-
1
-
-
0345423054
-
-
For recent reviews on chemical functionalization of the surfaces of group IV semiconductors, see: (a) Waltenburg, H. N.; Yates, J. T., Jr. Chem. Rev. 1995, 95, 1589. (b) Hamers, R. J.; Wang, Y. Chem. Rev. 1996, 96, 1261. (c) Wolkow, R. A. Annu. Rev. Phys. Chem. 1999, 50, 413. (d) Buriak, J. M. Chem. Commun. 1999, 1051. (e) Hamers, R. J.; Coulter, S. K.; Ellison, M. D.; Hovis, J. S.; Padowitz, D. F.; Schwartz, M. P.; Greenlief, C. S.; Russell, J. N., Jr. Acc. Chem. Res. 2000, 33, 617. (f) Lu, X.; Lin, M. C. Int. Rev. Phys. Chem. 2002, 21, 137. (g) Bent, S. F. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2830. (h) Bent, S. F. Surf. Sci. 2002, 500, 879.
-
(1995)
Chem. Rev.
, vol.95
, pp. 1589
-
-
Waltenburg, H.N.1
Yates J.T., Jr.2
-
2
-
-
4544236018
-
-
For recent reviews on chemical functionalization of the surfaces of group IV semiconductors, see: (a) Waltenburg, H. N.; Yates, J. T., Jr. Chem. Rev. 1995, 95, 1589. (b) Hamers, R. J.; Wang, Y. Chem. Rev. 1996, 96, 1261. (c) Wolkow, R. A. Annu. Rev. Phys. Chem. 1999, 50, 413. (d) Buriak, J. M. Chem. Commun. 1999, 1051. (e) Hamers, R. J.; Coulter, S. K.; Ellison, M. D.; Hovis, J. S.; Padowitz, D. F.; Schwartz, M. P.; Greenlief, C. S.; Russell, J. N., Jr. Acc. Chem. Res. 2000, 33, 617. (f) Lu, X.; Lin, M. C. Int. Rev. Phys. Chem. 2002, 21, 137. (g) Bent, S. F. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2830. (h) Bent, S. F. Surf. Sci. 2002, 500, 879.
-
(1996)
Chem. Rev.
, vol.96
, pp. 1261
-
-
Hamers, R.J.1
Wang, Y.2
-
3
-
-
0000135566
-
-
For recent reviews on chemical functionalization of the surfaces of group IV semiconductors, see: (a) Waltenburg, H. N.; Yates, J. T., Jr. Chem. Rev. 1995, 95, 1589. (b) Hamers, R. J.; Wang, Y. Chem. Rev. 1996, 96, 1261. (c) Wolkow, R. A. Annu. Rev. Phys. Chem. 1999, 50, 413. (d) Buriak, J. M. Chem. Commun. 1999, 1051. (e) Hamers, R. J.; Coulter, S. K.; Ellison, M. D.; Hovis, J. S.; Padowitz, D. F.; Schwartz, M. P.; Greenlief, C. S.; Russell, J. N., Jr. Acc. Chem. Res. 2000, 33, 617. (f) Lu, X.; Lin, M. C. Int. Rev. Phys. Chem. 2002, 21, 137. (g) Bent, S. F. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2830. (h) Bent, S. F. Surf. Sci. 2002, 500, 879.
-
(1999)
Annu. Rev. Phys. Chem.
, vol.50
, pp. 413
-
-
Wolkow, R.A.1
-
4
-
-
0033591711
-
-
For recent reviews on chemical functionalization of the surfaces of group IV semiconductors, see: (a) Waltenburg, H. N.; Yates, J. T., Jr. Chem. Rev. 1995, 95, 1589. (b) Hamers, R. J.; Wang, Y. Chem. Rev. 1996, 96, 1261. (c) Wolkow, R. A. Annu. Rev. Phys. Chem. 1999, 50, 413. (d) Buriak, J. M. Chem. Commun. 1999, 1051. (e) Hamers, R. J.; Coulter, S. K.; Ellison, M. D.; Hovis, J. S.; Padowitz, D. F.; Schwartz, M. P.; Greenlief, C. S.; Russell, J. N., Jr. Acc. Chem. Res. 2000, 33, 617. (f) Lu, X.; Lin, M. C. Int. Rev. Phys. Chem. 2002, 21, 137. (g) Bent, S. F. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2830. (h) Bent, S. F. Surf. Sci. 2002, 500, 879.
-
(1999)
Chem. Commun.
, pp. 1051
-
-
Buriak, J.M.1
-
5
-
-
0033807301
-
-
For recent reviews on chemical functionalization of the surfaces of group IV semiconductors, see: (a) Waltenburg, H. N.; Yates, J. T., Jr. Chem. Rev. 1995, 95, 1589. (b) Hamers, R. J.; Wang, Y. Chem. Rev. 1996, 96, 1261. (c) Wolkow, R. A. Annu. Rev. Phys. Chem. 1999, 50, 413. (d) Buriak, J. M. Chem. Commun. 1999, 1051. (e) Hamers, R. J.; Coulter, S. K.; Ellison, M. D.; Hovis, J. S.; Padowitz, D. F.; Schwartz, M. P.; Greenlief, C. S.; Russell, J. N., Jr. Acc. Chem. Res. 2000, 33, 617. (f) Lu, X.; Lin, M. C. Int. Rev. Phys. Chem. 2002, 21, 137. (g) Bent, S. F. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2830. (h) Bent, S. F. Surf. Sci. 2002, 500, 879.
-
(2000)
Acc. Chem. Res.
, vol.33
, pp. 617
-
-
Hamers, R.J.1
Coulter, S.K.2
Ellison, M.D.3
Hovis, J.S.4
Padowitz, D.F.5
Schwartz, M.P.6
Greenlief, C.S.7
Russell J.N., Jr.8
-
6
-
-
0036199148
-
-
For recent reviews on chemical functionalization of the surfaces of group IV semiconductors, see: (a) Waltenburg, H. N.; Yates, J. T., Jr. Chem. Rev. 1995, 95, 1589. (b) Hamers, R. J.; Wang, Y. Chem. Rev. 1996, 96, 1261. (c) Wolkow, R. A. Annu. Rev. Phys. Chem. 1999, 50, 413. (d) Buriak, J. M. Chem. Commun. 1999, 1051. (e) Hamers, R. J.; Coulter, S. K.; Ellison, M. D.; Hovis, J. S.; Padowitz, D. F.; Schwartz, M. P.; Greenlief, C. S.; Russell, J. N., Jr. Acc. Chem. Res. 2000, 33, 617. (f) Lu, X.; Lin, M. C. Int. Rev. Phys. Chem. 2002, 21, 137. (g) Bent, S. F. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2830. (h) Bent, S. F. Surf. Sci. 2002, 500, 879.
-
(2002)
Int. Rev. Phys. Chem.
, vol.21
, pp. 137
-
-
Lu, X.1
Lin, M.C.2
-
7
-
-
0037149820
-
-
For recent reviews on chemical functionalization of the surfaces of group IV semiconductors, see: (a) Waltenburg, H. N.; Yates, J. T., Jr. Chem. Rev. 1995, 95, 1589. (b) Hamers, R. J.; Wang, Y. Chem. Rev. 1996, 96, 1261. (c) Wolkow, R. A. Annu. Rev. Phys. Chem. 1999, 50, 413. (d) Buriak, J. M. Chem. Commun. 1999, 1051. (e) Hamers, R. J.; Coulter, S. K.; Ellison, M. D.; Hovis, J. S.; Padowitz, D. F.; Schwartz, M. P.; Greenlief, C. S.; Russell, J. N., Jr. Acc. Chem. Res. 2000, 33, 617. (f) Lu, X.; Lin, M. C. Int. Rev. Phys. Chem. 2002, 21, 137. (g) Bent, S. F. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2830. (h) Bent, S. F. Surf. Sci. 2002, 500, 879.
-
(2002)
J. Phys. Chem. B
, vol.106
, pp. 2830
-
-
Bent, S.F.1
-
8
-
-
0037051030
-
-
For recent reviews on chemical functionalization of the surfaces of group IV semiconductors, see: (a) Waltenburg, H. N.; Yates, J. T., Jr. Chem. Rev. 1995, 95, 1589. (b) Hamers, R. J.; Wang, Y. Chem. Rev. 1996, 96, 1261. (c) Wolkow, R. A. Annu. Rev. Phys. Chem. 1999, 50, 413. (d) Buriak, J. M. Chem. Commun. 1999, 1051. (e) Hamers, R. J.; Coulter, S. K.; Ellison, M. D.; Hovis, J. S.; Padowitz, D. F.; Schwartz, M. P.; Greenlief, C. S.; Russell, J. N., Jr. Acc. Chem. Res. 2000, 33, 617. (f) Lu, X.; Lin, M. C. Int. Rev. Phys. Chem. 2002, 21, 137. (g) Bent, S. F. J. Phys. Chem. B 2002, 106, 2830. (h) Bent, S. F. Surf. Sci. 2002, 500, 879.
-
(2002)
Surf. Sci.
, vol.500
, pp. 879
-
-
Bent, S.F.1
-
9
-
-
84913417435
-
-
(a) Takayanagi, K.; Tanishiro, Y.; Takahashi, M.; Takahashi, S. J. Vac. Sci. Technol., A 1985, 3, 1502.
-
(1985)
J. Vac. Sci. Technol., A
, vol.3
, pp. 1502
-
-
Takayanagi, K.1
Tanishiro, Y.2
Takahashi, M.3
Takahashi, S.4
-
10
-
-
22944467599
-
-
(b) Hamers, R. J.; Tromp, R. M.; Demuth, J. E. Phys. Rev. Lett. 1986, 56, 1972.
-
(1986)
Phys. Rev. Lett.
, vol.56
, pp. 1972
-
-
Hamers, R.J.1
Tromp, R.M.2
Demuth, J.E.3
-
12
-
-
0000740354
-
-
Tromp, R. M.; Hamers, R. J.; Demuth, J. E. Phys. Rev. Lett. 1985, 55, 1303.
-
(1985)
Phys. Rev. Lett.
, vol.55
, pp. 1303
-
-
Tromp, R.M.1
Hamers, R.J.2
Demuth, J.E.3
-
13
-
-
0000946591
-
-
Appelbaum, J. A.; Baraff, G. A.; Hamann, D. R. Phys. Rev. B 1976, 14, 588.
-
(1976)
Phys. Rev. B
, vol.14
, pp. 588
-
-
Appelbaum, J.A.1
Baraff, G.A.2
Hamann, D.R.3
-
14
-
-
0001751468
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of 1,3-dienes on Si(100), see: (a) Hovis, J. S.; Liu, H. B.; Hamers R. J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 6873. (b) Teplyakov, A. V.; Kong, M. J.; Bent, S. F. J. Chem. Phys. 1998, 108, 4599.
-
(1998)
J. Phys. Chem. B
, vol.102
, pp. 6873
-
-
Hovis, J.S.1
Liu, H.B.2
Hamers, R.J.3
-
15
-
-
0007149730
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of 1,3-dienes on Si(100), see: (a) Hovis, J. S.; Liu, H. B.; Hamers R. J. J. Phys. Chem. B 1998, 102, 6873. (b) Teplyakov, A. V.; Kong, M. J.; Bent, S. F. J. Chem. Phys. 1998, 108, 4599.
