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Volumn 54, Issue 12, 1996, Pages R8309-R8312

Inequivalent atoms and imaging mechanisms in ac-mode atomic-force microscopy of Si(111)7×7

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EID: 0001261014     PISSN: 10980121     EISSN: 1550235X     Source Type: Journal    
DOI: 10.1103/PhysRevB.54.R8309     Document Type: Article
Times cited : (116)

References (33)


* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.