Thickness-dependent electrical transport properties of graphene

Science of Advanced Materials

Volumn 5, Issue 6, 2013, Pages 542-548

  Thiyagarajan, Kaliannan ^a   Saravanakumar, Balasubramaniam ^a   Mohan, Rajneesh ^a   Kim, Sang Jae ^a  

^a Jeju National University   (South Korea)

Author keywords

Electrical transport measurement; Graphene; Photolithography; Thickness or layers; Transition

Indexed keywords

EID: 84880953118     PISSN: 19472935     EISSN: 19472943     Source Type: Journal    
DOI: 10.1166/sam.2013.1485     Document Type: Article

References (39)

1. A. K. Geim and K. S. Novoselov, Nat. Mater. 6, 183 (2007).
2. K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang, Y. Zhang, S. V. Dubonos, I. V. Grigorieva, and A. A. Firsov, Science 306, 666 (2004).
3. K. S. Novoselov, D. Jiang, F. Schedin, T. J. Booth, V. V. Khotkevich, S. V. Morozov, and A. K. Geim, PNAS 102, 10451 (2005).
4. K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang, M. I. Katsnelson, I. V. Grigorieva, S. V. Dubonos, and A. A. Firsov, Naturen 438, 197 (2005).
5. A. H. Castro Neto, F. Guinea, N. M. R. Peres, K. S. Novoselov, and A. K. Geim, Rev. Mod. Phys. 81, 109 (2009).
6. P. H. Tan, W. P. Han, W. J. Zhao, Z. H. Wu, K. Chang, H. Wang, Y. F. Wang, N. Bonini, N. Marzari, N. Pugno, G. Savini, A. Lombardo, and A. C. Ferrari, Nature Mat. 11, 294 (2012).
7. M. F. Craciuna, S. Russob, M. Yamamotoc, and S. Taruchac, Nano Today 6, 42 (2011).
8. A. Yacoby, Nature Phy. 7, 925 (2011).
9. W. Bao, L. Jing, J. Velasco Jr, Y. Lee, G. Liu, D. Tran, B. Standley, M. Aykol, S. B. Cronin, D. Smirnov, M. Koshino, E. Mc Cann, M. Bockrath, and C. N. Lau, Nature Phy. 7, 948 (2011).
10. K. S. Novoselov, A. K. Geim, S. V. Morozov, D. Jiang, Y. Zhang, S. V. Dubonos, I. V. Grigorieva, and A. A. Firsov, Science 306, 666 (2004).
11. C. Berger, Z. Song, X. Li, X. Wu, N. Brown, C. Naud, D. Mayou, T. Li, J. Hass, A. N. Marchenkov, E. H. Conrad, P. N. First, and W. A. de Heer, Science 312, 1191 (2006).
12. G. Eda, G. Fanchini, and M. Chhowalla, Nat. Nanotechnol. 3, 270 (2008).
13. K. S. Kim, Y. Zhao, H. Jang, S. Y. Lee, J. M. Kim, K. S. Kim, and J. Hyun, Nature 457, 706 (2009).
14. X. Li, W. Cai, J. An, S. Kim, J. Nah, D. Yang, R. Piner, A. Velamakanni, I. Jung, E. Tutuc, S. K. Banerjee, L. Colombo, and R. S. Ruoff, Science 324, 1312 (2009).
15. S. J. Chae, F. Gunes, K. K. Kim, E. S. Kim, G. H. Han, S. M. Kim, H. J. Shin, S. M. Yoon, J. Y. Choi, M. H. Park, C. W. Yang, D. Pribat, and Y. H. Lee, Adv. Mater. 21, 2328 (2009).