-
(1998)
J. Chem. Phys.
, vol.108
, pp. 4599
-
-
Teplyakov, A.V.1
Kong, M.J.2
Bent, S.F.3
-
18
-
-
0035092853
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of benzene on Si(100), see: (a) Hofer, W. A.; Fisher, A. J.; Lopinski, G. P.; Wolkow, R. A. Phys. Rev. B 2001, 61, 085314. (b) Alavi, S.; Rousseau, R.; Patitsas, S. N.; Lopinski, G. P.; Wolkow, R. A.; Seideman, T. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 5327. (c) Staufer, M.; Birkenheuer, U.; Belling, T.; Nortemann, F.; Rösch, N.; Widdra, W.; Kostov, K. L.; Moritz, T.; Menzel, D. J. Chem. Phys. 2000, 112, 2498. (d) Self, K. W.; Pelzel, R. I.; Owen, J. H. G.; Yan, C.; Widdra, W.; Weinberg, W. H. J. Vac. Sci. Technol., A 1998, 16, 1031. (e) Lopinski, G. P.; Fortier, T. M.; Moffatt, D. J.; Wolkow, R. A. J. Vac. Sci. Technol., A 1998, 16, 1037. (f) Borovsky, B.; Krueger, M.; Ganz, E. Phys. Rev. B 1998, 57, R4269. (g) Gokhale, S.; Trischberger, P.; Menzel, D.; Widdra, W.; Droge, H.; Steinruck, H. P.; Birkenheuer, U.; Gutdeutsch, U.; Rösch, N. J. Chem. Phys. 1998, 108, 5554.
-
(2001)
Phys. Rev. B
, vol.61
, pp. 85314
-
-
Hofer, W.A.1
Fisher, A.J.2
Lopinski, G.P.3
Wolkow, R.A.4
-
19
-
-
4243853819
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of benzene on Si(100), see: (a) Hofer, W. A.; Fisher, A. J.; Lopinski, G. P.; Wolkow, R. A. Phys. Rev. B 2001, 61, 085314. (b) Alavi, S.; Rousseau, R.; Patitsas, S. N.; Lopinski, G. P.; Wolkow, R. A.; Seideman, T. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 5327. (c) Staufer, M.; Birkenheuer, U.; Belling, T.; Nortemann, F.; Rösch, N.; Widdra, W.; Kostov, K. L.; Moritz, T.; Menzel, D. J. Chem. Phys. 2000, 112, 2498. (d) Self, K. W.; Pelzel, R. I.; Owen, J. H. G.; Yan, C.; Widdra, W.; Weinberg, W. H. J. Vac. Sci. Technol., A 1998, 16, 1031. (e) Lopinski, G. P.; Fortier, T. M.; Moffatt, D. J.; Wolkow, R. A. J. Vac. Sci. Technol., A 1998, 16, 1037. (f) Borovsky, B.; Krueger, M.; Ganz, E. Phys. Rev. B 1998, 57, R4269. (g) Gokhale, S.; Trischberger, P.; Menzel, D.; Widdra, W.; Droge, H.; Steinruck, H. P.; Birkenheuer, U.; Gutdeutsch, U.; Rösch, N. J. Chem. Phys. 1998, 108, 5554.
-
(2000)
Phys. Rev. Lett.
, vol.85
, pp. 5327
-
-
Alavi, S.1
Rousseau, R.2
Patitsas, S.N.3
Lopinski, G.P.4
Wolkow, R.A.5
Seideman, T.6
-
20
-
-
0001487727
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of benzene on Si(100), see: (a) Hofer, W. A.; Fisher, A. J.; Lopinski, G. P.; Wolkow, R. A. Phys. Rev. B 2001, 61, 085314. (b) Alavi, S.; Rousseau, R.; Patitsas, S. N.; Lopinski, G. P.; Wolkow, R. A.; Seideman, T. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 5327. (c) Staufer, M.; Birkenheuer, U.; Belling, T.; Nortemann, F.; Rösch, N.; Widdra, W.; Kostov, K. L.; Moritz, T.; Menzel, D. J. Chem. Phys. 2000, 112, 2498. (d) Self, K. W.; Pelzel, R. I.; Owen, J. H. G.; Yan, C.; Widdra, W.; Weinberg, W. H. J. Vac. Sci. Technol., A 1998, 16, 1031. (e) Lopinski, G. P.; Fortier, T. M.; Moffatt, D. J.; Wolkow, R. A. J. Vac. Sci. Technol., A 1998, 16, 1037. (f) Borovsky, B.; Krueger, M.; Ganz, E. Phys. Rev. B 1998, 57, R4269. (g) Gokhale, S.; Trischberger, P.; Menzel, D.; Widdra, W.; Droge, H.; Steinruck, H. P.; Birkenheuer, U.; Gutdeutsch, U.; Rösch, N. J. Chem. Phys. 1998, 108, 5554.
-
(2000)
J. Chem. Phys.
, vol.112
, pp. 2498
-
-
Staufer, M.1
Birkenheuer, U.2
Belling, T.3
Nortemann, F.4
Rösch, N.5
Widdra, W.6
Kostov, K.L.7
Moritz, T.8
Menzel, D.9
-
21
-
-
0001080048
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of benzene on Si(100), see: (a) Hofer, W. A.; Fisher, A. J.; Lopinski, G. P.; Wolkow, R. A. Phys. Rev. B 2001, 61, 085314. (b) Alavi, S.; Rousseau, R.; Patitsas, S. N.; Lopinski, G. P.; Wolkow, R. A.; Seideman, T. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 5327. (c) Staufer, M.; Birkenheuer, U.; Belling, T.; Nortemann, F.; Rösch, N.; Widdra, W.; Kostov, K. L.; Moritz, T.; Menzel, D. J. Chem. Phys. 2000, 112, 2498. (d) Self, K. W.; Pelzel, R. I.; Owen, J. H. G.; Yan, C.; Widdra, W.; Weinberg, W. H. J. Vac. Sci. Technol., A 1998, 16, 1031. (e) Lopinski, G. P.; Fortier, T. M.; Moffatt, D. J.; Wolkow, R. A. J. Vac. Sci. Technol., A 1998, 16, 1037. (f) Borovsky, B.; Krueger, M.; Ganz, E. Phys. Rev. B 1998, 57, R4269. (g) Gokhale, S.; Trischberger, P.; Menzel, D.; Widdra, W.; Droge, H.; Steinruck, H. P.; Birkenheuer, U.; Gutdeutsch, U.; Rösch, N. J. Chem. Phys. 1998, 108, 5554.
-
(1998)
J. Vac. Sci. Technol. A
, vol.16
, pp. 1031
-
-
Self, K.W.1
Pelzel, R.I.2
Owen, J.H.G.3
Yan, C.4
Widdra, W.5
Weinberg, W.H.6
-
22
-
-
0001080049
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of benzene on Si(100), see: (a) Hofer, W. A.; Fisher, A. J.; Lopinski, G. P.; Wolkow, R. A. Phys. Rev. B 2001, 61, 085314. (b) Alavi, S.; Rousseau, R.; Patitsas, S. N.; Lopinski, G. P.; Wolkow, R. A.; Seideman, T. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 5327. (c) Staufer, M.; Birkenheuer, U.; Belling, T.; Nortemann, F.; Rösch, N.; Widdra, W.; Kostov, K. L.; Moritz, T.; Menzel, D. J. Chem. Phys. 2000, 112, 2498. (d) Self, K. W.; Pelzel, R. I.; Owen, J. H. G.; Yan, C.; Widdra, W.; Weinberg, W. H. J. Vac. Sci. Technol., A 1998, 16, 1031. (e) Lopinski, G. P.; Fortier, T. M.; Moffatt, D. J.; Wolkow, R. A. J. Vac. Sci. Technol., A 1998, 16, 1037. (f) Borovsky, B.; Krueger, M.; Ganz, E. Phys. Rev. B 1998, 57, R4269. (g) Gokhale, S.; Trischberger, P.; Menzel, D.; Widdra, W.; Droge, H.; Steinruck, H. P.; Birkenheuer, U.; Gutdeutsch, U.; Rösch, N. J. Chem. Phys. 1998, 108, 5554.
-
(1998)
J. Vac. Sci. Technol. A
, vol.16
, pp. 1037
-
-
Lopinski, G.P.1
Fortier, T.M.2
Moffatt, D.J.3
Wolkow, R.A.4
-
23
-
-
0000152598
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of benzene on Si(100), see: (a) Hofer, W. A.; Fisher, A. J.; Lopinski, G. P.; Wolkow, R. A. Phys. Rev. B 2001, 61, 085314. (b) Alavi, S.; Rousseau, R.; Patitsas, S. N.; Lopinski, G. P.; Wolkow, R. A.; Seideman, T. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 5327. (c) Staufer, M.; Birkenheuer, U.; Belling, T.; Nortemann, F.; Rösch, N.; Widdra, W.; Kostov, K. L.; Moritz, T.; Menzel, D. J. Chem. Phys. 2000, 112, 2498. (d) Self, K. W.; Pelzel, R. I.; Owen, J. H. G.; Yan, C.; Widdra, W.; Weinberg, W. H. J. Vac. Sci. Technol., A 1998, 16, 1031. (e) Lopinski, G. P.; Fortier, T. M.; Moffatt, D. J.; Wolkow, R. A. J. Vac. Sci. Technol., A 1998, 16, 1037. (f) Borovsky, B.; Krueger, M.; Ganz, E. Phys. Rev. B 1998, 57, R4269. (g) Gokhale, S.; Trischberger, P.; Menzel, D.; Widdra, W.; Droge, H.; Steinruck, H. P.; Birkenheuer, U.; Gutdeutsch, U.; Rösch, N. J. Chem. Phys. 1998, 108, 5554.
-
(1998)
Phys. Rev. B
, vol.57
-
-
Borovsky, B.1
Krueger, M.2
Ganz, E.3
-
24
-
-
0001197411
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of benzene on Si(100), see: (a) Hofer, W. A.; Fisher, A. J.; Lopinski, G. P.; Wolkow, R. A. Phys. Rev. B 2001, 61, 085314. (b) Alavi, S.; Rousseau, R.; Patitsas, S. N.; Lopinski, G. P.; Wolkow, R. A.; Seideman, T. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 5327. (c) Staufer, M.; Birkenheuer, U.; Belling, T.; Nortemann, F.; Rösch, N.; Widdra, W.; Kostov, K. L.; Moritz, T.; Menzel, D. J. Chem. Phys. 2000, 112, 2498. (d) Self, K. W.; Pelzel, R. I.; Owen, J. H. G.; Yan, C.; Widdra, W.; Weinberg, W. H. J. Vac. Sci. Technol., A 1998, 16, 1031. (e) Lopinski, G. P.; Fortier, T. M.; Moffatt, D. J.; Wolkow, R. A. J. Vac. Sci. Technol., A 1998, 16, 1037. (f) Borovsky, B.; Krueger, M.; Ganz, E. Phys. Rev. B 1998, 57, R4269. (g) Gokhale, S.; Trischberger, P.; Menzel, D.; Widdra, W.; Droge, H.; Steinruck, H. P.; Birkenheuer, U.; Gutdeutsch, U.; Rösch, N. J. Chem. Phys. 1998, 108, 5554.
-
(1998)
J. Chem. Phys.
, vol.108
, pp. 5554
-
-
Gokhale, S.1
Trischberger, P.2
Menzel, D.3
Widdra, W.4
Droge, H.5
Steinruck, H.P.6
Birkenheuer, U.7
Gutdeutsch, U.8
Rösch, N.9
-
25
-
-
0000821420
-
-
(a) Silvestrelli, P. L.; Ancilotto, F.; Toigo, F. Phys. Rev. B 2000, 62, 1596.
-
(2000)
Phys. Rev. B
, vol.62
, pp. 1596
-
-
Silvestrelli, P.L.1
Ancilotto, F.2
Toigo, F.3
-
26
-
-
0034622747
-
-
(b) Alavi, S.; Rousseau, R.; Seideman, T. J. Chem. Phys. 2000, 113, 4412.
-
(2000)
J. Chem. Phys.
, vol.113
, pp. 4412
-
-
Alavi, S.1
Rousseau, R.2
Seideman, T.3
-
27
-
-
0032119912
-
-
(c) Birkenheuer, U.; Gutdeutsch, U.; Rosch, N. Surf. Sci. 1998, 409, 213.
-
(1998)
Surf. Sci.
