Influence of environment on the measurement of rates of charge transport across AgTS/SAM//Ga2O3/EGaIn junctions

Chemistry of Materials

Volumn 26, Issue 13, 2014, Pages 3938-3947

  Barber, Jabulani R ^a   Yoon, Hyo Jae ^a,b   Bowers, Carleen M ^a   Thuo, Martin M ^a   Breiten, Benjamin ^a   Gooding, Diana M ^a   Whitesides, George M ^a,c  

^a HARVARD UNIVERSITY   (United States)

^b Korea University   (South Korea)

^c HARVARD UNIVERSITY   (United States)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

CARBON DIOXIDE; CURRENT DENSITY; GALLIUM; GRAPHITE ELECTRODES; OXIDE FILMS; SELF ASSEMBLED MONOLAYERS;

ELECTRICAL CONTACTS; ELECTRICAL RESISTANCES; INFLUENCE OF ENVIRONMENTS; LIQUID EUTECTICS; MEASUREMENT CHAMBER; MICROMETER-SCALE; SURFACE OXIDE FILMS; WORKING ELECTRODE;

DROPS;

EID: 84903979199     PISSN: 08974756     EISSN: 15205002     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/cm5014784     Document Type: Article

References (40)

1. Simeone, F. C.; Yoon, H. J.; Thuo, M. M.; Barber, J. R.; Smith, B.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2013, 135, 18131
2. Thuo, M. M.; Reus, W. F.; Simeone, F. C.; Kim, C.; Schulz, M. D.; Yoon, H. J.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2012, 134, 10876
3. Liao, K. C.; Yoon, H. J.; Bowers, C. M.; Simeone, F. C.; Whitesides, G. M. Angew. Chem., Int. Ed. 2014, 53, 3889
4. Nijhuis, C. A.; Reus, W. F.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2009, 131, 17814
5. Yoon, H. J.; Shapiro, N. D.; Park, K. M.; Thuo, M. M.; Soh, S.; Whitesides, G. M. Angew. Chem., Int. Ed. 2012, 51, 4658
6. Chiechi, R. C.; Weiss, E. A.; Dickey, M. D.; Whitesides, G. M. Angew. Chem., Int. Ed. 2008, 47, 142
7. Fracasso, D.; Chiechi, R. C. In Physical Chemistry of Interfaces and Nanomaterials XII, 2013; Vol. 8811.
8. Fracasso, D.; Muglali, M. I.; Rohwerder, M.; Terfort, A.; Chiechi, R. C. J. Phys. Chem. C 2013, 117, 11367
9. Wan, A.; Jiang, L.; Sangeeth, C. S. S.; Nijhuis, C. A. Adv. Funct. Mater. 2014, 10.1002/adfm.201304237
10. Akkerman, H. B.; de Boer, B. J. Phys.: Condens. Matter 2008, 20, 013001/1
11. Wang, G.; Kim, T.-W.; Lee, T. J. Mater. Chem. 2011, 21, 18117
12. Luo, L. A.; Choi, S. H.; Frisbie, C. D. Chem. Mater. 2011, 23, 631
13. Fracasso, D.; Valkenier, H.; Hummelen, J. C.; Solomon, G. C.; Chiechi, R. C. J. Am. Chem. Soc. 2011, 133, 9556
14. Nerngchamnong, N.; Yuan, L.; Qi, D. C.; Li, J.; Thompson, D.; Nijhuis, C. A. Nat. Nanotechnol. 2013, 8, 113
15. Smaali, K.; Clement, N.; Patriarche, G.; Vuillaume, D. ACS Nano 2012, 6, 4639
16. Cademartiri, L.; Thuo, M. M.; Nijhuis, C. A.; Reus, W. F.; Tricard, S.; Barber, J. R.; Sodhi, R. N. S.; Brodersen, P.; Kim, C.; Chiechi, R. C.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. C 2012, 116, 10848
