Kelvin probe force microscopy for the characterization of semiconductor surfaces in chalcopyrite solar cells

Surface Science

Volumn 482-485, Issue PART 2, 2001, Pages 1362-1367

  Sommerhalter, Ch ^a   Sadewasser, S ^a   Glatzel, Th ^a   Matthes, Th W ^a   Jager Waldau A ^a   Lux Steiner, M Ch ^a  

^a HAHN MEITNER INSTITUT   (Germany)

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Atomic force microscopy; Heterojunctions; Semiconducting surfaces; Surface photovoltage; Work function measurements

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EID: 0012298459     PISSN: 00396028     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1016/S0039-6028(01)00878-0     Document Type: Article

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