, vol.409
, pp. 213
-
-
Birkenheuer, U.1
Gutdeutsch, U.2
Rosch, N.3
-
29
-
-
0029486629
-
-
(e) Jeong, H. D.; Ryu, S.; Lee, Y. S.; Kim, S. Surf Sci. 1995, 344, L1226.
-
(1995)
Surf Sci.
, vol.344
-
-
Jeong, H.D.1
Ryu, S.2
Lee, Y.S.3
Kim, S.4
-
30
-
-
0035575732
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of thiophene on Si(100), see: (a) Rousseau, G. B. D.; Dhanak, V.; Kadodwala, M. Surf. Sci. 2001, 494, 251. (b) Qiao, M. H.; Cao, Y.; Tao, F.; Liu, Q.; Deng, J. F.; Xu, G. Q. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 11211. (c) Jeong, H. D.; Lee, Y. S.; Kim, S. J. Chem. Phys. 1996, 105, 5200.
-
(2001)
Surf. Sci.
, vol.494
, pp. 251
-
-
Rousseau, G.B.D.1
Dhanak, V.2
Kadodwala, M.3
-
31
-
-
0034735814
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of thiophene on Si(100), see: (a) Rousseau, G. B. D.; Dhanak, V.; Kadodwala, M. Surf. Sci. 2001, 494, 251. (b) Qiao, M. H.; Cao, Y.; Tao, F.; Liu, Q.; Deng, J. F.; Xu, G. Q. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 11211. (c) Jeong, H. D.; Lee, Y. S.; Kim, S. J. Chem. Phys. 1996, 105, 5200.
-
(2000)
J. Phys. Chem. B
, vol.104
, pp. 11211
-
-
Qiao, M.H.1
Cao, Y.2
Tao, F.3
Liu, Q.4
Deng, J.F.5
Xu, G.Q.6
-
32
-
-
0001439706
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of thiophene on Si(100), see: (a) Rousseau, G. B. D.; Dhanak, V.; Kadodwala, M. Surf. Sci. 2001, 494, 251. (b) Qiao, M. H.; Cao, Y.; Tao, F.; Liu, Q.; Deng, J. F.; Xu, G. Q. J. Phys. Chem. B 2000, 104, 11211. (c) Jeong, H. D.; Lee, Y. S.; Kim, S. J. Chem. Phys. 1996, 105, 5200.
-
(1996)
J. Chem. Phys.
, vol.105
, pp. 5200
-
-
Jeong, H.D.1
Lee, Y.S.2
Kim, S.3
-
33
-
-
0035909201
-
-
(a) Lu, X.; Xu. X.; Wang, N.; Zhang, Q.; Lin, M. C. J. Phys. Chem. B 2001, 105, 10069.
-
(2001)
J. Phys. Chem. B
, vol.105
, pp. 10069
-
-
Lu, X.1
Xu, X.2
Wang, N.3
Zhang, Q.4
Lin, M.C.5
-
34
-
-
0010188358
-
-
(b) Lu, X.; Lin, M. C.; Xu, X.; Wang, N.; Zhang, Q. PhysChemComm 2001, 13.
-
(2001)
PhysChemComm.
, pp. 13
-
-
Lu, X.1
Lin, M.C.2
Xu, X.3
Wang, N.4
Zhang, Q.5
-
35
-
-
0036170298
-
-
Lu, X.; Xu, X.; Wang, N.; Zhang, Q. New J. Chem. 2002, 26, 160.
-
(2002)
New J. Chem.
, vol.26
, pp. 160
-
-
Lu, X.1
Xu, X.2
Wang, N.3
Zhang, Q.4
-
36
-
-
0038800238
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of benzene on Si(111), see: (a) Tomimoto, H.; Takehara, T.; Fukawa, K.; Sumii, R.; Sekitani, T.; Tanaka, K. Surf. Sci. 2003, 526, 343. (b) Kawasaki, T.; Sakai, D.; Kishimoto, H.; Akbar, A. A.; Ogawa, T.; Oshima, C. Surf. Interface Anal. 2001, 31, 126. (c) Cao, Y.; Wei, X. M.; Chin, W. S.; Lai, Y. H.; Deng, J. F.; Bernasek, S. L.; Xu, G. Q. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 5698. (d) Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Casaletto, M. P.; Zanoni, R.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L. Phys. Rev. B 2000, 61, 8531. (e) Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Zanoni, R.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L. Surf. Sci. 1998, 407, 275. (f) Taguchi, Y.; Ohta, Y.; Katsumi, T.; Ichikawa, K.; Aita, O. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 88, 671. (g) Brown, D. E.; Moffatt, D. J.; Wolkow, R. A. Science 1998, 279. 542. (h) Wolkow, R. A.; Moffatt, D. J. Chem. Phys. 1995, 103, 10696. (i) Macpherson, C. D.; Hu, D. Q.; Leung, K. T. Solid State Commun. 1991, 80, 217. (j) Taguchi, Y.; Fujisawa, M.; Nishijima, M. Chem. Phys. Lett. 1991, 78, 363.
-
(2003)
Surf. Sci.
, vol.526
, pp. 343
-
-
Tomimoto, H.1
Takehara, T.2
Fukawa, K.3
Sumii, R.4
Sekitani, T.5
Tanaka, K.6
-
37
-
-
0035248004
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of benzene on Si(111), see: (a) Tomimoto, H.; Takehara, T.; Fukawa, K.; Sumii, R.; Sekitani, T.; Tanaka, K. Surf. Sci. 2003, 526, 343. (b) Kawasaki, T.; Sakai, D.; Kishimoto, H.; Akbar, A. A.; Ogawa, T.; Oshima, C. Surf. Interface Anal. 2001, 31, 126. (c) Cao, Y.; Wei, X. M.; Chin, W. S.; Lai, Y. H.; Deng, J. F.; Bernasek, S. L.; Xu, G. Q. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 5698. (d) Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Casaletto, M. P.; Zanoni, R.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L. Phys. Rev. B 2000, 61, 8531. (e) Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Zanoni, R.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L. Surf. Sci. 1998, 407, 275. (f) Taguchi, Y.; Ohta, Y.; Katsumi, T.; Ichikawa, K.; Aita, O. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 88, 671. (g) Brown, D. E.; Moffatt, D. J.; Wolkow, R. A. Science 1998, 279. 542. (h) Wolkow, R. A.; Moffatt, D. J. Chem. Phys. 1995, 103, 10696. (i) Macpherson, C. D.; Hu, D. Q.; Leung, K. T. Solid State Commun. 1991, 80, 217. (j) Taguchi, Y.; Fujisawa, M.; Nishijima, M. Chem. Phys. Lett. 1991, 78, 363.
-
(2001)
Surf. Interface Anal.
, vol.31
, pp. 126
-
-
Kawasaki, T.1
Sakai, D.2
Kishimoto, H.3
Akbar, A.A.4
Ogawa, T.5
Oshima, C.6
-
38
-
-
0000670046
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of benzene on Si(111), see: (a) Tomimoto, H.; Takehara, T.; Fukawa, K.; Sumii, R.; Sekitani, T.; Tanaka, K. Surf. Sci. 2003, 526, 343. (b) Kawasaki, T.; Sakai, D.; Kishimoto, H.; Akbar, A. A.; Ogawa, T.; Oshima, C. Surf. Interface Anal. 2001, 31, 126. (c) Cao, Y.; Wei, X. M.; Chin, W. S.; Lai, Y. H.; Deng, J. F.; Bernasek, S. L.; Xu, G. Q. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 5698. (d) Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Casaletto, M. P.; Zanoni, R.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L. Phys. Rev. B 2000, 61, 8531. (e) Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Zanoni, R.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L. Surf. Sci. 1998, 407, 275. (f) Taguchi, Y.; Ohta, Y.; Katsumi, T.; Ichikawa, K.; Aita, O. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 88, 671. (g) Brown, D. E.; Moffatt, D. J.; Wolkow, R. A. Science 1998, 279. 542. (h) Wolkow, R. A.; Moffatt, D. J. Chem. Phys. 1995, 103, 10696. (i) Macpherson, C. D.; Hu, D. Q.; Leung, K. T. Solid State Commun. 1991, 80, 217. (j) Taguchi, Y.; Fujisawa, M.; Nishijima, M. Chem. Phys. Lett. 1991, 78, 363.
-
(1999)
J. Phys. Chem. B
, vol.103
, pp. 5698
-
-
Cao, Y.1
Wei, X.M.2
Chin, W.S.3
Lai, Y.H.4
Deng, J.F.5
Bernasek, S.L.6
Xu, G.Q.7
-
39
-
-
0000550529
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of benzene on Si(111), see: (a) Tomimoto, H.; Takehara, T.; Fukawa, K.; Sumii, R.; Sekitani, T.; Tanaka, K. Surf. Sci. 2003, 526, 343. (b) Kawasaki, T.; Sakai, D.; Kishimoto, H.; Akbar, A. A.; Ogawa, T.; Oshima, C. Surf. Interface Anal. 2001, 31, 126. (c) Cao, Y.; Wei, X. M.; Chin, W. S.; Lai, Y. H.; Deng, J. F.; Bernasek, S. L.; Xu, G. Q. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 5698. (d) Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Casaletto, M. P.; Zanoni, R.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L. Phys. Rev. B 2000, 61, 8531. (e) Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Zanoni, R.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L. Surf. Sci. 1998, 407, 275. (f) Taguchi, Y.; Ohta, Y.; Katsumi, T.; Ichikawa, K.; Aita, O. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 88, 671. (g) Brown, D. E.; Moffatt, D. J.; Wolkow, R. A. Science 1998, 279. 542. (h) Wolkow, R. A.; Moffatt, D. J. Chem. Phys. 1995, 103, 10696. (i) Macpherson, C. D.; Hu, D. Q.; Leung, K. T. Solid State Commun. 1991, 80, 217. (j) Taguchi, Y.; Fujisawa, M.; Nishijima, M. Chem. Phys. Lett. 1991, 78, 363.
-
(2000)
Phys. Rev. B
, vol.61
, pp. 8531
-
-
Carbone, M.1
Piancastelli, M.N.2
Casaletto, M.P.3
Zanoni, R.4
Comtet, G.5
Dujardin, G.6
Hellner, L.7
-
40
-
-
0032099743
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of benzene on Si(111), see: (a) Tomimoto, H.; Takehara, T.; Fukawa, K.; Sumii, R.; Sekitani, T.; Tanaka, K. Surf. Sci. 2003, 526, 343. (b) Kawasaki, T.; Sakai, D.; Kishimoto, H.; Akbar, A. A.; Ogawa, T.; Oshima, C. Surf. Interface Anal. 2001, 31, 126. (c) Cao, Y.; Wei, X. M.; Chin, W. S.; Lai, Y. H.; Deng, J. F.; Bernasek, S. L.; Xu, G. Q. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 5698. (d) Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Casaletto, M. P.; Zanoni, R.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L. Phys. Rev. B 2000, 61, 8531. (e) Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Zanoni, R.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L. Surf. Sci. 1998, 407, 275. (f) Taguchi, Y.; Ohta, Y.; Katsumi, T.; Ichikawa, K.; Aita, O. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 88, 671. (g) Brown, D. E.; Moffatt, D. J.; Wolkow, R. A. Science 1998, 279. 542. (h) Wolkow, R. A.; Moffatt, D. J. Chem. Phys. 1995, 103, 10696. (i) Macpherson, C. D.; Hu, D. Q.; Leung, K. T. Solid State Commun. 1991, 80, 217. (j) Taguchi, Y.; Fujisawa, M.; Nishijima, M. Chem. Phys. Lett. 1991, 78, 363.
-
(1998)
Surf. Sci.
