid-State Electron
, vol.47
, pp. 1617
-
-
Lime, F.1
Oshima, K.2
Cassé, M.3
Ghibaudo, G.4
Cristoloveanu, S.5
Guillaumot, B.6
-
4
-
-
0036567727
-
-
Nam S.W., Yoo J.H., Nam S., Choi H.J., Lee D., Ko D.H., et al. J Non-Cryst Solids 303 (2002) 139
-
(2002)
J Non-Cryst Solids
, vol.303
, pp. 139
-
-
Nam, S.W.1
Yoo, J.H.2
Nam, S.3
Choi, H.J.4
Lee, D.5
Ko, D.H.6
-
5
-
-
1342302426
-
-
Grüger H., Kunath C., Kurth E., Sorge S., Pufe W., and Pechstein T. Thin Solid Films 447-448 (2004) 509
-
(2004)
Thin Solid Films
, vol.447-448
, pp. 509
-
-
Grüger, H.1
Kunath, C.2
Kurth, E.3
Sorge, S.4
Pufe, W.5
Pechstein, T.6
-
6
-
-
20544463241
-
-
Hung B.F., Chiang K.C., Huang C.C., and McAlister S.P. IEEE Electron Device Lett 26 6 (2005) 384
-
(2005)
IEEE Electron Device Lett
, vol.26
, Issue.6
, pp. 384
-
-
Hung, B.F.1
Chiang, K.C.2
Huang, C.C.3
McAlister, S.P.4
-
7
-
-
9744248669
-
-
Nomura K., Ohta H., Takagi A., Kamiya T., Hirano M., and Hosono H. Nature 432 (2004) 488
-
(2004)
Nature
, vol.432
, pp. 488
-
-
Nomura, K.1
Ohta, H.2
Takagi, A.3
Kamiya, T.4
Hirano, M.5
Hosono, H.6
-
8
-
-
2342450573
-
-
Pereira L., Marques A., Aguas H., Nedev N., Georgiev S., Fortunato E., et al. Mater Sci Eng B 109 (2004) 89
-
(2004)
Mater Sci Eng B
, vol.109
, pp. 89
-
-
Pereira, L.1
Marques, A.2
Aguas, H.3
Nedev, N.4
Georgiev, S.5
Fortunato, E.6
-
12
-
-
0035894001
-
-
Callegari A., Cartier E., Gribelyuk M., Okorn-Schmidt H.F., and Zabel T. J.Appl Phys 90 12 (2001) 6466
-
(2001)
J.Appl Phys
, vol.90
, Issue.12
, pp. 6466
-
-
Callegari, A.1
Cartier, E.2
Gribelyuk, M.3
Okorn-Schmidt, H.F.4
Zabel, T.5
-
14
-
-
3242880931
-
-
Choi K., Temkin H., Harris H., Gangopadhyay S., Xie L., and White M. Appl Phys Lett 85 2 (2004) 215
-
(2004)
Appl Phys Lett
, vol.85
, Issue.2
, pp. 215
-
-
Choi, K.1
Temkin, H.2
Harris, H.3
Gangopadhyay, S.4
Xie, L.5
White, M.6
-
15
-
-
0037492291
-
-
Vergohl M., Malkomes N., Staedler T., Matthée T., and Richter U. Thin Solid Films 351 (1999) 42
-
(1999)
Thin Solid Films
, vol.351
, pp. 42
-
-
Vergohl, M.1
Malkomes, N.2
Staedler, T.3
Matthée, T.4
Richter, U.5
-
16
-
-
21244475610
-
-
He G., Zhang L.D., Li G.H., Liu M., Zhu L.Q., and Pan S.S. Appl Phys Lett 86 (2005) 232901
-
(2005)
Appl Phys Lett
, vol.86
, pp. 232901
-
-
He, G.1
Zhang, L.D.2
Li, G.H.3
Liu, M.4
Zhu, L.Q.5
Pan, S.S.6
-
17
-
-
79956027162
-
-
Cho Y.J., Nguyen N.V., Richter C.A., Ehrstein J.R., Lee B.H., and Lee J.C. Appl Phys Lett 80 7 (2002) 1249
-
(2002)
Appl Phys Lett
, vol.80
, Issue.7
, pp. 1249
-
-
Cho, Y.J.1
Nguyen, N.V.2
Richter, C.A.3
Ehrstein, J.R.4
Lee, B.H.5
Lee, J.C.6
-
22
-
-
0001498374
-
-
Houssa M., Afanas'ev V.V., Stesmans A., and Heyns M.M. Appl Phys Lett 77 12 (2000) 1885
-
(2000)
Appl Phys Lett
, vol.77
, Issue.12
, pp. 1885
-
-
Houssa, M.1
Afanas'ev, V.V.2
Stesmans, A.3
Heyns, M.M.4
|