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Volumn 105, Issue 12, 2014, Pages

Characterization of SiO2/SiNx gate insulators for graphene based nanoelectromechanical systems

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GATE INSULATOR;

EID: 84907494222     PISSN: 00036951     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1063/1.4896515     Document Type: Article
Times cited : (3)

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* 이 정보는 Elsevier사의 SCOPUS DB에서 KISTI가 분석하여 추출한 것입니다.