17. Dickey, M. D.; Chiechi, R. C.; Larsen, R. J.; Weiss, E. A.; Weitz, D. A.; Whitesides, G. M. Adv. Funct. Mater. 2008, 18, 1097
18. Reus, W. F.; Nijhuis, C. A.; Barber, J. R.; Thuo, M. M.; Tricard, S.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. C 2012, 116, 6714
19. Nijhuis, C. A.; Reus, W. F.; Barber, J. R.; Whitesides, G. M. J. Phys. Chem. C 2012, 116, 14139
20. Weiss, E. A.; Chiechi, R. C.; Kaufman, G. K.; Kriebel, J. K.; Li, Z.; Duati, M.; Rampi, M. A.; Whitesides, G. M. J. Am. Chem. Soc. 2007, 129, 4336
21. Losic, D.; Shapter, J. G.; Gooding, J. J. Langmuir 2001, 17, 3307
22. Weiss, E. A.; Kaufman, G. K.; Kriebel, J. K.; Li, Z.; Schalek, R.; Whitesides, G. M. Langmuir 2007, 23, 9686
23. Bowling, R. J.; Packard, R. T.; McCreery, R. L. J. Am. Chem. Soc.. 1989, 111, 1217
24. Patel, A. N.; Collignon, M. G.; O'Connell, M. A.; Hung, W. O. Y.; McKelvey, K.; Macpherson, J. V.; Unwin, P. R. J. Am. Chem. Soc. 2012, 134, 20117
25. So, J.-H.; Dickey, M. D. Lab Chip 2011, 11, 905
26. Tran, T. K.; Smaali, K.; Hardouin, M.; Bricaud, Q.; Ocafrain, M.; Blanchard, P.; Lenfant, S.; Godey, S.; Roncali, J.; Vuillaume, D. Adv. Mater. 2013, 25, 427
27. Nerngchamnong, N.; Yuan, L.; Qi, D. C.; Li, J.; Thompson, D.; Nijhuis, C. A. Nat. Nanotechnol. 2013, 8, 113
28. Guédon, C. M.; Valkenier, H.; Markussen, T.; Thygesen, K. S.; Hummelen, J. C.; van der Molen, S. J. Nat. Nanotechnol. 2012, 7, 305
29. Lorenz, M. R.; Woods, J. F.; Gambino, R. J. J. Phys. Chem. Solids 1967, 28, 403
30. Passlack, M.; Schubert, E. F.; Hobson, W. S.; Hong, M.; Moriya, N.; Chu, S. N. G.; Konstadinidis, K.; Mannaerts, J. P.; Schnoes, M. L.; Zydzik, G. J. J. Appl. Phys. 1995, 77, 686
31. Paterson, G. W.; Wilson, J. A.; Moran, D.; Hill, R.; Long, A. R.; Thayne, I.; Passlack, M.; Droopad, R. Mater. Sci. Eng., B 2006, 135, 277
32. Bermudez, V. A. Langmuir 2008, 24, 12943
33. Kim, D.; Thissen, P.; Viner, G.; Lee, D. W.; Choi, W.; Chabal, Y. J.; Lee, J. B. ACS Appl. Mater. Interfaces 2013, 5, 179
34. Gergely, B.; Redey, A.; Guimon, C.; Gervasini, A.; Auroux, A. J. Therm. Anal. Calorim. 1999, 56, 1233
35. Salmeron, M.; Bluhm, H.; Tatarkhanov, N.; Ketteler, G.; Shimizu, T. K.; Mugarza, A.; Deng, X. Y.; Herranz, T.; Yamamoto, S.; Nilsson, A. Faraday Discuss. 2009, 141, 221
36. Deng, X.; Herranz, T.; Weis, C.; Bluhm, H.; Salmeron, M. J. Phys. Chem. C 2008, 112, 9668
37. Bain, C. D.; Whitesides, G. M. Langmuir 1989, 5, 1370
38. Bykov, V. A. Biosens. Bioelectron. 1996, 11, 923
39. Yang, H.; Fung, S.-Y.; Pritzker, M.; Chen, P. PLOS ONE 2007, 2, e1325 (DOI: 10.1371/journal.pone.0001325).
40. Bowers, C. M.; Liao, K. C.; Yoon, H. J.; Rappoport, D.; Baghbanzadeh, M.; Simeone, F. C.; Whitesides, G. M. Nano Lett. 2014, 14, 3521.