Influence of average size and interface passivation on the spectral emission of Si nanocrystals embedded in SiO2

Journal of Applied Physics

Volumn 91, Issue 2, 2002, Pages 798-807

  Garrido Fernandez, B ^a   Lopez M ^a   Garcia C ^a   Perez Rodriguez A ^a   Morante, J R ^a   Bonafos, C ^b   Carrada, M ^b   Claverie, A ^b  

^a UNIVERSITY OF BARCELONA   (Spain)

^b CEMES CNRS   (France)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

ANNEALING TIME; AVERAGE SIZE; DARK FIELD; EMISSION ENERGIES; EMISSION MECHANISM; EMISSION YIELDS; FORMING GAS; GROWTH STAGES; INTERFACE PASSIVATION; INVERSE CORRELATION; NANOCRYSTAL SIZES; NON-RADIATIVE CHANNELS; OPTOELECTRONIC PROPERTIES; PARAMAGNETIC CENTERS; PL EMISSION; PL EMISSION ENERGIES; PL INTENSITY; POST ANNEALING; RADIATIVE RECOMBINATION; RIPENING PROCESS; SI NANOCRYSTAL; SPECTRAL EMISSION; SPECTRAL SHAPES; STOKES SHIFT; TIME-SCALES;

ANNEALING; ELECTRON MICROSCOPES; ELECTRON MICROSCOPY; ENERGY GAP; IMAGING TECHNIQUES; MATRIX ALGEBRA; NUCLEATION; PARAMAGNETISM; PASSIVATION; POPULATION STATISTICS; SILICON;

NANOCRYSTALS;

EID: 0037080687     PISSN: 00218979     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.1423768     Document Type: Article

References (56)

