Dielectric screening in atomically thin boron nitride nanosheets

Nano Letters

Volumn 15, Issue 1, 2015, Pages 218-223

  Li, Lu Hua ^a   Santos, Elton J G ^b   Xing, Tan ^a   Cappelluti, Emmanuele ^c   Roldán, Rafael ^d   Chen, Ying ^a   Watanabe, Kenji ^e   Taniguchi, Takashi ^e  

^a DEAKIN UNIVERSITY   (Australia)

^b Stanford University   (United States)

^c ISC CNR   (Italy)

^d INSTITUTO DE CIENCIA DE MATERIALES DE MADRID   (Spain)

^e NATIONAL INSTITUTE FOR MATERIALS SCIENCE   (Japan)

Author keywords

boron nitride nanosheets; electric field screening; electric force microscopy (EFM); first principles calculations; nonlinear Thomas Fermi theory

Indexed keywords

BORON NITRIDE; CALCULATIONS; DIELECTRIC MATERIALS; ELECTRIC FIELDS; GRAPHENE; NANOSHEETS; NITRIDES; PHOTONIC DEVICES; VAN DER WAALS FORCES;

BORON NITRIDE NANOSHEETS; DIELECTRIC SUBSTRATES; ELECTRIC FIELD SCREENING; FIRST-PRINCIPLES CALCULATION; HEXAGONAL BORON NITRIDE; THEORETICAL CALCULATIONS; THOMAS-FERMI; VAN DER WAALS INTERACTIONS;

ELECTRIC FORCE MICROSCOPY;

EID: 84920985991     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl503411a     Document Type: Article

References (30)

1. Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Katsnelson, M. I.; Grigorieva, I. V.; Dubonos, S. V.; Firsov, A. A. Nature 2005, 438 (7065) 197-200
2. Du, X.; Skachko, I.; Barker, A.; Andrei, E. Y. Nat. Nanotechnol. 2008, 3 (8) 491-495
3. Levendorf, M. P.; Kim, C. J.; Brown, L.; Huang, P. Y.; Havener, R. W.; Muller, D. A.; Park, J. Nature 2012, 488 (7413) 627-632
4. Novoselov, K. S.; Jiang, D.; Schedin, F.; Booth, T. J.; Khotkevich, V. V.; Morozov, S. V.; Geim, A. K. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2005, 102 (30) 10451-10453
5. Radisavljevic, B.; Radenovic, A.; Brivio, J.; Giacometti, V.; Kis, A. Nat. Nanotechnol. 2011, 6 (3) 147-150
6. Fang, H.; Chuang, S.; Chang, T. C.; Takei, K.; Takahashi, T.; Javey, A. Nano Lett. 2012, 12 (7) 3788-3792
7. Dean, C. R.; Young, A. F.; Meric, I.; Lee, C.; Wang, L.; Sorgenfrei, S.; Watanabe, K.; Taniguchi, T.; Kim, P.; Shepard, K. L.; Hone, J. Nat. Nanotechnol. 2010, 5 (10) 722-726
8. Xue, J. M.; Sanchez-Yamagishi, J.; Bulmash, D.; Jacquod, P.; Deshpande, A.; Watanabe, K.; Taniguchi, T.; Jarillo-Herrero, P.; Leroy, B. J. Nat. Mater. 2011, 10 (4) 282-285
9. Haigh, S. J.; Gholinia, A.; Jalil, R.; Romani, S.; Britnell, L.; Elias, D. C.; Novoselov, K. S.; Ponomarenko, L. A.; Geim, A. K.; Gorbachev, R. Nat. Mater. 2012, 11 (9) 764-767
10. Jang, C.; Adam, S.; Chen, J. H.; Williams, D.; Das Sarma, S.; Fuhrer, M. S. Phys. Rev. Lett. 2008, 101 (14) 146805
11. Hwang, C.; Siegel, D. A.; Mo, S. K.; Regan, W.; Ismach, A.; Zhang, Y. G.; Zettl, A.; Lanzara, A. Sci. Rep. 2012, 2, 590
12. Kim, K. K.; Hsu, A.; Jia, X. T.; Kim, S. M.; Shi, Y. M.; Dresselhaus, M.; Palacios, T.; Kong, J. ACS Nano 2012, 6 (10) 8583-8590
13. Shi, G.; Hanlumyuang, Y.; Liu, Z.; Gong, Y.; Gao, W.; Li, B.; Kono, J.; Lou, J.; Vajtai, R.; Sharma, P.; Ajayan, P. M. Nano Lett. 2014, 14 (4) 1739-1744
14. Taniguchi, T.; Watanabe, K. J. Cryst. Growth 2007, 303 (2) 525-529
15. Li, L.; Li, L. H.; Chen, Y.; Dai, X. J.; Lamb, P. R.; Cheng, B. M.; Lin, M. Y.; Liu, X. W. Angew. Chem., Int. Ed. 2013, 52 (15) 4212-4216
16. Li, L. H.; Cervenka, J.; Watanabe, K.; Taniguchi, T.; Chen, Y. ACS Nano 2014, 8 (2) 1457-1462
17. Gorbachev, R. V.; Riaz, I.; Nair, R. R.; Jalil, R.; Britnell, L.; Belle, B. D.; Hill, E. W.; Novoselov, K. S.; Watanabe, K.; Taniguchi, T.; Geim, A. K.; Blake, P. Small 2011, 7 (4) 465-468
18. Datta, S. S.; Strachan, D. R.; Mele, E. J.; Johnson, A. T. C. Nano Lett. 2009, 9 (1) 7-11
19. Castellanos-Gomez, A.; Cappelluti, E.; Roldan, R.; Agrait, N.; Guinea, F.; Rubio-Bollinger, G. Adv. Mater. 2013, 25 (6) 899-903
20. Oliveira, C. K.; Matos, M. J. S.; Mazzoni, M. S. C.; Chacham, H.; Neves, B. R. A. Nanotechnology 2012, 23 (17) 175703
21. Mélin, T.; Zdrojek, M.; Brunel, D. Electrostatic Force Microscopy and Kelvin Force Microscopy as a Probe of the Electrostatic and Electronic Properties of Carbon Nanotubes. In Scanning Probe Microscopy in Nanoscience and Nanotechnology; Bhushan, B., Ed. Springer: Berlin/Heidelberg, 2010; pp 89-128.
22. Slawinska, J.; Zasada, I.; Kosinski, P.; Klusek, Z. Phys. Rev. B 2010, 82 (8) 085431
23. Ribeiro, R. M.; Peres, N. M. R. Phys. Rev. B 2011, 83 (23) 235312
24. Santos, E. J. G.; Kaxiras, E. Nano Lett. 2013, 13 (3) 898-902
25. Santos, E. J. G.; Kaxiras, E. ACS Nano 2013, 7 (12) 10741-10746
26. Soler, J. M.; Artacho, E.; Gale, J. D.; Garcia, A.; Junquera, J.; Ordejon, P.; Sanchez-Portal, D. J. Phys.: Condens. Matter 2002, 14 (11) 2745-2779
27. Perdew, J. P.; Burke, K.; Ernzerhof, M. Phys. Rev. Lett. 1996, 77 (18) 3865-3868
28. Dion, M.; Rydberg, H.; Schroder, E.; Langreth, D. C.; Lundqvist, B. I. Phys. Rev. Lett. 2004, 92 (24) 246401
29. Troullier, N.; Martins, J. L. Phys. Rev. B 1991, 43 (3) 1993-2006
30. Monkhorst, H. J.; Pack, J. D. Phys. Rev. B 1976, 13 (12) 5188-5192