, vol.407
, pp. 275
-
-
Carbone, M.1
Piancastelli, M.N.2
Zanoni, R.3
Comtet, G.4
Dujardin, G.5
Hellner, L.6
-
41
-
-
0001544507
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of benzene on Si(111), see: (a) Tomimoto, H.; Takehara, T.; Fukawa, K.; Sumii, R.; Sekitani, T.; Tanaka, K. Surf. Sci. 2003, 526, 343. (b) Kawasaki, T.; Sakai, D.; Kishimoto, H.; Akbar, A. A.; Ogawa, T.; Oshima, C. Surf. Interface Anal. 2001, 31, 126. (c) Cao, Y.; Wei, X. M.; Chin, W. S.; Lai, Y. H.; Deng, J. F.; Bernasek, S. L.; Xu, G. Q. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 5698. (d) Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Casaletto, M. P.; Zanoni, R.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L. Phys. Rev. B 2000, 61, 8531. (e) Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Zanoni, R.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L. Surf. Sci. 1998, 407, 275. (f) Taguchi, Y.; Ohta, Y.; Katsumi, T.; Ichikawa, K.; Aita, O. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 88, 671. (g) Brown, D. E.; Moffatt, D. J.; Wolkow, R. A. Science 1998, 279. 542. (h) Wolkow, R. A.; Moffatt, D. J. Chem. Phys. 1995, 103, 10696. (i) Macpherson, C. D.; Hu, D. Q.; Leung, K. T. Solid State Commun. 1991, 80, 217. (j) Taguchi, Y.; Fujisawa, M.; Nishijima, M. Chem. Phys. Lett. 1991, 78, 363.
-
(1998)
J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom.
, vol.88
, pp. 671
-
-
Taguchi, Y.1
Ohta, Y.2
Katsumi, T.3
Ichikawa, K.4
Aita, O.5
-
42
-
-
0032559216
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of benzene on Si(111), see: (a) Tomimoto, H.; Takehara, T.; Fukawa, K.; Sumii, R.; Sekitani, T.; Tanaka, K. Surf. Sci. 2003, 526, 343. (b) Kawasaki, T.; Sakai, D.; Kishimoto, H.; Akbar, A. A.; Ogawa, T.; Oshima, C. Surf. Interface Anal. 2001, 31, 126. (c) Cao, Y.; Wei, X. M.; Chin, W. S.; Lai, Y. H.; Deng, J. F.; Bernasek, S. L.; Xu, G. Q. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 5698. (d) Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Casaletto, M. P.; Zanoni, R.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L. Phys. Rev. B 2000, 61, 8531. (e) Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Zanoni, R.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L. Surf. Sci. 1998, 407, 275. (f) Taguchi, Y.; Ohta, Y.; Katsumi, T.; Ichikawa, K.; Aita, O. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 88, 671. (g) Brown, D. E.; Moffatt, D. J.; Wolkow, R. A. Science 1998, 279. 542. (h) Wolkow, R. A.; Moffatt, D. J. Chem. Phys. 1995, 103, 10696. (i) Macpherson, C. D.; Hu, D. Q.; Leung, K. T. Solid State Commun. 1991, 80, 217. (j) Taguchi, Y.; Fujisawa, M.; Nishijima, M. Chem. Phys. Lett. 1991, 78, 363.
-
(1998)
Science
, vol.279
, pp. 542
-
-
Brown, D.E.1
Moffatt, D.J.2
Wolkow, R.A.3
-
43
-
-
0001648089
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of benzene on Si(111), see: (a) Tomimoto, H.; Takehara, T.; Fukawa, K.; Sumii, R.; Sekitani, T.; Tanaka, K. Surf. Sci. 2003, 526, 343. (b) Kawasaki, T.; Sakai, D.; Kishimoto, H.; Akbar, A. A.; Ogawa, T.; Oshima, C. Surf. Interface Anal. 2001, 31, 126. (c) Cao, Y.; Wei, X. M.; Chin, W. S.; Lai, Y. H.; Deng, J. F.; Bernasek, S. L.; Xu, G. Q. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 5698. (d) Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Casaletto, M. P.; Zanoni, R.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L. Phys. Rev. B 2000, 61, 8531. (e) Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Zanoni, R.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L. Surf. Sci. 1998, 407, 275. (f) Taguchi, Y.; Ohta, Y.; Katsumi, T.; Ichikawa, K.; Aita, O. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 88, 671. (g) Brown, D. E.; Moffatt, D. J.; Wolkow, R. A. Science 1998, 279. 542. (h) Wolkow, R. A.; Moffatt, D. J. Chem. Phys. 1995, 103, 10696. (i) Macpherson, C. D.; Hu, D. Q.; Leung, K. T. Solid State Commun. 1991, 80, 217. (j) Taguchi, Y.; Fujisawa, M.; Nishijima, M. Chem. Phys. Lett. 1991, 78, 363.
-
(1995)
J. Chem. Phys.
, vol.103
, pp. 10696
-
-
Wolkow, R.A.1
Moffatt, D.2
-
44
-
-
0026242547
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of benzene on Si(111), see: (a) Tomimoto, H.; Takehara, T.; Fukawa, K.; Sumii, R.; Sekitani, T.; Tanaka, K. Surf. Sci. 2003, 526, 343. (b) Kawasaki, T.; Sakai, D.; Kishimoto, H.; Akbar, A. A.; Ogawa, T.; Oshima, C. Surf. Interface Anal. 2001, 31, 126. (c) Cao, Y.; Wei, X. M.; Chin, W. S.; Lai, Y. H.; Deng, J. F.; Bernasek, S. L.; Xu, G. Q. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 5698. (d) Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Casaletto, M. P.; Zanoni, R.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L. Phys. Rev. B 2000, 61, 8531. (e) Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Zanoni, R.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L. Surf. Sci. 1998, 407, 275. (f) Taguchi, Y.; Ohta, Y.; Katsumi, T.; Ichikawa, K.; Aita, O. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 88, 671. (g) Brown, D. E.; Moffatt, D. J.; Wolkow, R. A. Science 1998, 279. 542. (h) Wolkow, R. A.; Moffatt, D. J. Chem. Phys. 1995, 103, 10696. (i) Macpherson, C. D.; Hu, D. Q.; Leung, K. T. Solid State Commun. 1991, 80, 217. (j) Taguchi, Y.; Fujisawa, M.; Nishijima, M. Chem. Phys. Lett. 1991, 78, 363.
-
(1991)
Solid State Commun.
, vol.80
, pp. 217
-
-
Macpherson, C.D.1
Hu, D.Q.2
Leung, K.T.3
-
45
-
-
0001011541
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of benzene on Si(111), see: (a) Tomimoto, H.; Takehara, T.; Fukawa, K.; Sumii, R.; Sekitani, T.; Tanaka, K. Surf. Sci. 2003, 526, 343. (b) Kawasaki, T.; Sakai, D.; Kishimoto, H.; Akbar, A. A.; Ogawa, T.; Oshima, C. Surf. Interface Anal. 2001, 31, 126. (c) Cao, Y.; Wei, X. M.; Chin, W. S.; Lai, Y. H.; Deng, J. F.; Bernasek, S. L.; Xu, G. Q. J. Phys. Chem. B 1999, 103, 5698. (d) Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Casaletto, M. P.; Zanoni, R.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L. Phys. Rev. B 2000, 61, 8531. (e) Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Zanoni, R.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L. Surf. Sci. 1998, 407, 275. (f) Taguchi, Y.; Ohta, Y.; Katsumi, T.; Ichikawa, K.; Aita, O. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1998, 88, 671. (g) Brown, D. E.; Moffatt, D. J.; Wolkow, R. A. Science 1998, 279. 542. (h) Wolkow, R. A.; Moffatt, D. J. Chem. Phys. 1995, 103, 10696. (i) Macpherson, C. D.; Hu, D. Q.; Leung, K. T. Solid State Commun. 1991, 80, 217. (j) Taguchi, Y.; Fujisawa, M.; Nishijima, M. Chem. Phys. Lett. 1991, 78, 363.
-
(1991)
Chem. Phys. Lett.
, vol.78
, pp. 363
-
-
Taguchi, Y.1
Fujisawa, M.2
Nishijima, M.3
-
46
-
-
0035880689
-
-
(a) Cao, Y.; Yong, K. S.; Wang, Z. H.; Deng, J. F.; Lai, Y. H.; Xu, G. Q. J. Chem. Phys. 2001, 115, 3287.
-
(2001)
J. Chem. Phys.
, vol.115
, pp. 3287
-
-
Cao, Y.1
Yong, K.S.2
Wang, Z.H.3
Deng, J.F.4
Lai, Y.H.5
Xu, G.Q.6
-
47
-
-
0343621492
-
-
(b) Cao, Y.; Yong, K. S.; Wang, Z. Q.; Chin, W. S.; Lai, Y. H.; Deng, J. F.; Xu, G. Q. J. Am. Chem. Soc. 2000, 122, 1812.
-
(2000)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.122
, pp. 1812
-
-
Cao, Y.1
Yong, K.S.2
Wang, Z.Q.3
Chin, W.S.4
Lai, Y.H.5
Deng, J.F.6
Xu, G.Q.7
-
48
-
-
0033877244
-
-
(c) Letarte, S.; Adnot, A.; Roy, D. Surf. Sci. 2000, 448, 212.
-
(2000)
Surf. Sci.
, vol.448
, pp. 212
-
-
Letarte, S.1
Adnot, A.2
Roy, D.3
-
50
-
-
0026938089
-
-
(e) Macpherson, C. D.; Hu, D. Q.; Leung, K. T. Surf. Sci. 1992, 276, 156.
-
(1992)
Surf. Sci.
, vol.276
, pp. 156
-
-
Macpherson, C.D.1
Hu, D.Q.2
Leung, K.T.3
-
51
-
-
0026172075
-
-
(f) Hu, D. Q.; Macpherson, C. D.; Leung, K. T. Solid State Commun. 1991, 78, 1077.
-
(1991)
Solid State Commun.
, vol.78
, pp. 1077
-
-
Hu, D.Q.1
Macpherson, C.D.2
Leung, K.T.3
-
52
-
-
0002273308
-
-
(a) Wang, Z. H.; Cao, Y.; Xu, G. Q. Chem. Phys. Lett. 2001, 338, 7.
-
(2001)
Chem. Phys. Lett.
, vol.338
, pp. 7
-
-
Wang, Z.H.1
Cao, Y.2
Xu, G.Q.3
-
53
-
-
0037785608
-
-
(b) Li, Y. C.; Wang, W. N.; Cao, Y.; Fan, K. N. Acta Chim. Sin. 2002, 60, 653.
-
(2002)
Acta Chim. Sin.
, vol.60
, pp. 653
-
-
Li, Y.C.1
Wang, W.N.2
Cao, Y.3
Fan, K.N.4
-
54
-
-
0000742903
-
-
For experiments on the adsorption of ethylene on Si(111), see: (a) Rochet, F.; Jolly, F.; Bournel, F.; Dufour, G.; Sirotti, F.; Cantin, J. L. Phys. Rev. B 1998, 58, 11029. (b) Kusunoki, I.; Takagaki, T.; Ishidzuka, S.; Igari, Y.; Takaoka, T. Surf. Sci. 1997, 380, 131. (c) Carbone, M.; Zanoni, R.; Piancastelli, M. N.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L.; Mayner, A. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1995, 76, 271. (d) Piancastelli, M. N.; Motta, N.; Sgarlata, A.; Balzarotti, A.; Decrescenzi, M. Phys. Rev. B 1993, 48, 17892. (e) Yshinobu, J.; Tsuda, H.; Onchi, M.; Nishijima, M. Solid State Commun. 1986, 60, 861.
-
(1998)
Phys. Rev. B
, vol.58
, pp. 11029
-
-
Rochet, F.1
Jolly, F.2
Bournel, F.3
Dufour, G.4
Sirotti, F.5
Cantin, J.L.6
-
55
-
-
0031141184
-
-
For experiments on the adsorption of ethylene on Si(111), see: (a) Rochet, F.; Jolly, F.; Bournel, F.; Dufour, G.; Sirotti, F.; Cantin, J. L. Phys. Rev. B 1998, 58, 11029. (b) Kusunoki, I.; Takagaki, T.; Ishidzuka, S.; Igari, Y.; Takaoka, T. Surf. Sci. 1997, 380, 131. (c) Carbone, M.; Zanoni, R.; Piancastelli, M. N.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L.; Mayner, A. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1995, 76, 271. (d) Piancastelli, M. N.; Motta, N.; Sgarlata, A.; Balzarotti, A.; Decrescenzi, M. Phys. Rev. B 1993, 48, 17892. (e) Yshinobu, J.; Tsuda, H.; Onchi, M.; Nishijima, M. Solid State Commun. 1986, 60, 861.
