Graphene thickness determination using reflection and contrast spectroscopy

Nano Letters

Volumn 7, Issue 9, 2007, Pages 2758-2763

  Ni, Z H ^a   Wang, H M ^a   Kasim, J ^b   Fan, H M ^a,b   Yu, T ^b   Wu, Y H ^a   Feng, Y P ^a   Shen, Z X ^b  

^a NATIONAL UNIVERSITY OF SINGAPORE   (Singapore)

^b NANYANG TECHNOLOGICAL UNIVERSITY   (Singapore)

Author keywords

[No Author keywords available]

Indexed keywords

LIGHT REFLECTION; LIGHT SOURCES; NONDESTRUCTIVE EXAMINATION; RAMAN SPECTROSCOPY; SILICON COMPOUNDS; SPECTRUM ANALYSIS;

CONTRAST SPECTROSCOPY; CONTRAST SPECTRUM; WHITE LIGHT SOURCE;

OLEFINS;

GRAPHITE; NANOMATERIAL;

ARTICLE; CHEMISTRY; COMPARATIVE STUDY; CONFORMATION; EVALUATION; MACROMOLECULE; MATERIALS TESTING; METHODOLOGY; NANOTECHNOLOGY; PARTICLE SIZE; PHOTOMETRY; REFRACTOMETRY; REPRODUCIBILITY; SENSITIVITY AND SPECIFICITY; SPECTROSCOPY; SURFACE PROPERTY; ULTRASTRUCTURE;

GRAPHITE; MACROMOLECULAR SUBSTANCES; MATERIALS TESTING; MOLECULAR CONFORMATION; NANOSTRUCTURES; NANOTECHNOLOGY; PARTICLE SIZE; PHOTOMETRY; REFRACTOMETRY; REPRODUCIBILITY OF RESULTS; SENSITIVITY AND SPECIFICITY; SPECTRUM ANALYSIS; SURFACE PROPERTIES;

EID: 34948892768     PISSN: 15306984     EISSN: None     Source Type: Journal    
DOI: 10.1021/nl071254m     Document Type: Article

References (39)

1. Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Zhang, Y.; Dubonos, S. V.; Grigorieva, I. V.; Firsov, A. A. Science 2004, 306, 666.
2. Novoselov, K. S.; Jiang, D.; Schedin, F.; Booth, T. J.; Khotkevich, V. V.; Morozov, S. V.; Geim, A. K. Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 2005, 102, 10451.
3. Geim, A. K.; Novoselov, K. S. Nat. Mater. 2007, 6, 183.
4. Wallace, P. R. Phys. Rev. 1947, 71, 622.
5. Slonczewski, J. C.; Weiss, P. R. Phys. Rev. 1958, 109, 272.
6. Semenoff, G. W. Phys. Rev. Lett. 1984, 53, 2449.
7. Haldane, F. D. M. Phys. Rev. Lett. 1988, 61, 2015.
8. Novoselov, K. S.; Geim, A. K.; Morozov, S. V.; Jiang, D.; Katsnelson, M. I.; Grigorieva, I. V.; Dubonos, S. V.; Firsov, A. A. Nature 2005, 438, 197.
9. Zhang, Y. B.; Tan, Y. W.; Stormer, H. L.; Kim, P. Nature 2005, 438, 201.
10. Novoselov, K. S.; Jiang, Z.; Zhang, Y.; Morozov, S. V.; Stormer, H. L.; Zeitler, U.; Maan, J. C.; Boebinger, G. S.; Kim, P.; Geim, A. K. Science 2007, 315, 1379.
11. Novoselov, K. S.; McCann, E.; Morozov, S. V.; Fal'ko, V. I.; Katsnelson, M. I.; Zeitler, U.; Jiang, D.; Schedin, F.; Geim, A. K. Nat. Phys. 2006, 2, 177.
12. Bunch, S. J.; van der Zande, A. M.; Verbridge, S. S.; Frank, I. W.; Tanenbaum, D. M.; Parpia, J. M.; Craighead, H. G.; McEuen, P. L. Science 2007, 515, 490.
13. Heersche, H. B.; Jarillo-Herrero, P.; Oostinga, J. B.; Vandersypen, L. M. K.; Morpurgo, A. F. Nature 2007, 446, 56.
14. Meyer, J. C.; Geim, A. K.; Katsnelson, M. I.; Novoselov, K. S.; Booth, T. J.; Roth, S. Nature 2007, 446, 60.
15. Ohta, T.; Bostwick, A.; Seyller, T.; Horn, K.; Rotenberg, E. Science 2006, 313, 951.
16. Bostwick, A.; Ohta, T.; Seyller, T.; Horn, K.; Rotenberg, E. Nat. Phys. 2007, 3, 36.
17. Hill, E. W.; Geim, A. K.; Novoselov, K. S.; Schedin, F.; Blake, P. IEEE Trans. Magn. 2006, 42, 2694.
18. Chen, Z. H.; Lin, Y. M.; Rooks, M. J.; Avouris, P. Preprint at http://arxiv.org/abs/cond-mat/0701599 (2007).
19. Han, M. Y.; Oezyilmaz, B.; Zhang, Y. B.; Kim, P. Preprint at http://arxiv.org/abs/cond-mat/0702511 (2007).
20. Berger, C.; Song, Z. M.; Li, X. B.; Wu, X. S.; Brown, N.; Naud, C.; Mayou, D.; Li, T. B.; Hass, J.; Marchenkov, A. N.; Conrad, E. H.; First, P. N.; de Heer, W. A. Science 2006, 312, 1191.
21. Castro, E. V.; Novoselov, K. S.; Morozov, S. V.; Peres, N. M. R.; Lopes dos Santos, J. M. B.; Nilsson, J.; Guinea, F.; Geim, A. K.; Castro Neto, A. H. Preprint at http://arxiv.org/abs/cond-mat /0611342 (2006).
22. Peres, N. M. R.; Guinea, F.; Castro, N. A. H. Phys. Rev. B 2006, 73, 125411.
23. Nilsson, J.; Castro Neto, A. H.; Guinea, F.; Peres, N. M. R. Preprint at http:/arxiv.org/abs/cond-mat/0604106 (2006).
24. Titov, M.; Beenakker, C. W. J. Phys. Rev. B 2006, 74, 041401.
25. Son, Y. W.; Cohen, M. L.; Louie, S. G. Nature 2006, 444, 347.
26. Katsnelson, M. I.; Novoselov, K. S.; Geim, A. K. Nat. Phys. 2006, 2, 620.
27. Cheianov, V. V.; Fal'ko, V.; Altshuler, B. L. Science 2007, 315, 1252.
28. Rycerz, A.; Tworzydł;o. J.; Beenakker, C. W. J. Nat. Phys. 2007, 3, 172.
29. Trauzettel, B.; Bulaev, D. V.; Loss, D.; Burkard, G. Nat. Phys. 2007, 3, 192.
30. Gupta, A.; Chen, G.; Joshi, P.; Tadigadapa, S.; Eklund, P. C. Nano Lett. 2006, 6, 2667.
31. Ferrari, A. C.; Meyer, J. C.; Scardaci, V.; Casiraghi, C.; Lazzeri, M.; Mauri, F.; Piscanec, S.; Jiang, D.; Novoselov, K. S.; Roth, S.; Geim, A. K. Phys. Rev. Lett. 2006, 97, 187401.
32. Graf, D.; Molitor, F.; Ensslin, K.; Stampfer, C.; Jungen, A.; Hierold, C.; Wirtz, L. Nano Lett. 2007, 7, 238.
33. Veshapidze, G.; Trachy, M. L.; Shah, M. H.; DePaola, B. D. Appl. Opt. 2006, 45, 8197.
34. Thomsen, C.; Reich, S. Phys. Rev. Lett. 2000, 85, 5214.
35. Blake, P.; Novoselov, K. S.; Castro Neto, A. H.; Jiang, D.; Yang, R.; Booth, T. J.; Geim, A. K.; Hill, E. W. Preprint at http://arxiv.org/abs/ cond-mat /0705.0259 (2007).
36. Anders, H. Thin Films in Optics; Focal Press: London, 1967.
37. Kelly, B. T. Physics of Graphite; Applied Science: London, 1981.
38. Dresselhaus, M. S.; Dresselhaus, G.; Eklund, P. C. Science of Fullerenes and Carbon Nanotubes; Academic Press: San Diego, CA, 1996; p 965.
39. Palik, E. D. Handbook of Optical Constants of Solids; Academic Press New York, 1991.