메뉴 건너뛰기




Volumn 33, Issue 4, 1999, Pages 380-384

Modeling Si nanoprecipitate formation in SiO2 layers with excess Si atoms

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords


EID: 0033115545     PISSN: 10637826     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1134/1.1187698     Document Type: Article
Times cited : (11)

References (22)
  • 10
    • 0037975409 scopus 로고    scopus 로고
    • G. A. Kachurin, I. E. Tyschenko, W. Skorupa, R. A. Yankov, K. S. Zhuravlev, N. A. Pazdnikov, V. A. Volodin, A. K. Gutakovskiǐ and A. F. Leǐer, Fiz. Tekh. Poluprovodn. 31, 730 (1997) [Semiconductors 31, 626 (1997)].
    • (1997) Semiconductors , vol.31 , pp. 626
  • 15
    • 0009320089 scopus 로고    scopus 로고
    • G. A. Kachurin, L. Rebohle, I. Skorupa, R. A. Yankov, I. E. Tyschenko, H. Frob, T. Bohme, and L. Leo, Fiz. Tekh. Poluprovodn. 32, 439 (1998) [Semiconductors 32, 395 (1998)].
    • (1998) Semiconductors , vol.32 , pp. 395
  • 21
    • 0001751545 scopus 로고
    • I. M. Lifshits and V. V. Slezov, Zh. Éksp. Teor. Fiz. 35, 479 (1958) [Sov. Phys. JETP 8, 331 (1958)].
    • (1958) Sov. Phys. JETP , vol.8 , pp. 331


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.