Electro Pen Nanolithography

Journal of the American Chemical Society

Volumn 127, Issue 46, 2005, Pages 16287-16291

  Cai, Yuguang ^a   Ocko, Benjamin M ^a,b  

^a BROOKHAVEN NATIONAL LABORATORY   (United States)

^b BROOKHAVEN NATIONAL LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ATOMIC FORCE MICROSCOPY; COATINGS; INK; INTEGER PROGRAMMING; NUMBER THEORY; OXIDATION; SILANES;

CHEMICAL PATTERNING; ELECTRO PEN NANOLITHOGRAPHY (EPN); LINE-WIDTHS; ORGANIC FILMS;

NANOTECHNOLOGY;

INK; NANOPARTICLE; OCTADECYLTRICHLOROSILANE; SILANE DERIVATIVE; TOLUENE; UNCLASSIFIED DRUG;

ARTICLE; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; ELECTRO PEN NANOLITHOGRAPHY; FILM; NANOTECHNOLOGY; OXIDATION;

EID: 28044434402     PISSN: 00027863     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ja054951u     Document Type: Article

References (31)

1. Lee, K. B.; Park, S. J.; Mirkin, C. A.; Smith, J. C.; Mrksich, M. Science 2002, 295, 1702.
2. Voicu, R.; Boukherroub, R.; Bartzoka, V.; Ward, T.; Wojtyk, J. T. C.; Wayner, D. D. M. Langmuir 2004, 20, 11713.
3. Aizenberg, J.; Black, A. J.; Whitesides, G. M. Nature 1999, 398, 495.
4. Kim, S. O.; Solak, H. H.; Stoykovich, M. P.; Ferner, N. J.; de Pablo, J. J.; Nealey, P. F. Nature 2003, 424, 411.
5. Black, C. T.; Guarini, K. W.; Milkove, K. R.; Baker, S. M.; Russell, T. P.; Tuominen, M. T. Appl. Phys. Lett. 2001, 79, 409.
6. Brockman, J. M.; Frutos, A. G.; Corn, R. M. J. Am. Chem. Soc. 1999, 121, 8044.
7. Unger, M. A.; Chou, H. P.; Thorsen, T.; Scherer, A.; Quake, S. R. Science 2000, 288, 113.
8. Joachim, C.; Gimzewski, J. K.; Aviram, A. Nature 2000, 408, 541.
9. Loo, Y. L.; Lang, D. V.; Rogers, J. A.; Hsu, J. W. P. Nano Lett. 2003, 3, 913.
10. Ginger, D. S.; Zhang, H.; Mirkin, C. A. Angew. Chem., Int. Ed. 2004, 43, 30.
11. Piner, R. D.; Zhu, J.; Xu, F.; Hong, S. H.; Mirkin, C. A. Science 1999, 283, 661.
12. Jung, H.; Kulkarni, R.; Collier, C. P. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 12096.
13. Hurley, P. T.; Ribbe, A. E.; Buriak, J. M. J. Am. Chem. Soc. 2003, 125, 11334.
14. Wilson, D. L.; Martin, R.; Hong, S.; Cronin-Golomb, M.; Mirkin, C. A.; Kaplan, D. L. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2001, 98, 13660.
15. Demers, L. M.; Park, S. J.; Taton, T. A.; Li, Z.; Mirkin, C. A. Angew. Chem., Int. Ed. 2001, 40, 3071.
16. Li, Y.; Maynor, B. W.; Liu, J. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 2105.
17. Maynor, B. W.; Filocamo, S. F.; Grinstaff, M. W.; Liu, J. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 522.
18. Maoz, R.; Frydman, E.; Cohen, S. R.; Sagiv, J. Adv. Mater. 2000, 12, 725.
19. Maoz, R.; Cohen, S. R.; Sagiv, J. Adv. Mater. 1999, 11, 55.
20. Wouters, D.; Schubert, U. S. Langmuir 2003, 19, 9033.
21. Dagata, J. A. Science 1995, 270, 1625.
22. Garcia, R.; Calleja, M.; Rohrer, H. J. Appl. Phys. 1999, 86, 1898.
23. Gomez-Moñivas, S.; Saenz, J. J.; Calleja, M.; Garcia, R. Phys. Rev. Lett. 2003, 91, 56101.
24. Garcia, R.; Tello, M. Nano Lett. 2004, 4, 1115.
25. (a) Wouters, D.; Willems, R.; Hoeppener, S.; Flipse, C. F. J. Schubert, U. S. Adv. Funct. Mater. 2005, 15, 938.
26. (b) Cai, Y.; Ocko, B. M. Manuscript in preparation.
27. Senkevich, J. J.; Mitchell, C. J.; Yang, G. R.; Lu, T. M. Langmuir 2002, 18, 1587.
28. http://www.nanoprobes.com/LabRgts.html#monomal.
29. Walba, D. M.; Liberko, C. A.; Korblova, E.; Farrow, M.; Furtak, T. E.; Chow, B. C.; Schwartz, D. K.; Freeman, A. S.; Douglas, K.; Williams, S. D.; Klittnick, A. F.; Clark, N. A. Liq. Cryst. 2004, 31, 481.
30. Pavlovic, E.; Oscarsson, S.; Quist, A. P. Nano Lett. 2003, 3, 779.
31. Pavlovic, E.; Quist, A. P.; Gelius, U.; Nyholm, L.; Oscarsson, S. Langmuir 2003, 19, 4217.