-
(1997)
Surf. Sci.
, vol.380
, pp. 131
-
-
Kusunoki, I.1
Takagaki, T.2
Ishidzuka, S.3
Igari, Y.4
Takaoka, T.5
-
56
-
-
0013063102
-
-
For experiments on the adsorption of ethylene on Si(111), see: (a) Rochet, F.; Jolly, F.; Bournel, F.; Dufour, G.; Sirotti, F.; Cantin, J. L. Phys. Rev. B 1998, 58, 11029. (b) Kusunoki, I.; Takagaki, T.; Ishidzuka, S.; Igari, Y.; Takaoka, T. Surf. Sci. 1997, 380, 131. (c) Carbone, M.; Zanoni, R.; Piancastelli, M. N.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L.; Mayner, A. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1995, 76, 271. (d) Piancastelli, M. N.; Motta, N.; Sgarlata, A.; Balzarotti, A.; Decrescenzi, M. Phys. Rev. B 1993, 48, 17892. (e) Yshinobu, J.; Tsuda, H.; Onchi, M.; Nishijima, M. Solid State Commun. 1986, 60, 861.
-
(1995)
Electron Spectrosc. Relat. Phenom.
, vol.76
, pp. 271
-
-
Carbone, M.1
Zanoni, R.2
Piancastelli, M.N.3
Comtet, G.4
Dujardin, G.5
Hellner, L.6
Mayner, A.J.7
-
57
-
-
0000663348
-
-
For experiments on the adsorption of ethylene on Si(111), see: (a) Rochet, F.; Jolly, F.; Bournel, F.; Dufour, G.; Sirotti, F.; Cantin, J. L. Phys. Rev. B 1998, 58, 11029. (b) Kusunoki, I.; Takagaki, T.; Ishidzuka, S.; Igari, Y.; Takaoka, T. Surf. Sci. 1997, 380, 131. (c) Carbone, M.; Zanoni, R.; Piancastelli, M. N.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L.; Mayner, A. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1995, 76, 271. (d) Piancastelli, M. N.; Motta, N.; Sgarlata, A.; Balzarotti, A.; Decrescenzi, M. Phys. Rev. B 1993, 48, 17892. (e) Yshinobu, J.; Tsuda, H.; Onchi, M.; Nishijima, M. Solid State Commun. 1986, 60, 861.
-
(1993)
Phys. Rev. B
, vol.48
, pp. 17892
-
-
Piancastelli, M.N.1
Motta, N.2
Sgarlata, A.3
Balzarotti, A.4
Decrescenzi, M.5
-
58
-
-
0000742903
-
-
For experiments on the adsorption of ethylene on Si(111), see: (a) Rochet, F.; Jolly, F.; Bournel, F.; Dufour, G.; Sirotti, F.; Cantin, J. L. Phys. Rev. B 1998, 58, 11029. (b) Kusunoki, I.; Takagaki, T.; Ishidzuka, S.; Igari, Y.; Takaoka, T. Surf. Sci. 1997, 380, 131. (c) Carbone, M.; Zanoni, R.; Piancastelli, M. N.; Comtet, G.; Dujardin, G.; Hellner, L.; Mayner, A. J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1995, 76, 271. (d) Piancastelli, M. N.; Motta, N.; Sgarlata, A.; Balzarotti, A.; Decrescenzi, M. Phys. Rev. B 1993, 48, 17892. (e) Yshinobu, J.; Tsuda, H.; Onchi, M.; Nishijima, M. Solid State Commun. 1986, 60, 861.
-
(1986)
Solid State Commun.
, vol.60
, pp. 861
-
-
Yshinobu, J.1
Tsuda, H.2
Onchi, M.3
Nishijima, M.4
-
59
-
-
0035852190
-
-
For experiments on the adsorption of acetylene on Si(111), see: (a) De Renzi, V.; Biagi, R.; del Pennino, U. Appl. Surf. Sci. 2001, 184, 90. (b) De Renzi, V.; Biagi, R.; del Pennino. U. Phys. Rev. B 2001, 64, 155305. (c) Rochet, F.; Dufour, G.; Prieto, P.; Sirotti, F.; Stedile, F. C. Phys. Rev. B 1997, 57, 6738. (d) Yoshinobu, J.; Fukushi, D.; Uda, M.; Nomura, E.; Aono, M. Phys. Rev. B 1992, 46, 9520. (e) Yshinobu, J.; Tsuda, H.; Onchi, M.; Nishijima, M. Chem. Phys. Lett. 1986, 130, 170.
-
(2001)
Appl. Surf. Sci.
, vol.184
, pp. 90
-
-
De Renzi, V.1
Biagi, R.2
Del Pennino, U.3
-
60
-
-
0035887155
-
-
For experiments on the adsorption of acetylene on Si(111), see: (a) De Renzi, V.; Biagi, R.; del Pennino, U. Appl. Surf. Sci. 2001, 184, 90. (b) De Renzi, V.; Biagi, R.; del Pennino. U. Phys. Rev. B 2001, 64, 155305. (c) Rochet, F.; Dufour, G.; Prieto, P.; Sirotti, F.; Stedile, F. C. Phys. Rev. B 1997, 57, 6738. (d) Yoshinobu, J.; Fukushi, D.; Uda, M.; Nomura, E.; Aono, M. Phys. Rev. B 1992, 46, 9520. (e) Yshinobu, J.; Tsuda, H.; Onchi, M.; Nishijima, M. Chem. Phys. Lett. 1986, 130, 170.
-
(2001)
Phys. Rev. B
, vol.64
, pp. 155305
-
-
De Renzi, V.1
Biagi, R.2
Del Pennino, U.3
-
61
-
-
0000555440
-
-
For experiments on the adsorption of acetylene on Si(111), see: (a) De Renzi, V.; Biagi, R.; del Pennino, U. Appl. Surf. Sci. 2001, 184, 90. (b) De Renzi, V.; Biagi, R.; del Pennino. U. Phys. Rev. B 2001, 64, 155305. (c) Rochet, F.; Dufour, G.; Prieto, P.; Sirotti, F.; Stedile, F. C. Phys. Rev. B 1997, 57, 6738. (d) Yoshinobu, J.; Fukushi, D.; Uda, M.; Nomura, E.; Aono, M. Phys. Rev. B 1992, 46, 9520. (e) Yshinobu, J.; Tsuda, H.; Onchi, M.; Nishijima, M. Chem. Phys. Lett. 1986, 130, 170.
-
(1997)
Phys. Rev. B
, vol.57
, pp. 6738
-
-
Rochet, F.1
Dufour, G.2
Prieto, P.3
Sirotti, F.4
Stedile, F.C.5
-
62
-
-
0000316298
-
-
For experiments on the adsorption of acetylene on Si(111), see: (a) De Renzi, V.; Biagi, R.; del Pennino, U. Appl. Surf. Sci. 2001, 184, 90. (b) De Renzi, V.; Biagi, R.; del Pennino. U. Phys. Rev. B 2001, 64, 155305. (c) Rochet, F.; Dufour, G.; Prieto, P.; Sirotti, F.; Stedile, F. C. Phys. Rev. B 1997, 57, 6738. (d) Yoshinobu, J.; Fukushi, D.; Uda, M.; Nomura, E.; Aono, M. Phys. Rev. B 1992, 46, 9520. (e) Yshinobu, J.; Tsuda, H.; Onchi, M.; Nishijima, M. Chem. Phys. Lett. 1986, 130, 170.
-
(1992)
Phys. Rev. B
, vol.46
, pp. 9520
-
-
Yoshinobu, J.1
Fukushi, D.2
Uda, M.3
Nomura, E.4
Aono, M.5
-
63
-
-
0000457220
-
-
For experiments on the adsorption of acetylene on Si(111), see: (a) De Renzi, V.; Biagi, R.; del Pennino, U. Appl. Surf. Sci. 2001, 184, 90. (b) De Renzi, V.; Biagi, R.; del Pennino. U. Phys. Rev. B 2001, 64, 155305. (c) Rochet, F.; Dufour, G.; Prieto, P.; Sirotti, F.; Stedile, F. C. Phys. Rev. B 1997, 57, 6738. (d) Yoshinobu, J.; Fukushi, D.; Uda, M.; Nomura, E.; Aono, M. Phys. Rev. B 1992, 46, 9520. (e) Yshinobu, J.; Tsuda, H.; Onchi, M.; Nishijima, M. Chem. Phys. Lett. 1986, 130, 170.
-
(1986)
Chem. Phys. Lett.
, vol.130
, pp. 170
-
-
Yshinobu, J.1
Tsuda, H.2
Onchi, M.3
Nishijima, M.4
-
64
-
-
0037105099
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of ethylene on Si(100), see: (a) Yeom, H. W.; Baek, S. Y.; Kim, J. W.; Lee, H. S.; Koh, H. Phys. Rev. B 2002, 66, 115308. (b) Nagao, M.; Yamashita, Y.; Machida, S.; Hamaguchi, K.; Yasui, F.; Mukai, K.; Yoshinobu, J. Surf. Sci. 2002, 513, 413. (c) Shimomura, M.; Munakata, M.; Iwasaki, A.; Ikeda, M.; Abukawa, T.; Sato, K.; Kawawa, T.; Shimizu, H.; Nagashima, N.; Kono, S. Surf. Sci. 2002, 504, 19. (d) Casaletto, M. P.; Zanoni, R.; Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Aballe, L.; Weiss, K.; Horn, K. Phys. Rev. B 2000, 62, 17128. (e) Matsui, F.; Yeom, H. W.; Matsuda, I.; Ohta, T. Phys. Rev. B 2000, 62, 5036. (f) Ikeda, M.; Maruoka, T.; Nagashima, N. Surf. Sci. 1998, 416, 240. (g) Matsui, F.; Yeom, H. W.; Imanishi, A.; Isawa, K.; Matsuda, I.; Ohta, T. Surf. Sci. 1998, 401, L413. (h) Liu, H. B.; Hamers, R. J. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 7593. (i) Ness, H.; Fisher, A. J. Phys. Rev. B 1997, 55, 10081.
-
(2002)
Phys. Rev. B
, vol.66
, pp. 115308
-
-
Yeom, H.W.1
Baek, S.Y.2
Kim, J.W.3
Lee, H.S.4
Koh, H.5
-
65
-
-
0036679964
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of ethylene on Si(100), see: (a) Yeom, H. W.; Baek, S. Y.; Kim, J. W.; Lee, H. S.; Koh, H. Phys. Rev. B 2002, 66, 115308. (b) Nagao, M.; Yamashita, Y.; Machida, S.; Hamaguchi, K.; Yasui, F.; Mukai, K.; Yoshinobu, J. Surf. Sci. 2002, 513, 413. (c) Shimomura, M.; Munakata, M.; Iwasaki, A.; Ikeda, M.; Abukawa, T.; Sato, K.; Kawawa, T.; Shimizu, H.; Nagashima, N.; Kono, S. Surf. Sci. 2002, 504, 19. (d) Casaletto, M. P.; Zanoni, R.; Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Aballe, L.; Weiss, K.; Horn, K. Phys. Rev. B 2000, 62, 17128. (e) Matsui, F.; Yeom, H. W.; Matsuda, I.; Ohta, T. Phys. Rev. B 2000, 62, 5036. (f) Ikeda, M.; Maruoka, T.; Nagashima, N. Surf. Sci. 1998, 416, 240. (g) Matsui, F.; Yeom, H. W.; Imanishi, A.; Isawa, K.; Matsuda, I.; Ohta, T. Surf. Sci. 1998, 401, L413. (h) Liu, H. B.; Hamers, R. J. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 7593. (i) Ness, H.; Fisher, A. J. Phys. Rev. B 1997, 55, 10081.
