Ferrocenylundecanethiol self-assembled monolayer charging correlates with negative differential resistance measured by conducting probe atomic force microscopy

Journal of the American Chemical Society

Volumn 127, Issue 20, 2005, Pages 7647-7653

  Tivanski, Alexei V ^a   Walker, Gilbert C ^b  

^a UNIVERSITY OF PITTSBURGH   (United States)

^b UNIVERSITY OF TORONTO   (Canada)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ADHESION; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CHARGE TRANSFER; CURRENT VOLTAGE CHARACTERISTICS; ELECTRIC RESISTANCE; ELECTROLYTES; OXIDATION; PARAFFINS; REDUCTION; SULFUR COMPOUNDS;

METAL-MOLECULE-METAL JUNCTIONS; MOLECULAR JUNCTIONS; MOLECULAR ORBITALS (MO); PHONON RELAXATION;

SELF ASSEMBLY;

11 FERROCENYLUNDECANETHIOL; ELECTROLYTE; FERROCENE; FERROCENE DERIVATIVE; GOLD; METAL; PLATINUM; THIOL DERIVATIVE; UNCLASSIFIED DRUG;

ADHESION; ARTICLE; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; CORRELATION ANALYSIS; ELECTRIC CONDUCTIVITY; ELECTRIC CURRENT; ELECTRIC POTENTIAL; ELECTRIC RESISTANCE; FORCE; MECHANICS; MICROSCOPE; PHONON;

EID: 19744369330     PISSN: 00027863     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/ja0514491     Document Type: Article

References (37)

1. Gorman, C. B.; Carroll, R. L.; Fuierer, R. R. Langmuir 2001, 17, 6923.
2. Wassel, R. A.; Credo, G. M.; Fuierer, R. R.; Feldheim, D. L.; Gorman, C. B. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 295.
3. Tao, N. J. Phys. Rev. Lett. 1996, 76, 4066.
4. Han, W.; Durantini, E. N.; Moore, T. A.; Moore, A. L.; Gust, D.; Rez, P.; Leatherman, G.; Seely, G. R.; Tao, N.; Lindsay, S. M. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 10719.
5. Rawlett, A. M.; Hopson, T. J.; Nagahara, L. A.; Tsui, R. K.; Ramachandran, G. K.; Lindsay, S. M. Appl. Phys. Lett. 2002, 81, 3043.
6. Fan, F. F.; Yang, J.; Cai, L.; Price, D. W., Jr.; Dirk, S. M.; Kosynkin, D. V.; Yao, Y.; Rawlett, A. M.; Tour, J. M.; Bard, A. J. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 5550.
7. Fan, F. F.; Yao, Y.; Cai, L.; Cheng, L.; Tour, J. M.; Bard, A. J. J. Am. Chem. Soc. 2004, 126, 4035.
8. Kuznetsov, A. M.; Sommer-Larsen, P.; Ulstrup, J. Surf. Sci. 1992, 275, 52.
9. Cui, D.; Zarate, X.; Tomfohr, J.; Sankey, O. F.; Primak, A.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Harris, G.; Lindsay, S. M. Nanotechnology 2002, 13, 5.
10. Gomar-Nadal, E.; Ramachandran, G. K.; Chen, F.; Burgin, T.; Rovira, C.; Amabilino, D. B.; Lindsay, S. M. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 7213.
11. Leatherman, G.; Durantini, E. N.; Gust, D.; Moore, T. A.; Moore, A. L.; Stone, S.; Zhou, Z.; Rez, P.; Liu, Y. Z.; Lindsay, S. M. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 4006.
12. Wold, D. J.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 5549.
13. Lee, T.; Wang, W.; Klemic, J. F.; Zhang, J. J.; Su, J.; Reed, M. A. J. Phys. Chem. B 2004, 108, 8742.
14. Tivanski, A. V.; Bemis, J. E.; Akhremitchev, B. B.; Liu, H.; Walker, G. C. Langmuir 2003, 19, 1929.
15. Tivanski, A. V.; He, Y.; Borguet, E.; Liu, H.; Walker, G. C.; Waldeck, D. H. J. Phys. Chem. B 2005, 109, 5398.
16. Ishida, T.; Mizatani, W.; Aya, Y.; Ogiso, H.; Sasaki, S.; Tokumoto, H. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 5886.
17. Suganuma, Y.; Trudeau, P.-E.; Dhirani, A.-A. Phys. Rev. B 2002, 66, 241405.
18. Tivanski, A. V.; Walker, G. C. Langmuir, submitted for publication.
19. Clavilier, J. F.; Guinet, G.; Durand, R. J. Electroanal. Chem. 1980, 707, 205.
20. Cui, X. D.; Zarate, X.; Tomfohr, J.; Primak, A.; Moore, A. L.; Moore, T. A.; Gust, D.; Harris, G.; Sankey, O. F.; Lindsay, S. M. Ultramicroscopy 2002, 92, 67.
21. Martin, Y.; Abraham, D. W.; Wrickramasinghe, H. K. Appl. Phys. Lett. 1988, 52, 1103.
22. Terris, B. D.; Stern, J. E.; Rugar, D.; Mamin, H. J. Phys. Rev. Lett. 1989, 63, 2669.
23. Hao, H. W.; Baro, A. M.; Saenz, J. J. Vac. Sci. Technol., B 1991, 9, 1323.
24. Hudlet, S.; Saint Jean, M.; Guthmann, C.; Berger, J. Eur. Phys. J. B 1998, 2, 5.
25. Ohtsuka, T.; Sato, Y.; Uosaki, K. Langmuir 1994, 10, 3658.
26. Simmons, J. H. Appl. Phys. 1963, 281, 1793.
27. Sze, S. M. Physics of Semiconductor Devices; Wiley & Sons: New York, 1981.
28. Seminario, J. M.; De La Cruz, C. E.; Deroza, P. A. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 5616.
29. Snyder, S. R.; White, H. S. J. Electroanal. Chem. 2001, 393, 177.
30. Xue, Y.; Datta, S.; Hong, S.; Reifenberger, R.; Henderson, J. I.; Kubiak, C. P. Phys. Rev. B 1999, 59, R7852.
31. Mazur, U.; Hipps, K. W. J. Phys. Chem. 1995, 99, 6684.
32. Schmickler, W. J. J. Electroanal. Chem. 1992, 336, 213.
33. Weihs, T. P.; Nawaz, Z.; Jarvis, S. P.; Pethica, J. B. Appl. Phys. Lett. 1991, 59, 3536.
34. Burnham, N, A.; Colton, R. J. J. Vac. Sci. Technol., A 1989, 7, 2906.
35. Joyce, A.; Thomas, R. C.; Houston, J. E.; Michalske, T. A.; Crooks, R. M. Phys. Rev. Lett. 1992, 68, 2790.
36. Chidsey, C. E. D.; Bertozzi, C. R.; Putvinski, T. M.; Mujsce, A. M. J. Am. Chem. Soc. 1990, 112, 4301.
37. Schaadt, D. M.; Yu, E. T.; Sankar, S.; Berkowitz, A. E. Appl. Phys. Lett. 1999, 74, 472.