Dose rate effects in bipolar oxides: Competition between trap filling and recombination

Applied Physics Letters

Volumn 88, Issue 23, 2006, Pages

  Boch, J ^a   Saigne, F ^a   Touboul, A D ^a   Ducret, S ^a   Carlotti, J F ^a   Bernard, M ^a   Schrimpf, R D ^b   Wrobel, F ^c   Sarrabayrouse, G ^d  

^a UNIVERSITÉ MONTPELLIER II   (France)

^b VANDERBILT UNIVERSITY   (United States)

^c UNIVERSITÉ CÔTE D'AZUR   (France)

^d LAAS CNRS   (France)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

BIPOLAR OXIDES; BIPOLAR TECHNOLOGY; ENHANCED LOW-DOSE-RATE SENSITIVITY (ELDRS); OXIDE QUALITY; RECOMBINATION;

DOSIMETRY; ELECTRON TRAPS; IONIZING RADIATION; NETWORKS (CIRCUITS); OXIDES; SENSITIVITY ANALYSIS;

BIPOLAR INTEGRATED CIRCUITS;

EID: 33745045395     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.2210293     Document Type: Article

References (30)

1. A. R. Hart, J. B. Smyth, Jr., V. A. J. Van Lint, D. P. Snowden, and R. E. Leadon, IEEE Trans. Nucl. Sci. 25, 1502 (1978).
2. E. W. Enlow, R. L. Pease, W. E. Combs, R. D. Schrimpf, and R. N. Nowlin, IEEE Trans. Nucl. Sci. 38, 1342 (1991).
3. R. Chen, S. W. S. McKeever, and S. A. Durrani, Phys. Rev. B 24, 4931 (1981).
4. R. Chen and P. L. Leung, Radiat. Meas. 33, 475 (2001).
5. D. M. Fleetwood, S. L. Kosier, R. N. Nowlin, R. D. Schrimpf, R. A. Reber, M. DeLaus, P. S. Winokur, A. Wei, W. E. Combs, and R. L. Pease, IEEE Trans. Nucl. Sci. 41, 1871 (1994).
6. V. V. Belyakov, V. S. Pershenkov, A. V. Shalnov, and I. N. Shvetzov-Shilovsky, IEEE Trans. Nucl. Sci. NS-42, 1660 (1995).
7. R. K. Freitag and D. B. Brown, IEEE Trans. Nucl. Sci. 45, 2649 (1998).
8. H. P. Hjalmarson, R. L. Pease, S. C. Witczak, M. R. Shaneyfelt, J. R. Schwank, A. H. Edwards, C. E. Embree, and T. R. Mattsson, IEEE Trans. Nucl. Sci. 50, 1901 (2003).
9. S. N. Rashkeev, C. R. Cirba, D. M. Fleetwood, R. D. Schrimpf, S. C. Witczak, A. Michez, and S. T. Pantelides, IEEE Trans. Nucl. Sci. 49, 2650 (2002).
10. S. N. Rashkeev, D. M. Fleetwood, R. D. Schrimpf, and S. T. Pantelides, IEEE Trans. Nucl. Sci. 50, 1896 (2003).
11. S. N. Rashkeev, D. M. Fleetwood, R. D. Schrimpf, and S. T. Pantelides, IEEE Trans. Nucl. Sci. 51, 3158 (2004).
12. H. E. Boesch, T. L. Taylor, L. R. Hite, and W. E. Bailey, IEEE Trans. Nucl. Sci. 37, 1982 (1990).
13. P. Paillet, D. Herve, J. L. Leray, and R. A. B. Devine, IEEE Trans. Nucl. Sci. 431, 473 (1994).
14. O. Gruber, P. Paillet, O. Musseau, C. Marcandella, B. Aspar, and A. J. Auberton-Herve, IEEE Trans. Nucl. Sci. 45, 1402 (1998).
15. M. Walters and A. Reisman, J. Electrochem. Soc. 138, 2756 (1991).
16. Tak H. Ning, J. Appl. Phys. 49, 4077 (1978).
17. F. B. McLean, IEEE Trans. Nucl. Sci. 27, 1651 (1980).
18. P. S. Winokur, F. W. Sexton, J. R. Schwank, D. M. Fleetwood, P. V. Dressendorfer, T. F. Wrobel, and D. C. Turpin, IEEE Trans. Nucl. Sci. 33, 1343 (1986).
19. T. P. Ma and P. V. Dressendorfer, Ionizing Radiation Effects in MOS Devices & Circuits (Wiley, New York, 1989).
20. R. N. Nowlin, D. M. Fleetwood, and R. D. Schrimpf, IEEE Trans. Nucl. Sci. 41, 2637 (1994).
21. S. C. Witczak, R. D. Schrimpf, K. R. Galloway, D. M. Fleetwood, R. L. Pease, D. M. Schmidt, W. E. Combs, and J. S. Suehle, IEEE Trans. Nucl. Sci. 43, 3151 (1996).
22. R. L. Pease, D. G. Platteter, G. W. Dunham, J. E. Seiler, H. J. Barnaby, R. D. Schrimpf, M. R. Shaneyfelt, M. C. Maher, and R. N. Nowlin, IEEE Trans. Nucl. Sci. 41, 3773 (2004).
23. S. C. Witczak, R. D. Schrimpf, D. M. Fleetwood, K. R. Galloway, R. C. Lacoe, D. C. Maher, J. M. Puhl, R. L. Pease, and J. S. Suehle, IEEE Trans. Nucl. Sci. 44, 1989 (1997).
24. A. H. Johnston, C. I. Lee, and B. G. Rax, IEEE Trans. Nucl. Sci. 43, 3049 (1996).
25. R. L. Pease, S. McClure, A. H. Johnston, J. Gorelick, T. L. Turflinger, M. Gehlhausen, J. Krieg, T. Carriere, and M. Shaneyfelt, IEEE Radiation Effects Data Workshop, 2001, pp. 127-133.
26. P. J. Groom, S. A. Durrani, K. A. R. Khazal, and S. W. S. McKeever, European PACT J. 2, 200 (1978).
27. G. Valladas and J. Ferreira, Nucl. Instrum. Methods 175, 216 (1980).
28. P. C. Hsu and P. S. Weng, Nucl. Instrum. Methods 138, 307 (1976).
29. F. Wrobel, M. Benabdesselam, P. Iacconi, and F. Mady, Radiat. Prot. Dosim. (to be published).
30. J. Boch, F. Saigń, T. Maurel, F. Giustino, L. Dusseau, R. D. Schrimpf, K. F. Galloway, J. P. David, R. Ecoffet, J. Fesquet, and J. Gasiot, IEEE Trans. Nucl. Sci. 49, 1474 (2002).