Aromatic self-assembled monolayers on hydrogenated silicon

Langmuir

Volumn 19, Issue 11, 2003, Pages 4682-4687

  Zharnikov, M ^a   Kuller A ^a   Shaporenko, A ^a   Schmidt, E ^a   Eck, W ^a  

^a UNIVERSITY OF HEIDELBERG   (Germany)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

AROMATIC MOLECULES; HYDROGENATED SILICON; PACKING DENSITIES; SELF ASSEMBLED MONOLAYERS;

HYDROGENATION; MOLECULES; MONOLAYERS; NUMERICAL METHODS; SELF ASSEMBLY; SUBSTRATES; X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY;

SILICON;

EID: 0038581625     PISSN: 07437463     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/la020841e     Document Type: Article

References (71)

1. Ulman, A. An Introduction to Ultrathin Organic Films: From Langmuir-Blodgett to Self-Assembly; Academic Press: San Diego, 1991.
2. Ulman, A. Chem. Rev. 1996, 96, 1533.
3. Ostuni, E.; Yan, L.; Whitesides, G. M. Colloids Surf., B 1999, 15, 3.
4. Lahiri, J.; Isaacs, L.; Tien, J.; Whitesides, G. M. Anal. Chem. 1999, 71, 777.
5. Knoll, W.; Zizlsperger, M.; Lieberman, T.; Arnold, S.; Badia, A.; Liley, M.; Piscevic, D.; Schmitt, F.-J.; Spinke, J. Colloids Surf., A 2000, 161, 115.
6. Nelson, K. E.; Gamble, L.; Jung, L. S.; Boeckl, M. S.; Naeemi, E.; Golledge, S. L.; Sasaki, T.; Castner, D. G.; Campbell, C. T.; Stayton, P. Langmuir 2001, 17, 2807.
7. Zharnikov, M.; Grunze, M. J. Vac. Sci. Technol., B 2002, 20, 1793.
8. Thin films: self-assembled monolayers of thiols; Ulman, A., Ed.; Academic Press: San Diego, 1998.
9. Schreiber, F. Prog. Surf. Sci. 2000, 65, 151.
10. Sabatani, E.; Cohen-Boulakia, J.; Bruening, M.; Rubinstein, I. Langmuir 1993, 9, 2974.
11. Tour, J. M.; Jones, L., II; Pearson, D. L.; Lamba, J. S.; Burgin, T. P.; Whitesides, G. M.; Allara, D. L.; Parikh, A. N.; Atre, S. V. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 9529.
12. Dhirani, A.-A.; Zehner, W.; Hsung, R. P.; Guyot-Sionnest, P.; Sita, L. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 3319.
13. Tao, Y.-T.; Wu, C.-C.; Eu, J.-Y.; Lin, W.-L. Langmuir 1997, 13, 4018.
14. Kang, J. F.; Jordan, R.; Ulman, A. Langmuir 1998, 14, 3983.
15. Kang, J. F.; Liao, S.; Jordan, R.; Ulman, A. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 9662.
16. Himmel, H.-J.; Terfort, A.; Wöll, Ch. J. Am. Chem. Soc. 1998, 120, 12069.
17. Kang, J. F.; Ulman, A.; Liao, S.; Jordan, R. Langmuir 1999, 15, 2095.
18. Ishida, T.; Choi, N.; Mizutani, W.; Tokumoto, H.; Kojima, I.; Azehara, H.; Hokari, H.; Akiba, U.; Fujihira, M. Langmuir 1999, 15, 6799.
19. Leung, T. Y. B.; Schwartz, P.; Scoles, G.; Schreiber, F.; Ulman, A. Surf. Sci. 2000, 458, 34.
20. Frey, S.; Stadler, V.; Heister, K.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Zeysing, B.; Terfort, A. Langmuir 2001, 17, 2408.
