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Volumn 61, Issue 15, 2000, Pages 9968-9971

Physical interpretation of frequency-modulation atomic force microscopy

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EID: 0000400209     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.61.9968     Document Type: Article
Times cited : (127)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.