1. L. Brus in Semiconductors and Semimetals, edited by D. Lockwood (Academic, New York, 1998), Vol. 49, p. 303.
2. S. Furukawa and T. Miyasato, Phys. Rev. B 38, 5726 (1988).
3. T. S. Iwayama, S. Nakao, and K. Saitoh, Appl. Phys. Lett. 65, 1814 (1994).
4. H. Takagi, H. Ogawa, Y. Yamazaki, A. Ishizadi, and T. Nakagiri, Appl. Phys. Lett. 56, 2379 (1990).
5. Z. H. Lu, Nature (London) 378, 258 (1995).
6. S. Hayashi, S. Tanimoto, M. Fujii, and K. Yamamoto, Superlattices Microstruct. 8, 13 (1990).
7. J. P. Proot, C. Delerue, and G. Allan, Appl. Phys. Lett. 61, 1948 (1992).
8. S. Iwayama, N. Kurumado, D. E. Hole, and D. E. Townsend, J. Appl. Phys. 83, 6018 (1998).
9. L. T. Canham, Appl. Phys. Lett. 57, 1046 (1990).
10. A. G. Cullis, L. T. Canham, and P. D. J. Calcott, J. Appl. Phys. 82, 909 (1997).
11. Y. Kanemitsu, T. Ogawa, K. Shiraishi, and K Takeda, Phys. Rev. B 48, 4883 (1993).
12. Y. Kanemitsu, Phys. Rev. B 53, 13515 (1996).
13. Y. Kanemitsu and S. Okamoto, Phys. Rev. B 56, R1696 (1997).
14. F. Koch and V. Petrova-Koch, J. Non-Cryst. Solids 198-200, 840 (1996).
15. A. Pérez-Rodríguez, B. Garrido, C. Bonafos, M. López, O. González-Varona, J. R. Morante, J. Montserrat, and R. Rodríguez, J. Mater. Sci. 10, 385 (1999).
16. B. Garrido, M. López, O. González, A. Pérez-Rodríguez, J. R. Morante, and C. Bonafos, Appl. Phys. Lett. 77, 3143 (2000).
17. M. López, B. Garrido, C. Bonafos, A. Pérez-Rodríguez, J. R. Morante, and A. Claverie, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 178, 89 (2001).
18. M. L. Brongersma, A. Polman, K. S. Min, E. Boer, T. Tambo, and H. A. Atwater, Appl. Phys. Lett. 72, 2577 (1998).
19. M. L. Brongersma, A. Polman, K. S. Min, and H. A. Atwater, J. Appl. Phys. 86, 759 (1999).
20. S. Guha, M. D. Pace, D. N. Dunn, and I. L. Singer, Appl. Phys. Lett. 70, 1207 (1997).
21. S. Guha, J. Appl. Phys. 84, 5210 (1998).
22. A. J. Kenyon, P. F. Trwoga, C. W. Pitt, and G. Rehm, J. Appl. Phys. 79, 9291 (1996).
23. P. F. Trwoga, A. J. Kenyon, and C. W. Pitt, J. Appl. Phys. 83, 3789 (1998).
24. S. Schuppler et al., Phys. Rev. B 52, 4910 (1995).
25. T. van Buuren, L. N. Dinh, L. L. Chase, W. J. Siekhaus, and L. J. Terminello, Phys. Rev. Lett. 80, 3803 (1998).
26. M. V. Wolkin, J. Jorne, P. M. Fauchet, G. Allan, and C. Delerue, Phys. Rev. Lett. 82, 197 (1999).
27. C. Bonafos, B. Garrido, M. López, A. Romano-Rodríguez, O. González, A. Pérez-Rodríguez, and J. R. Morante, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 147, 373 (1999).
28. C. Bonafos, B. Garrido, M. Lopez, A. Perez-Rodriguez, J. R. Morante, Y. Kihn, G. Ben Assayag, and A. Claverie, Mater. Sci. Eng., B 69-70, 379 (1999).
29. C. Bonafos, B. Garrido, M. López, A. Pérez-Rodríguez, J. R. Morante, Y. Kihn, G. Ben Assayag, and A. Claverie, Appl. Phys. Lett. 76, 3962 (2000).
30. C. Bonafos et al., Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B 178, 17 (2001).
31. G. Allan, C. Delerue, and M. Lannoo, Phys. Rev. Lett. 76, 2961 (1996).
32. K. S. Min, K. V. Sheheglov, C. M. Yang, H. A. Atwater, M. L. Brongersma, and A. Polman, Appl. Phys. Lett. 69, 2033 (1996).
33. S. P. Withrow, C. W. White, A. Meldrum, J. D. Budai, D. M. Hembree, Jr., and J. C. Barbour, J. Appl. Phys. 86, 396 (1999).
34. S. Cheylan and R. G. Elliman, Appl. Phys. Lett. 78, 1225 (2001).
35. B. Garrido, C. Domínguez, J. Montserrat, J. R. Morante, and J. Samitier, Phys. Rev. B 49, 14845 (1994).
36. J. O. Malm and M. A. O'Keefe, Ultramicroscopy 68, 13 (1997).
37. F. Iacona, G. Franzo, and C. Spinella, J. Appl. Phys. 87, 1295 (2000).
38. L. A. Nesbit, Appl. Phys. Lett. 46, 38 (1985).
39. M. Agarwal and S. T. Dunham, J. Appl. Phys. 78, 5313 (1995).
40. N. E. B. Cowern, G. Mannino, P. A. Stolk, F. Roozeboom, H. G. A. Huizing, J. G. M. van Berkum, F. Cristiano, and A. Claverie, Phys. Rev. Lett. 82, 4460 (1999).
41. A. F. Leier, L. N. Safranov, and G. A. Kachurin, Semiconductors 33, 380 (1999).
42. I. M. Lifshitz and V. V. Slyosov, J. Phys. Chem. Solids 19, 35 (1961).
43. A. J. Ardell, Acta Metall. 20, 61 (1972).
44. P. Bansal and A. J. Ardell, Metallography 5, 97 (1972).
45. D. Kovalev, J. Diener, H. Heckler, G. Polisski, N. Künzner, and F. Koch, Phys. Rev. B 61, 4485 (2000).
46. C. Delerue, G. Allan, and M. Lannoo, Phys. Rev. B 48, 11024 (1993).
47. R. A. B. Devine, Jpn. J. Appl. Phys., Part 1 31, 4411 (1992), and references therein.
48. M. J. Uren, J. H. Stathis, and E. Cartier, J. Appl. Phys. 80, 3915 (1996).
49. R. Czaputa, R. Fritzl, and A. Popitsch, Thin Solid Films 255, 212 (1995).
50. S. M. Prokes, W. E. Carlos, and O. J. Glembocki, Phys. Rev. B 50, 17093 (1994).
51. W. E. Carlos and S. M. Prokes, J. Appl. Phys. 78, 2129 (1995).
52. S. M. Prokes and W. E. Carlos, J. Appl. Phys. 78, 2671 (1995).
53. A. Stesmans and V. V. Afanas'ev, Microelectron. Eng. 48, 113 (1999).
54. C. Delerue, M. Lannoo, and G. Allan, Phys. Rev. B 48, 11024 (1993).
55. L. W. Wang and A. Zunger, J. Phys. Chem. 98, 2158 (1994).
56. T. Takagahara and K. Takeda, Phys. Rev. B 46, 15578 (1992).