Structure determination of the 1 × 1 GaN(0001) surface by quantitative low energy electron diffraction

Surface Review and Letters

Volumn 10, Issue 6, 2003, Pages 831-836

  Yu, Z X ^a   Tong, S Y ^b   Xu, Shihong ^c   Ma, Simon ^c   Wu, Huasheng ^c  

^a SUN YAT SEN UNIVERSITY   (China)

^b CITY UNIVERSITY OF HONG KONG   (Hong Kong)

^c UNIVERSITY OF HONG KONG   (Hong Kong)

Author keywords

Gallium nitride; Low energy electron diffraction; Surface structure determination

Indexed keywords

ALGORITHMS; CHEMICAL BONDS; CRYSTAL ORIENTATION; LOW ENERGY ELECTRON DIFFRACTION; SIMULATED ANNEALING;

INTERLAYER SPACINGS; SURFACE BILAYERS;

GALLIUM NITRIDE;

GALLIUM NITRATE;

ALGORITHM; ARTICLE; CALCULATION; CHEMICAL BINDING; DIAGNOSTIC APPROACH ROUTE; ELECTRON DIFFRACTION; GLOBAL MINIMIZATION FROZEN ANALYSIS; LOW ENERGY ELECTRON DIFFRACTION; OSCILLATION; QUANTITATIVE ANALYSIS; QUANTITATIVE STRUCTURE ACTIVITY RELATION; SIMULATION; STRUCTURE ANALYSIS; SURFACE PROPERTY;

EID: 1542515237     PISSN: 0218625X     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1142/S0218625X03005657     Document Type: Article

References (46)

