Changes in the electronic properties of si nanocrystals as a function of particle size

Physical Review Letters

Volumn 80, Issue 17, 1998, Pages 3803-3806

  van Buuren, T ^a   Dinh, L N ^a   Chase, L L ^a   Siekhaus, W J ^a   Terminello, L J ^a  

^a LAWRENCE LIVERMORE NATIONAL LABORATORY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

EID: 0343159124     PISSN: 00319007     EISSN: 10797114     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevLett.80.3803     Document Type: Article

References (22)

1. T. Canham, Appl. Phys. Lett., 57, 1046, (1990).
2. H. Takagi, H. Ogawa, Y. Yamazaki, A. Ishizaki and T. Nakagiri, Appl. Phys. Lett., 56, 379, (1990).
3. L. N. Dinh, L. L. Chase, M. Balooch, W. J. Siekhaus and F. Wooten, Phys. Rev. B., 54, 5029, (1996).
4. F. Koch, V. Petrova-Koch and T. Muschik, J. Lumin., 57, 271, (1993).
5. P. D. J. Calcott, K. J. Nash, L. T. Canham, M. J. Kane and D. Brumhead, J. Lumin., 57, 257, (1993).
6. T. van Buuren, L. N. Dinh, I. Jimenez, L. J. Terminello, M. Grush, T. A. Calcott and J. A. Carlisle, Mater. Res. Soc. Symp. Proc., 452, 171, (1996).
7. L. Bardotti, P. Jensen, A. Hoareau, M. Treilleux and B. Cabaud, Phys. Rev. Lett., 74, 4694, (1995).
8. C. G. Granqvist and R. A. Buhrman, J. Appl. Phys., 47, 2200, (1976).
9. F. J. Himpsel, G. Hollinger and R. A. Pollack, Phys. Rev. B., 28, 7014, (1983).
10. T. van Buuren, T. Tiedje, Y. Gao, J. R. Dahn and B. M. Way, Appl. Phys. Lett., 60, 3013, (1992).
11. T. van Buuren, T. Tiedje, J. R. Dahn and B. M. Way, Appl. Phys. Lett., 63, 2911, (1993).
12. G. Hollinger and F. J. Himpsel, J. Vac. Sci. Technol. A., 1, 640, (1983).
13. S. Ciraci, R. Butz, E. M. Oellig and H. Wagner, Phys. Rev. B., 30, 711, (1984).
14. M. Kasrai, W. N. Lennard, R. W. Brunner, G. M. Bancroft, J. A. Bardwell and K. H. Tan, Appl. Surf. Sci., 99, 303, (1996).
15. J. J. Yeh and I. Lindau, At. Data Nucl. Data Tables., 32, 1, (1985).
16. T. van Buuren and L. L. Chase (to be published).
17. Lin-Wang Wang and A. Zunger, Nanocrystalline Semiconductor Materials, P. V. Kamat and D. Meisel (Elsevier Science, New York, 1996).
18. S. Y. Ren and J. D. Dow, Phys. Rev. B., 45, 6492, (1992).
19. S. Schuppler, S. L. Friedman, M. A. Marcus, D. L. Adler, Y. H. Xie, F. M. Ross, Y. J. Chabal, T. D. Harris, L. E. Brus, W. L. Brown, E. E. Chaban, P. F. Szajowski, S. B. Christman and P. H. Citrin, Phys. Rev. B., 52, 4910, (1995).
20. Y. Kanemitsu, T. Ogawa, K. Shiraishi and K. Takeda, Phys. Rev. B., 48, 4883, (1993).
21. W. Mahoney, D. M. Schaefer, A. Patil, R. P. Andres and R. Reifenberger, Surf. Sci., 316, 383, (1994).
22. Y. Muramatsu, M. Sugiyama, S. Maeyama, K. Furukawa, K. Ebata, M. Fujino, S. Kawai and M. Motoyama (to be published).