-
(2002)
Surf. Sci.
, vol.513
, pp. 413
-
-
Nagao, M.1
Yamashita, Y.2
Machida, S.3
Hamaguchi, K.4
Yasui, F.5
Mukai, K.6
Yoshinobu, J.7
-
66
-
-
0037140030
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of ethylene on Si(100), see: (a) Yeom, H. W.; Baek, S. Y.; Kim, J. W.; Lee, H. S.; Koh, H. Phys. Rev. B 2002, 66, 115308. (b) Nagao, M.; Yamashita, Y.; Machida, S.; Hamaguchi, K.; Yasui, F.; Mukai, K.; Yoshinobu, J. Surf. Sci. 2002, 513, 413. (c) Shimomura, M.; Munakata, M.; Iwasaki, A.; Ikeda, M.; Abukawa, T.; Sato, K.; Kawawa, T.; Shimizu, H.; Nagashima, N.; Kono, S. Surf. Sci. 2002, 504, 19. (d) Casaletto, M. P.; Zanoni, R.; Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Aballe, L.; Weiss, K.; Horn, K. Phys. Rev. B 2000, 62, 17128. (e) Matsui, F.; Yeom, H. W.; Matsuda, I.; Ohta, T. Phys. Rev. B 2000, 62, 5036. (f) Ikeda, M.; Maruoka, T.; Nagashima, N. Surf. Sci. 1998, 416, 240. (g) Matsui, F.; Yeom, H. W.; Imanishi, A.; Isawa, K.; Matsuda, I.; Ohta, T. Surf. Sci. 1998, 401, L413. (h) Liu, H. B.; Hamers, R. J. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 7593. (i) Ness, H.; Fisher, A. J. Phys. Rev. B 1997, 55, 10081.
-
(2002)
Surf. Sci.
, vol.504
, pp. 19
-
-
Shimomura, M.1
Munakata, M.2
Iwasaki, A.3
Ikeda, M.4
Abukawa, T.5
Sato, K.6
Kawawa, T.7
Shimizu, H.8
Nagashima, N.9
Kono, S.10
-
67
-
-
0034670920
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of ethylene on Si(100), see: (a) Yeom, H. W.; Baek, S. Y.; Kim, J. W.; Lee, H. S.; Koh, H. Phys. Rev. B 2002, 66, 115308. (b) Nagao, M.; Yamashita, Y.; Machida, S.; Hamaguchi, K.; Yasui, F.; Mukai, K.; Yoshinobu, J. Surf. Sci. 2002, 513, 413. (c) Shimomura, M.; Munakata, M.; Iwasaki, A.; Ikeda, M.; Abukawa, T.; Sato, K.; Kawawa, T.; Shimizu, H.; Nagashima, N.; Kono, S. Surf. Sci. 2002, 504, 19. (d) Casaletto, M. P.; Zanoni, R.; Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Aballe, L.; Weiss, K.; Horn, K. Phys. Rev. B 2000, 62, 17128. (e) Matsui, F.; Yeom, H. W.; Matsuda, I.; Ohta, T. Phys. Rev. B 2000, 62, 5036. (f) Ikeda, M.; Maruoka, T.; Nagashima, N. Surf. Sci. 1998, 416, 240. (g) Matsui, F.; Yeom, H. W.; Imanishi, A.; Isawa, K.; Matsuda, I.; Ohta, T. Surf. Sci. 1998, 401, L413. (h) Liu, H. B.; Hamers, R. J. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 7593. (i) Ness, H.; Fisher, A. J. Phys. Rev. B 1997, 55, 10081.
-
(2000)
Phys. Rev. B
, vol.62
, pp. 17128
-
-
Casaletto, M.P.1
Zanoni, R.2
Carbone, M.3
Piancastelli, M.N.4
Aballe, L.5
Weiss, K.6
Horn, K.7
-
68
-
-
0001061772
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of ethylene on Si(100), see: (a) Yeom, H. W.; Baek, S. Y.; Kim, J. W.; Lee, H. S.; Koh, H. Phys. Rev. B 2002, 66, 115308. (b) Nagao, M.; Yamashita, Y.; Machida, S.; Hamaguchi, K.; Yasui, F.; Mukai, K.; Yoshinobu, J. Surf. Sci. 2002, 513, 413. (c) Shimomura, M.; Munakata, M.; Iwasaki, A.; Ikeda, M.; Abukawa, T.; Sato, K.; Kawawa, T.; Shimizu, H.; Nagashima, N.; Kono, S. Surf. Sci. 2002, 504, 19. (d) Casaletto, M. P.; Zanoni, R.; Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Aballe, L.; Weiss, K.; Horn, K. Phys. Rev. B 2000, 62, 17128. (e) Matsui, F.; Yeom, H. W.; Matsuda, I.; Ohta, T. Phys. Rev. B 2000, 62, 5036. (f) Ikeda, M.; Maruoka, T.; Nagashima, N. Surf. Sci. 1998, 416, 240. (g) Matsui, F.; Yeom, H. W.; Imanishi, A.; Isawa, K.; Matsuda, I.; Ohta, T. Surf. Sci. 1998, 401, L413. (h) Liu, H. B.; Hamers, R. J. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 7593. (i) Ness, H.; Fisher, A. J. Phys. Rev. B 1997, 55, 10081.
-
(2000)
Phys. Rev. B
, vol.62
, pp. 5036
-
-
Matsui, F.1
Yeom, H.W.2
Matsuda, I.3
Ohta, T.4
-
69
-
-
0032180657
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of ethylene on Si(100), see: (a) Yeom, H. W.; Baek, S. Y.; Kim, J. W.; Lee, H. S.; Koh, H. Phys. Rev. B 2002, 66, 115308. (b) Nagao, M.; Yamashita, Y.; Machida, S.; Hamaguchi, K.; Yasui, F.; Mukai, K.; Yoshinobu, J. Surf. Sci. 2002, 513, 413. (c) Shimomura, M.; Munakata, M.; Iwasaki, A.; Ikeda, M.; Abukawa, T.; Sato, K.; Kawawa, T.; Shimizu, H.; Nagashima, N.; Kono, S. Surf. Sci. 2002, 504, 19. (d) Casaletto, M. P.; Zanoni, R.; Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Aballe, L.; Weiss, K.; Horn, K. Phys. Rev. B 2000, 62, 17128. (e) Matsui, F.; Yeom, H. W.; Matsuda, I.; Ohta, T. Phys. Rev. B 2000, 62, 5036. (f) Ikeda, M.; Maruoka, T.; Nagashima, N. Surf. Sci. 1998, 416, 240. (g) Matsui, F.; Yeom, H. W.; Imanishi, A.; Isawa, K.; Matsuda, I.; Ohta, T. Surf. Sci. 1998, 401, L413. (h) Liu, H. B.; Hamers, R. J. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 7593. (i) Ness, H.; Fisher, A. J. Phys. Rev. B 1997, 55, 10081.
-
(1998)
Surf. Sci.
, vol.416
, pp. 240
-
-
Ikeda, M.1
Maruoka, T.2
Nagashima, N.3
-
70
-
-
0032045933
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of ethylene on Si(100), see: (a) Yeom, H. W.; Baek, S. Y.; Kim, J. W.; Lee, H. S.; Koh, H. Phys. Rev. B 2002, 66, 115308. (b) Nagao, M.; Yamashita, Y.; Machida, S.; Hamaguchi, K.; Yasui, F.; Mukai, K.; Yoshinobu, J. Surf. Sci. 2002, 513, 413. (c) Shimomura, M.; Munakata, M.; Iwasaki, A.; Ikeda, M.; Abukawa, T.; Sato, K.; Kawawa, T.; Shimizu, H.; Nagashima, N.; Kono, S. Surf. Sci. 2002, 504, 19. (d) Casaletto, M. P.; Zanoni, R.; Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Aballe, L.; Weiss, K.; Horn, K. Phys. Rev. B 2000, 62, 17128. (e) Matsui, F.; Yeom, H. W.; Matsuda, I.; Ohta, T. Phys. Rev. B 2000, 62, 5036. (f) Ikeda, M.; Maruoka, T.; Nagashima, N. Surf. Sci. 1998, 416, 240. (g) Matsui, F.; Yeom, H. W.; Imanishi, A.; Isawa, K.; Matsuda, I.; Ohta, T. Surf. Sci. 1998, 401, L413. (h) Liu, H. B.; Hamers, R. J. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 7593. (i) Ness, H.; Fisher, A. J. Phys. Rev. B 1997, 55, 10081.
-
(1998)
Surf. Sci.
, vol.401
-
-
Matsui, F.1
Yeom, H.W.2
Imanishi, A.3
Isawa, K.4
Matsuda, I.5
Ohta, T.6
-
71
-
-
0030760214
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of ethylene on Si(100), see: (a) Yeom, H. W.; Baek, S. Y.; Kim, J. W.; Lee, H. S.; Koh, H. Phys. Rev. B 2002, 66, 115308. (b) Nagao, M.; Yamashita, Y.; Machida, S.; Hamaguchi, K.; Yasui, F.; Mukai, K.; Yoshinobu, J. Surf. Sci. 2002, 513, 413. (c) Shimomura, M.; Munakata, M.; Iwasaki, A.; Ikeda, M.; Abukawa, T.; Sato, K.; Kawawa, T.; Shimizu, H.; Nagashima, N.; Kono, S. Surf. Sci. 2002, 504, 19. (d) Casaletto, M. P.; Zanoni, R.; Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Aballe, L.; Weiss, K.; Horn, K. Phys. Rev. B 2000, 62, 17128. (e) Matsui, F.; Yeom, H. W.; Matsuda, I.; Ohta, T. Phys. Rev. B 2000, 62, 5036. (f) Ikeda, M.; Maruoka, T.; Nagashima, N. Surf. Sci. 1998, 416, 240. (g) Matsui, F.; Yeom, H. W.; Imanishi, A.; Isawa, K.; Matsuda, I.; Ohta, T. Surf. Sci. 1998, 401, L413. (h) Liu, H. B.; Hamers, R. J. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 7593. (i) Ness, H.; Fisher, A. J. Phys. Rev. B 1997, 55, 10081.
-
(1997)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.119
, pp. 7593
-
-
Liu, H.B.1
Hamers, R.J.2
-
72
-
-
0000730645
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of ethylene on Si(100), see: (a) Yeom, H. W.; Baek, S. Y.; Kim, J. W.; Lee, H. S.; Koh, H. Phys. Rev. B 2002, 66, 115308. (b) Nagao, M.; Yamashita, Y.; Machida, S.; Hamaguchi, K.; Yasui, F.; Mukai, K.; Yoshinobu, J. Surf. Sci. 2002, 513, 413. (c) Shimomura, M.; Munakata, M.; Iwasaki, A.; Ikeda, M.; Abukawa, T.; Sato, K.; Kawawa, T.; Shimizu, H.; Nagashima, N.; Kono, S. Surf. Sci. 2002, 504, 19. (d) Casaletto, M. P.; Zanoni, R.; Carbone, M.; Piancastelli, M. N.; Aballe, L.; Weiss, K.; Horn, K. Phys. Rev. B 2000, 62, 17128. (e) Matsui, F.; Yeom, H. W.; Matsuda, I.; Ohta, T. Phys. Rev. B 2000, 62, 5036. (f) Ikeda, M.; Maruoka, T.; Nagashima, N. Surf. Sci. 1998, 416, 240. (g) Matsui, F.; Yeom, H. W.; Imanishi, A.; Isawa, K.; Matsuda, I.; Ohta, T. Surf. Sci. 1998, 401, L413. (h) Liu, H. B.; Hamers, R. J. J. Am. Chem. Soc. 1997, 119, 7593. (i) Ness, H.; Fisher, A. J. Phys. Rev. B 1997, 55, 10081.
