Mechanical properties of silicon carbide nanowires: Effect of size-dependent defect density

Nano Letters

Volumn 14, Issue 2, 2014, Pages 754-758

  Cheng, Guangming ^a   Chang, Tzu Hsuan ^a   Qin, Qingquan ^a   Huang, Hanchen ^b   Zhu, Yong ^a  

^a North Carolina State University   (United States)

^b Northeastern University   (United States)

Author keywords

brittle fracture; in situ tensile testing; nanomechanics; Size effect; ultrahigh strength

Indexed keywords

EID: 84894128053     PISSN: 15306984     EISSN: 15306992     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl404058r     Document Type: Article

References (30)

1. Persson, C. Phys. Rev. B 1996, 54, 10257-10260
2. Morkoc, H.; Strite, S.; Gao, G. B.; Lin, M. E.; Sverdlov, B.; Burns, M. J. Appl. Phys. 1994, 76, 1363
3. Huang, H. C.; Ghoniem, N. M. J. Nucl. Mater. 1993, 199, 221-230
4. Lu, W.; Lieber, C. M. Nat. Mater. 2007, 6, 841-850
5. Zekentes, K.; Rogdakis, K. J. Phys. D. Appl. Phys. 2011, 44, 133001
6. Yang, W.; Araki, H.; Tang, C.; Thaveethavorn, S.; Kohyama, A.; Suzuki, H.; Noda, T. Adv. Mater. 2005, 17, 1519-1523
7. Yang, Y. T.; Ekinci, K. L.; Huang, X. M. H.; Schiavone, L. M.; Roukes, M. L.; Zorman, C. A.; Mehregany, M. Appl. Phys. Lett. 2001, 78, 162
8. Zhang, Y. F.; Han, X. D.; Zheng, K.; Zhang, Z.; Zhang, X. N.; Fu, J. Y.; Ji, Y.; Hao, Y. J.; Guo, X. Y.; Wang, Z. L. Adv. Funct. Mater. 2007, 17, 3435-3440
9. Wang, Z. G.; Li, J. B.; Gao, F.; Weber, W. J. Acta Mater. 2010, 58, 1963-1971
10. Wang, J.; Lu, C.; Wang, Q.; Xiao, P.; Ke, F.; Bai, Y.; Shen, Y.; Liao, X.; Gao, H. Nanotechnology 2012, 23, 025703
11. Wong, E. W.; Sheehan, P. E.; Lieber, C. M. Science 1997, 277, 1971-1975
12. Wood, E. L.; Sansoz, F. Nanoscale 2012, 4, 5268-76
13. Shim, H. W.; Huang, H. C. Appl. Phys. Lett. 2007, 90, 083106
14. Gouadec, G.; Colomban, P. Prog. Cryst. Growth Charact. Mater. 2007, 53, 1-56
15. Zhu, Y.; Espinosa, H. D. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2005, 102, 14503-14508
16. Qin, Q.; Zhu, Y. Appl. Phys. Lett. 2013, 102, 013101
17. Zhu, Y.; Moldovan, N.; Espinosa, H. D. Appl. Phys. Lett. 2005, 86, 13506
18. Zhang, D.; Breguet, J.-M.; Clavel, R.; Sivakov, V.; Christiansen, S.; Michler, J. J. Microelectromechanical Syst. 2010, 19, 663-674
19. Zhu, Y.; Xu, F.; Qin, Q. Q.; Fung, W. Y.; Lu, W. Nano Lett. 2009, 9, 3934-3939
20. Zhu, Y.; Qin, Q. Q.; Xu, F.; Fan, F. R.; Ding, Y.; Zhang, T.; Wiley, B. J.; Wang, Z. L. Phys. Rev. B 2012, 85, 45443
21. Xu, F.; Qin, Q. Q.; Mishra, A.; Gu, Y.; Zhu, Y. Nano Res 2010, 3, 271-280
22. Mehan, R. L.; Herzog, J. A. In Whisker Technology; Levitt, A. P., Ed.; Wiley: New York, 1970; p 169.
23. Kirchner, H.; Knoll, P. J. Am. Ceram. Soc. 1963, 46, 299-300
24. Petrovic, J. J.; Milewski, J. V; Rohr, D. L.; Gac, F. D. J. Mater. Sci. 1985, 20, 1167-1177
25. Bayer, P. D.; Cooper, R. E. J. Mater. Sci. 1967, 2, 233-237
26. Richter, G.; Hillerich, K.; Gianola, D. S.; Mönig, R.; Kraft, O.; Volkert, C. A. Nano Lett. 2009, 9, 3048-3052
27. Agrawal, R.; Peng, B.; Espinosa, H. D. Nano Lett. 2009, 9, 4177-4183
28. He, M. R.; Zhu, J. Phys. Rev. B 2011, 83, 161302
29. Li, Z.; Wang, S.; Wang, Z.; Zu, X.; Gao, F.; Weber, W. J. J. Appl. Phys. 2010, 108, 013504
30. Kim, T. Y.; Han, S. S.; Lee, H. M. Mater. Trans. 2004, 45, 1442-1449