21. Ishida, T.; Mizutani, W.; Azehara, H.; Sato, F.; Choi, N.; Akiba, U.; Fujihira, M.; Tokumoto, H. Langmuir 2001, 17, 7459.
22. Kang, J. F.; Ulman, A.; Liao, S.; Jordan, R.; Yang, G.; Liu, G.-y. Langmuir 2001, 17, 95.
23. Fuxen, C.; Azzam, W.; Arnold, R.; Witte, G.; Terfort, A.; Wöll, Ch. Langmuir 2001, 17, 3689.
24. Zharnikov, M.; Grunze, M. J. Phys.: Condens. Matter 2001, 13, 11333.
25. Geyer, W.; Stadler, V.; Eck, W.; Zharnikov, M.; Gölzhäuser, A.; Grunze, M. Appl. Phys. Lett. 1999, 75, 2401.
26. Eck, W.; Stadler, V.; Geyer, W.; Zharnikov, M.; Gölzhäuser, A.; Grunze, M. Adv. Mater. 2000, 12, 805.
27. Gölzhäuser, A.; Eck, W.; Geyer, W.; Stadler, V.; Weimann, T.; Hinze, P.; Grunze, M. Adv. Mater. 2001, 13, 806.
28. Bumm, L. A.; Arnold, J. J.; Cygan, M. T.; Dunbar, T. D.; Burgin, T. P.; Jones, L. II; Allara, D. L.; Tour, J. M.; Weiss, P. S. Science 1996, 271, 1705.
29. Zharnikov, M.; Frey, S.; Rong, H.; Yang, Y.-J.; Heister, K.; Buck, M.; Grunze, M. Phys. Chem. Chem. Phys. 2000, 2, 3359.
30. Frey, S.; Heister, K.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Tamada, K.; Colorado, R., Jr.; Graupe, M.; Shmakova, O. E.; Lee, T. R. Isr. J. Chem. 2000, 40, 81.
31. Rong, H. T.; Frey, S.; Yang, Y.-J.; Zharnikov, M.; Buck, M.; Wühn, M.; Wöll, Ch.; Helmchen, G. Langmuir 2001, 17, 1582.
32. Gölzhäuser, A.; Geyer, W.; Stadler, V.; Eck, W.; Grunze, M.; Edinger, K.; Weimann, Th.; Hinze, P. J. Vac. Sci. Technol., B 2000, 18, 3414.
33. Weimann, T.; Geyer, W.; Hinze, P.; Stadler, V.; Eck, W.; Golzhauser, A. Microelectron. Eng. 2001, 57-8, 903.
34. Linford, M. R.; Chidsey, C. E. D. J. Am. Chem. Soc. 1993, 115, 12631.
35. Linford, M. R.; Fenter, P.; Eisenberger, P. M.; Chidsey, C. E. D. J. Am. Chem. Soc. 1995, 117, 3145.
36. de Villeneuve, C. H.; Pinson, J.; Bernard, M. C.; Allongue, P. J. Phys. Chem. B 1997, 101, 2415.
37. Effenberger, F.; Gotz, G.; Bidlingmaier, B.; Wezstein, M. Angew. Chem., Int. Ed. 1998, 37, 2462.
38. Boukherroub, R.; Morin, S.; Bensebaa, F.; Wayner, D. D. M. Langmuir 1999, 15, 3831.
39. Cheng, J.; Robinson, D. B.; Cicero, R. L.; Eberspacher, T.; Barrelet, C. J.; Chidsey, C. E. D. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 10900.
40. Cleland, G.; Horrocks, B. R.; Houlton, A. J. Chem. Soc., Faraday Trans. 1995, 91, 4001
41. Boukherroub, R.; Morin, S.; Sharpe, P.; Wayner, D. D. M.; Allongue, P. Langmuir 2000, 16, 7429.
42. Colonge, J.; Buendia, J.; Sabadie, J. Bull. Soc. Chim. Fr. 1967, 11, 4370.
43. Wirde, M.; Gelius, U.; Dunbar, T.; Allara, D. L. Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 1997, 131, 245.
44. Jäger, B.; Schürmann, H.; Müller, H. U.; Himmel, H.-J.; Neumann, M.; Grunze, M.; Wöll, Ch. Z. Phys. Chem. 1997, 202, 263.