-
(1997)
Phys. Rev. B
, vol.55
, pp. 10081
-
-
Ness, H.1
Fisher, A.J.2
-
73
-
-
0037104255
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of acetylene on Si(100), see: (a) Terborg, R.; Polcik, M.; Hoeft, J. T.; Kittel, M.; Sayago, D. I.; Toomes, R. L.; Woodruff, D. P. Phys. Rev. B 2002, 66, 085333, (b) Kim, W.; Kim, H.; Lee, G.; Chung, J.; You, S. Y.; Hong, Y. K.; Koo, J. Y. Surf. Sci. 2002, 514, 376. (c) Kim, W.; Kim, H.; Lee, G.; Hong, Y. K.; Lee, K.; Hwang, C.; Kim, D. H.; Koo, J. Y. Phys. Rev. B 2001, 64, 193313. (d) Mezhenny, S.; Lyubinetsky, I.; Choyke, W. J.; Wolkow, R. A.; Yates, J. T. Chem. Phys. Lett. 2001, 344, 7. (e) Terborg, R.; Baumgartel, P.; Lindsay, R.; Schaff, O.; Giessel, T.; Hoeft, J. T.; Polcik, M.; Toomes, R. L.; Kulkarni, S.; Bradshaw, A. M.; Woodruff, D. P. Phys. Rev. B 2000, 61, 16697. (f) Xu, S. H.; Keeffe, M.; Yang, Y.; Chen, C.; Yu, M.; Lapeyre, G. J.; Rotenberg, E.; Denlinger, J.; Yates, J. T. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 939. (g) Xu, S. H.; Yang, Y.; Keeffe, M.; Lapeyre, G. J.; Rotenberg, E. Phys. Rev. B 1999, 60, 11586. (h) Li, L.; Tindall, C.; Takaoka, O.; Hasegawa, Y.; Sakurai, T. Phys. Rev. B 1997, 56, 4648.
-
(2002)
Phys. Rev. B
, vol.66
, pp. 85333
-
-
Terborg, R.1
Polcik, M.2
Hoeft, J.T.3
Kittel, M.4
Sayago, D.I.5
Toomes, R.L.6
Woodruff, D.P.7
-
74
-
-
0037055530
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of acetylene on Si(100), see: (a) Terborg, R.; Polcik, M.; Hoeft, J. T.; Kittel, M.; Sayago, D. I.; Toomes, R. L.; Woodruff, D. P. Phys. Rev. B 2002, 66, 085333, (b) Kim, W.; Kim, H.; Lee, G.; Chung, J.; You, S. Y.; Hong, Y. K.; Koo, J. Y. Surf. Sci. 2002, 514, 376. (c) Kim, W.; Kim, H.; Lee, G.; Hong, Y. K.; Lee, K.; Hwang, C.; Kim, D. H.; Koo, J. Y. Phys. Rev. B 2001, 64, 193313. (d) Mezhenny, S.; Lyubinetsky, I.; Choyke, W. J.; Wolkow, R. A.; Yates, J. T. Chem. Phys. Lett. 2001, 344, 7. (e) Terborg, R.; Baumgartel, P.; Lindsay, R.; Schaff, O.; Giessel, T.; Hoeft, J. T.; Polcik, M.; Toomes, R. L.; Kulkarni, S.; Bradshaw, A. M.; Woodruff, D. P. Phys. Rev. B 2000, 61, 16697. (f) Xu, S. H.; Keeffe, M.; Yang, Y.; Chen, C.; Yu, M.; Lapeyre, G. J.; Rotenberg, E.; Denlinger, J.; Yates, J. T. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 939. (g) Xu, S. H.; Yang, Y.; Keeffe, M.; Lapeyre, G. J.; Rotenberg, E. Phys. Rev. B 1999, 60, 11586. (h) Li, L.; Tindall, C.; Takaoka, O.; Hasegawa, Y.; Sakurai, T. Phys. Rev. B 1997, 56, 4648.
-
(2002)
Surf. Sci.
, vol.514
, pp. 376
-
-
Kim, W.1
Kim, H.2
Lee, G.3
Chung, J.4
You, S.Y.5
Hong, Y.K.6
Koo, J.Y.7
-
75
-
-
0035891015
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of acetylene on Si(100), see: (a) Terborg, R.; Polcik, M.; Hoeft, J. T.; Kittel, M.; Sayago, D. I.; Toomes, R. L.; Woodruff, D. P. Phys. Rev. B 2002, 66, 085333, (b) Kim, W.; Kim, H.; Lee, G.; Chung, J.; You, S. Y.; Hong, Y. K.; Koo, J. Y. Surf. Sci. 2002, 514, 376. (c) Kim, W.; Kim, H.; Lee, G.; Hong, Y. K.; Lee, K.; Hwang, C.; Kim, D. H.; Koo, J. Y. Phys. Rev. B 2001, 64, 193313. (d) Mezhenny, S.; Lyubinetsky, I.; Choyke, W. J.; Wolkow, R. A.; Yates, J. T. Chem. Phys. Lett. 2001, 344, 7. (e) Terborg, R.; Baumgartel, P.; Lindsay, R.; Schaff, O.; Giessel, T.; Hoeft, J. T.; Polcik, M.; Toomes, R. L.; Kulkarni, S.; Bradshaw, A. M.; Woodruff, D. P. Phys. Rev. B 2000, 61, 16697. (f) Xu, S. H.; Keeffe, M.; Yang, Y.; Chen, C.; Yu, M.; Lapeyre, G. J.; Rotenberg, E.; Denlinger, J.; Yates, J. T. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 939. (g) Xu, S. H.; Yang, Y.; Keeffe, M.; Lapeyre, G. J.; Rotenberg, E. Phys. Rev. B 1999, 60, 11586. (h) Li, L.; Tindall, C.; Takaoka, O.; Hasegawa, Y.; Sakurai, T. Phys. Rev. B 1997, 56, 4648.
-
(2001)
Phys. Rev. B
, vol.64
, pp. 193313
-
-
Kim, W.1
Kim, H.2
Lee, G.3
Hong, Y.K.4
Lee, K.5
Hwang, C.6
Kim, D.H.7
Koo, J.Y.8
-
76
-
-
0002322099
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of acetylene on Si(100), see: (a) Terborg, R.; Polcik, M.; Hoeft, J. T.; Kittel, M.; Sayago, D. I.; Toomes, R. L.; Woodruff, D. P. Phys. Rev. B 2002, 66, 085333, (b) Kim, W.; Kim, H.; Lee, G.; Chung, J.; You, S. Y.; Hong, Y. K.; Koo, J. Y. Surf. Sci. 2002, 514, 376. (c) Kim, W.; Kim, H.; Lee, G.; Hong, Y. K.; Lee, K.; Hwang, C.; Kim, D. H.; Koo, J. Y. Phys. Rev. B 2001, 64, 193313. (d) Mezhenny, S.; Lyubinetsky, I.; Choyke, W. J.; Wolkow, R. A.; Yates, J. T. Chem. Phys. Lett. 2001, 344, 7. (e) Terborg, R.; Baumgartel, P.; Lindsay, R.; Schaff, O.; Giessel, T.; Hoeft, J. T.; Polcik, M.; Toomes, R. L.; Kulkarni, S.; Bradshaw, A. M.; Woodruff, D. P. Phys. Rev. B 2000, 61, 16697. (f) Xu, S. H.; Keeffe, M.; Yang, Y.; Chen, C.; Yu, M.; Lapeyre, G. J.; Rotenberg, E.; Denlinger, J.; Yates, J. T. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 939. (g) Xu, S. H.; Yang, Y.; Keeffe, M.; Lapeyre, G. J.; Rotenberg, E. Phys. Rev. B 1999, 60, 11586. (h) Li, L.; Tindall, C.; Takaoka, O.; Hasegawa, Y.; Sakurai, T. Phys. Rev. B 1997, 56, 4648.
-
(2001)
Chem. Phys. Lett.
, vol.344
, pp. 7
-
-
Mezhenny, S.1
Lyubinetsky, I.2
Choyke, W.J.3
Wolkow, R.A.4
Yates, J.T.5
-
77
-
-
0001660661
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of acetylene on Si(100), see: (a) Terborg, R.; Polcik, M.; Hoeft, J. T.; Kittel, M.; Sayago, D. I.; Toomes, R. L.; Woodruff, D. P. Phys. Rev. B 2002, 66, 085333, (b) Kim, W.; Kim, H.; Lee, G.; Chung, J.; You, S. Y.; Hong, Y. K.; Koo, J. Y. Surf. Sci. 2002, 514, 376. (c) Kim, W.; Kim, H.; Lee, G.; Hong, Y. K.; Lee, K.; Hwang, C.; Kim, D. H.; Koo, J. Y. Phys. Rev. B 2001, 64, 193313. (d) Mezhenny, S.; Lyubinetsky, I.; Choyke, W. J.; Wolkow, R. A.; Yates, J. T. Chem. Phys. Lett. 2001, 344, 7. (e) Terborg, R.; Baumgartel, P.; Lindsay, R.; Schaff, O.; Giessel, T.; Hoeft, J. T.; Polcik, M.; Toomes, R. L.; Kulkarni, S.; Bradshaw, A. M.; Woodruff, D. P. Phys. Rev. B 2000, 61, 16697. (f) Xu, S. H.; Keeffe, M.; Yang, Y.; Chen, C.; Yu, M.; Lapeyre, G. J.; Rotenberg, E.; Denlinger, J.; Yates, J. T. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 939. (g) Xu, S. H.; Yang, Y.; Keeffe, M.; Lapeyre, G. J.; Rotenberg, E. Phys. Rev. B 1999, 60, 11586. (h) Li, L.; Tindall, C.; Takaoka, O.; Hasegawa, Y.; Sakurai, T. Phys. Rev. B 1997, 56, 4648.
-
(2000)
Phys. Rev. B
, vol.61
, pp. 16697
-
-
Terborg, R.1
Baumgartel, P.2
Lindsay, R.3
Schaff, O.4
Giessel, T.5
Hoeft, J.T.6
Polcik, M.7
Toomes, R.L.8
Kulkarni, S.9
Bradshaw, A.M.10
Woodruff, D.P.11
-
78
-
-
0000366377
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of acetylene on Si(100), see: (a) Terborg, R.; Polcik, M.; Hoeft, J. T.; Kittel, M.; Sayago, D. I.; Toomes, R. L.; Woodruff, D. P. Phys. Rev. B 2002, 66, 085333, (b) Kim, W.; Kim, H.; Lee, G.; Chung, J.; You, S. Y.; Hong, Y. K.; Koo, J. Y. Surf. Sci. 2002, 514, 376. (c) Kim, W.; Kim, H.; Lee, G.; Hong, Y. K.; Lee, K.; Hwang, C.; Kim, D. H.; Koo, J. Y. Phys. Rev. B 2001, 64, 193313. (d) Mezhenny, S.; Lyubinetsky, I.; Choyke, W. J.; Wolkow, R. A.; Yates, J. T. Chem. Phys. Lett. 2001, 344, 7. (e) Terborg, R.; Baumgartel, P.; Lindsay, R.; Schaff, O.; Giessel, T.; Hoeft, J. T.; Polcik, M.; Toomes, R. L.; Kulkarni, S.; Bradshaw, A. M.; Woodruff, D. P. Phys. Rev. B 2000, 61, 16697. (f) Xu, S. H.; Keeffe, M.; Yang, Y.; Chen, C.; Yu, M.; Lapeyre, G. J.; Rotenberg, E.; Denlinger, J.; Yates, J. T. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 939. (g) Xu, S. H.; Yang, Y.; Keeffe, M.; Lapeyre, G. J.; Rotenberg, E. Phys. Rev. B 1999, 60, 11586. (h) Li, L.; Tindall, C.; Takaoka, O.; Hasegawa, Y.; Sakurai, T. Phys. Rev. B 1997, 56, 4648.