1. A. R. Smith, R. M. Feenstra, D. W. Greve, M. S. Shin, M. Skowronski, J. Neugebauer and J. Northrup, Appl. Phys. Lett. 72, 2114 (1998).
2. R. M. Feenstra, H. J. Chen, V. Ramachandran, A. R. Smith and D. W. Greve, Appl. Surf. Sci. 166, 165 (2000).
3. W. E. Packard, J. D. Dow, R. Nicolaides, K. Doverspike and R. Kaplan, Superlattices Microstruct. 20, 145 (1996).
4. W. E. Packard, J. D. Dow, R. Nicolaides, K. Doverspike and R. Kaplan, J. Mater. Res. 12, 646 (1997).
5. A. R. Smith, R. M. Feenstra, D. W. Greve, J. Neugebauer and J. E. Northrup, Phys. Rev. Lett. 79, 3934 (1997).
6. A. R. Smith, R. M. Feenstra, D. W. Greve, M. S. Shin, M. Skowronski, J. Neugebauer and J. Northrup, J. Vac. Sci. Technol. B16, 2242 (1998).
7. A. R. Smith, R. M. Feenstra, D. W. Greve, M. S. Shin, M. Skowronski, J. Neugebauer and J. Northrup, Surf. Sci. 423, 70 (1999).
8. V. Ramachandran, C. D. Lee, R. M. Feenstra, A. R. Smith, J. E. Northrup and D. W. Greve, J. Cryst. Growth 209, 355 (2000).
9. Q. K. Xue, Q. Z. Xue, R. Z. Bakhtizin, Y. Hasegawa, I. S. T. Tsong, T. Sakurai and T. Ohno, Phys. Rev. Lett. 82, 3074 (1999).
10. Q. K. Xue, Q. Z. Xue, S. Kuwano, K. Nakayama, T. Sakurai, I. S. T. Tsong, X. G. Qiu and Y. Segawa, J. Cryst. Growth 229, 41 (2001).
11. Q. K. Xue, Q. Z. Xue, S. Kuwano, T. Sakurai, T. Ohno, I. S. T. Tsong, X. G. Qiu and Y. Segawa, Thin Solid Films 367, 149 (2000).
12. M. A. Van Hove and S. Y. Tong, in Surface Crystallography by Low-Energy Electron Diffraction (Springer-Verlag, Heidelberg, 1979).
13. S. Y. Tong and M. A. Van Hove, Phys. Rev. B16, 1459 (1977).
14. S. Y. Tong, in Progress in Surface Science 7, 1 (1975) (Pergamon, Oxford).
15. M. A. Van Hove, S. Y. Tong and M. H. Elconin, Surf. Sci. 64, 85 (1977).
16. S. Y. Tong and K. H. Lau, Phys. Rev. B25, 3782 (1982).
17. M. L. Xu and S. Y. Tong, Phys. Rev. B31, 6332 (1985).
18. M. H. Xie, S. M. Seutter, W. K. Zhu, L. X. Zheng, H. S. Wu and S. Y. Tong, Phys. Rev. Lett. 82, 2749 (1999).
19. M. H. Xie, S. H. Cheung, L. X. Zheng, Y. F. Ng, H. S. Wu, N. Ohtani and S. Y. Tong, Phys. Rev. B61, 9983 (2000).
20. S. M. Seutter, M. H. Xie, W. K. Zhu, L. X. Zheng, H. S. Wu and S. Y. Tong, Surf. Sci. Lett. 445, L71 (2000).
21. L. X. Zheng, M. H. Xie and S. Y. Tong, Phys. Rev. B61, 4890 (2000).
22. M. H. Xie, L. X. Zheng, S. H. Cheung, Y. F. Ng, H. S. Wu, S. Y. Tong and N. Ohtani, Appl. Phys. Lett. 77, 1105 (2000).
23. L. X. Zheng, M. H. Xie, S. M. Seutter, S. H. Cheung and S. Y. Tong, Phys. Rev. Lett. 85, 2352 (2000).
24. L. X. Zheng, M. H. Xie, S. J. Xu, S. H. Cheung and S. Y. Tong, J. Cryst. Growth 227, 376 (2001).
25. S. H. Cheung, L. X. Zheng, M. H. Xie and S. Y. Tong, Phys. Rev. B64, 033304 (2001).
26. M. H. Xie, S. Y. Leung and S. Y. Tong, Surf. Sci. Lett. 515, L459 (2002).
27. M. H. Xie, S. H. Cheung, L. X. Zheng, S. Y. Tong, B. S. Zhang and H. Yang, J. Mod. Phys. B16, 165 (2002).
28. S. H. Xu, H. S. Wu, X. Q. Dai, W. P. Lau, L. X. Zheng, M. H. Xie and S. Y. Tong, Phys. Rev. B67, 125409 (2003).
29. W. H. Chen, H. S. Wu, W. K. Ho, B. C. Deng, G. Xu and S. Y. Tong, Surf. Rev. Lett. 7, 267 (2000).
30. S. Y. Tong and H. S. Wu, J. Phys.: Condens. Matter 13, 1 (2001).
31. H. S. Wu and S. Y. Tong, Phys. Rev. Lett. 87, 036101 (2001).
32. H. S. Wu, S. H. Xu, S. Ma, W. P. Lau, M. H. Xie and S. Y. Tong, Phys. Rev. Lett. 89, 216101 (2002).
33. Z. X. Yu and S. Y. Tong, to be published.
34. D. K. Saldin and P. L. de Andres, Phys. Rev. Lett. 64, 1270 (1990).
35. P. J. Rous, J. B. Pendry, D. K. Saldin, K. Heinz, K. Muller and N. Bickel, Phys. Rev. Lett. 57, 2951 (1986).
36. S. Kirkpatrick, C. D. Gelatt and M. P. Vecchi, Science 220, 671 (1983).
37. S. Y. Tong, C. W. Mok, H. S. Wu and L. Z. Xin, Phys. Rev. B58, 10815 (1998).
38. S. Y. Tong and C. W. Mok, Surf. Rev. Lett. 7, 333 (2000).
39. S. Y. Tong, Surf. Sci. Lett. 457, L432 (2000).
40. S. Y. Tong, Surf. Rev. Lett. 7, 21 (2000).
41. S. Y. Tong, T. N. Rhodin and A. Ignatiev, Phys. Rev. B8, 960 (1973).
42. S. Y. Tong and L. L. Kesmodel, Phys. Rev. B8, 3753 (1973).
43. B. M. Hall and S. Y. Tong, J. Vac. Sci. Tech. 20, 578 (1982).
44. B. M. Hall, S. Y. Tong and D. L. Mills, Phys. Rev. Lett. 50, 1277 (1983).
45. C. T. Foxon, T. S. Cheung, S. V. Novikov, N. J. Jeffs, O. H. Hughes, Yu. V. Melnik, A. E. Nikolaev and V. A. Dmitriev, Surf. Sci. 421, 377 (1999).
46. J. E. Northrup, J. Neugebauer, R. M. Feenstra and A. R. Smith, Phys. Rev. B61, 9932 (2000).