45. Heister, K.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Johansson, L. S. O.; Ulman, A. Langmuir 2001, 17, 8.
46. Moulder, J. F.; Stickle, W. E.; Sobol, P. E. ; Bomben, K. D. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy; Chastian, J., Ed.; Perkin-Elmer Corp.: Eden Prairie, MN, 1992.
47. Shirley, D. A. Phys. Rev. B 1972, 5, 4709.
48. Wertheim, G. K.; Butler, M. A.; West, K. W.; Buchanan, D. N. E. Rev. Sci. Instrum. 1974, 45, 1369.
49. Stadler, V. Ph.D. Thesis, Universität Heidelberg, Hidelberg, Germany, 2001.
50. Laibinis, P. E.; Bain, C. D.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. 1991, 95, 7017.
51. Harder, P.; Grunze, M.; Dahint, R.; Whitesides, G. M.; Laibinis, P. E. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 426.
52. Thome, J.; Himmelhaus, M.; Zharnikov, M.; Grunze, M. Langmuir 1998, 14, 7435.
53. Schaible, M.; Petersen, H.; Braun, W.; Koch, E. E. Rev. Sci. Instrum. 1989, 60, 2172.
54. Bernstorff, S.; Braun, W.; Mast, M.; Peatman, W.; Schröder, T. Rev. Sci. Instrum. 1989, 60, 2097.
55. Stöhr, J. NEXAFS Spectroscopy; Springer Series in Surface Science 25; Springer-Verlag: Berlin, 1992.
56. Batson, P. E. Phys. Rev. B 1993, 48, 2608.
57. Zharnikov, M.; Frey, S.; Heister, K.; Grunze, M. Langmuir 2000, 16, 2697.
58. Wagner, C. D.; Riggs, W. M.; Davis, L. E.; Moulder, J. F.; Muilenberg, J. E. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy; Perkin-Elmer Corp.: Eden Prairie, MN, 1979.
59. Heister, K.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Johansson, L. S. O. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 4058.
60. Heister, K.; Rong, H. T.; Buck, M.; Zharnikov, M.; Grunze, M.; Johansson, L. S. O. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 6888.
61. Schmidt, E. Diploma Thesis, Universität Heidelberg, Heidelberg, Germany, 1999.
62. Horsley, J. A.; Stöhr, J.; Hitchcock, A. P.; Newbury, D. C.; Johnson, A. L.; Sette, F. J. Chem. Phys. 1985, 83, 6099.
63. Weiss, K.; Gebert, S.; Wühn, M.; Wadepohl, H.; Woll, Ch. J. Vac. Sci. Technol., A 1998, 16, 1017.
64. Stöhr, J.; Outka, D. A. Phys. Rev. B 1987, 36, 7891.
65. Chang, S.-C.; Chao, I.; Tao, Y.-T. J. Am. Chem. Soc. 1994, 116, 6792.
66. Kitaigorodskii, I. A. Organic Chemical Crystallography; Consultants Bureau: New York, 1961.
67. Cruickshank, D. W. J. Acta Crystallogr. 1956, 9, 915.
68. Charbonneau, G.-P.; Delugeard, Y. Acta Crystallogr. 1976, B32, 1420.
69. Trotter, J. Acta Crystallogr. 1961, 14, 1135.
70. Outka, D. A.; Stöhr, J.; Rabe, J. P.; Swalen, J. D. J. Chem. Phys. 1988, 88, 4076.
71. Kinzler, M.; Schertel, A.; Hähner, G.; Wöll, Ch.; Grunze, M.; Albrecht, H.; Holzhüter, G.; Gerber, Th. J. Chem. Phys. 1994, 100, 7722.