-
(2000)
Phys. Rev. Lett.
, vol.84
, pp. 939
-
-
Xu, S.H.1
Keeffe, M.2
Yang, Y.3
Chen, C.4
Yu, M.5
Lapeyre, G.J.6
Rotenberg, E.7
Denlinger, J.8
Yates, J.T.9
-
79
-
-
0000185265
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of acetylene on Si(100), see: (a) Terborg, R.; Polcik, M.; Hoeft, J. T.; Kittel, M.; Sayago, D. I.; Toomes, R. L.; Woodruff, D. P. Phys. Rev. B 2002, 66, 085333, (b) Kim, W.; Kim, H.; Lee, G.; Chung, J.; You, S. Y.; Hong, Y. K.; Koo, J. Y. Surf. Sci. 2002, 514, 376. (c) Kim, W.; Kim, H.; Lee, G.; Hong, Y. K.; Lee, K.; Hwang, C.; Kim, D. H.; Koo, J. Y. Phys. Rev. B 2001, 64, 193313. (d) Mezhenny, S.; Lyubinetsky, I.; Choyke, W. J.; Wolkow, R. A.; Yates, J. T. Chem. Phys. Lett. 2001, 344, 7. (e) Terborg, R.; Baumgartel, P.; Lindsay, R.; Schaff, O.; Giessel, T.; Hoeft, J. T.; Polcik, M.; Toomes, R. L.; Kulkarni, S.; Bradshaw, A. M.; Woodruff, D. P. Phys. Rev. B 2000, 61, 16697. (f) Xu, S. H.; Keeffe, M.; Yang, Y.; Chen, C.; Yu, M.; Lapeyre, G. J.; Rotenberg, E.; Denlinger, J.; Yates, J. T. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 939. (g) Xu, S. H.; Yang, Y.; Keeffe, M.; Lapeyre, G. J.; Rotenberg, E. Phys. Rev. B 1999, 60, 11586. (h) Li, L.; Tindall, C.; Takaoka, O.; Hasegawa, Y.; Sakurai, T. Phys. Rev. B 1997, 56, 4648.
-
(1999)
Phys. Rev. B
, vol.60
, pp. 11586
-
-
Xu, S.H.1
Yang, Y.2
Keeffe, M.3
Lapeyre, G.J.4
Rotenberg, E.5
-
80
-
-
0001134258
-
-
For examples of recent experiments on the adsorption of acetylene on Si(100), see: (a) Terborg, R.; Polcik, M.; Hoeft, J. T.; Kittel, M.; Sayago, D. I.; Toomes, R. L.; Woodruff, D. P. Phys. Rev. B 2002, 66, 085333, (b) Kim, W.; Kim, H.; Lee, G.; Chung, J.; You, S. Y.; Hong, Y. K.; Koo, J. Y. Surf. Sci. 2002, 514, 376. (c) Kim, W.; Kim, H.; Lee, G.; Hong, Y. K.; Lee, K.; Hwang, C.; Kim, D. H.; Koo, J. Y. Phys. Rev. B 2001, 64, 193313. (d) Mezhenny, S.; Lyubinetsky, I.; Choyke, W. J.; Wolkow, R. A.; Yates, J. T. Chem. Phys. Lett. 2001, 344, 7. (e) Terborg, R.; Baumgartel, P.; Lindsay, R.; Schaff, O.; Giessel, T.; Hoeft, J. T.; Polcik, M.; Toomes, R. L.; Kulkarni, S.; Bradshaw, A. M.; Woodruff, D. P. Phys. Rev. B 2000, 61, 16697. (f) Xu, S. H.; Keeffe, M.; Yang, Y.; Chen, C.; Yu, M.; Lapeyre, G. J.; Rotenberg, E.; Denlinger, J.; Yates, J. T. Phys. Rev. Lett. 2000, 84, 939. (g) Xu, S. H.; Yang, Y.; Keeffe, M.; Lapeyre, G. J.; Rotenberg, E. Phys. Rev. B 1999, 60, 11586. (h) Li, L.; Tindall, C.; Takaoka, O.; Hasegawa, Y.; Sakurai, T. Phys. Rev. B 1997, 56, 4648.
-
(1997)
Phys. Rev. B
, vol.56
, pp. 4648
-
-
Li, L.1
Tindall, C.2
Takaoka, O.3
Hasegawa, Y.4
Sakurai, T.5
-
81
-
-
0038800228
-
-
note
-
In addition to the adsorption geometry specified in this manuscript, multiple adsorption geometries have been found for acetylene adsorption on the Si(100) surface.
-
-
-
-
84
-
-
0001079276
-
-
(a) Weiner, B.; Carmer, C. S.; Frenklach, M. Phys. Rev. B 1991, 43, 1678.
-
(1991)
Phys. Rev. B
, vol.43
, pp. 1678
-
-
Weiner, B.1
Carmer, C.S.2
Frenklach, M.3
-
86
-
-
0037006815
-
-
Lu, X.; Xu, X.; Wang, N.; Zhang, Q.; Lin, M. C. Chem. Phys. Lett. 2002. 355, 365.
-
(2002)
Chem. Phys. Lett.
, vol.355
, pp. 365
-
-
Lu, X.1
Xu, X.2
Wang, N.3
Zhang, Q.4
Lin, M.C.5
-
88
-
-
0345491105
-
-
(b) Lee, C.; Yang, W.; Parr, R. G. Phys. Rev. B 1989, 37, 785.
-
(1989)
Phys. Rev. B
, vol.37
, pp. 785
-
-
Lee, C.1
Yang, W.2
Parr, R.G.3
-
90
-
-
33645949559
-
-
Francl, M. M.; Pietro, W. J.; Hehre, W. J.; Binkley, J. S.; Gordon, M. S.; DeFrees, D. J.; Pople, J. A. J. Chem. Phys. 1982, 77, 3654.
-
(1982)
J. Chem. Phys.
, vol.77
, pp. 3654
-
-
Francl, M.M.1
Pietro, W.J.2
Hehre, W.J.3
Binkley, J.S.4
Gordon, M.S.5
DeFrees, D.J.6
Pople, J.A.7
-
91
-
-
0001869943
-
-
Schaefer, H. F., III, Ed.: Plenum: New York
-
Dunning, T. H., Jr.; Hay, P. J. In Modern Theoretical Chemistry; Schaefer, H. F., III, Ed.: Plenum: New York, 1976; pp 1-28.
-
(1976)
Modern Theoretical Chemistry
, pp. 1-28
-
-
Dunning T.H., Jr.1
Hay, P.J.2
-
92
-
-
0004133516
-
-
Gaussian, Inc.: Pittsburgh, PA
-
Frisch, M. J.; Trucks, G. W.; Schlegel, H. B.; Scuseria, G. E.; Robb, M. A.; Cheeseman, J. R.; Zakrzewski, V. G.; Montgomery, J. A., Jr.; Stratmann, R. E.; Burant, J. C.; Dapprich, S.; Millam, J. M.; Daniels, A. D.; Kudin, K. N.; Strain, M. C.; Farkas, O.; Tomasi, J.; Barone, V.; Cossi, M.; Cammi, R.; Mennucci, B.; Pomelli, C.; Adamo, C.; Clifford, S.; Ochterski, J.; Petersson, G. A.; Ayala, P. Y.; Cui, Q.; Morokuma, K.; Malick, D. K.; Rabuck, A. D.; Raghavachari, K.; Foresman, J. B.; Cioslowski, J.; Ortiz, J. V.; Stefanov, B. B.; Liu, G.; Liashenko, A.; Piskorz, P.; Komaromi, I.; Gomperts, R.; Martin, R. L.; Fox, D. J.; Keith, T.; Al-Laham, M. A.; Peng, C. Y.; Nanayakkara, A.; Gonzalez, C.; Challacombe, M.; Gill, P. M. W.; Johnson, B. G.; Chen, W.; Wong, M. W.; Andres, J. L.; Head-Gordon, M.; Replogle, E. S.; Pople, J. A. Gaussian, 98; Gaussian, Inc.: Pittsburgh, PA, 1998.
-
(1998)
Gaussian, 98
-
-
Frisch, M.J.1
Trucks, G.W.2
Schlegel, H.B.3
Scuseria, G.E.4
Robb, M.A.5
Cheeseman, J.R.6
Zakrzewski, V.G.7
Montgomery J.A., Jr.8
Stratmann, R.E.9
Burant, J.C.10
Dapprich, S.11
Millam, J.M.12
Daniels, A.D.13
Kudin, K.N.14
Strain, M.C.15
Farkas, O.16
Tomasi, J.17
Barone, V.18
Cossi, M.19
Cammi, R.20
Mennucci, B.21
Pomelli, C.22
Adamo, C.23
Clifford, S.24
Ochterski, J.25
Petersson, G.A.26
Ayala, P.Y.27
Cui, Q.28
Morokuma, K.29
Malick, D.K.30
Rabuck, A.D.31
Raghavachari, K.32
Foresman, J.B.33
Cioslowski, J.34
Ortiz, J.V.35
Stefanov, B.B.36
Liu, G.37
Liashenko, A.38
Piskorz, P.39
Komaromi, I.40
Gomperts, R.41
Martin, R.L.42
Fox, D.J.43
Keith, T.44
Al-Laham, M.A.45
Peng, C.Y.46
Nanayakkara, A.47
Gonzalez, C.48
Challacombe, M.49
Gill, P.M.W.50
Johnson, B.G.51
Chen, W.52
Wong, M.W.53
Andres, J.L.54
Head-Gordon, M.55
Replogle, E.S.56
Pople, J.A.57
more..
-
93
-
-
0037205914
-
-
Wang, G. T.; Mui, C.; Musgrave, C. B.; Bent, S. F. J. Am. Chem. Soc. 2002, 124, 8990.
-
(2002)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.124
, pp. 8990
-
-
Wang, G.T.1
Mui, C.2
Musgrave, C.B.3
Bent, S.F.4
-
94
-
-
0030018945
-
-
Goldstein, E.; Beno, B.; Houk, K. N. J. Am. Chem. Soc. 1996, 118, 6036.
-
(1996)
J. Am. Chem. Soc.
, vol.118
, pp. 6036
-
-
Goldstein, E.1
Beno, B.2
Houk, K.N.3
-
95
-
-
0033525196
-
-
(a) Nendel, M.; Tolbert, L. M.; Herring, L. E.; Islam, M. N.; Houk, K. N. J. Org. Chem. 1999, 64, 976.
-
(1999)
J. Org. Chem.
, vol.64
, pp. 976
-
-
Nendel, M.1
Tolbert, L.M.2
Herring, L.E.3
Islam, M.N.4
Houk, K.N.5
-
96
-
-
0000108423
-
-
(b) Tian, J.; Houk, K. N.; Klarner, F. G. J. Phys. Chem. A 1998, 102, 7662.
-
(1998)
J. Phys. Chem. A
, vol.102
, pp. 7662
-
-
Tian, J.1
Houk, K.N.2
Klarner, F.G.3
-
98
-
-
0001847037
-
-
Johnson, B. G.; Gonzalez, C. A.; Gill, P. M. W.; Pople, J. A. Chem. Phys. Lett. 1994, 221, 100.
-
(1994)
Chem. Phys. Lett.
, vol.221
, pp. 100
-
-
Johnson, B.G.1
Gonzalez, C.A.2
Gill, P.M.W.3
Pople, J.A.4
-
100
-
-
0034604626
-
-
Cao, Y.; Wang, Z. H.; Deng, J. F.; Xu, G. Q. Angew. Chem., Int. Ed. 2000, 39, 2740.
-
(2000)
Angew. Chem. Int. Ed.
, vol.39
, pp. 2740
-
-
Cao, Y.1
Wang, Z.H.2
Deng, J.F.3
Xu, G.Q.4
|