16. C. Li, D. Li, J. Yang, X. Zeng, and W. Yuan, Journal of Nanomaterials 2011, 1 (2011).
17. J. H. Chu, J. Kwak, T. Y. Kwon, S. D. Park, H. Go, S. Y. Kim, K. Park, S. Kang, and S. Y. Kwon, ACS Appl. Mater. Interfaces 4, 1777 (2012).
18. M. A. Kuroda, J. Tersoff, and G. J. Martyna, Phys. Rev. Lett. 106, 116804 (2011).
19. G. Jo, M. Choe, C. Y. Cho, J. H. Kim, W. Park, S. Lee, W. K. Hong, T. W. Kim, S. J. Park, B. H. Hong, Y. H. Kahng, and T. Lee, Nanotechnology 21, 175201 (2010).
20. S. Ghosh, W. Bao, D. L. Nika, S. Subrina, E. P. Pokatilov, C. N. Lau, and A. A. Balandin, Nat. Mater. 9, 555 (2010).
21. J. K. Wassei and R. Kaner, Mater. Today 13, 52 (2010).
22. J. H. Chen, C. Jang, S. Xiao, M. Ishigami, and M. S. Fuhrer, Nat. Nanotechnol. 3, 206 (2008).
23. Z. H. Ni, H. M. Wang, J. Kasim, H. M. Fan, T. Yu, Y. H. Wu, Y. P. Feng, and Z. X. Shen, Nano Lett. 7, 2758 (2007).
24. G. Venugopal and S. J. Kim, Curr. Appl Phys. 11, S381 (2011).
25. P. Blake, E. W. Hill, A. H. Castro Neto, K. S. Novoselov, D. Jiang, R. Yang, T. J. Booth, and A. K. Geim, Appl Phys. Lett. 91, 063124 (2007).
26. L. Gao, W. Ren, F. Li, and H. M. Cheng, ACS Nano 2, 1625 (2008).
27. M. Ishigami, J. H. Chen, W. G. Cullen, M. S. Fuhrer, and E. D. Williams, Nano Lett. 7, 1643 (2007).
28. A. C. Ferrari, J. C. Meyer, V. Scardaci, C. Casiraghi, M. Lazzeri, F. Mauri, S. Piscanec, D. Jiang, K. S. Novoselov, S. Roth, and A. K. Geim, Phys. Rev. Lett. 97, 187401 (2006).
29. R. P. Vidano, D. B. Fischbach, L. J. Willis, and T. M. Loehr, Solid State Commun. 39, 341 (1981).
30. M. A. Pimenta, G. Dresselhaus, M. S. Dresselhaus, L. G. Cancado, A. Jorio, and R. Saito, Phys. Chem. Chem. Phys. 9, 1276 (2007).
31. F. Tuinstra and J. Koenig, J. Chem. Phys. 53, 1126 (1970).
32. D. Graf, F. Molitor, K. Ensslin, C. Stampfer, A. Jungen, C. Hierold, and L. Wirtz, Nano Lett. 7, 238 (2007).
33. L. M. Malard, M. A. Pimenta, G. Dresselhaus, and M. S. Dresselhaus, Physics Reports 473, 51 (2009).
34. Y. Hao, Y. Wang, L. Wang, Z. Ni, Z. Wang, R. Wang, C. K. Koo, Z. Shen, and J. T. L. Thong, Small 6, 195 (2010).
35. M. Koshino, Phys. Rev. B 81, 125304 (2010).
36. T. Ohta, A. Bostwick, Mc Chesney J.L., T. Seyller, K. Horn, and E. Rotenberg, Phys. Rev. Lett. 98, 206802 (2007).
37. G. Venugopal, M. H. Jung, M. Suemitsu, and S. J. Kim, Carbon 49, 2766 (2011).
38. N. Garcia, P. Esquinazi, J. Barzola-Quiquia, and S. Dusari, New J. Phys. 14, 053015 (2012).
39. S. V. Morozov, K. S. Novoselov, M. I. Katsnelson, F. Schedin, D. C. Elias, J. A. Jaszczak, and A. K. Geim, Phys. Rev. Lett. 100, 016602 (2008).