Adhesion forces in conducting probe atomic force microscopy

Langmuir

Volumn 19, Issue 6, 2003, Pages 1929-1934

  Tivanski, Alexei V ^a   Bemis, Jason E ^a   Akhremitchev, Boris B ^a   Liu, Haiying ^a   Walker, Gilbert C ^a  

^a UNIVERSITY OF PITTSBURGH   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ADHESION FORCES;

ADHESION; ATOMIC FORCE MICROSCOPY; ELECTRIC CONDUCTIVITY; ELECTRIC POTENTIAL; ORGANIC SOLVENTS;

CONDUCTIVE PLASTICS;

EID: 0037453650     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la026555k     Document Type: Article

References (44)

1. Heeger, A. J. J. Phys. Chem. B 2001, 205, 8475.
2. Tamarat, P.; Maali, A.; Lounis, B. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 1.
3. Lerch, K.; Jonas, P.; Linke, M. J. Chim. Phys. Phys.-Chim. Biol. 1998, 95, 1506.
4. Greenham, N. C.; Friend, R. H. Solid State Phys. 1995, 49, 1.
5. Sotzing, G. A.; Briglin, S.; Grubbs, R. H.; Lewis, N. S. Anal. Chem. 2000, 72, 3181.
6. Chen, J.; Reed, A.; Rawlett, A. M.; Tour, J. M. Science 1999, 286, 1550.
7. Tour, J. M. Polym. News 2000, 25, 329.
8. Tour, J. M. Acc. Chem. Res. 2000, 33, 791.
9. Reed, M. A.; Zhou, C.; Muller, C. J.; Burgin, T. P.; Tour, J. M. Science 1997, 278, 252.
10. Mujica, V.; Kemp, M.; Ratner, M. A. J. Chem. Phys. 1994, 101, 6849.
11. Leatherman, G.; Durantini, E.N.; Gust, D.; Moore, T. A.; Moore, A. L.; Stone, S.; Zhou, Z.; Res, P.; Liu, Y. Z.; Lindsay, S. M. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 4006.
12. Cui, X. D.; Primak, A.; Zarate, X.; Tomfohr, J.; Sankey, O. F.; Moore, A. L.; Gust, D.; Harris, G.; Lindsay, S. M. Science 2001, 294, 571.
13. Wold, D. J.; Frisbie, C. D. J. Am. Chem. Soc. 2001, 123, 5549.
14. Frank, S.; Poncharal, P.; Wang, Z. L.; de Heer, A. Science 1998, 280, 1744.
15. Leatherman, G. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 4066.
16. Dai, H.; Wong, E. W.; Lieber, C. M. Science 1996, 272, 523.
17. Dorogi, M.; Gomez, J.; Osifchin, R.; Andress, R. P. A. Phys. Rev. B 1995, 52, 9071.
18. Gittins, D. I.; Bethell, D.; Schiffrin, D. J.; Nichols, R. J. Nature 2000, 408, 67.
19. Stranick, S. J.; Kamna, M. M.; Krom, K. R.; Parikh, A. N.; Allara, D. L.; Weiss, P. S. J. Vac. Sci. Technol., B 1994, 12, 2004.
20. Cygan,M. T.; Dunbar,T.D.; Arnold, J. J.; Bumm, L. A.; Shedlook, N. F.; Burgin, T. P.; Jones, L., II; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 2721.
21. McCarty, G. S.; Weiss, P. S. Chem. Rev. 1999, 99, 1983.
22. Muralt, P.; Pohl, D. W. Appl. Phys. Lett. 1988, 48, 514.
23. Takahashi, S.; Kishida, T.; Akita, S.; Nakayama, Y. Jpn. J. Appl. Phys. 2001, 40, 4314.
24. Fujihira, M.; Kawate, H. J. Vac. Sci. Technol., B 1994, 12, 1604.
25. Weaver, J. M. R.; Abraham, D. W. J. Vac. Sci. Technol., B 1991, 9, 1559.
26. Sugimura, H.; Hayashi, K.; Saito, N.; Takai, O.; Nakagiri, N. Jpn. J. Appl. Phys. 2001, 40, 4370.
27. O'Shea, S. J.; Atta, R. M.; Weiland, M. E. Rev. Sci. Instrum. 1995, 66, 2508.
28. Kelley, T. W.; Granstrom, E. L.; Frisbie, C. D. Adv. Mater. 1999, 11, 261.
29. Kelley, T. W.; Frisbie, C. D. J. Vac. Sci. Technol, B 2000, 18, 632.
30. Kelley, T. W.; Frisbie, C. D. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 4538.
31. Loiacono, M. J.; Granstrom, E. L.; Frisbie, C. D. J. Phys. Chem. B 1998, 702, 1679.
32. Dai, H.; Wong, E. W.; Lieber, C. M. Science 1998, 272, 523.
33. Sader, J. E. Rev. Sci. Instrum. 1999, 70, 3967.
34. Sader, J. E. J. Appl. Phys. 1998, 84, 64.
35. Liu, H.; Waldeck, D.; Walker, G. Synthesis of dithiol terminated polythiophene. To be submitted.
36. Cooper, A. R. Determination of Molecular Weight; Wiley: New York, 1989; pp 263-300.
37. Hudlet, S.; Saint Jean, M.; Guthmann, C.; Berger, J. Eur. Phys. J. B 1998, 2, 5.
38. Belaidi, S.; Girard, P.; Leveque,G. J. Appl. Phys. 1096, 81, 1023.
39. Hao, H. W.; Baro, A. M.; Saenz, J. J. Vac. Sci. Technol., B 1991, 9, 1323.
40. Yang, Y.; Pei, Q.; Heeger, A. J. J. Appl. Phys. 1996, 79, 934.
41. Parker, I. D. J. Appl. Phys. 1994, 75, 1656.
42. Ouisse, T. Eur. Phys. J. B 2001, 22, 415.
43. Bredas, J. L.; Street, G. B.; Themans, B.; Andre, J. M. J. Chem. Phys. 1985, 83, 1323.
44. Israelachvili, J. N. Intermolecular and surface forces, 2nd ed.; Academic Press: New York, 2000; p 327.